JPS63279213A - レ−ザ光走査型顕微鏡 - Google Patents

レ−ザ光走査型顕微鏡

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JPS63279213A
JPS63279213A JP11405387A JP11405387A JPS63279213A JP S63279213 A JPS63279213 A JP S63279213A JP 11405387 A JP11405387 A JP 11405387A JP 11405387 A JP11405387 A JP 11405387A JP S63279213 A JPS63279213 A JP S63279213A
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lens
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Hisanobu Takamoto
尚宜 高本
Koji Tsuchiya
広司 土屋
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Hamamatsu Photonics KK
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Hamamatsu Photonics KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はレーザ光走査型顕微鏡に関し、特に有限補正顕
微鏡対物レンズを用い、レーザ光を試料面に集光させて
走査するレーザ光走査型顕微鏡に関する。
〔従来の技術〕
従来、レーザ光走査型顕微鏡には、無限遠補正対物レン
ズを用いるものと、有限補正対物レンズを用いるものと
が知られている。
第3図は無限遠補正対物レンズを用いたレーザ光走査型
′w4微鏡の光学系を示す図で、20はレーザ光、21
はハーフミラ−122はX方向偏向器、23は対物レン
ズ、24は対物レンズアパーチャ、25は非偏向光、2
6は偏向光、27.28はレンズ、29はY方向偏向器
、30は瞳投影レンズ、31は結像レンズ、32は試料
面、37は被検出光である。
図において、平行なレーザ光20はハーフミラ−21を
介してX方向偏向器22に入射し、ここで反射された光
はテレセンドリンクレンズ系27゜28を通ってY方向
光偏向器29に入射する。X方向光偏向器22のアパー
チャとY方向光偏向器29のアパーチャは相互に共役の
位置にある。Y方向光偏向器29から出た光は瞳投影レ
ンズ30と結像レンズ31を経て平行光となり、対物レ
ンズ23のアパーチャ24に入射し、対物レンズ23の
試料面32に集光し、光偏向器22.29の作用によっ
てこの集光スポットは試料面32を走査する。なお、光
偏向器29のアパーチャと対物レンズ23のアパーチャ
24は共役になるようにされている。無限遠補正対物レ
ンズ23は試料面32の像を無限遠に収差補正して結像
するように設計されたものであるので、第3図のような
配置を用いると、結像レンズ31と対物レンズ23との
間が平行光となっているため、集光スポットは無収差で
集光する。そして、結像レンズ31と対物レンズ23の
間にパワーを有しないビームスプリッタ−等の光学素子
を挿入して用いることができる。
一方、有限補正対物レンズとは、試料面の像を有限距離
に収差補正して結像するように設計されたものである。
第4図はこのような対物レンズを用いた従来のレーザ光
走査型顕微鏡の光学系を示す図で、第3図と同一番号は
同一内容を示している0図中、10°はレーザ、15は
ビームエキスパンダー、16はミラー、17は光検出器
、23′は対物レンズである。
図において、投影レンズ30以前の光学系は第3図と同
じであるが、この例の場合は瞳投影レンズ30の結像点
f0と有限補正対物レンズ23゛の結像位置とを一致す
るように対物レンズ23′を配置する。なお、この場合
も光偏向器29のアパーチャと対物レンズ23′のアパ
ーチャ24とは共役関係にある。
〔発明が解決すべき問題点〕
しかしながら第3図のような無限遠補正対物レンズは位
相差結像、螢光U微鏡等の特殊な顕微鏡に用いられるた
め、その種類が少なく、用途が限られてしまい、また第
4図に示すような配置であると、瞳投影レンズ30と対
物レンズ23′の間の光は平行光となっていないので、
この間にビームスプリッタ−等の光学素子を挿入すると
、収差が発生してしまい、試料面32に集光するスポッ
トに収差が生じ、高解像力で走査することができず、ま
た、光路長の変化によって集光位置がずれてしまうので
、その出し入れもできない。また、この対物レンズ23
゛が光学顕微鏡対物レンズを兼ねている場合、収差発生
によりビームスプリフタをとおして見る像は劣化する。
本発明は上記問題点を解決するためのもので、有限補正
顕微鏡対物レンズを用いるレーザ光走査型1iJi微鏡
の欠点をなくし、光偏向器の瞳投影レンズと有限補正顕
微鏡対物レンズとの間にビームスプリッタ、フィルター
等のノンパワーの光学素子の挿入を可能にし、このよう
な光学素子を挿入しても走査スポットの集光位置がずれ
ず、且つ集光スポットに何らの収差も導入されないで、
試料面を高精度でかつ何らのエネルギーロスなしに走査
することができるレーザ光走査型OL”1g鏡を提供す
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕 そのために本発明は、有限補正光学系対物レンズを用い
たレーザ光走査型顕微鏡において、瞳投化レンズと対物
レンズとの間に、凸レンズと凹レンズとの組合せレンズ
を配置し、前記凸レンズの前側焦点位置を瞳投影レンズ
の後側焦点位置に、前記凹レンズの前側焦点位置を対物
レンズの結像位置にそれぞれほぼ一敗させたことを特徴
とする。
〔作用〕
本発明のレーザ光走査型顕微鏡は、瞳投影レンズと対物
レンズとの間に、凸レンズと凹レンズとの組合せレンズ
を配置し、前記凸レンズの前側焦点位置を瞳投影レンズ
の後側焦点位置に、前記凹レンズの前側焦点位置を対物
レンズの結像位置にほぼ一致させることにより、凸レン
ズと凹レンズ間を平行ビームもしくはそれに近い状態に
し、対物レンズと結像位置との距離を引き伸ばすことが
できる共に、凸レンズと凹レンズ間にレンズ効果を持た
ない光学素子の挿入が可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を第1図と第2図を用いて説明す
る。
第1図は、本発明によるレーザ光走査型顕微鏡の光学系
を示す図、第2図(イ)は第1図の光学系の距離関係を
説明するための説明図、第2図(ロ)はアパーチャ像の
位置を説明するための説明図で、1は光偏向器、2は瞳
投影レンズ、3は凸レンズ、4はビームスプリッタ、5
は凹レンズ、6は対物レンズアパーチャ、7は対物レン
ズ、8は試料面である。
図において、有限補正対物レンズ7を用いて、試料面8
上にレーザ光LBを集光し、走査するための光学系光路
が示されている。ここで使用する有限補正対物レンズと
は、通常の顕微鏡の対物レンズで、試料を対物レンズ後
方の一定有限距離に結像するように諸収差が補正されて
いるものである。したがって、このような対物レンズを
用いてレーザ光を集光させる場合、この対物レンズにレ
ーザ光を平行光束のまま入射させると、集光点において
諸収差が発生し、レーザ光は充分に集光せず、そのため
必要な分解能を得ることができない。
本発明においては、対物レンズ7の結像位置と対物レン
ズ7の前に配置した凹レンズ5の焦点とを一敗させ、対
物レンズ7に入射するレーザ光があたかも対物レンズ7
の結像位置から発したごとくして、試料面8上に収差の
発生がないように集光させている。
第1図に示した光学系にいては、光偏向器1の後方に距
離d、だけ離れて焦点圧Md!の瞳投影レンズ2を配置
し、瞳投影レンズ2の後方には凸レンズ3と凹レンズ5
の組合わせレンズを配置する。この時、凸レンズ3の前
側の焦点と瞳投影レンズ2の後側の焦点とを一致、もし
くはほぼ一致させる。そして、凹レンズ5の前側の焦点
(凹レンズ5に入射した平行光が発散する仮想発散点)
と対物レンズ7の結像位置も一致もしくはほぼ一致する
ように対物レンズ7を配置する。このように配置すると
、光偏向器1に入射した平行なレーザ光LBは、ここで
偏向されて瞳投影レンズ2に入射し、投影レンズ2の後
側の焦点である結像点f0に集光し、ここから再び発散
して凸レンズ3に入射して平行光に変換され、凸レンズ
と凹レンズ5の間に配置されたビームスプリッター4に
より反射されて下方へ落射し、そして、凹レンズ5によ
ってあたかも対物レンズ7の結像位置から発散されたよ
うな発散光となって対物レンズ7のアパーチャ6へ入射
する。従って、対物レンズ7の後方の試料面8に無収差
のスポットが結像され、光偏向器1を動作させることに
よって、試料面8をこのスポットによって走査すること
ができる。
このように、光偏向器1のアパーチャを有限補正対物レ
ンズ7のアパーチャ6上へ投影する瞳投影レンズ2と対
物レンズ7との間に凸レンズ3と凹レンズ5の組合せレ
ンズを配置することにより、凸レンズ3と凹レンズ5の
間を所定長さの平行光束または、それに近い光束とする
ことができ、その間にビームスプリッター、フィルター
等のノンパワーの光学素子を挿入しても試料面8上での
ビームの集光状態には何らの影響もない。
このような光学系において、使用する対物レンズ7に対
して、凸レンズ3、凹レンズ5のパワーと配置を決定す
ると、このレンズの組合せによる対物レンズアパーチャ
6の瞳投影レンズ2側から見た像の位置も決まる。この
アパーチャ像の位置が結像点f、から後方d、′である
とすると(第2図(ロ)参照)、光偏向器1によって偏
向される光が有効に試料面8に集光されるためには、偏
向器1のアパーチャと対物レンズアパーチャとが共役の
関係にならなければならない。この条件より、光偏向器
lと瞳投影レンズ2との間の距離d1は次のように決ま
る。
d+ ”’ (dz +ds  ′)  ・d2/d3
′・・・・・・・・・10上記したように、凸レンズ3
と凹レンズ5の組合合わせよってd、′の値は決まるの
で、この組合わせレンズを固定すると、瞳投影レンズ2
の焦点路Nd2を変更しても、上記+11式により光偏
向器1と瞳投影レンズ2との間の距離d1を決めること
ができるので、光偏向器1のアパーチャと対物レンズア
パーチャ6とを常に共役゛の関係にすることができる。
ところで、対物レンズアパーチャ6に入射するビーム径
Aは次のように決まる。
A = j t  (m + l s ) D/m d
 t ・=・”・・・−−・”+21ここでDは瞳投影
レンズ2に入射するビーム径、1、は凸レンズ3の焦点
距離、mは凹レンズ5の焦点距離の絶対値、1、は凹レ
ンズ5と対物レンズアパーチャ6の距離である(第2図
(イ)参照)。したがって、凸リズム3は凹レンズ5の
組合わせを決めた場合、瞳投影レンズ2の焦点距離d2
によって上式(2)に従って対物レンズアパーチャへ入
射するビーム径を任意に決めることができる。なお、1
1−m、すなわち、凸レンズ3と凹レンズ5の焦点距離
が等しい場合には、(2)式はA=(11+7’! )
D/d!・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・(3)となる、ここで、(11+J、)は凸レン
ズ3と凹レンズ5を配置しないで有限補正対物レンズ7
を使用する場合の結像点f0と対物レンズアパーチャ6
との間の距離である。
また、この光学系においては、第1図に示したように、
ビームスプリッタ4の上方に結像レンズと接眼レンズを
配置することにより、光学顕微鏡の機能を同時に持たせ
ることができる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、光偏向器の瞳投影レンズ
と有限補正顕微鏡対物レンズとの間にビームスプリフタ
、フィルター等のノンパワーの光学素子の挿入が可能と
なり、その結果光学素子を挿入しても走査スポットの集
光位置がずれず、且つ集光スポットに何らの収差も導入
されないで、試料面を高精度でかつ何らのエネルギーロ
スなしに走査することができる。また対物レンズは有限
補正光学系のものを用いているため、多種多様な対物レ
ンズを使用し、手術等のレーザ光による微細加工や螢光
測定など幅広く選択的に使用することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるレーザ光走査型顕微鏡の一実施例
を示す図、第2図(イ)は第1図の光学系の距離関係を
説明するための説明図、第2図(ロ)はアパーチャ像の
位置を説明するための説明図、第3図は無限遠補正対物
レンズを用いた従来のレーザ光走査型顕微鏡の光学系を
示す図、第4図は有限補正対物レンズを用いた従来のレ
ーザ光走査型顕微鏡の光学系を示す図である。 1・・・光偏向器、2・・・瞳投影レンズ、3・・・凸
レンズ、4・・・ビームスプリッタ、5・・・凹レンズ
、6・・・対物レンズアパーチャ、7・・・対物レンズ
、8・・・試料面。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)有限補正光学系対物レンズを用いたレーザ光走査
    型顕微鏡において、瞳投影レンズと対物レンズとの間に
    、凸レンズと凹レンズとの組合せレンズを配置し、前記
    凸レンズの前側焦点位置を瞳投影レンズの後側焦点位置
    に、前記凹レンズの前側焦点位置を対物レンズの結像位
    置にそれぞれほぼ一致させたことを特徴とするレーザ光
    走査型顕微鏡。
  2. (2)前記瞳投影レンズまでの光偏向器からの距離をd
    _1、瞳投影レンズの焦点距離をd_2、瞳投影レンズ
    の後側焦点位置(結像点)からアパーチャ像までの距離
    をd_3′としたとき、 d_1=(d_2+d_3′)・d_2/d_3′とな
    るように光学系を配置した特許請求の範囲第1項記載の
    レーザ光走査型顕微鏡。
  3. (3)瞳投影レンズに入射するビーム径をD、瞳投影レ
    ンズの焦点距離をd_2、凸レンズの焦点距離をl_1
    、凹レンズの焦点距離の絶対値をm、凹レンズと対物レ
    ンズアパーチャとの距離をl_3としたとき、対物レン
    ズアパーチャに入射するビーム径Aを、 A=l_1(m+l_3)D/md_2 となるように光学系を配置した特許請求の範囲第1項記
    載のレーザ光走査型顕微鏡。
  4. (4)対物レンズの光軸上にビームスプリッタを配置し
    、光軸に対して直交方向からレーザ光を入射する特許請
    求の範囲第1項記載のレーザ光走査型顕微鏡。
  5. (5)対物レンズ光軸上に顕微鏡用光学系を配置した特
    許請求の範囲第1項記載のレーザ光走査型顕微鏡。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10139920A1 (de) * 2001-08-14 2003-03-06 Leica Microsystems Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10139920A1 (de) * 2001-08-14 2003-03-06 Leica Microsystems Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts
US6754003B2 (en) 2001-08-14 2004-06-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope and method for scanning a specimen
DE10139920B4 (de) * 2001-08-14 2008-07-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts

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