JPS63289684A - エツジ検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する分野〕 本発明は、画像のエツジを検出する、エツジ検出方法に
関するものである。

従来、画像のエツジ部を検出する方法としては、ｍ　ｘ
　ｎブロック単位で画像を抽出し、その中の最大濃度と
最小濃度との差を求め、その値がある値よりも大きけれ
ばエツジであるとし、ある値よシも小さければエツジで
はないと判断していた。そしてエツジ部か否かの判断が
くだされた後は、ｎ画素だけ移動させて次のｍ　ｘ　ｎ
ブロックを処理していた。例えば第１図に示したブロッ
クａをエツジ判断した場合、文字の一部１よりブロック
ａはエツジ部と判断され、次にブロックｂの処理を行な
う。しかしながらこの様に処理した場合は実際にエツジ
部でない領域２の部分もブロックａの中にあるためエツ
ジ部として判断されてしまい、厳密にエツジ部とそうで
ない領域を分離できないという欠点があった。

〔目的〕

本発明は、上述従来例の欠点を除去するとともに、より
厳密にしかも効率よく画像のエツジ検出を行なうことが
可能なエツジ検出方法の提供を目的としている。

〔実施例〕

第２図は、本発明の実施例を示す概略図である。ＣＣＤ
等の光電変換素子およびこれを走査する駆動系をもつ入
力センサ部１１で読み取られた画像データは、逐次Ａ／
Ｄ変換器１２に送られる。ここでは、例えば各画素のデ
ータを８ビツトのデジタルデータに変換する。

これによυ２５６レベルの階調数をもつデータに量子化
されたことになる。次に補正回路１３においてセンサー
の感度ムラや照明光源による照度ムラを補正するための
シェーディング補正等の補正をデジタル演算処理で行う
。

次にこの補正法の信号１００は、メモ！Ｊ　１４ａ及び
メモリ１４ｂに格納される。このときメモリ１４ａでは
、第４図（Ｃ）に示したように主走査方向に５画素分ず
れたブロックのデータを保持し、メモリ１４ｂでは第４
図（ｂ）に示したように主走査方向に１画素ずれたブロ
ックのデータを保持している。ここでは、ｍ　ｘ　ｎ画
素（ｍ二ｎ＝５）を１つのブロックとして扱い、データ
はすべてブロック毎に転送される。セレクタ１５では、
信号５００が１″であれば信号３００を、′０”であれ
ば信号２００をハイライト検出回路１６に出力する。ハ
イライト検出回路１６では、ブロック内の最大値と最小
値の差を求めこの値が閾値Ｔ（例えばＴｍ２Ｏ３）以上
であればエツジ部であると判定し、“１”が判定信号５
００として出力される。また、Ｔよシ小さい時はｏ″が
判定信号５００として出力される。

第３図は、第２図における処理の流れを示すフローチャ
ート図である。このフローチャートによって動作を説明
する。まずステップＳ１ではＣＮＤ＝０にセットする。

ＣＮＤとは、これから処理しようとするブロックの１つ
前のブロックがエツジ部であったか否かを表わすもので
前述第１図の信号５００に対応する。そしてＣＮｎ＝ｌ
ならばエツジ部、ＣＮｎ＝Ｑならばその他の部分である
。次にステップＳ２でデータが存在するか否かを調べ、
データが存在しなければ処理は終り、存在すれば次の処
理に移る。データが存在するとステップＳ３にてＣＮＤ
が１であるか０であるかを調べる。

まず、ＣＮｎ＝ｌのときステップＳ４で第４図（ｂ）の
ようにメモリ１４ｂからｍｘｎ画素を１つのブロックと
して取り込む。本実施例ではｍ　＝　ｎ　＝　５として
話を進めるが、ｍ。

ｎは他の適当値、例えばｍ　＝　３、ｎ　＝　５などで
もよい。

このとき取り込まれたデータは、１つ前に処理したブロ
ックに対して主走査方向に１画素分だけシフトしている
。

また、ＣＮｎ＝Ｏのときは、ステップＳ５にて第４図（
Ｃ）のようにメモリ１４ａからｍｘｎ画素（ｍ　＝　ｎ
　＝　５　）を１つのブロックとして取υ込む。

このとき取シ込まれたデータは、１つ前に処理したブロ
ックに対して主走査方向に１画素分（ｎ＝ｓ）だけシフ
トしている。次にステップＳ６では取り込まれたデータ
に対してブロック内の最大濃度Ｄｍａｘ−最小濃度Ｄｍ
ｉｎを求める。ステップＳ７ではＤｍａｘ−Ｄｍｉｎが
しきい値Ｔと比較され、しきい値Ｔよりも大きければエ
ツジ部として出力され、ステップＳ９にてＣＨＤは１に
セットされる。また、Ｄｍａｘ　−Ｄｍｉ　ｎがしきい
値Ｔよりも小さければその他の部分として出力され、ス
テップＳ８にてＣＮＤは０にセットされる。以上の処理
が終ると再び第１図の■の地点にもどり、上述の処理が
行われ、データが存在しなくなるまで繰り返し処理され
る。

このように、ブロックがエツジ部と判断された時は主走
査方向に対して１画素ずらし、エツジ検出を行なう事に
よシ、実際にエツジ部でない領域をエツジ部として判断
する事を防止でき、更にブロックがエツジ部でないと判
断された時は複数画素、移動して次の処理を行なうので
効率よく処理する事ができる。

尚本発明をカラー画像のエツジ検出に用いる場合本実施
例で示した処理系をＲＧＢ各色に対して１つずつ持てば
よい。

〔効果〕 以上説明したように、ブロック単位でエツジを検出する
ときに１つ前に処理したプロッりがエツジ部か否かを考
慮し、取）込むブロックを１つ前のブロックに対して、
１画素ずらすかｎ画素ずらすか切シ換えることによって
エツジ部の検出の精度と効率を向上する事ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のエツジ検出方式を示す図、第２図は本発
明の一実施例を示すブロック図、第３図は本実施例にお
ける処理の流れを示すフローチャート図、 第４図はブロック単位で切り換えるか画素単位で切り換
えるかを説明する図である。 図中１１は入力装置、１２はＡ／Ｄ変換器、１３は補正
回路、１４ａ、１４ｂはメモリ、１５はセレクタ、１６
はエツジ検出回路、である。 ｐ 第　１　図 宝え１つ削 ｌ＆単つ 出しに ヱえ五つｈ （Ｃ）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 画像のエッジ部をブロック単位で検出する 方法において、注目ブロックがエッジ部であると判断さ
   れた場合は１画素だけ移動して次のブロックに処理をう
   つし、そうでない場合には複数画素移動したブロック内
   でエッジの検出を行うことを特徴とするエッジ検出方法
   。