JPS6328057A - 半導体装置パツケ−ジ - Google Patents

半導体装置パツケ−ジ

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JPS6328057A
JPS6328057A JP17217686A JP17217686A JPS6328057A JP S6328057 A JPS6328057 A JP S6328057A JP 17217686 A JP17217686 A JP 17217686A JP 17217686 A JP17217686 A JP 17217686A JP S6328057 A JPS6328057 A JP S6328057A
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JP
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conductor
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JP17217686A
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Masahiko Arimura
有村 政彦
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
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    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置パッケージ、特にICチップを搭
載する半導体装置パッケージの内部リード線の接続構成
に関する。
〔従来の技術〕
従来、ECL型論理IC1特に多出力系の論理IC用パ
ッケージにおける高電位側電源端子は最高電位端子(以
下VCC端子と略す)と出力トランジスタのコレクタ端
子(以下VCCACC上略す)とに分離して使用されて
いる。これはパッケージのリードおよびボンディングワ
イヤが持つ寄生インダクタンスに出力のトランジスタが
スイッチングするときの過渡電流が流れるために発生す
るノイズ電圧をVCCが直接受けないようにするためで
ある。
第3図は上記のようなECL型論理出力回路と出力トラ
ンジスタがスイッチングする時の過渡電流の動きを示し
ている。該電流が寄生インダクタンスしによりノイズ電
圧を発生する。特に出力が複数ある場合には出力トラン
ジスタのコレスタ端子に数百mVのノイズ電圧が発生す
ることがあり、このノイズ電圧を直接VCCが受けない
ようにするた必にVCCA端子が使用されている。
第2図は従来より使用されているパッケージのリード接
続構成を示す図である。同図において1ρ端子がVCC
A端子であり、2np端子が■cc端子であるとする。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した様に従来のパッケージではVCC端子とVCC
A端子は独立ピンとして使用されていた。ところで最近
のICの高゛速化に伴いICの論理出力の出力立上り時
間は非常に小さく急峻な特性をもっており、寄生インダ
クタンスによるノイズ電圧△V(−”−L  di/d
t)はますます大きくなる傾向にある。さらにこの急峻
な出力の立上り特性は出力のHigh側でオーバーシュ
ートとなり、それに起因する出力のリンギングまたは出
力発振としてあられれる。一方この出力リンギングまた
は発振はVCC端子とVCCA端子をICの内部パッド
近くで短絡することによって抑えることが可能であるこ
とがわかっている。故にICの内部パッドとパ・ソケー
ジの内部リード間で両端子をボンディングすることによ
って上記のリンギングは防ぐことができる。しかしこの
場合は前述のノイズ電圧が直接■cc端子に影響を及ぼ
すことになる。このノイズ電圧の影響を最も大きく受け
るのが入力特性であり、最悪の場合には入力特性規格を
オーバーして誤操作する恐れがある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の半導体装置パッケージは、特定の機能を有する
第一のリード線と、前記第一のリード線と同一の機能を
有し前記第一のリード線に隣接する第二のリード線と、
前記第一のリード線と前記第二のリード線をそれぞれの
外部接続端子の近傍において接続する短絡線とを有して
構成される。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は゛本発明の一実施例を示す平面図である。
同図においてパッケージ1はICチップ2と、内部リー
ド線3と、IC内部バッド4と、IC内部バッド4と内
部リード線3を接続するボンディングワイヤ5とを有し
、さらに端子IPと端子2nPとを接続する短絡線6を
具備している。■cc端子2nPとV。CA端子IPは
パッケージ1の内部リード線上で短絡線6によって短絡
されている。
この場合に出力リンギングはこの内部リード線上のいず
れの場所で短絡しても抑えることが可能である。しかし
前述の過渡電流によるノイズ電圧はノイズバイパス用コ
ンデンサで通常抑えられているので、ICの内部パッド
4に近いところほど大きく外部リード端子部に近いとこ
ろでは最も小さい。故に両端子の短絡は外部リード端子
に最も近いところで行なうことによって入力特性を悪化
させることなく出力のリンギングを抑えることができる
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の半導体装置パッケージによ
れば、最高電位端子をもつ多出力系のECL型論理IC
用パッケージにおいて最高電位端子と他の端子、すなわ
ち出力トランジスタのコレクタ端子を外部リード端子部
に近い内部リード線で短絡することにより、出力のリン
ギングを抑え、かつ安定した入力特性を得ることができ
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による半導体装置パッケージの一実施例
を示す平面図、第2図は従来の半導体装置パッケージの
例を示す平面図、第3図はECL型論理出力回路の例を
示す回路図である61・・・・・・半導体装置パッケー
ジ、2・・・・・ICチップ、3・・・・・・内部リー
ド線、4・・・・・・IC内部パッド、5・・・・・・
ボンディングワイヤ、6・・・・・・短絡線。 芽 /I!I IP                     −y
tP矛 2 図 $ 3 回

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ICチップを搭載した半導体装置パッケージにおいて
    、特定の機能を有する第一のリード線と、前記第一のリ
    ード線と同一の機能を有し前記第一のリード線に隣接す
    る第二のリード線と、前記第一のリード線と前記第二の
    リード線をそれぞれの外部接続端子の近傍において接続
    する短絡線とを有することを特徴とする半導体装置パッ
    ケージ。
JP17217686A 1986-07-21 1986-07-21 半導体装置パツケ−ジ Granted JPS6328057A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17217686A JPS6328057A (ja) 1986-07-21 1986-07-21 半導体装置パツケ−ジ

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JP17217686A JPS6328057A (ja) 1986-07-21 1986-07-21 半導体装置パツケ−ジ

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Publication Number Publication Date
JPS6328057A true JPS6328057A (ja) 1988-02-05
JPH0582980B2 JPH0582980B2 (ja) 1993-11-24

Family

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