JPS63250973A - エツジ検出方法 - Google Patents

エツジ検出方法

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Publication number
JPS63250973A
JPS63250973A JP62085271A JP8527187A JPS63250973A JP S63250973 A JPS63250973 A JP S63250973A JP 62085271 A JP62085271 A JP 62085271A JP 8527187 A JP8527187 A JP 8527187A JP S63250973 A JPS63250973 A JP S63250973A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
block
density
value
max
edge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62085271A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Hosokawa
博司 細川
Izuru Haruhara
春原 出
Akihiro Katayama
昭宏 片山
Hideshi Osawa
大沢 秀史
Masahiko Yoshimoto
雅彦 吉本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP62085271A priority Critical patent/JPS63250973A/ja
Publication of JPS63250973A publication Critical patent/JPS63250973A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する分野] 本発明は、画像のエツジを検出するエツジ検出方法に関
するものである。
〔従来の技術〕
従来のエツジ検出方法は、画素の濃度レベルについて相
対比較してエツジの有無を検出するものであったため、
網点画像のように高周波成分を含む画像の場合、網点を
エツジとして検出してしまうという欠点があった。
(発明の目的) 本発明は上述従来技術の欠点を除去するとともに、画素
のマトリクスで構成されるブロックの濃度平均値をブロ
ック間で比較することによりエツジの検出を行うエツジ
検出方法を提供する事を目的とする。
〔実施例) 以下、図面を用い本発明の一実施例を詳細に説明する。
第1図はMxNのブロックのマトリクスで構成されるブ
ロックマトリクスの概念図である。
1は画素、2はmxn (m、nは正の整数)の画素の
マトリクスで構成されるブロック、3はMXN (M、
Nの正の整数)のブロックのマトリクスで構成されるブ
ロックマトリクスである。ここでmxnの画素のマトリ
クスの1Xj(1≦i≦m、1≦j≦n、i、jは整数
)に位置する画素の濃度なPi、jとすると、ブロック
マド・リクスMXNのkXfl(1≦に≦M、1≦℃≦
N。
K、 flは整数)に位置するブロックの濃度平均値α
に+Lは次式で表わされる。
M x Nのブロックマトリクス内でαに+Lをすへて
のブロックに対し求め、この中で最大7,9度平均値を
もつブロックの4度平均値MaXと最小ン農度平均値を
もつブロックの濃度平均値Minを求め、 Max−Min=β        (2)と定義する
そして木実施例におけるエツジ検出方法は、このβか任
意の闇値下よりも大きければこのM X Nブロックマ
トリクス内にはエツジが存在すると判定し、βがTより
も小さけれはエツジは存在しないと判定する方法である
また、エツジを判定する領域であるM X Nブロック
マトリクスは全画像データ中爪なっても良いものとする
。例えば、画素濃度を256階調で読み取る場合、第2
図(a)の様なエツジ画像についてエツジ検出を行った
とする。エツジ4の左の両像5を、1度200とし右の
画像6を10とし閾値下を150とした場合、ブロック
マトリクスが重ならない第2図(b)の様な状況でエツ
ジ検出したとすると、境界線7の左のブロックマトリク
ス8てはブロック10がMax、ブロック11かM 1
 nとなり、境界線7の右のブロックマトリクス9ては
ブロック12がMax、ブロック13がM i nとな
る。エツジの角度φを70’ とすると、ブロックマト
リクス8のMinの値は、・200岬9627 ブロックマトリクス9のMaxの値は ・10句113.73 となり、ブロックマトリクス8のβは β= M a x −M i n = 200−96 
、 27=103.73 ブロックマトリクス9のβは β =Max−Min=113. 73−10=103
.73となる。よってブロックマトリクス8,9共にβ
は閾値Tの150よりも小さいため、エツジは検出しな
い。
次に第2図(C)に示す様にブロックマトリクスの重な
る状況を想定すると、ブロック14がM a x、ブロ
ック15がM i nとなり、βはβ=200−10=
190 となる。よってこれは闇値Tの150よりも大きいため
、エツジを検出したことになる。
このようにブロック内の画素の濃度平均値をブロックマ
トリクス内で比較することにより、絡点なとの高周波成
分を含む画像をエツジとして検出することを防止でき、
マクロ的見地からのエツジ検出か可能となる。
以下、実際のハード構成図を基に説明する。第3図は本
発明の一実旅例を示すブロック図である。CCD等の光
電変換素子およびこれを走査する駆動系をもつ人力セン
サ部1て読み取られた画像データは、逐次A/D変換器
2へ送られる。ここては例えば、各画素のデータを8ビ
ツトのデジタルデータに変換する。これにより256レ
ヘルの階調数をもつデータに量子化されたことになる。
次に補正回路3においてセンサーの感度ムラや照明光源
による照度ムラを補正するためのシェーディング補正等
の補正をデジタル演算処理で行う。次にこの補正処理済
の信号100はブロックの濃度平均値演算回路4に供給
される。
ブロック内濃度平均値演算回路4では、ブロック内の濃
度の平均値を各画素の濃度から算出し、ブロックマトリ
クス内の各ブロックのマ農度と比較してブロックマトリ
クス内Min、Max演算回路5の回路で最大値(Ma
x)と最小値(Min)を算出する。このMaxとMi
nの値をエツジ検出回路6に供給し、エツジ検出回路6
では前述βを算出して閾値Tと比較したのちエツジの有
無を判定する。
第4図は、ブロック内濃度平均値演算回i4の詳細を示
したブロック図である。補正回路3にて補正された補正
データ100はセレクタ41に人る。42a〜42iは
セレクタ41よつ出力さ挑た3ライン分のデータのうち
mx1画素に対応する9画素を示している。ここで中心
画素を42e、また周辺画素を42a 〜42d、42
f〜42iとすると、加算器43にはこの9画素が人力
され、この9画素の総和か演算される。そしてこの総和
は1 / m x n割算器44で割算される。
第4図の場合1ブロツクが3×3画素で構成されている
ため、9で割ることとなる。そしてこの割算されたデー
タは1ブロツクの濃度平均値200として出力される。
第5図はブロックマトリクス内Min、Max演算回路
の詳細を示したブロック図である。第4図で求めたmx
nブロックの;負度平均値200はセレクタ51に入る
。52a〜52pは各々セレクタより出力された濃度平
均値200を示している。
コンパレータ53では、この52a〜529の濃度平均
値200の中で最大及び最小のものを検出し、そねぞれ
最大ど1度平均値300と最小、ツ3 ;!平均値40
0を出力する。
第6図はエツジ検出回路6の詳細を示したブロック図で
ある。人力された最大濃度平均値300と最小?a度平
均値400は減算器61に入り、その演算結果βがLU
T62て閾値Tと比較される。モしてβがTよりも大き
いときはエツジ有りとし、Tよりも小さいとぎはエツジ
無しとしてでU号500を出力する。
このように前述実施例によれば、mXn!素で構成され
るブロックの71度平均値をMXNブロヅク内で比較し
、最大濃度ブロックの平均濃度値と最小濃度ブロックの
平均濃度値の差か任意の閾値Tより大きけれはMXNブ
ロック内にはエツジか存在すると判断することにより、
絡点画像をエツジとして検出してしまう事を防止でき、
マクロ的見地からのエツジ検出が可能となる。
尚、前述実施例では最大平均濃度値と最小平均濃度値の
差を閾値Tで2値化しエツジ有無を検出したか、閾値T
を用いず、最大平均濃度値と最小平均濃度値の差をエツ
ジ成分の大きさとして用いる事もできる。
〔効 果] 以上説明した様に、本発明によれば画素のマトリクスで
構成されるブロックの濃度平均値を比較するので絡点を
エツジとして検出する事を防止できるとともに、極めて
原稿に忠実なエツジを検出する事ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はMxNのブロックマトリクスを示した図、 第2図はブロックマトリクスの領域設定図、第3図は本
発明の一実施例を示した概略ブロック図、 第4図はブロック内濃度平均値演算回路のブロック図、 第5図はブロックマトリクス内Min、Max演算回路
のブロック図、 第6図はエツジ検出回路のブロック図である。 1は人力センサ、2はA/D変換器、3(、ま補正回路
、4はブロック内濃度平均値演算回路、5はブロックマ
トリクス最M i n 、  PA a x演N回路、
6はエツジ検出回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 画像のマトリクスで構成されるブロックの濃度平均値を
    、ブロック間で比較することによりエッジの検出を行う
    ことを特徴とするエッジ検出方法。
JP62085271A 1987-04-07 1987-04-07 エツジ検出方法 Pending JPS63250973A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62085271A JPS63250973A (ja) 1987-04-07 1987-04-07 エツジ検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62085271A JPS63250973A (ja) 1987-04-07 1987-04-07 エツジ検出方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63250973A true JPS63250973A (ja) 1988-10-18

Family

ID=13853904

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62085271A Pending JPS63250973A (ja) 1987-04-07 1987-04-07 エツジ検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63250973A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100353381C (zh) * 2004-11-05 2007-12-05 夏普株式会社 图像检查设备和方法

Cited By (1)

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CN100353381C (zh) * 2004-11-05 2007-12-05 夏普株式会社 图像检查设备和方法

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