JPS6328421Y2 - - Google Patents

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JPS6328421Y2
JPS6328421Y2 JP1986146874U JP14687486U JPS6328421Y2 JP S6328421 Y2 JPS6328421 Y2 JP S6328421Y2 JP 1986146874 U JP1986146874 U JP 1986146874U JP 14687486 U JP14687486 U JP 14687486U JP S6328421 Y2 JPS6328421 Y2 JP S6328421Y2
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JP
Japan
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ink
pattern
stage
sample
defect
Prior art date
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JP1986146874U
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JPS62179749U (en
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の多用分野〕 本考案は、プリント基板にパターンを焼き付け
る際に用いるマスクパターンの欠陥部分を修正す
る欠陥パターン修正装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Multiple Industrial Fields] The present invention relates to a defective pattern repairing device for repairing defective portions of a mask pattern used when printing a pattern on a printed circuit board.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

混成集積回路やプリント配線板を製造する際に
使用するフオトマスクは、感光性フイルムにマス
クのパターンを焼き付けて現像したものである。
Photomasks used in manufacturing hybrid integrated circuits and printed wiring boards are made by printing a mask pattern onto a photosensitive film and developing it.

又焼き付けの際に使用するマスクは、縮小カメ
ラで撮影して感光性フイルム等の上にパターンを
形成したものである。
The mask used for printing is a pattern formed on a photosensitive film or the like by photographing with a reduction camera.

ところで、マスクパターンを現像する際或はマ
スクの取り扱い中にパターンを損傷させると、こ
の欠陥部分はプリント基板上に現われるため、マ
スクを使用する際にマスクのパターンを検査する
ものである。そして欠陥部分があつた場合には、
これを修復しなければならない。
By the way, if the pattern is damaged during development or handling of the mask, the defective portion will appear on the printed circuit board, so the mask pattern is inspected when the mask is used. And if there is a defective part,
This must be repaired.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

従来は、マスクを顕微鏡で調べ、欠けによる欠
陥部分を修正ペンで用いて人手で塗りつぶしてい
た。このため修正に多くの時間を要するほか、可
成りの熟練を要するという不都合があつた。
Previously, masks were examined under a microscope and defects caused by chips were manually filled in using a correction pen. For this reason, there are disadvantages in that it takes a lot of time to make corrections and also requires considerable skill.

本考案は、上述の如き従来の欠点を改善する新
規な考案であり、その目的は、欠けによる欠陥パ
ターン部分を迅速・正確かつ簡単に修正すること
ができるような欠陥パターン修正装置を提供する
ことにある。
The present invention is a novel invention that improves the conventional drawbacks as described above, and its purpose is to provide a defective pattern correction device that can quickly, accurately, and easily correct defective pattern portions due to chipping. It is in.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

その目的を達成せしめるため、本考案の欠陥パ
ターン修正装置は、欠けによる欠陥を有するパタ
ーンを含む試料を載置するステージと、該ステー
ジの上部に設けられた欠陥パターン修正用インク
の微粒子を噴射するインク噴射装置と、該ステー
ジの下部に設けられ前記パターンおよびインク噴
射位置を画面上に表示できるテレビカメラ装置と
を備え、ステージ上に載置された前記試料を下部
から観察しながら該試料の欠陥パターン部分に上
部から前記インクの微粒子を噴射して欠けパター
ンを修正することを特徴とするもので、以下実施
例について詳細に説明する。
In order to achieve this purpose, the defect pattern correction apparatus of the present invention includes a stage on which a sample including a pattern having a defect due to chipping is placed, and a stage on which fine particles of defect pattern correction ink are sprayed. It is equipped with an ink ejecting device and a television camera device installed at the bottom of the stage and capable of displaying the pattern and the ink ejecting position on a screen, and detecting defects in the sample while observing the sample placed on the stage from below. This method is characterized in that the chipped pattern is corrected by spraying fine particles of the ink onto the patterned portion from above.Examples will be described in detail below.

〔考案の実施例〕[Example of idea]

図は、本考案に係る一実施例の構成図であり、
1は大地に固定されたステージで、その中央に点
線で示すような孔2を設けている。3は、ステー
ジ1上においてX方向およびY方向に移動する移
動台で、その中央には点線で示すようにステージ
1に設けた孔2と連通する孔4を設ける。5は移
動台3の孔4上に置かれた試料、6は移動台3を
X方向に移動させるモータ、7は移動台3をY方
向に移動させるモータ、8はインク噴射装置、9
はインク噴射装置8およびモータ6,7を制御す
る制御部、10はテレビカメラで、インク噴射装
置からインクの微粒子が噴射される方向の真下に
配置されている。11はテレビモニタで、テレビ
カメラ10で撮像した映像をブラウン管12上に
表示する。なお、ブラウン管12上には、インク
噴射装置8から噴射されるインクの微粒子の噴射
位置を線13および線14の交点を表示してあ
る。
The figure is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention,
1 is a stage fixed to the ground, and a hole 2 as shown by the dotted line is provided in the center of the stage. Reference numeral 3 denotes a movable stage that moves in the X direction and the Y direction on the stage 1, and a hole 4 communicating with the hole 2 provided in the stage 1 is provided in the center thereof as shown by a dotted line. 5 is a sample placed on the hole 4 of the moving table 3; 6 is a motor for moving the moving table 3 in the X direction; 7 is a motor for moving the moving table 3 in the Y direction; 8 is an ink jetting device; 9
1 is a control unit that controls the ink ejecting device 8 and the motors 6 and 7, and 10 is a television camera, which is disposed directly below the direction in which ink particles are ejected from the ink ejecting device. Reference numeral 11 denotes a television monitor, which displays images captured by the television camera 10 on a cathode ray tube 12. Incidentally, on the cathode ray tube 12, the ejection position of the ink particles ejected from the ink ejecting device 8 is indicated by the intersection of a line 13 and a line 14.

次に動作について説明する。 Next, the operation will be explained.

まず、操作者が制御部9に指示を与えてモータ
6および7を作動させ、移動台3を動かして試料
5を端から順次テレビカメラ10で撮像し、試料
の画像をテレビモニタ11のブラウン管12上に
表示する。そして、操作者はブラウン管12上に
映し出されたバターンを目視し、欠陥部分が発見
されたならば、いつたん移動台3の動きを止め、
次にモータ6および7を微動させて欠陥部分15
を線13及び14の交点に移動させる。
First, an operator gives an instruction to the control unit 9 to operate the motors 6 and 7, moves the movable stage 3, and sequentially images the sample 5 from the end with the television camera 10. Display above. Then, the operator visually observes the pattern projected on the cathode ray tube 12, and if a defective part is found, immediately stops the movement of the moving table 3,
Next, the motors 6 and 7 are slightly moved to remove the defective part 15.
is moved to the intersection of lines 13 and 14.

この位置は、ちようどインク噴射装置8の真下
である。この状態でインク噴射装置8からインク
の微粒子を試料5に噴射すると、インクの微粒子
は欠陥部分15に付着し、欠陥部分15を塗りつ
ぶして欠陥部分を修正する。
This position is just below the ink ejecting device 8. When fine particles of ink are jetted onto the sample 5 from the ink jetting device 8 in this state, the fine particles of ink adhere to the defective portion 15, fill the defective portion 15, and correct the defective portion.

欠陥部分の面積が大きく、1個のインクの微粒
子だけでは塗りつぶすことができないときは移動
台3をさらに微動させて再度インクの微粒子を噴
射すればよい。
If the area of the defective area is large and cannot be filled with just one ink particle, the movable table 3 may be further moved slightly to eject ink particles again.

なお、インク噴射装置8からのインクの微粒子
は、連続的あるいは単発的の発射も可能であるの
で、円形ないし線状の欠陥も修正できるし、ま
た、電気的にインクの微粒子の直径を制御するこ
とも可能であるので、小さい欠陥たとえば直径数
+〔μm〕程度の欠陥部分もインクを余分に塗布
することなしに修正できる。
Incidentally, since the ink particles from the ink jetting device 8 can be ejected continuously or singly, circular or linear defects can also be corrected, and the diameter of the ink particles can be electrically controlled. Therefore, even small defects, for example, defects on the order of several plus [μm] in diameter, can be corrected without applying extra ink.

〔考案の効果〕[Effect of idea]

以上詳細に説明したように、本考案によれば、
シルク・スクリーン、ステンレス・スクリーンへ
パターンを焼き付けるときに使用するマスク材な
どの試料の欠陥部分を人手によらずインクジエツ
トで修正できるので、作業性の改善がはかれるば
かりか、インクの微粒子の直径、単発噴射あるい
は連続噴射を自由に使いわけることができるの
で、複雑な欠陥部分の修正も迅速・簡単にできる
し、また人手による修正のようにパターンからの
はみだしなどのミスは皆無になるなど多くの効果
を有するものである。
As explained in detail above, according to the present invention,
Defects in samples such as mask materials used when printing patterns on silk screens and stainless steel screens can be corrected using an inkjet without manual intervention, which not only improves work efficiency but also reduces the diameter of ink particles and Since jetting or continuous jetting can be used freely, complex defects can be repaired quickly and easily, and there are no mistakes such as deviations from the pattern that occur when manually repairing, and many other benefits. It has the following.

さらにこの際テレビカメラによつてパターンの
欠陥部分にインク噴射位置を照準してインクの噴
射を行うので、正確なパターン修正を行うことが
できる。またこの場合テレビカメラによる試料の
観察は試料の下部から行われるので、上部からの
インクの噴射に妨げられることなく、インクの噴
射中にも修正状態を観察しながら修正を行うこと
ができるので修正作業が容易である。また修正し
残しの有無および噴射部分のインク濃度の過不足
も同時に観察できるので、パターン修正の良否の
確認も容易である。
Furthermore, at this time, since the ink jetting position is aimed at the defective portion of the pattern using a television camera and the ink is jetted, accurate pattern correction can be performed. In addition, in this case, since the specimen is observed with a TV camera from the bottom of the specimen, it is not hindered by the ink jetting from the top, and corrections can be made while observing the correction state even while the ink is being jetted. Easy to work with. In addition, since it is possible to simultaneously observe whether there is any remaining correction and whether the ink density is too high or too low in the ejected area, it is easy to confirm whether the pattern correction is successful or not.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は、本考案の一実施例の構成図である。 図において、1はステージ、2は孔、3は移動
台、4は孔、5は試料、8はインク噴射装置、9
は制御部、10はテレビカメラ、11はテレビモ
ニタである。
The figure is a configuration diagram of an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a stage, 2 is a hole, 3 is a moving stage, 4 is a hole, 5 is a sample, 8 is an ink jet device, 9
1 is a control unit, 10 is a television camera, and 11 is a television monitor.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 欠けによる欠陥を有するパターンを含む試料を
載置するステージと、該ステージの上部に設けら
れた欠陥パターン修正用インクの微粒子を噴射す
るインク噴射装置と、該ステージの下部に設けら
れ前記パターンおよびインク噴射位置を画面上に
表示できるテレビカメラ装置とを備え、ステージ
上に載置された前記試料を下部から観察しながら
該試料の欠陥パターン部分に上部から前記インク
の微粒子を噴射して欠けパターンを修正すること
を特徴とする欠陥パターン修正装置。
a stage on which a sample including a pattern with a defect due to chipping is placed; an ink ejecting device provided on the upper part of the stage for ejecting fine particles of ink for correcting the defect pattern; A television camera device capable of displaying the injection position on a screen is provided, and while observing the sample placed on a stage from below, fine particles of the ink are injected from above onto the defective pattern portion of the sample to form a chipped pattern. A defect pattern correction device characterized in that it corrects defect patterns.
JP1986146874U 1986-09-25 1986-09-25 Expired JPS6328421Y2 (en)

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JPS62179749U JPS62179749U (en) 1987-11-14
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KR940000143B1 (en) * 1991-06-25 1994-01-07 재단법인 한국전자통신연구소 Method of making large tft-lcd panel

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