JPH05273288A - Method and apparatus for inspection of printed-circuit board - Google Patents

Method and apparatus for inspection of printed-circuit board

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JPH05273288A
JPH05273288A JP4067584A JP6758492A JPH05273288A JP H05273288 A JPH05273288 A JP H05273288A JP 4067584 A JP4067584 A JP 4067584A JP 6758492 A JP6758492 A JP 6758492A JP H05273288 A JPH05273288 A JP H05273288A
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positional deviation
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Abstract

PURPOSE:To correct the dislocation of a printed-circuit board from a probe group not only on the surface side but also from that on the rear surface side when wiring patterns on both the surface and the rear surface are inspected. CONSTITUTION:Probes 8, 22 for inspection, dislocation detection mechanisms 5, 15, 26 and suction pads 12, 23 are installed at upper and lower jigs 3, 18. When a printed-circuit board 11 is sandwiched between, and pressed by, the jigs 3, 18 and a continuity and short circuit inspection is performed, a dislocation detection is performed simultaneously. When any dislocation exists, the jigs 3, 18 are separated from each other while the printed-circuit board 11 is being gripped and held by the suction pads 12, 23 at the jig on one side. Then, the jugs 3, 18 are moved from each other transversely by using an X-Y-theta driving gear 2, and the dislocation between the jig on the other side and the printed- circuit board is corrected. The dislocation is corrected for both the surface and the rear surface.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明はプリント基板(ベアボ
ード)の表裏両面の配線パターン(プリントパターン)
の導通・短絡を同時に検査するためのプリント基板検査
装置に関する。さらに詳しくは、プリント基板および各
面用の検査用プローブを配列した2枚のプローブ保持板
の三者の相互の位置ずれを検出し、その検出データに基
づいて三者の位置ずれを補正しうるプリント基板検査装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring pattern (print pattern) on both front and back surfaces of a printed circuit board (bare board).
The present invention relates to a printed circuit board inspection device for simultaneously inspecting electrical continuity and short circuit. More specifically, it is possible to detect the positional deviation between the three of the two probe holding plates on which the printed circuit board and the inspection probes for each surface are arranged, and correct the positional deviation of the three based on the detected data. The present invention relates to a printed circuit board inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のプリント基板検査装置は、一般的
に図9に示す構成を備えている。図9において61はベ
ースであり、ベース61上にはエアシリンダなどの上下
駆動機構62が設けられている。さらにその上にはプリ
ント基板63を支持するための下側検査治具64が取り
付けられている。ベース61の4隅に立設した支柱65
の上端には、プローブ保持板66が取り付けられてい
る。そのプローブ保持板66にはプリント基板63の回
路パターン67上の所定の検査点と対応するプローブ
(ピンプローブ)68が植え込まれている。また下側検
査治具64にはガイドピン72が立設され、このガイド
ピン72とプリント基板63の基準孔73とでプリント
基板63の位置決めを行っている。
2. Description of the Related Art A conventional printed circuit board inspection apparatus generally has a structure shown in FIG. In FIG. 9, reference numeral 61 is a base, and a vertical drive mechanism 62 such as an air cylinder is provided on the base 61. Further, a lower inspection jig 64 for supporting the printed circuit board 63 is attached thereon. Posts 65 standing on the four corners of the base 61
A probe holding plate 66 is attached to the upper end of the. A probe (pin probe) 68 corresponding to a predetermined inspection point on the circuit pattern 67 of the printed board 63 is embedded in the probe holding plate 66. A guide pin 72 is provided upright on the lower inspection jig 64, and the printed board 63 is positioned by the guide pin 72 and the reference hole 73 of the printed board 63.

【0003】このものを使用する場合、まずガイドピン
72と基準孔73とを嵌合させるようにして検査すべき
プリント基板63を下側検査治具64に載置する。そし
て上下駆動機構62でプリント基板63を所定圧でプロ
ーブ保持板66に当接させる。ついでプローブ群68を
通じて配線パターン67における断線や短絡の有無、導
通抵抗の大きさなど検査するのである(実開平1−18
0780号公報参照)。 かかる従来の装置において、
上下両面に設けたプリント配線を検査する場合は図10
に示すようにプリント基板63の下面側にも上向きのプ
ローブ群69を配置する。このプローブ群69は下側の
プローブ保持板70に保持させる。そして上下駆動機構
で基板63を挟むときに、上下のプローブ群68、69
をそれぞれ同時に両面の配線パターンに当接させ、前述
のように導通などの検査を行う。ところで近年、配線パ
ターンの高密度化(ファインパターン化)が進められて
いる。そのためプリント基板63の外形を基準とした
り、前述のようにガイドピン72を基準孔73に嵌合さ
せるだけではプローブ68の先端を正確に回路パターン
に当てることが困難になってきている。
When using this, the printed board 63 to be inspected is first placed on the lower inspection jig 64 by fitting the guide pin 72 and the reference hole 73. Then, the printed circuit board 63 is brought into contact with the probe holding plate 66 with a predetermined pressure by the vertical drive mechanism 62. Then, through the probe group 68, the presence or absence of disconnection or short circuit in the wiring pattern 67 and the magnitude of conduction resistance are inspected (actual 1-18).
0780). In such a conventional device,
When inspecting printed wiring provided on the upper and lower surfaces, see FIG.
As shown in FIG. 7, the upward probe group 69 is also arranged on the lower surface side of the printed circuit board 63. The probe group 69 is held by the lower probe holding plate 70. When the substrate 63 is sandwiched by the vertical drive mechanism, the upper and lower probe groups 68, 69
Are simultaneously brought into contact with the wiring patterns on both surfaces, and the continuity is inspected as described above. By the way, in recent years, the wiring pattern has been densified (made finer). Therefore, it becomes difficult to accurately apply the tip of the probe 68 to the circuit pattern by using the outer shape of the printed circuit board 63 as a reference or by simply fitting the guide pin 72 into the reference hole 73 as described above.

【0004】そこでプローブ保持板66とプリント基板
63の位置ずれを工業用テレビカメラを利用した画像処
理装置によって計測し、そのデータに基づいて前記位置
ずれを補正することが行われている。図10の74はか
かる位置ずれ補正のために上部フレーム75と上側検査
治具76との間に介在されるX-Y-θ可動テーブルであ
る。
Therefore, the positional deviation between the probe holding plate 66 and the printed circuit board 63 is measured by an image processing apparatus using an industrial television camera, and the positional deviation is corrected based on the data. Reference numeral 74 in FIG. 10 denotes an XY-θ movable table that is interposed between the upper frame 75 and the upper inspection jig 76 to correct the positional deviation.

【0005】現在一般的に行われている位置ずれの検出
方法においては、図10に示すように上側のプローブ保
持板66とプリント基板63の間にカメラ77を入れて
いる。そしてそのカメラ77でプローブ保持板66のア
ライメントピン78とプリント基板63の基準マーク7
9の位置ずれを計測するのである。ここに使用されてい
るカメラ77は、上下両方の画像を同時に図11のモニ
ター80に写し出せるような光学系(ハーフミラーない
しプリズム)81を備えている。このものは上下を同時
に照明すればアライメントピン78と基準マーク79が
重なって見える。しかし実際には片方ずつ交互に照明し
たり、交互にメカニカルシャッターを開閉して、それぞ
れの画像を取り込むようにしている(図11参照)。
In the method of detecting the positional deviation which is generally used at present, a camera 77 is inserted between the upper probe holding plate 66 and the printed circuit board 63 as shown in FIG. Then, with the camera 77, the alignment pin 78 of the probe holding plate 66 and the reference mark 7 of the printed circuit board 63.
The position shift of 9 is measured. The camera 77 used here is equipped with an optical system (half mirror or prism) 81 capable of simultaneously displaying both upper and lower images on the monitor 80 of FIG. When this is illuminated at the same time, the alignment pin 78 and the reference mark 79 appear to overlap. However, in actuality, the respective images are captured by alternately illuminating each one or alternately opening and closing the mechanical shutter (see FIG. 11).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】前記位置ずれ検出・補
正方法は、プリント基板63の上面と上側のプローブ群
68との位置ずれを検出し、補正するだけである。
The position shift detecting / correcting method only detects and corrects the position shift between the upper surface of the printed board 63 and the upper probe group 68.

【0007】すなわちプリント基板63は下側検査治具
64上にセットする必要があるので、上側の場合と同じ
ようにプローブ保持板70とプリント基板63とを相互
に動かすことは困難である。また上下の検査治具64、
72のそれぞれにX-Y-θテーブルを介在させると構成が
複雑になり制御も煩雑になる。そのため、やむをえず下
側のプローブ保持板70のガイドピン72と基準孔73
との嵌合精度を上げることなどで対処している。しかし
機械的な嵌合では位置決め精度が十分でなく、逆に嵌合
精度を上げるとガイドピンの嵌合がきつくなりプリント
基板63の装着・取り外し作業が困難である。
That is, since the printed board 63 needs to be set on the lower inspection jig 64, it is difficult to move the probe holding plate 70 and the printed board 63 relative to each other as in the case of the upper side. The upper and lower inspection jigs 64,
If an XY-θ table is provided in each of 72, the structure becomes complicated and the control becomes complicated. Therefore, the guide pin 72 and the reference hole 73 of the lower probe holding plate 70 are unavoidable.
We are dealing with it by increasing the mating accuracy with. However, mechanical fitting does not provide sufficient positioning accuracy, and conversely, if the fitting accuracy is increased, the guide pins are fitted tightly, making it difficult to mount and remove the printed circuit board 63.

【0008】本発明は前記従来の両面用のプリント基板
検査装置の問題を解消し、プリント基板の両面それぞれ
と上下のプローブ群の位置ずれをそれぞれ検出し、かつ
片面だけでなく、両面の位置ずれ補正を行いうるプリン
ト基板検査方法および装置を提供することを目的として
いる。
The present invention solves the problems of the conventional double-sided printed circuit board inspecting apparatus, detects the positional deviation between the upper and lower probe groups on both sides of the printed circuit board, and detects the positional deviation not only on one side but also on both sides. An object of the present invention is to provide a printed circuit board inspection method and apparatus capable of performing correction.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1のプリント基板
検査方法は、プリント基板を第1治具と第2治具との間
に配置し、プリント基板の第1治具側の配線パターンと
第1治具のプローブとの間に位置ずれがあるとき、プリ
ント基板を第2治具に保持させた状態で治具同士をずら
せることにより、当該位置ずれを補正し、さらにプリン
ト基板の第2治具側の配線パターンと第2治具との間の
位置ずれがあるとき、プリント基板を第1治具に保持さ
せた状態で治具同士をずらせることにより、当該位置ず
れを補正し、いずれの位置ずれもないとき、または位置
ずれを補正した後、各治具上に設けられた検査プローブ
による配線パターンの導通検査結果を出力させることを
特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board inspection method, wherein a printed circuit board is disposed between a first jig and a second jig, and a wiring pattern on the first jig side of the printed circuit board is provided. When there is a positional deviation between the probe of the first jig and the probe, the jig is displaced while the printed board is being held by the second jig, and the positional deviation is corrected. When there is a positional deviation between the wiring pattern on the second jig side and the second jig, the positional deviation is corrected by shifting the jigs while holding the printed board on the first jig. When there is no positional deviation, or after the positional deviation has been corrected, the continuity inspection result of the wiring pattern by the inspection probe provided on each jig is output.

【0010】請求項2のプリント基板検査方法は、プリ
ント基板の上下両面を上側治具のプローブ群および下側
治具のプローブ群にそれぞれ接触させて配線パターンの
導通検査を行う方法において、下面のプリント配線とプ
ローブ群とのずれを検出し、ずれがあるときは、ブリン
ト基板を上側治具に吸着保持させた状態で、上下の治具
同士を水平方向にずらせることにより前記ずれを補正
し、しかる後に下側のプローブ群と配線パターンとを接
触させることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board inspecting method, wherein the upper and lower surfaces of the printed circuit board are respectively brought into contact with a probe group of an upper jig and a probe group of a lower jig to conduct a continuity inspection of a wiring pattern. Detects the deviation between the printed wiring and the probe group, and if there is a deviation, correct the deviation by horizontally shifting the upper and lower jigs while holding the blind substrate on the upper jig. After that, the lower probe group and the wiring pattern are brought into contact with each other.

【0011】請求項3の検査装置は、(a)プリント基
板の第1面を保持する第1保持具、前記第1面の配線パ
ターンと当接される第1検査プローブ群およびプリント
基板と第1検査プローブ群との相対的な位置ずれを検出
する第1位置ずれ検出機構を備えた第1治具と、(b)
前記プリント基板の第2面を保持する第2保持具、前記
第2面の配線パターンと当接される第2プローブ群、お
よびプリント基板と第2プローブ群との相対的な位置ず
れを検出する第2位置ずれ検出機構を備えた第2治具
と、(c)治具同士を接近・離隔させるための駆動機構
と、(d)前記それぞれの位置ずれ検出機構よりのデー
タに基づいて、治具同士の位置ずれを補正する補正機構
とを備えていることを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an inspection device comprising: (a) a first holder for holding a first surface of a printed circuit board, a first inspection probe group contacting a wiring pattern on the first surface, a printed circuit board and A first jig having a first positional deviation detecting mechanism for detecting relative positional deviation with respect to one inspection probe group;
A second holder that holds the second surface of the printed circuit board, a second probe group that is in contact with the wiring pattern on the second surface, and a relative positional deviation between the printed circuit board and the second probe group are detected. Based on the data from the second jig provided with the second positional deviation detection mechanism, (c) the driving mechanism for moving the jigs closer to each other, and (d) the data from the respective positional deviation detection mechanisms, It is characterized in that it is provided with a correction mechanism for correcting the positional deviation between the tools.

【0012】[0012]

【作用】請求項1の検査方法では、まず第1治具とプリ
ント基板の位置ずれを検出する。そして第2治具にプリ
ント基板を保持させた状態で、治具同士をずらせて第1
治具とプリント基板との位置ずれを補正する。さらにこ
の補正した状態のまま第1治具にプリント基板を保持さ
せておき、再度治具同士をずらせて第2治具とプリント
基板との位置ずれを補正する。
In the inspection method of the first aspect, first, the positional deviation between the first jig and the printed circuit board is detected. Then, while the printed circuit board is held by the second jig, the jigs are displaced from each other to the first
Correct the positional deviation between the jig and the printed circuit board. Further, the printed circuit board is held by the first jig in this corrected state, and the jigs are again displaced to correct the positional deviation between the second jig and the printed circuit board.

【0013】このように本発明の方法では、治具をいわ
ば把持手段として利用し、両方の治具によるプリント基
板の交互の受け渡しを通じて、両治具とプリント基板の
三者の位置合わせを行う。あるいは検査に必要な側の治
具とプリント基板の位置合わせを順に行う。そのためX-
Y-θテーブルなどの補正機構が1基だけで済む。また片
面用の検査機構で、両面プリント基板の検査を効率的に
行いうる。
As described above, according to the method of the present invention, the jigs are used as so-called gripping means, and the jigs and the printed board are aligned with each other by alternately passing the printed boards by the jigs. Alternatively, the jig on the side required for the inspection and the printed board are aligned in order. Therefore X-
Only one correction mechanism such as Y-θ table is required. Further, the double-sided printed circuit board can be efficiently inspected by the single-sided inspection mechanism.

【0014】そのような検査方法は請求項3の装置によ
り実施されうる。
Such an inspection method can be implemented by the device of claim 3.

【0015】請求項2の検査方法では、下側の配線パタ
ーンとプローブとの間にずれがあるとき、プリント基板
を上治具に吸着保持させることにより浮かせる。そして
その間に治具同士を水平にずらせて、前記ずれを補正す
る。このように請求項2の方法では従来できなかった下
側のずれ補正を行うことができる。
In the inspection method of the second aspect, when there is a gap between the lower wiring pattern and the probe, the printed board is sucked and held by the upper jig to float. Then, the jigs are horizontally shifted in the meantime to correct the deviation. In this way, it is possible to perform the lower side shift correction, which was not possible with the method of claim 2.

【0016】請求項4の装置は、プリント基板と治具と
の間の位置ずれ検査を、プリント基板を治具間に挟み込
んで通電検査をするときの状態で行う。そのため位置ず
れ検査の精度が高い。
In the apparatus according to the fourth aspect, the positional deviation inspection between the printed circuit board and the jig is performed in a state where the printed circuit board is sandwiched between the jigs and the energization inspection is performed. Therefore, the accuracy of the displacement inspection is high.

【0017】[0017]

【実施例】つぎに図面を参照しながら本発明の装置を説
明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the device of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0018】図1は本発明の装置の一実施例を示す構成
図であり、プリント基板を供給装置(図示されていな
い)により上下の治具間に挿入した状態を示している。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the apparatus of the present invention, showing a state in which a printed circuit board is inserted between upper and lower jigs by a supply device (not shown).

【0019】図1において1は上側の固定ベースであ
り、固定ベース1の下面にX-Y-θ駆動装置2を介して第
2治具である上側検査治具3のヘッドベース4が取りつ
けられている。ヘッドベース4の下面には、カメラ5が
取りつけられており、さらに支柱6によって間隔をあけ
てプローブ保持板7が取りつけられている。プローブ保
持板7は第2プローブ群を構成する上側のプローブ8の
基部を保持するべース板9と、その下面に設けられるガ
イド板10とからなる。ガイド板10はプローブ8のピ
ン部の位置精度を確保するためのものである。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an upper fixed base, and a head base 4 of an upper inspection jig 3 which is a second jig is attached to the lower surface of the fixed base 1 via an XY-θ drive device 2. .. A camera 5 is attached to the lower surface of the head base 4, and probe holding plates 7 are attached to the lower surface of the head base 4 at intervals by columns 6. The probe holding plate 7 is composed of a base plate 9 that holds the base portion of the upper probe 8 that constitutes the second probe group, and a guide plate 10 that is provided on the lower surface thereof. The guide plate 10 is for ensuring the positional accuracy of the pin portion of the probe 8.

【0020】プローブ保持板7にはさらに負圧によりプ
リント基板11の第2面である上面を吸着するための吸
着パッド12が第2保持具として3〜4本、ないしそれ
以上取りつけられている。なお通常は吸着パッドは3〜
4本で足りるが、プリント基板が大きくなると、吸着パ
ッドの径を大きくするか、あるいは本数を増やして吸着
力を増大させる。前記ベース板9におけるカメラ5と対
応する部位には径が大きい貫通孔13が形成され、その
貫通孔13と同軸となるようにガイド板10に有底の穴
14が形成されている。さらにその穴14の底板には同
心状に基準孔15が形成されている。
The probe holding plate 7 is further provided with suction pads 12 for adsorbing the second surface of the printed circuit board 11, which is the second surface, by negative pressure. Normally, the suction pad is 3 ~
Four is sufficient, but when the printed circuit board becomes large, the diameter of the suction pads is increased or the number of suction pads is increased to increase the suction force. A through hole 13 having a large diameter is formed in a portion of the base plate 9 corresponding to the camera 5, and a bottomed hole 14 is formed in the guide plate 10 so as to be coaxial with the through hole 13. Further, a reference hole 15 is concentrically formed on the bottom plate of the hole 14.

【0021】一方、下側の固定ベース16上には、駆動
機構であるメインプレス17を介して第1治具である下
側検査治具18のヘッドベース19が設けられている。
そのヘッドベース19の上には前記上側の場合と同じよ
うに、4本の支柱20を介してプローブ保持板21が取
りつけられている。下側のプローブ保持板21にも多数
のプローブ22が第1プローブ群として取りつけられて
おり、3本以上の吸着パッド23がプリント基板の下面
(第1面)を吸着する第1保持具として取りつけられて
いる。またヘッドベース19にはカメラ5が取りつけら
れている。さらに下側のプローブ保持板21には、プリ
ント基板11をフィードライン上で受け取り、支持する
ためのガイドピン24が4本設けられている。ガイドピ
ン24はいわゆるペンシリンダなどの押圧力が弱いエア
シリンダ25のロッドに連結されている。それによりガ
イドピン24は、上下に駆動され、かつ上方に突出した
とき、エアによるバネ作用で常時上方に弾力的に付勢さ
れる。
On the other hand, a head base 19 of a lower inspection jig 18 which is a first jig is provided on the lower fixed base 16 via a main press 17 which is a drive mechanism.
As in the case of the upper side, a probe holding plate 21 is mounted on the head base 19 via four columns 20. A large number of probes 22 are attached to the lower probe holding plate 21 as a first probe group, and three or more suction pads 23 are attached as a first holder for adsorbing the lower surface (first surface) of the printed circuit board. Has been. A camera 5 is attached to the head base 19. Further, the lower probe holding plate 21 is provided with four guide pins 24 for receiving and supporting the printed circuit board 11 on the feed line. The guide pin 24 is connected to a rod of an air cylinder 25 such as a so-called pen cylinder that has a weak pressing force. As a result, the guide pin 24 is vertically driven, and when it is projected upward, it is constantly elastically biased upward by the spring action of air.

【0022】前記吸着パッド12、23は通常はチュー
ブを介して真空ポンプやベンチュリーノズルなどの真空
圧発生器に接続される。また場合により、吸着パッドの
ほか、たとえばクランプ爪や磁石なども第1および第2
保持具として用いることができる。
The suction pads 12 and 23 are usually connected via a tube to a vacuum pressure generator such as a vacuum pump or a Venturi nozzle. In some cases, in addition to the suction pad, for example, a clamp claw or a magnet may be provided on the first and second sides.
It can be used as a holder.

【0023】プリント基板11の上下両面には前記基準
孔15と対応する位置に基準マーク26が設けられてい
る。すなわちカメラ5、基準孔15および基準マーク2
6の三者が対応するように、ほぼ一列に配列されてい
る。基準孔15の直径は基準マーク26よりも大きく、
たとえば1.2 〜2倍程度が好ましい。
Reference marks 26 are provided on both upper and lower surfaces of the printed circuit board 11 at positions corresponding to the reference holes 15. That is, the camera 5, the reference hole 15, and the reference mark 2
It is arranged almost in a line so that the three parties of 6 correspond. The diameter of the reference hole 15 is larger than that of the reference mark 26,
For example, about 1.2 to 2 times is preferable.

【0024】図1の27、28はそれぞれはプローブ
8、22と接触される配線パターンの一部であり、29
は上下のカメラ5からの画像信号に基づいてX-Y-θ駆動
装置2に補正信号を送るための画像処理部である。
Reference numerals 27 and 28 in FIG. 1 denote a part of a wiring pattern to be brought into contact with the probes 8 and 22, respectively.
Is an image processing unit for sending a correction signal to the XY-θ driving device 2 based on image signals from the upper and lower cameras 5.

【0025】前記プリント基板11の上面の基準マーク
26、ガイド板10の基準孔15、およびカメラ5等は
上側のプローブ−配線パターン間の位置ずれを検出する
第2位置ずれ検出機構を構成している。同様にプリント
基板11の下面の基準マーク26、ガイド板の基準孔お
よびカメラ5等は第1位置ずれ検出機構を構成してい
る。なおX-Y-θ駆動装置2は直接的には上側治具3のみ
を移動させるものであるが、下側(第1)治具と上側
(第2)治具の間の相対的な位置ずれを補正することが
できる。このものは請求項2における補正機構を構成し
ている。
The reference mark 26 on the upper surface of the printed board 11, the reference hole 15 of the guide plate 10, the camera 5 and the like constitute a second positional deviation detecting mechanism for detecting positional deviation between the upper probe and the wiring pattern. There is. Similarly, the reference mark 26 on the lower surface of the printed circuit board 11, the reference hole of the guide plate, the camera 5 and the like constitute a first positional deviation detection mechanism. Note that the XY-θ driving device 2 directly moves only the upper jig 3, but there is a relative positional deviation between the lower (first) jig and the upper (second) jig. Can be corrected. This constitutes the correction mechanism in claim 2.

【0026】図2は前記カメラ5が取り込んだ画像を示
すモニター画面を拡大して示している。本実施例では上
側および下側のそれぞれについて、左右2個所の基準マ
ーク26をそれぞれのカメラ5で検出し、画像処理部2
9で基準孔15の輪郭の中心Oa と基準マーク26の中
心Om とのX軸方向の誤差ΔXおよびY軸方向の誤差Δ
Yを各基準マークについて測定する。そしてそれら4個
の検出値に基づいて、プリント基板11のX軸方向、Y
軸方向の位置ずれおよび垂直軸回りの(水平面内での)
回転方向の位置ずれを算出し、X-Y-θ駆動装置2へ補正
量を出力するのである。
FIG. 2 is an enlarged view of the monitor screen showing the image captured by the camera 5. In this embodiment, the reference marks 26 at the right and left sides are detected by the cameras 5 on the upper side and the lower side respectively, and the image processing unit 2
9, the error ΔX in the X-axis direction between the center O a of the contour of the reference hole 15 and the center O m of the reference mark 26 and the error Δ in the Y-axis direction.
Measure Y for each fiducial mark. Then, based on these four detection values, the Y-axis direction of the printed circuit board 11 and Y
Axial misalignment and around vertical axis (in horizontal plane)
The positional deviation in the rotation direction is calculated, and the correction amount is output to the XY-θ drive device 2.

【0027】図3は図1の装置の制御回路をさらに詳し
く説明するブロック線図である。
FIG. 3 is a block diagram illustrating the control circuit of the apparatus of FIG. 1 in more detail.

【0028】図3において、3は前述の上側検査治具で
あり、29はカメラ5からの画像を2値化処理し、X-Y-
θ駆動装置2のモータM1 、M2 、M3 に補正信号を送
る画像処理部である。30および31はそれぞれメイン
プレス17などの機構の運転を行うためのメカ操作パネ
ルおよびシーケンサである。それらはメカ部分の動作確
認用のセンサおよび動作を行わせるアクチュエータ32
と結合されている。
In FIG. 3, 3 is the above-mentioned upper inspection jig, and 29 is an XY-
An image processing unit that sends a correction signal to the motors M 1 , M 2 , and M 3 of the θ drive device 2. Reference numerals 30 and 31 are a mechanical operation panel and a sequencer for operating the mechanism such as the main press 17, respectively. They are a sensor for confirming the operation of the mechanical part and an actuator 32 for performing the operation.
Is combined with.

【0029】また33はプローブ8、22からの信号を
取り入れるためのスキャナであり、34はテスタ操作パ
ネルである。なお、35はそのテスタ操作パネル34用
のプリンタ、36は各プリント基板ごとに準備された導
通検査用の設定データの記録媒体(フロッピーディスク
など)である。37は導通検査の手順を制御するための
テスタコントローラである。なお前記画像処理部29に
は各カメラと対応するモニタ38が接続されている。
Numeral 33 is a scanner for taking in signals from the probes 8 and 22, and numeral 34 is a tester operation panel. Reference numeral 35 is a printer for the tester operation panel 34, and 36 is a recording medium (floppy disk or the like) for setting data for continuity inspection prepared for each printed circuit board. 37 is a tester controller for controlling the procedure of the continuity test. A monitor 38 corresponding to each camera is connected to the image processing unit 29.

【0030】かかる装置では、以下に説明するように、
プリント基板の上下両面のアライメントを逐次行うの
で、画像処理部29、モニタ38などは、それぞれ片面
分のみを準備すればよい。
In such a device, as described below,
Since the upper and lower surfaces of the printed circuit board are sequentially aligned, the image processing unit 29, the monitor 38, and the like need to be prepared for only one surface.

【0031】つぎに前記のごとく構成される検査装置の
動作を図4〜6を参照しながら説明する。なお以下の説
明で「プレス」、「プレス解除する」とは、それぞれメ
インプレス17を上昇させてプリント基板11を上下の
治具3、18間に挟圧すること、およびそれを解除する
ことを意味する。導通検査を始める前に、あらかじめ検
査すべきプリント基板11に応じた下側検査治具18お
よび上側検査治具3をそれぞれメインプレス17および
X-Y-θ駆動装置2にセットしておく。
Next, the operation of the inspection apparatus constructed as described above will be described with reference to FIGS. In the following description, “press” and “release the press” mean that the main press 17 is raised to clamp the printed circuit board 11 between the upper and lower jigs 3 and 18, and to release it. To do. Before starting the continuity inspection, the lower inspection jig 18 and the upper inspection jig 3 corresponding to the printed circuit board 11 to be inspected are respectively attached to the main press 17 and
Set it on the XY-θ drive 2.

【0032】A:基板セット工程 (a) プリント基板11が供給装置のフィードレール(図
示されていない)により送られ、上下の治具3、18の
間に到着する(図4の「基板到着」および図1参照)。
そのときプリント基板11の端面を図示されていないス
トッパーに当てて端面位置出しを行う。
A: Board setting step (a) The printed board 11 is sent by the feed rail (not shown) of the feeder and arrives between the upper and lower jigs 3 and 18 ("board arrival" in FIG. 4). And FIG. 1).
At this time, the end face of the printed circuit board 11 is brought into contact with a stopper (not shown) to position the end face.

【0033】(b) つぎにメインプレス17をいくらか上
昇させてガイドピン24でプリント基板11を受け、フ
ィードレールおよびストッパーを逃がし、さらにプレス
してプリント基板11を上下の治具3、18間に挟みつ
ける(図4の「プレス」および図5参照)。
(B) Next, the main press 17 is raised to some extent to receive the printed circuit board 11 by the guide pins 24, the feed rail and the stopper are released, and further pressed to move the printed circuit board 11 between the upper and lower jigs 3 and 18. Pinch (see "press" in Figure 4 and Figure 5).

【0034】このときガイドピン24を支持するエアシ
リンダ25にエアを供給しており、それによりプリント
基板11を持ち上げている。しかし前述のようにシリン
ダ径が細く発生圧が弱いため、プレス圧力で、スプリン
グと同じように引っ込められる。
At this time, air is supplied to the air cylinder 25 which supports the guide pin 24, and the printed circuit board 11 is lifted by this. However, since the cylinder diameter is small and the generated pressure is weak as described above, it can be retracted in the same manner as the spring by the press pressure.

【0035】B:検査工程および下側位置ずれチェック
工程 プリント基板11をプレスした状態でプローブ8、22
による導通検査を行う。同時に下側治具18の画像デー
タをサンプリングし、下側のプローブ22に対するプリ
ント基板11の位置ずれを検出する。
B: Inspecting process and lower-side position shift checking process The probes 8 and 22 are used while the printed circuit board 11 is pressed.
Conduct a continuity check by. At the same time, the image data of the lower jig 18 is sampled to detect the positional deviation of the printed circuit board 11 with respect to the lower probe 22.

【0036】検出結果が「良(PASS)」であれば、
アライメント動作(工程)をせずにプリント基板取り出
し工程(G)に進む。
If the detection result is "PASS",
The process proceeds to the printed circuit board take-out step (G) without performing the alignment operation (step).

【0037】検出結果が「不良(FAIL)」であれ
ば、つぎの下治具アライメント工程(C)に進む。なお
下側治具18のアライメントチェックが「良」の場合
は、下治具アライメント工程を行わず、ただちに後述の
上側位置ずれチェック工程(D)にすすむのはいうまで
もない。 C:下治具アライメント工程 (a) まずガイドピン用のエアシリンダ25へのエアの供
給を切り、上治具3の吸着パッド12を負圧にし、プリ
ント基板11を上治具3側に吸着する。
If the detection result is "FAIL", the process proceeds to the next lower jig alignment step (C). Needless to say, when the alignment check of the lower jig 18 is “good”, the lower jig alignment process is not performed and the process is immediately advanced to the upper position deviation check process (D) described later. C: Lower jig alignment step (a) First, the air supply to the air cylinder 25 for the guide pin is cut off, the suction pad 12 of the upper jig 3 is set to a negative pressure, and the printed board 11 is sucked to the upper jig 3 side. To do.

【0038】(b) ついでプレスを解除させる。このとき
メインプレス17は全ストロークを下げず、アライメン
ト動作(位置ずれ補正動作)が可能な距離だけ下げるの
が好ましい。それによりタクトタイムの短縮を図ること
ができる。
(B) Then, the press is released. At this time, it is preferable that the main press 17 does not lower the entire stroke but lowers the distance by which the alignment operation (positional deviation correction operation) can be performed. Thereby, the tact time can be shortened.

【0039】(c) さらにプリント基板11を上治具3に
保持した状態で、先にサンプリングした位置ずれデータ
から補正量を演算し(位置ずれ演算)、これに基づいて
X-Y-θ駆動装置2を動かす。これによりプリント基板1
1と下治具18とのアライメントが行われる。
(C) Further, with the printed circuit board 11 held by the upper jig 3, the correction amount is calculated from the previously sampled positional deviation data (positional deviation calculation), and based on this
Move the XY-θ drive 2. This allows printed circuit board 1
1 and the lower jig 18 are aligned.

【0040】このようにして下治具18とのアライメン
ト工程が終了する。
In this way, the alignment process with the lower jig 18 is completed.

【0041】D:上側位置ずれチェック工程 下治具アライメント工程が終了した後、図6に示すよう
に再度プレスし、下治具18の吸着パッド23を負圧に
すると共に、上治具3の吸着パッド12の負圧を解除す
る。これによりプリント基板11は上治具3から下治具
18へ、いわば持ち替えられる。このとき下治具18の
吸着パッド23は位置ずれを補正した後の正しい位置を
維持している。またこの2回目のプレス状態でも電気検
査を行い、そのときに再度上側の画像データをサンプル
し、上治具3とプリント基板11との位置ずれを検出し
ておく。
D: Upper position displacement check process After the lower jig alignment process is completed, pressing is performed again as shown in FIG. 6 to make the suction pad 23 of the lower jig 18 a negative pressure, and The negative pressure of the suction pad 12 is released. As a result, the printed board 11 is switched from the upper jig 3 to the lower jig 18, so to speak. At this time, the suction pad 23 of the lower jig 18 maintains the correct position after the displacement is corrected. In addition, an electrical inspection is performed even in the second pressing state, and at that time, the upper side image data is sampled again to detect the positional deviation between the upper jig 3 and the printed board 11.

【0042】E:上治具アライメント工程 位置ずれがあったときは、上治具のアライメントを行う
ため、再度プレス解除を行う。この場合も前述と同じ
く、アライメント動作が可能な距離だけメインプレス1
7を下げればよい。
E: Upper Jig Alignment Step When there is a displacement, the upper jig is aligned, and therefore the press is released again. In this case as well, as in the case described above, the main press 1 is moved by the distance allowing the alignment operation.
You can lower 7.

【0043】プリント基板11を下治具18の正しい位
置に保持した状態で、先にサンプルしたデータに基づい
てX-Y-θ駆動装置2を動かし、上治具3のアライメント
動作を行う。なお上治具3のアライメントチェックが
「良」の場合はアライメント動作を行わず、ただちにつ
ぎの電気検査を行うのはいうまでもない。
With the printed circuit board 11 held at the correct position of the lower jig 18, the XY-θ driving device 2 is moved based on the previously sampled data, and the alignment operation of the upper jig 3 is performed. Needless to say, when the alignment check of the upper jig 3 is “good”, the alignment operation is not performed and the next electrical inspection is immediately performed.

【0044】F:電気検査工程 各アライメント動作が終了し、上下面とも正しい位置に
合わされた後、充分プレスして3回目のプローブ8、2
2による導通・短絡検査を行う。この時吸着パッドによ
るすべりがないことを確認するため、3度目の位置ずれ
検出を行うのが望ましい。
F: Electrical inspection process After each alignment operation is completed and the upper and lower surfaces are aligned at the correct positions, they are sufficiently pressed to perform the third probe 8 and 2
Conduct continuity / short circuit inspection according to 2. At this time, in order to confirm that there is no slippage due to the suction pad, it is desirable to detect the third positional deviation.

【0045】G:プリント基板取り出し工程 電気検査の後、プレス解除を行う前に、あらかじめ上治
具3および下治具18の吸着パッド12、23の真空圧
を解除し、ガイドピン24のエアシリンダ25のエアを
供給しておく。
G: Printed circuit board take-out step After the electric inspection, before releasing the press, the vacuum pressure of the suction pads 12 and 23 of the upper jig 3 and the lower jig 18 is released in advance, and the air cylinder of the guide pin 24 is released. Supply 25 air.

【0046】その後プレスを解除し、ガイドピン24で
支えられているプリント基板11をフィードレールで取
り出し、つぎの工程へ流す。
After that, the press is released, the printed circuit board 11 supported by the guide pins 24 is taken out by the feed rail, and is flown to the next step.

【0047】なお、前記実施例においては、最初に下治
具アライメントを行っているが、最初に上治具アライメ
ントを行い、ついでプリント基板を上治具側に保持させ
て下治具アライメントを行うようにしても同じ効果がえ
られる。この場合は上治具が第1治具、下側が第2治具
となる。保持具等についても同様である。
In the above embodiment, the lower jig alignment is performed first, but the upper jig alignment is performed first, and then the printed circuit board is held on the upper jig side to perform the lower jig alignment. Even if it does so, the same effect can be obtained. In this case, the upper jig is the first jig and the lower jig is the second jig. The same applies to the holder and the like.

【0048】さらに図4のフローチャートでは、プレス
をするたびに電気検査を行っている。これは検査結果が
「良」の場合は、つぎのアライメント工程を省略して検
査タクトを短縮させるためである。しかし最大3回(両
面ともアライメントを必要とするとき)も電気検査を行
うことになり、それに要する時間が大きくなる。そこで
2回目の電気検査を省略し、下面側のアライメント(画
像サンプル、位置ずれ演算)が完了した後、ただちに上
面側のアライメント動作に入るようにしてもよい。それ
により検査タクトの短縮がはかれる。さらに毎回補正を
要する場合には、1回目の電気検査についても省略しう
る。また1回目のプレス時に、上下両面のアライメント
チェックを同時に行い、2回目のプレス時における上側
アライメントチェックを省略してもよい。
Further, in the flow chart of FIG. 4, the electric inspection is performed every time the press is performed. This is because when the inspection result is “good”, the next alignment step is omitted and the inspection tact is shortened. However, the electrical inspection is performed up to three times (when alignment is required on both sides), and the time required for this is increased. Therefore, the second electrical inspection may be omitted, and the alignment operation on the upper surface side may be started immediately after the alignment (image sample, displacement calculation) on the lower surface side is completed. As a result, the inspection tact can be shortened. Further, if correction is required every time, the first electrical inspection may be omitted. Also, the upper and lower alignment checks may be performed simultaneously during the first press, and the upper alignment check during the second press may be omitted.

【0049】また本発明の検査装置においては、前記電
気検査を3回、2回または1回行う検査モードを、たが
いに切り替えることができるように構成するのが好まし
い。それによりもっとも適切な検査モードを選択して検
査タクトを短縮しうる。切り替えは手動でもよく、また
それまでの修正状況に基づいて自動的に切り替えるよう
にしてもよい。
Further, in the inspection apparatus of the present invention, it is preferable that the inspection mode in which the electric inspection is performed three times, two times or once can be switched depending on each other. Thereby, the most appropriate inspection mode can be selected and the inspection tact can be shortened. The switching may be manual, or may be automatically switched based on the correction status up to that point.

【0050】前記実施例においては、1枚のプリント基
板の検査を完了した後、X-Y-θ駆動装置は元に戻さず、
そのままつぎのプリント基板を受け入れている。この上
下の治具同士の配置は、(前回の)プリント基板11の
上下両面の配線パターン27、28同士のずれΔKを吸
収させた状態である(図7A)。一方、供給装置により
上下の治具3、18間にプリント基板11を配置すると
きのずれΔXについては毎回生ずるので、それについて
のアライメントチェックおよびアライメント動作(図7
B〜C)はプリント基板ごとにする必要がある。なお下
治具18のアライメント動作のために上治具3をΔXだ
け動かしているため(図7B)、改めて上治具3を−Δ
Xだけ元に戻す必要がある(図7C)。
In the above embodiment, after the inspection of one printed circuit board is completed, the XY-θ driving device is not returned to the original state,
We accept the next printed circuit board as it is. The arrangement of the upper and lower jigs is such that the deviation ΔK between the upper and lower wiring patterns 27, 28 of the (previous) printed circuit board 11 is absorbed (FIG. 7A). On the other hand, since the deviation ΔX when the printed circuit board 11 is arranged between the upper and lower jigs 3 and 18 by the supply device occurs every time, the alignment check and the alignment operation (FIG.
B to C) must be provided for each printed circuit board. Since the upper jig 3 is moved by ΔX for the alignment operation of the lower jig 18 (FIG. 7B), the upper jig 3 is again moved by −Δ.
Only X needs to be undone (Fig. 7C).

【0051】ところで前記上下の配線パターンのずれΔ
Kや供給装置で載せるときのずれΔXは、いずれも毎回
大きく変動する性質のものではない。いいかえれば生産
ロットによりある程度定まり、その平均値を中心として
いくらかのランダムな誤差(誤差曲線に載る偏差)が生
ずるのである。したがって、前記下面のためのアライメ
ント量ΔXも上面のためのアライメント量−ΔXもほと
んど一定である。しかも前述の説明から明らかなよう
に、方向が逆で絶対値はほぼ等しい。
By the way, the deviation Δ of the upper and lower wiring patterns
Neither K nor the deviation ΔX when the sheet is placed by the supply device has a property of largely changing each time. In other words, it is determined to some extent by the production lot, and some random error (deviation on the error curve) occurs around the average value. Therefore, the alignment amount ΔX for the lower surface and the alignment amount −ΔX for the upper surface are almost constant. Moreover, as is clear from the above description, the directions are opposite and the absolute values are almost equal.

【0052】かかる観点からすれば、複数枚のプリント
基板についての補正データの平均値を予想補正量とし、
その分だけあらかじめX-Y-θ駆動装置を移動させておく
方法が採用できる。平均値としては、生産ロットにより
しだいにアライメント量がずれてくるため、直前の複数
枚(たとえば20枚)のプリント基板についての平均
値、すなわち移動平均値を採用するのが好ましい。
From this point of view, the average value of the correction data for a plurality of printed circuit boards is used as the predicted correction amount,
A method of moving the XY-θ drive device by that amount in advance can be adopted. As the average value, since the alignment amount gradually shifts depending on the production lot, it is preferable to adopt the average value of the immediately preceding plural (for example, 20) printed boards, that is, the moving average value.

【0053】すなわち図8に示すように、検査済のプリ
ント基板を新しいものに載せ替える間に前記移動平均分
だけあらかじめX-Y-θ駆動装置を移動させておき(矢印
N1)、1回目のプレスをするとき、ただちに上側の吸
着パッド12でプリント基板11を保持し(このとき上
側アライメント完了)、X-Y-θ駆動装置を元の位置に戻
し(矢印N2、下側アライメント完了)、2回目のプレ
スをするのである。これによりほとんどの場合、プレス
動作は2回だけ、さらに電気検査および位置ずれチェッ
クは1回だけで済む。すなわち実質的に上面側のアライ
メント動作を検査タクト時間から除外できる。もちろん
1回目のプレスのときに電気検査を行い、「PASS」
のときはそのまま取り出すようにしてもよい。
That is, as shown in FIG. 8, the XY-θ driving device is moved in advance by the above moving average while the inspected printed circuit board is replaced with a new one (arrow N1), and the first pressing is performed. At this time, the printed board 11 is immediately held by the upper suction pad 12 (the upper alignment is completed at this time), the XY-θ drive device is returned to its original position (arrow N2, the lower alignment is completed), and the second press is performed. To do. As a result, in most cases, the pressing operation only needs to be performed twice, and the electrical inspection and the displacement check need only be performed once. That is, the alignment operation on the upper surface side can be substantially excluded from the inspection takt time. Of course, an electrical inspection was performed during the first press and "PASS"
In case of, it may be taken out as it is.

【0054】また片面が従来の配線パターンで、もう片
面がファイン化されている基板の場合は、補正が困難な
下面側を従来の配線パターンにしておくのが望ましい。
その場合、プリント基板の位置を外形などで位置決めす
るだけで下面の電気検査が「PASS」になるので、ア
ライメント動作はファイン化した上面側のみでよい。か
かる場合、外形に対する上面の配線パターンの位置ずれ
を一旦上治具で補正すれば、同じ製品ロットの間は、1
回のプレスで両面共「PASS」になる可能性が大き
い。またこの場合も逐次移動平均を演算させ、移動平均
分だけ上治具をずらした状態にしておくのが好ましい。
それによりランダムな誤差に対し、不必要な修正をする
ことがなく、安定した連続検査を行いうる利点がある。
Further, in the case of a substrate in which one surface has a conventional wiring pattern and the other surface has been made fine, it is desirable to set the conventional wiring pattern on the lower surface side, which is difficult to correct.
In that case, the electrical inspection of the lower surface becomes "PASS" simply by positioning the position of the printed circuit board by the outer shape or the like, and therefore the alignment operation is performed only on the finer upper surface side. In such a case, once the positional deviation of the wiring pattern on the upper surface with respect to the outer shape is corrected by the upper jig, it will be 1
It is highly possible that both presses will become "PASS" on both sides. Also in this case, it is preferable to successively calculate the moving average and shift the upper jig by the moving average.
Thereby, there is an advantage that a stable continuous inspection can be performed without making an unnecessary correction for a random error.

【0055】前記移動平均をとるには、直前の複数回の
補正データを記憶する手段、補正データを演算するたび
にもっとも古いデータを更新する手段および更新したデ
ータ群の平均値を計算する手段からなる移動平均演算装
置を、たとえば図3の画像処理部29などに組み込んで
おけばよい。
To obtain the moving average, the means for storing the correction data of a plurality of times immediately before, the means for updating the oldest data every time the correction data is calculated, and the means for calculating the average value of the updated data group are used. The moving average calculation device may be incorporated in, for example, the image processing unit 29 shown in FIG.

【0056】前記実施例の検査方法では実際にプレスし
た状態で位置ずれ検出を行っているので、位置ずれ検出
誤差が少ないという利点がある。すなわち図10に示す
ような、プリント基板63とプローブ群68とを離した
状態で位置ずれを検出する場合は、導通などのテストの
ためにプリント基板63とプローブ群とを当接させる動
作および当接させたときの圧力に基づいて誤差が生ず
る。これに対し、前記実施例では実際の導通検査(プロ
ービング)の状態での位置ずれを検出しているので、そ
のような誤差の影響を受けない利点がある。
In the inspection method of the above-described embodiment, since the positional deviation is detected in the actual pressed state, there is an advantage that the positional deviation detection error is small. That is, as shown in FIG. 10, when the positional deviation is detected in a state where the printed board 63 and the probe group 68 are separated from each other, an operation of bringing the printed board 63 and the probe group into contact with each other for a test such as continuity, An error occurs based on the pressure at the time of contact. On the other hand, in the above-described embodiment, since the positional deviation in the actual conduction inspection (probing) state is detected, there is an advantage that it is not affected by such an error.

【0057】しかし本発明は、かかる場合に限定される
ものではなく、図10に示すようなカメラを移動させる
方法や、プローブ群とプリント基板とを離した状態で位
置ずれを検出する方法にも適用することができる。たと
えば図10の検査装置において、上側治具76および下
側治具64にそれぞれ吸着パッドを設けておく。そして
プリント基板63を下側治具64に保持させた状態で、
プリント基板63の上面の配線パターン67と上側プロ
ーブ群68との位置ずれとをカメラ77で検出し、X-Y-
θ可動テーブル74で位置ずれを補正する。ついで治具
64、76同士をプレスしてプリント基板63を上側治
具76に持ち替えさせてプレスを解除したうえで、プリ
ント基板63の下面の配線パターン71と下側プローブ
群69との位置ずれをカメラ77で検出し、X-Y-θ可動
テーブル74で位置ずれを補正する方法が考えられる。
However, the present invention is not limited to such a case, and may be applied to a method of moving a camera as shown in FIG. 10 or a method of detecting a positional deviation in a state where the probe group and the printed board are separated. Can be applied. For example, in the inspection device of FIG. 10, suction pads are provided on the upper jig 76 and the lower jig 64, respectively. Then, with the printed board 63 held by the lower jig 64,
The positional deviation between the wiring pattern 67 on the upper surface of the printed board 63 and the upper probe group 68 is detected by the camera 77, and XY-
The θ movable table 74 corrects the positional deviation. Then, the jigs 64 and 76 are pressed to each other so that the printed board 63 is held by the upper jig 76 and the press is released. Then, the positional deviation between the wiring pattern 71 on the lower surface of the printed board 63 and the lower probe group 69 is performed. A method of detecting with the camera 77 and correcting the positional deviation with the XY-θ movable table 74 can be considered.

【0058】[0058]

【発明の効果】本発明の方法によれば、プリント基板の
上下両面の配線パターンの導通・短絡検査のときに、プ
リント基板と上側のプローブ群との位置ずれだけでな
く、下側のプローブ群との位置ずれも補正をすることが
できる。さらに上下両面について位置ずれチェック、位
置ずれ補正動作などを行う機器をかなりの部分で共用し
うるので、構成が簡単で、コストが低い利点がある。
According to the method of the present invention, not only the positional deviation between the printed circuit board and the upper probe group but also the lower probe group is checked at the time of the conduction / short circuit inspection of the wiring patterns on the upper and lower surfaces of the printed circuit board. It is possible to correct the positional deviation between and. Further, since a device for performing the positional deviation check and the positional deviation correction operation for both the upper and lower surfaces can be shared in a considerable part, there is an advantage that the configuration is simple and the cost is low.

【0059】本発明の装置(請求項3)を用いることに
より、前記すぐれた作用効果を奏する本発明の検査方法
を効率的に実施しうる。
By using the apparatus of the present invention (claim 3), it is possible to efficiently carry out the inspection method of the present invention having the above-mentioned excellent effects.

【0060】さらに請求項4の検査装置を用いれば、実
際に導通テストを行っている状態で、位置ずれの検出を
行うことができる。そのためプリント基板とプローブ群
とを接近させる動作に伴う誤差や押圧力を加えることに
よる誤差が位置ずれ検出に含まれない。したがって位置
ずれ検出の精度を向上させうる。
Further, by using the inspection apparatus according to the fourth aspect, it is possible to detect the positional deviation in the state where the continuity test is actually performed. Therefore, the error caused by the operation of bringing the printed circuit board and the probe group closer to each other and the error caused by applying the pressing force are not included in the positional deviation detection. Therefore, the accuracy of the positional deviation detection can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の装置の一実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of an apparatus of the present invention.

【図2】図1の装置におけるモニター画像の拡大図であ
る。
FIG. 2 is an enlarged view of a monitor image in the apparatus of FIG.

【図3】図1の装置の制御系統を示すブロック線図であ
る。
FIG. 3 is a block diagram showing a control system of the apparatus of FIG.

【図4】図1の装置の動作を示すシーケンス図である。FIG. 4 is a sequence diagram showing an operation of the apparatus of FIG.

【図5】本発明の方法の一実施例の前半部を示す工程図
である。
FIG. 5 is a process drawing showing the first half of one embodiment of the method of the present invention.

【図6】図5の方法の後半部を示す工程図である。FIG. 6 is a process drawing showing the second half of the method of FIG.

【図7】図5および図6の方法の概略工程図である。FIG. 7 is a schematic process diagram of the method of FIGS. 5 and 6.

【図8】本発明の方法の他の実施例を示す概略工程図で
ある。
FIG. 8 is a schematic process chart showing another embodiment of the method of the present invention.

【図9】従来のプリント基板検査装置の一例を示す斜視
図である。
FIG. 9 is a perspective view showing an example of a conventional printed circuit board inspection device.

【図10】従来のプリント基板検査装置の他の例を示す
構成図である。
FIG. 10 is a configuration diagram showing another example of a conventional printed circuit board inspection device.

【図11】図10の装置におけるモニタ画像の一例を示
す説明図である。
11 is an explanatory diagram showing an example of a monitor image in the apparatus of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 X-Y-θ駆動装置 3 上側検査治具 5 カメラ 8 プローブ 11 プリント基板 12 吸着パッド 15 基準孔 17 メインプレス 18 下側検査治具 23 吸着パッド 26 基準マーク 27 配線パターン 28 配線パターン 2 X-Y-θ driving device 3 Upper inspection jig 5 Camera 8 Probe 11 Printed circuit board 12 Suction pad 15 Reference hole 17 Main press 18 Lower inspection jig 23 Suction pad 26 Reference mark 27 Wiring pattern 28 Wiring pattern

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント基板を第1治具と第2治具との
間に配置し、 プリント基板の第1治具側の配線パターンと第1治具の
プローブとの間に位置ずれがあるとき、プリント基板を
第2治具に保持させた状態で治具同士をずらせることに
より、当該位置ずれを補正し、 さらにプリント基板の第2治具側の配線パターンと第2
治具のプローブとの間に位置ずれがあるとき、プリント
基板を第1治具に保持させた状態で治具同士をずらせる
ことにより、当該位置ずれを補正し、 該補正の後、各治具上に設けられた検査プローブによる
配線パターンの導通検査結果を出力させるプリント基板
検査方法。
1. A printed circuit board is arranged between a first jig and a second jig, and there is a displacement between a wiring pattern on the first jig side of the printed circuit board and a probe of the first jig. At this time, the positional deviation is corrected by shifting the jigs while the printed board is being held by the second jig, and the wiring pattern on the second jig side of the printed board and the second jig
When there is a positional deviation between the jig and the probe, the jig is displaced while the printed circuit board is held by the first jig, and the positional deviation is corrected. A printed circuit board inspection method for outputting a continuity inspection result of a wiring pattern by an inspection probe provided on a tool.
【請求項2】プリント基板の上下両面を上側治具のプロ
ーブ群および下側治具のプローブ群にそれぞれ接触させ
て配線パターンの導通検査を行う方法において、下面の
プリント配線とプローブ群とのずれを検出し、ずれがあ
るときは、ブリント基板を上側治具に吸着保持させた状
態で、上下の治具同士を水平方向にずらせることにより
前記ずれを補正し、しかる後に下側のプローブ群と配線
パターンとを接触させることを特徴とするプリント基板
検査方法。
2. A method for inspecting the continuity of a wiring pattern by contacting the upper and lower surfaces of a printed circuit board with a probe group of an upper jig and a probe group of a lower jig, respectively. If there is a deviation, the upper and lower jigs are attracted and held by the upper jig, and the upper and lower jigs are horizontally displaced to correct the deviation, and then the lower probe group And a wiring pattern are brought into contact with each other, a printed circuit board inspection method.
【請求項3】 (a)プリント基板の第1面を保持する
第1保持具、前記第1面の配線パターンと当接される第
1プローブ群およびプリント基板と第1プローブ群との
相対的な位置ずれを検出する第1位置ずれ検出機構を備
えた第1治具と、 (b)前記プリント基板の第2面を保持する第2保持
具、前記第2面の配線パターンと当接される第2プロー
ブ群、およびプリント基板と第2プローブ群との相対的
な位置ずれを検出する第2位置ずれ検出機構を備えた第
2治具と、 (c)前記治具同士を接近・離隔させるための駆動機構
と、 (d)前記それぞれの位置ずれ検出機構よりのデータに
基づいて、治具同士の位置ずれを補正する補正機構とを
備えたプリント基板検査装置。
3. (a) A first holder for holding a first surface of a printed circuit board, a first probe group in contact with a wiring pattern on the first surface, and a relative relationship between the printed circuit board and the first probe group. A first jig having a first positional deviation detection mechanism for detecting various positional deviations, and (b) a second holder for holding the second surface of the printed circuit board, and a wiring pattern on the second surface. A second jig including a second probe group that detects the relative positional deviation between the printed circuit board and the second probe group, and (c) the jigs are moved toward and away from each other. A printed circuit board inspecting apparatus comprising: a driving mechanism for performing the above; and (d) a correction mechanism that corrects the positional deviation between the jigs based on the data from the respective positional deviation detection mechanisms.
【請求項4】 前記それぞれの位置ずれ検出機構が、プ
リント基板上に設けた基準マークと、該基準マークと対
応するように前記プローブ群を保持する保持板に貫通さ
せた前記基準マークよりも大きい基準孔と、基準マーク
と基準孔の内縁とを同時に検出するように、前記プロー
ブ保持板から離して各治具に設けたカメラとを備えてお
り、プリント基板とプローブとを当接させた状態におけ
る前記基準マークと基準孔の内縁の輪郭との相対位置を
基準としてプリント基板とプローブ保持板との位置ずれ
を検出するようにした請求項3記載のプリント基板検査
装置。
4. The displacement detection mechanism is larger than a reference mark provided on a printed circuit board and the reference mark penetrating a holding plate holding the probe group so as to correspond to the reference mark. A reference hole and a camera provided on each jig apart from the probe holding plate so as to detect the reference mark and the inner edge of the reference hole at the same time, and the printed board and the probe are in contact with each other. 4. The printed circuit board inspecting apparatus according to claim 3, wherein the positional deviation between the printed circuit board and the probe holding plate is detected with reference to the relative position between the reference mark and the contour of the inner edge of the reference hole.
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