JPS63250973A - エツジ検出方法 - Google Patents
エツジ検出方法Info
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- JPS63250973A JPS63250973A JP62085271A JP8527187A JPS63250973A JP S63250973 A JPS63250973 A JP S63250973A JP 62085271 A JP62085271 A JP 62085271A JP 8527187 A JP8527187 A JP 8527187A JP S63250973 A JPS63250973 A JP S63250973A
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- 238000003708 edge detection Methods 0.000 title claims description 14
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 7
- 238000003705 background correction Methods 0.000 abstract description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する分野]
本発明は、画像のエツジを検出するエツジ検出方法に関
するものである。
するものである。
従来のエツジ検出方法は、画素の濃度レベルについて相
対比較してエツジの有無を検出するものであったため、
網点画像のように高周波成分を含む画像の場合、網点を
エツジとして検出してしまうという欠点があった。
対比較してエツジの有無を検出するものであったため、
網点画像のように高周波成分を含む画像の場合、網点を
エツジとして検出してしまうという欠点があった。
(発明の目的)
本発明は上述従来技術の欠点を除去するとともに、画素
のマトリクスで構成されるブロックの濃度平均値をブロ
ック間で比較することによりエツジの検出を行うエツジ
検出方法を提供する事を目的とする。
のマトリクスで構成されるブロックの濃度平均値をブロ
ック間で比較することによりエツジの検出を行うエツジ
検出方法を提供する事を目的とする。
〔実施例)
以下、図面を用い本発明の一実施例を詳細に説明する。
第1図はMxNのブロックのマトリクスで構成されるブ
ロックマトリクスの概念図である。
ロックマトリクスの概念図である。
1は画素、2はmxn (m、nは正の整数)の画素の
マトリクスで構成されるブロック、3はMXN (M、
Nの正の整数)のブロックのマトリクスで構成されるブ
ロックマトリクスである。ここでmxnの画素のマトリ
クスの1Xj(1≦i≦m、1≦j≦n、i、jは整数
)に位置する画素の濃度なPi、jとすると、ブロック
マド・リクスMXNのkXfl(1≦に≦M、1≦℃≦
N。
マトリクスで構成されるブロック、3はMXN (M、
Nの正の整数)のブロックのマトリクスで構成されるブ
ロックマトリクスである。ここでmxnの画素のマトリ
クスの1Xj(1≦i≦m、1≦j≦n、i、jは整数
)に位置する画素の濃度なPi、jとすると、ブロック
マド・リクスMXNのkXfl(1≦に≦M、1≦℃≦
N。
K、 flは整数)に位置するブロックの濃度平均値α
に+Lは次式で表わされる。
に+Lは次式で表わされる。
M x Nのブロックマトリクス内でαに+Lをすへて
のブロックに対し求め、この中で最大7,9度平均値を
もつブロックの4度平均値MaXと最小ン農度平均値を
もつブロックの濃度平均値Minを求め、 Max−Min=β (2)と定義する
。
のブロックに対し求め、この中で最大7,9度平均値を
もつブロックの4度平均値MaXと最小ン農度平均値を
もつブロックの濃度平均値Minを求め、 Max−Min=β (2)と定義する
。
そして木実施例におけるエツジ検出方法は、このβか任
意の闇値下よりも大きければこのM X Nブロックマ
トリクス内にはエツジが存在すると判定し、βがTより
も小さけれはエツジは存在しないと判定する方法である
。
意の闇値下よりも大きければこのM X Nブロックマ
トリクス内にはエツジが存在すると判定し、βがTより
も小さけれはエツジは存在しないと判定する方法である
。
また、エツジを判定する領域であるM X Nブロック
マトリクスは全画像データ中爪なっても良いものとする
。例えば、画素濃度を256階調で読み取る場合、第2
図(a)の様なエツジ画像についてエツジ検出を行った
とする。エツジ4の左の両像5を、1度200とし右の
画像6を10とし閾値下を150とした場合、ブロック
マトリクスが重ならない第2図(b)の様な状況でエツ
ジ検出したとすると、境界線7の左のブロックマトリク
ス8てはブロック10がMax、ブロック11かM 1
nとなり、境界線7の右のブロックマトリクス9ては
ブロック12がMax、ブロック13がM i nとな
る。エツジの角度φを70’ とすると、ブロックマト
リクス8のMinの値は、・200岬9627 ブロックマトリクス9のMaxの値は ・10句113.73 となり、ブロックマトリクス8のβは β= M a x −M i n = 200−96
、 27=103.73 ブロックマトリクス9のβは β =Max−Min=113. 73−10=103
.73となる。よってブロックマトリクス8,9共にβ
は閾値Tの150よりも小さいため、エツジは検出しな
い。
マトリクスは全画像データ中爪なっても良いものとする
。例えば、画素濃度を256階調で読み取る場合、第2
図(a)の様なエツジ画像についてエツジ検出を行った
とする。エツジ4の左の両像5を、1度200とし右の
画像6を10とし閾値下を150とした場合、ブロック
マトリクスが重ならない第2図(b)の様な状況でエツ
ジ検出したとすると、境界線7の左のブロックマトリク
ス8てはブロック10がMax、ブロック11かM 1
nとなり、境界線7の右のブロックマトリクス9ては
ブロック12がMax、ブロック13がM i nとな
る。エツジの角度φを70’ とすると、ブロックマト
リクス8のMinの値は、・200岬9627 ブロックマトリクス9のMaxの値は ・10句113.73 となり、ブロックマトリクス8のβは β= M a x −M i n = 200−96
、 27=103.73 ブロックマトリクス9のβは β =Max−Min=113. 73−10=103
.73となる。よってブロックマトリクス8,9共にβ
は閾値Tの150よりも小さいため、エツジは検出しな
い。
次に第2図(C)に示す様にブロックマトリクスの重な
る状況を想定すると、ブロック14がM a x、ブロ
ック15がM i nとなり、βはβ=200−10=
190 となる。よってこれは闇値Tの150よりも大きいため
、エツジを検出したことになる。
る状況を想定すると、ブロック14がM a x、ブロ
ック15がM i nとなり、βはβ=200−10=
190 となる。よってこれは闇値Tの150よりも大きいため
、エツジを検出したことになる。
このようにブロック内の画素の濃度平均値をブロックマ
トリクス内で比較することにより、絡点なとの高周波成
分を含む画像をエツジとして検出することを防止でき、
マクロ的見地からのエツジ検出か可能となる。
トリクス内で比較することにより、絡点なとの高周波成
分を含む画像をエツジとして検出することを防止でき、
マクロ的見地からのエツジ検出か可能となる。
以下、実際のハード構成図を基に説明する。第3図は本
発明の一実旅例を示すブロック図である。CCD等の光
電変換素子およびこれを走査する駆動系をもつ人力セン
サ部1て読み取られた画像データは、逐次A/D変換器
2へ送られる。ここては例えば、各画素のデータを8ビ
ツトのデジタルデータに変換する。これにより256レ
ヘルの階調数をもつデータに量子化されたことになる。
発明の一実旅例を示すブロック図である。CCD等の光
電変換素子およびこれを走査する駆動系をもつ人力セン
サ部1て読み取られた画像データは、逐次A/D変換器
2へ送られる。ここては例えば、各画素のデータを8ビ
ツトのデジタルデータに変換する。これにより256レ
ヘルの階調数をもつデータに量子化されたことになる。
次に補正回路3においてセンサーの感度ムラや照明光源
による照度ムラを補正するためのシェーディング補正等
の補正をデジタル演算処理で行う。次にこの補正処理済
の信号100はブロックの濃度平均値演算回路4に供給
される。
による照度ムラを補正するためのシェーディング補正等
の補正をデジタル演算処理で行う。次にこの補正処理済
の信号100はブロックの濃度平均値演算回路4に供給
される。
ブロック内濃度平均値演算回路4では、ブロック内の濃
度の平均値を各画素の濃度から算出し、ブロックマトリ
クス内の各ブロックのマ農度と比較してブロックマトリ
クス内Min、Max演算回路5の回路で最大値(Ma
x)と最小値(Min)を算出する。このMaxとMi
nの値をエツジ検出回路6に供給し、エツジ検出回路6
では前述βを算出して閾値Tと比較したのちエツジの有
無を判定する。
度の平均値を各画素の濃度から算出し、ブロックマトリ
クス内の各ブロックのマ農度と比較してブロックマトリ
クス内Min、Max演算回路5の回路で最大値(Ma
x)と最小値(Min)を算出する。このMaxとMi
nの値をエツジ検出回路6に供給し、エツジ検出回路6
では前述βを算出して閾値Tと比較したのちエツジの有
無を判定する。
第4図は、ブロック内濃度平均値演算回i4の詳細を示
したブロック図である。補正回路3にて補正された補正
データ100はセレクタ41に人る。42a〜42iは
セレクタ41よつ出力さ挑た3ライン分のデータのうち
mx1画素に対応する9画素を示している。ここで中心
画素を42e、また周辺画素を42a 〜42d、42
f〜42iとすると、加算器43にはこの9画素が人力
され、この9画素の総和か演算される。そしてこの総和
は1 / m x n割算器44で割算される。
したブロック図である。補正回路3にて補正された補正
データ100はセレクタ41に人る。42a〜42iは
セレクタ41よつ出力さ挑た3ライン分のデータのうち
mx1画素に対応する9画素を示している。ここで中心
画素を42e、また周辺画素を42a 〜42d、42
f〜42iとすると、加算器43にはこの9画素が人力
され、この9画素の総和か演算される。そしてこの総和
は1 / m x n割算器44で割算される。
第4図の場合1ブロツクが3×3画素で構成されている
ため、9で割ることとなる。そしてこの割算されたデー
タは1ブロツクの濃度平均値200として出力される。
ため、9で割ることとなる。そしてこの割算されたデー
タは1ブロツクの濃度平均値200として出力される。
第5図はブロックマトリクス内Min、Max演算回路
の詳細を示したブロック図である。第4図で求めたmx
nブロックの;負度平均値200はセレクタ51に入る
。52a〜52pは各々セレクタより出力された濃度平
均値200を示している。
の詳細を示したブロック図である。第4図で求めたmx
nブロックの;負度平均値200はセレクタ51に入る
。52a〜52pは各々セレクタより出力された濃度平
均値200を示している。
コンパレータ53では、この52a〜529の濃度平均
値200の中で最大及び最小のものを検出し、そねぞれ
最大ど1度平均値300と最小、ツ3 ;!平均値40
0を出力する。
値200の中で最大及び最小のものを検出し、そねぞれ
最大ど1度平均値300と最小、ツ3 ;!平均値40
0を出力する。
第6図はエツジ検出回路6の詳細を示したブロック図で
ある。人力された最大濃度平均値300と最小?a度平
均値400は減算器61に入り、その演算結果βがLU
T62て閾値Tと比較される。モしてβがTよりも大き
いときはエツジ有りとし、Tよりも小さいとぎはエツジ
無しとしてでU号500を出力する。
ある。人力された最大濃度平均値300と最小?a度平
均値400は減算器61に入り、その演算結果βがLU
T62て閾値Tと比較される。モしてβがTよりも大き
いときはエツジ有りとし、Tよりも小さいとぎはエツジ
無しとしてでU号500を出力する。
このように前述実施例によれば、mXn!素で構成され
るブロックの71度平均値をMXNブロヅク内で比較し
、最大濃度ブロックの平均濃度値と最小濃度ブロックの
平均濃度値の差か任意の閾値Tより大きけれはMXNブ
ロック内にはエツジか存在すると判断することにより、
絡点画像をエツジとして検出してしまう事を防止でき、
マクロ的見地からのエツジ検出が可能となる。
るブロックの71度平均値をMXNブロヅク内で比較し
、最大濃度ブロックの平均濃度値と最小濃度ブロックの
平均濃度値の差か任意の閾値Tより大きけれはMXNブ
ロック内にはエツジか存在すると判断することにより、
絡点画像をエツジとして検出してしまう事を防止でき、
マクロ的見地からのエツジ検出が可能となる。
尚、前述実施例では最大平均濃度値と最小平均濃度値の
差を閾値Tで2値化しエツジ有無を検出したか、閾値T
を用いず、最大平均濃度値と最小平均濃度値の差をエツ
ジ成分の大きさとして用いる事もできる。
差を閾値Tで2値化しエツジ有無を検出したか、閾値T
を用いず、最大平均濃度値と最小平均濃度値の差をエツ
ジ成分の大きさとして用いる事もできる。
〔効 果]
以上説明した様に、本発明によれば画素のマトリクスで
構成されるブロックの濃度平均値を比較するので絡点を
エツジとして検出する事を防止できるとともに、極めて
原稿に忠実なエツジを検出する事ができる。
構成されるブロックの濃度平均値を比較するので絡点を
エツジとして検出する事を防止できるとともに、極めて
原稿に忠実なエツジを検出する事ができる。
第1図はMxNのブロックマトリクスを示した図、
第2図はブロックマトリクスの領域設定図、第3図は本
発明の一実施例を示した概略ブロック図、 第4図はブロック内濃度平均値演算回路のブロック図、 第5図はブロックマトリクス内Min、Max演算回路
のブロック図、 第6図はエツジ検出回路のブロック図である。 1は人力センサ、2はA/D変換器、3(、ま補正回路
、4はブロック内濃度平均値演算回路、5はブロックマ
トリクス最M i n 、 PA a x演N回路、
6はエツジ検出回路
発明の一実施例を示した概略ブロック図、 第4図はブロック内濃度平均値演算回路のブロック図、 第5図はブロックマトリクス内Min、Max演算回路
のブロック図、 第6図はエツジ検出回路のブロック図である。 1は人力センサ、2はA/D変換器、3(、ま補正回路
、4はブロック内濃度平均値演算回路、5はブロックマ
トリクス最M i n 、 PA a x演N回路、
6はエツジ検出回路
Claims (1)
- 画像のマトリクスで構成されるブロックの濃度平均値を
、ブロック間で比較することによりエッジの検出を行う
ことを特徴とするエッジ検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62085271A JPS63250973A (ja) | 1987-04-07 | 1987-04-07 | エツジ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62085271A JPS63250973A (ja) | 1987-04-07 | 1987-04-07 | エツジ検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63250973A true JPS63250973A (ja) | 1988-10-18 |
Family
ID=13853904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62085271A Pending JPS63250973A (ja) | 1987-04-07 | 1987-04-07 | エツジ検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63250973A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100353381C (zh) * | 2004-11-05 | 2007-12-05 | 夏普株式会社 | 图像检查设备和方法 |
-
1987
- 1987-04-07 JP JP62085271A patent/JPS63250973A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100353381C (zh) * | 2004-11-05 | 2007-12-05 | 夏普株式会社 | 图像检查设备和方法 |
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