JPS63298874A - 光ディスク欠陥測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、書き込み可能な光デスクの品質評価を行なう
光ディスク欠陥測定装置に関するものである。

従来の技術 近年、光ディスク装置はその容量の大きさから、大容量
のコンピュータ用データファイルとして注目されており
、追記型ではすでに実用化され、更に消去可能な光ディ
スク装置も実用化が確実視されている。

一方、光ディスクはハードディスク等のメディアに比べ
て、生産時における記！３Ｍの傷、不純物の混入による
物理的な欠陥を避けることができず、これらの欠陥は記
録データの再生時においてエラーを発生させる。これら
のデータエラーに対して、誤り訂正処理あるいは欠陥の
あるセクタに対する交替処理等によりある程度回避する
ことができるが限度がある。

そこで、光ディスクの品質評価、並びに欠陥の原因究明
が必要であり、そのためには光ディスクのエラーを測定
、評価しなければならない。従来の光ディスク欠陥測定
装置なるものは、すでにフォーマットされたディスクに
符号化された信号を記録して読み出した後、復号して記
録データと比較することにより、欠陥の生じた位置ある
いは欠陥の長さ等を測定、評価するものであった（例え
ば、電気学会研究会　ＭＡＧ−８４−６９，２１〜２９
）。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のエラー測定装置では、符号化された
データ例えばＭＦＭで符号化されたデータを記録し、再
生後復号して記録データと比較する方法では、光ディス
クの欠陥によりビットスリップが発生した場合にはデー
タのサンプリング点がずれて、それ以後のデータはクロ
ックデータを誤ってサンプルし、実際の欠陥位置以外の
場所を欠陥場所として検出するという問題点を有してい
た。

本発明は上記問題点に鑑み、ビットスリップに影響され
ることなく欠陥場所のみを検出し、欠陥位置並びに欠陥
長を得ることができるようにした光ディスク欠陥測定装
置を提供することにある。

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の光ディスク欠陥測
定装置は、５０％デユーティの矩形波信号を光ディスク
に書き込み、欠陥測定時にはデータセパレータから出力
されるクロック信号に同期させて、読み出しデータビッ
ト列をシフトレジスタに入力して隣合うビットデータを
比較し、その結果により欠陥位置、欠陥長をメモリ回路
に書き込むようにしたものである。

作用 本発明は上記した構成により、符号化されていない隣同
志の値が異なるビットデータを書き込み、再生読み出し
た後、隣同志のビットデータの値が異なっているかをチ
ェックしているので、たとえ欠陥によりビットスリップ
が発生し、データセパレータの読み出しクロックがずれ
てもピントスリップが発生した場所のみを欠陥位置とし
て検出し、それ以後の場所に関しては誤って欠陥位置と
判断することはない。

また、欠陥位置はインデックス信号等の基準位置信号に
よりクリアされるカウンタに上記クロック信号を入力し
、欠陥を検出したタイミングにあわせてメモリ回路にカ
ウンタ値を書き込みことにより得ることができる。また
、欠陥長は欠陥信号が連続して発生している間、上記ク
ロック信号をカウントし、欠陥信号が出力されなくなっ
たタイミングにあわせてメモリ回路にカウンタ値を書き
込むことにより得ることができる。

実施例 以下、本発明の一実施例の光ディスク欠陥測定装置につ
いて図面を参照しながら説明する。

第１図は本発明の実施例における光ディスク欠陥測定装
置のブロック図を示すものである。第１図において１は
光ディスク、２は回転駆動モータ、３は光学的ヘッド、
４は増幅器、５は光学的ヘッドのフォーカシング・トラ
ッキングを行うサーボ回路、６は書き込みデータ発生回
路で、デユーティ５０％の矩形波の信号６１を発生する
。７は基準パルス発生回路で光ディスク１回転につき１
つのパルス信号７１を発生する。８は波形整形回路で、
光ディスクから読み出されたアナログ信号４１をある基
準レベルと比較することにより、ディジタル信号８１を
出力する。９はデータセパレータでディジタル信号８１
のデータビットのちょうど真中に立ち上がりのエツジが
くるように制御された読み出しクロック９１と読み出し
データ９２を出力する。１０はシフトレジスタで、読み
出しクロック９１に同期して読み出しデータ９２を入力
し、隣合うビットデータ１０１と１０２を出力するシフ
トレジスタである。１１は排他的論理和回路で、１０１
と１０２のディジタル信号が同じ値なら０”、異なる値
なら”１”の欠陥検出信号１１１を出力する回路である
。１２は欠陥位置カウンタで、読み出しクロック信号９
１でカウントされ基準パルス７１でリセットされるカウ
ンタ回路である。１３は欠陥長カウンタで読み出しクロ
ック信号９１でカウントされ、欠陥検出信号１１１力び
１１のときリセットされるカウンタ回路である。１４は
メモリ回路で欠陥位置カウンタ１２．欠陥長カウンタ１
３０カウント値１４１゜１４２を記憶するメモリ回路で
、アドレス信号１５１．１５３ならびに書き込み信号１
５２゜１５４で制御される。１５はメモリ制御回路で欠
陥検出信号１１１により書き込み信号１５２゜１５４を
発生し、アドレス信号１５１，１５３の値を１つ更新す
る０以上のように構成された光ディスク欠陥測定装置に
ついて以下動作を説明する。

光学的ヘッドから読み出され波形整形された信号８１は
光ディスクに欠陥かなければ第２図３に示すような”１
０１０”を繰り返すディジタル信号列となり、データセ
パレータでこのデータ列からクロック信号を抽出すると
第２図すに示すような読み出しクロック信号９１が得ら
れる。シフトレジスタ１０にこの読み出しクロック信号
９１に同期させてデータ信号９２を入力すればシフトレ
ジスタ１０の並列出力信号１０１，１０２は１０″ある
いは”０１”のパターンとなり、排他的論理和回路１１
の出力１１１は光ディスクに欠陥が無ければ第２図Ｃに
示すように常に１１”となる。

一方、光ディスクに欠陥があると第３図ａに示すように
欠陥のある場所において“００°あるいは”１１”のデ
ータ列が第３図すに示す読み出しクロック信号９１に同
期してシフトレジスタＩＯに入力されシフトレジスタの
並列出力は１１１″あるいは”００゛となり、排他的論
理和１１の欠陥検出出力１１１は第３図Ｃに示すように
”０”となる。

従って、欠陥検出出力１１１は立ち下がったときに欠陥
位置カウンタ１２のカウント値１４１をメモリ回路１４
に記憶すれば、基準パルス７１が発生したときからカウ
ントした読み出しクロック９１の数すなわち、基準位置
から欠陥の生じた場所までの距離がこのメモリ回路１４
に記憶される。

同時にメモリ回路１４のアドレス値１５１はインクリメ
ントされる。また欠陥長カウンタ１３は欠陥検出信号１
１１が“１”のときリセットされるので欠陥エラーが発
生していないときにはカウント値１４２は”０”である
が、欠陥が検出されると欠陥検出信号１１１は０′″と
なって欠陥長カウンタ１３はリセット入力が解除され欠
陥検出信号１１１が０″である間データセパレータ９の
読み出しクロック信号９１によりカウントされ、欠陥検
出信号１１１が１″となったときにメモリ回路１４に欠
陥長カウンタ１３のカウント値１４２が記憶され、メモ
リ回路１４のアドレス値１５３はインクリメントされる
。また同時に欠陥長カウンタ１３はリセットされる。

発明の効果 以上述べてきたように本発明によればきわめて・簡単な
回路構成で、ビットスリップが発生しても誤って欠陥の
ない場所を位置として判断することなく、光ディスクの
欠陥位置ならびに欠陥長を測定することができ効果は大
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例における光ディスク欠陥測定装
置のブロック図、第２図はデータセパレータおよび排他
的論理和回路の出力波形図、第３図は第２図において光
ディスク欠陥がある場合の出力波形図である。 ８・・・・・・波形整形回路、９・・・・・・データセ
パレータ、１０・・・・・・シフトレジスタ、１１・・
・・・・排他的論理和回路、１２・・・・・・欠陥位置
カウンタ、１３・・・・・・欠陥長カウンタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光ディスク上のトラックを順次書き込み、再生走査する
   光学的ヘッドと、前記光学的ヘッドに対しデューティ５
   ０％の矩形波の書き込み信号を出力する回路と、光ディ
   スク１回転につき１つの基準パルス信号を発生する回路
   と、前記光学的ヘッドからの読み取り信号を波形整形す
   る回路と、前記波形整形された信号からクロック信号と
   データ信号を分離抽出するデータセパレータ回路と、前
   記データセパレータ回路から出力されるデータ信号を前
   記データセパレータ回路から出力されるクロック信号に
   同期して入力する並列出力端子を具備するシフトレジス
   タと、前記シフトレジスタの並列出力の隣合う出力を入
   力とする排他的論理和回路と、前記データセパレータか
   らのクロック信号をカウントし、前記基準パルス信号に
   よりリセットされる欠陥位置カウンタと、前記データセ
   パレータからのクロック信号をカウントし、前記排他的
   論理和回路からの信号によりリセットされる欠陥長カウ
   ンタと、欠陥位置、欠陥長を記憶するメモリ回路と、前
   記排他的論理和回路からの信号により前記欠陥位置カウ
   ンタと前記欠陥長カウンタのカウント値を前記メモリ回
   路に書き込む回路とを具備してなることを特徴とする光
   ディスク欠陥測定装置。