JPS63282992A - 半導体記憶回路 - Google Patents

半導体記憶回路

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JPS63282992A
JPS63282992A JP62116894A JP11689487A JPS63282992A JP S63282992 A JPS63282992 A JP S63282992A JP 62116894 A JP62116894 A JP 62116894A JP 11689487 A JP11689487 A JP 11689487A JP S63282992 A JPS63282992 A JP S63282992A
Authority
JP
Japan
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word line
signal
circuit
monitor
terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP62116894A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Miura
直樹 三浦
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS63282992A publication Critical patent/JPS63282992A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は半導体記憶回路に関するもので、詳しくはビ
ットラインイコライズ信号発生回路を有する半導体記憶
回路に関するものである。
(従来の技術) 第2図は従来の半導体記憶回路のビットラインイコライ
ズ方法を説明するためのブロツク図である。メモリマト
リックス1はビットライン2とワードライン3が縦横に
配列され、多数のメモリセル4が交差点近傍に形成され
ている。この図ではメモリセル4ハNMOSトランジス
タNl、キャパシタC1からなる1トランジスター1キ
ャパシター型メモリセルを例としており、NMO8)ラ
ンジスタN1のソース(端子18)はキャパシタC1に
、ダート(端子17)はワードライン3に、ドレインは
ビットライン2にそれぞれ接続されている。
ビットライン2はセンスアンゾ5と平衡回路6とに並列
に接続された後、端子7に共通に配線され、トランジス
タN6を介して接地されている。
一方ワードライン3はワードラインデコーダー8に接続
されている。ワードラインデコーダー8は動作信号Bを
命令とするワードライン駆動回路9と端子10を介して
接続されている。また端子1θはワードラインモニター
11、センスアップラッチ回路12を介してNMO8)
ランジスタN6のケゝ−トに接続されている。リセット
信号AはNMO8)ランジスタN7 、N8のケ9−ト
に接続されている。これらトランジスタN7.N8はそ
れぞれ端子13.14の電位を接地レベルに落とすため
に設けられている。
次にこの回路の動作について説明する。
スタンバイ時にはリセット信号及び平衡回路に入力され
る信号AnがVccレベル、端子14.17がGNDレ
ベル、端子15.16が棒Vccレベルになっている(
第3図(波形チャート)参照)。
動作時にはまず信号A 、 AnがGNDレベルになる
その後動作信号Bの立ち上りによってワードライン駆動
回路9が動作し、端子10が立ち上る。端子10の立ち
上りによってワードラインデコーダー8を介して端子1
7が立ち上がD)ランジスタN1がONになる。これに
よりキヤ/ぐジター01に蓄えられていた情報(電荷)
がビットライン2に伝わり、端子15.16間に微少な
電位差Δ■がでる。このΔ■が飽和する時間をワードラ
インモニターで検知し、センスアップ駆動回路が動作し
て端子14が立ち上がる。これによpトランジスタN6
はON L、端子15,16間のΔVがトランジスタN
2 、N3を介して増幅される。その後図示しないアク
ティブリストア回路が動作し、端子15.16のHig
h側の端子をVccに充電する。
リセット時はまず信号Aが立ち上りトランジスタN7 
、N8がON l、て端子13.14がGNDレベルに
なる。さらにワードラインデコーダー8を介して端子1
7がGNDしRルになる。端子17が閾値電圧以下にな
るのをまって信号Anが立ち上がシ、トランジスタN4
.N5がON j、、端子15゜16が同一レベルにな
る。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上述のような従来の回路では信号Aから
信号Anまでの遅延時間はシュミレーションによって求
められた結果に基づいて決められており、信号Anは信
号Aを遅延回路例えば偶数段のインバーターを介すこと
によって作られていた。このため、ワードラインの抵抗
R及び寄生容量Csがプロセス上のバラツキで大きくな
るとワードラインが閾値電圧以下になるまでの時間が長
くなるが、信号Aから信号Anまでの遅延時間が一定で
あるためワードラインが閾値電圧以下になる前に信号A
nが立ち上がってしまう。
この場合トランジスタN1がON t、ているにもかか
わらずトランジスタN4 、N5がON しているため
、例えば端子18がGNDレベルの場合、端子16はア
クティブリストア回路によl) Vccになっておシ、
キャノぐジターC1は端子16→トランジスタN4→端
子7→トランジスタN5→端子15→トランジスタN1
とたどって充電されてしまい、メモリセルの情報が破壊
されてしまうという問題点があった。
この発明はプロセスのバラツキによるメモリセル情報の
破壊を除去した半導体記憶回路を提供することを目的と
する。
(問題点を解決するための手段) この発明ではワードラインモニターをワードラインと同
一材料で構成すると共に、このワードラインモニターを
介して得られたワードライン駆動回路の信号に依存した
信号を平衡回路の入力信号とした。
(作用) ワードラインモニターはワードラインの抵抗、寄生容量
による信号の遅延と同じタイミンク゛だけワードライン
駆動回路の信号を遅延させる遅延回路として作用し、平
衡回路の入力信号はワード9うインによって遅延した信
号に依存したタイミングの信号が入力される。
(実施例) 第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
この図において第1図と同一部分には同一符号を付して
その説明を省略する。
この実施例では偶数段のインバーターで形成したワード
ライン駆動回路9から出力された信号は端子10を通シ
ワードラインモニター21に入力される。ワードライン
モニター21はワードライン3と同一の材料で形成され
ている。ワードラインモニター21は実質的には抵抗R
xと容量Cxで表わされる遅延回路として働き、ワード
ライン駆動回路9の出力を遅延させて、偶数段のインバ
ータからなるセンスアップランチ駆動回路12及びビッ
トラインイコライズ信号発生回路25へ入力させる。ビ
ットラインイコライズ信号発生回路25はインバータ2
3と2人カアンド回路24から構成されており、リセッ
ト信号Aとワードラインモニター21からの信号をイン
バーター23で反転した信号とをアンド回路24の入力
としてその出力をビットラインイコライズ信号Anとし
、これは平衡回路6へ伝えられる。その他の回路等は第
2図と同じである。
次にこの実施例の動作について第4図の波形チャートを
参照しながら説明する。
スタンバイ時はリセット信号AがVccレベル、書込信
号BがGNDレベルのため端子22もGNDレベルとな
シ端子26は端子22の逆相のレベルVccがでている
。このため端子26と信号Aのアンドをとった信号An
はVccレベルとなっている。
1だ端子14.17はGNDレベル、端子15.16は
% Vccレベルになっている。
動作時はまず信号AがGNDレベルになシ、これに伴な
い信号AnもGNDレベルになる。その後、ワードライ
ン駆動回路9が動作し、端子10が立ち上がり、ワード
ラインデコーダー8、ワードライン3を介して端子17
が立ち上がる。端子17が立ち上がることによってトラ
ンジスタN1がONし、キャパシターC1に蓄えられて
いたセル情報が端子15に伝わり、端子15.16間に
微少な電位差ΔVがでる。ΔVが飽和する時間をワード
ラインモニター21で検知し、端子22が立ち上がり、
センスアップラッチ駆動回路12が動作し、端子14が
立ち上がる。これによりトランジスタN6がON L、
端子15.16間のΔVがトランジスタN2 、N3を
介して増幅される。その後図示しないアクティブリスト
ア回路が動作し、端子15.16のHigh側の端子を
Vccに充電する。
リセット時は、まずリセット信号Aが立ち上がり、トラ
ンジスタN7 、N8がON L、端子13゜14がG
NDレベルになる。さらに端子17もワードライン3、
ワードラインデコーダー8を介してGNDレベルになる
。同様に端子22もワードラインモニター21を介して
GNDレベルになる。端子22が閾値電圧Vt以下にな
ると端子26が立ち上がるため、リセット信号Aと端子
26とのANDをとるAND回路24の出力、すなわち
ビットラインイコライズ信号発生回路25の出力である
ビットラインイコライズ信号Anが立ち上がる。これに
よ/n) リトランジスタN4 、N5がON L、端子15.1
6が同一レベルとなる。
ここで、ワードラインモニター21について説明する。
ワードラインモニター21は前に述べたようにワードラ
イン3と同一の材料で形成されているため、ワードライ
ン3の抵抗Rはワードラインモニター21の抵抗Rxと
、ワードライン3の寄生容iCsはワードラインモニタ
ー21の容tcxと一致する。また、この実施例のワー
ドラインモニター21はワードライン3と同じプロセス
で形成している。このため、プロセスのバラツキが起き
てワードライン3の抵抗R1容貴C8に変動が起きても
、同様にワードラインモニター21の抵抗Rx 、容量
Cxが変動するため、端子22と端子17とのタイミン
グはほぼ一致する。
ビットラインイコライズ信号発生回路24は端子22の
タイミングに依存したビットラインイコライズ信号An
を発生させる。すなわちビットラインイコライズ信号A
nは端子17のタイミングと一定の関係にある。この一
定の関係とは端子17が閾値電圧Vt以下になった後、
信号Anが立ち上がるようにしたことである。
なお、この実施例ではビットラインイコライズ信号発生
回路をインバータとアンド回路から構成したが、この構
成以外でも、ワードラインモニターの出力に依存するビ
ットラインイコライズ信号を発生するような回路であれ
ばこの発明の範噴に属するものと解される。
(発明の効果) 以上詳細に説明したようにこの発明によれば平衡回路に
入力されるビットラインイコライズ信号を、ワードライ
ンと同一の材料で形成されたワードラインモニターで遅
延さすたワードライン駆動回路の出力に依存するよう構
成したため、ワードラインが閾値電圧以下になる前にビ
ットラインイコライズ信号が立ち上がることはなくなり
、プロセスのバラツキによるワードラインの抵抗、容量
の変動に影響されないビットラインイコライズ信号を得
ることが出来、メモリセル情報の破壊のない半導体記憶
回路が提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例を示すブロック図、第2図は
従来の半導体記憶回路のブロック図、第3図は第2図の
タイミングを示す図、第4図は第1図のタイミングを示
す図である。 1・・・メモリマトリックス、2・・・ビットライン、
3・・・ワードライン、4・・・メモリセル、5・・・
センスアンプ、6・・・平衡回路、8・・・ワードライ
ンデコーダー、9・・・ワードライン駆動回路、11.
21・・・ワードラインモニター、12・・・センスア
ップラッチ駆動回路、23・・・インバーター、24・
・・アンド回路、25・・・ビットラインイコライズ信
号発生回路、N1〜N8・・・鑞4OSトランジスタ、
CI 、 Cx・・・キャノ<?ジター、R、Rx・・
・キャパシタ、A・・・リセット信号、An・・・ビッ
トラインイコライズ信号、B・・・動作信号。 特許出願人 沖電気工業株式会社 1 事件の表示 昭和62年 特 許  願第116894号2 発明の
名称 半導体記憶回路 3、補正をする者 事件との関係       特許用 願 人任 所(〒
105)  東京都港区虎ノ門1丁目7番12号名称(
029)  沖電気工業株式会社代表者       
取締役社長橋本南海男48代理人 住 所(〒108)  東京都港区芝浦4丁目10番3
号5補正の対象 明細書中「発明の詳細な説明」の欄、
6.4.。、8″゛°°“″パ”“°゛″“i、為へ、
:2./7 別紙の通り    にさ  し)s−46、補正の内容 (1)明細書第3頁第12行目から第13行目に「セン
スアップラッチ回路」とあるのを「センスアップラッチ
回路」と補正する。 (2)  同書同頁第20行目に「リセット信号」とあ
るのを 「リセット信号A」と補正する。 (3)  同書第4頁第2行目に「16がHv。Cレベ
ル」とあるのを 「16が図示しないビットラインシリチャー−ジ回路に
よシ112vc0レベル」と補正スル。 (4)  同書第頁第3行目に「センスアップ」とある
のを 「センスアンプラッチ」と補正する。 (5)  同書同頁第19行目に「リセット時はまず信
号Aが」とあるのを 「リセット時はまず信号BがGNDになシ信号Aが」と
補正する。 (6)  同書第5頁第3行目、第14行目、第16行
目に「電圧以下」とあるのを 「電圧■を以下」と補正する。 (7)  同書第7頁第15行目に「センスアンプラン
チ」とあるのを 「センスアンプランチ」と補正する。 (8)同書第8頁第8行目に「書込信号B」とあるのを 「動作信号B」と補正する。 (9)  同書第9頁第4行目に「センスアンプランチ
」とあるのを 「センスアンプランチ」と補正する。 ト α0 同書用12頁参14行目に「R9Rx・・・キャ
パシタ」とあるのを r R、RX・・・抵抗」と補正する。 αつ 図面「第1図」「第2図」「第4図」を別紙の通
シ補正する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ビットラインとワードラインとメモリセルとを複
    数有するメモリマトリックスと、 前記ビットラインからメモリセルの情報を読み出すセン
    スアンプと、 ビットラインイコライズ信号に応答して前記ビットライ
    ン対を同一レベルにする平衡回路と、前記ワードライン
    を“H”レベルにするワードライン駆動回路と、 前記ワードラインと同一の材料で形成され、前記ワード
    ライン駆動回路の信号を遅延させるワードラインモニタ
    ーと、 前記ワードラインモニターの出力信号を入力とし、この
    出力信号に依存したビットラインイコライズ信号を出力
    するビットラインイコライズ信号発生回路とを有するこ
    とを特徴とする半導体記憶回路。
  2. (2)前記ビットラインイコライズ信号発生回路は前記
    ワードラインモニターの出力信号を反転して出力するイ
    ンバーターと、該インバーターの出力信号と、前記ワー
    ドライン駆動回路の出力を“L”レベルにするリセット
    信号とのANDをとるアンド回路とから構成されること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶回
    路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5251180A (en) * 1990-11-30 1993-10-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device
US5396417A (en) * 1991-11-01 1995-03-07 Capitol Cities/Abc, Inc. Product distribution equipment and method
US5936911A (en) * 1997-02-27 1999-08-10 Nec Corporation Static type semiconductor memory device with timer circuit

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5625292A (en) * 1979-08-08 1981-03-11 Mitsubishi Electric Corp Memory circuit
JPS61133093A (ja) * 1984-12-03 1986-06-20 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体メモリ装置
JPS61158094A (ja) * 1984-12-28 1986-07-17 Toshiba Corp ダイナミツク型メモリのセンスアンプ駆動回路

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5625292A (en) * 1979-08-08 1981-03-11 Mitsubishi Electric Corp Memory circuit
JPS61133093A (ja) * 1984-12-03 1986-06-20 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体メモリ装置
JPS61158094A (ja) * 1984-12-28 1986-07-17 Toshiba Corp ダイナミツク型メモリのセンスアンプ駆動回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5251180A (en) * 1990-11-30 1993-10-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device
US5396417A (en) * 1991-11-01 1995-03-07 Capitol Cities/Abc, Inc. Product distribution equipment and method
US5936911A (en) * 1997-02-27 1999-08-10 Nec Corporation Static type semiconductor memory device with timer circuit

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