JPS63277049A - Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置 - Google Patents
Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置Info
- Publication number
- JPS63277049A JPS63277049A JP62111942A JP11194287A JPS63277049A JP S63277049 A JPS63277049 A JP S63277049A JP 62111942 A JP62111942 A JP 62111942A JP 11194287 A JP11194287 A JP 11194287A JP S63277049 A JPS63277049 A JP S63277049A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- impedance
- probe head
- imaginary part
- real part
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/32—Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
- G01R33/36—Electrical details, e.g. matching or coupling of the coil to the receiver
- G01R33/3628—Tuning/matching of the transmit/receive coil
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、プローブヘッドのインピーダンスを特性イン
ピーダンスに等しく調整するMRI装置のインピーダン
ス自動調整装置に関する。
ピーダンスに等しく調整するMRI装置のインピーダン
ス自動調整装置に関する。
(従来の技術)
MRI装置で被検体から送られるMR倍信号受信するた
めのアンテナとしてプローブヘッドが用いられる。第5
図はこのプローブヘッドの等何回路の一例を示すもので
、このプローブヘッドには給電線(特性インピーダンス
Zc、多くの場合50Ω)が接続され診断態様に応じて
引き回される。ここで、C1,02は可変コンデンサ、
Lはコイル、Rはコイルの等価的並列抵抗、Ziは入力
側からみたインピーダンスである。ところでこのプロー
ブヘッドを用いる場合は次の2つの理由により、その入
力側からみたインピーダンス(以下単にインピーダンス
と称する)Ziを特性インピーダンスZcに等しく調整
する必要がある。■Zi触Zcの場合は給電線でMR倍
信号伝送損失が生じるので、S/N特性が劣化する。■
MRI装置で使用される低雑音アンプは多くの場合入力
インピーダンスがZcT:”fl計されているので、Z
i #Zcの場合即ちZc以外の信号源インピーダンス
を持つ信号源と接続した場合は、ノイズフィギュアマツ
チングを犠牲にすることになるため必ずしも低雑音が保
証されない。
めのアンテナとしてプローブヘッドが用いられる。第5
図はこのプローブヘッドの等何回路の一例を示すもので
、このプローブヘッドには給電線(特性インピーダンス
Zc、多くの場合50Ω)が接続され診断態様に応じて
引き回される。ここで、C1,02は可変コンデンサ、
Lはコイル、Rはコイルの等価的並列抵抗、Ziは入力
側からみたインピーダンスである。ところでこのプロー
ブヘッドを用いる場合は次の2つの理由により、その入
力側からみたインピーダンス(以下単にインピーダンス
と称する)Ziを特性インピーダンスZcに等しく調整
する必要がある。■Zi触Zcの場合は給電線でMR倍
信号伝送損失が生じるので、S/N特性が劣化する。■
MRI装置で使用される低雑音アンプは多くの場合入力
インピーダンスがZcT:”fl計されているので、Z
i #Zcの場合即ちZc以外の信号源インピーダンス
を持つ信号源と接続した場合は、ノイズフィギュアマツ
チングを犠牲にすることになるため必ずしも低雑音が保
証されない。
第5図の等価回路において、可変コンデンサC2、C1
とインピーダンスZ:との関係は次式のように示される
。
とインピーダンスZ:との関係は次式のように示される
。
(但しR,z+は実数)
上記(1)、 (2)式から明らかなように、Zlを大
きくすると02は小さくなり、C1は大きくなる。
きくすると02は小さくなり、C1は大きくなる。
即ち、R,Lが一定の基ではC2を小さくすれば(勿論
C1もそれに合わせて少し大きくする)、純抵抗になる
ように合わせたプローブヘッドのインピーダンスZiは
大きくすることができる。
C1もそれに合わせて少し大きくする)、純抵抗になる
ように合わせたプローブヘッドのインピーダンスZiは
大きくすることができる。
次に点線内の回路部分のインピーダンスZ×を計算する
と次式のようになる。
と次式のようになる。
また、2つのC2の回路部分のインピーダンスZYは次
式で示される。
式で示される。
・・・(4)
即ち、上記式(3)、 (4]から明らかなように、Z
iはC1、R,Lによって形成されるZ×と2つのC2
によって形成されるZYとから構成され、Zit純抵抗
にするためには(3)式における虚部(インダクテイブ
なりアクタンス分)を(4)式で示される虚部(キャパ
シティブなリアクタンス分)によって相殺して零にすれ
ばよいことがわかる。
iはC1、R,Lによって形成されるZ×と2つのC2
によって形成されるZYとから構成され、Zit純抵抗
にするためには(3)式における虚部(インダクテイブ
なりアクタンス分)を(4)式で示される虚部(キャパ
シティブなリアクタンス分)によって相殺して零にすれ
ばよいことがわかる。
以上の事実に基き、前記したようにZi =Zcの条件
を満足させるためには、Zi <Zcの関係にある場合
はC2を小さく調整し且つそのとき生じた虚部を相殺す
るように01を大きく調整することにより、Z:を大き
くなるように調整すればよい。またZi >Zcの場合
は逆に02を大きく且つC1を小ざく調整することによ
りZlを小さくするように調整すればよい。
を満足させるためには、Zi <Zcの関係にある場合
はC2を小さく調整し且つそのとき生じた虚部を相殺す
るように01を大きく調整することにより、Z:を大き
くなるように調整すればよい。またZi >Zcの場合
は逆に02を大きく且つC1を小ざく調整することによ
りZlを小さくするように調整すればよい。
ところで、プローブヘッド単体ではQが高いことが要求
され、かつIa形影時は被検体がプローブヘッドに接近
するために、実際の撮影時のプローブヘッドの第1次近
似としての等価回路は第5図と異なって第6図のように
示される。ここで、cs 、c’sは人体とコイル間の
浮遊容L RPは人体の等価的抵抗である。従って、イ
ンピーダンスZiもZ′iに変化してしまうようになる
。第6図は第7図のように等価変換することができ、ざ
らに第8図の゛ように簡略化することもできる。第7図
でC’sはC3、c’s、Rpを並列変換したときの等
価的容量、R′PはC’sと同様に変換したときの等価
的容量である。但し、 である。このような第8図の等価回路において、Z′i
=/Cの条件から可変コンデンサ02 、 C’1とイ
ンピーダンスZcとの関係は、前記(11,(2)式に
準じて次式にように示される。
され、かつIa形影時は被検体がプローブヘッドに接近
するために、実際の撮影時のプローブヘッドの第1次近
似としての等価回路は第5図と異なって第6図のように
示される。ここで、cs 、c’sは人体とコイル間の
浮遊容L RPは人体の等価的抵抗である。従って、イ
ンピーダンスZiもZ′iに変化してしまうようになる
。第6図は第7図のように等価変換することができ、ざ
らに第8図の゛ように簡略化することもできる。第7図
でC’sはC3、c’s、Rpを並列変換したときの等
価的容量、R′PはC’sと同様に変換したときの等価
的容量である。但し、 である。このような第8図の等価回路において、Z′i
=/Cの条件から可変コンデンサ02 、 C’1とイ
ンピーダンスZcとの関係は、前記(11,(2)式に
準じて次式にように示される。
・・・(2)′
(ω=2yrf; f(Hz)はMR倍信号共鳴周波数
)従って、第5図の場合と同様にC’l、C2を調整す
ることによりZi =Zcの条件を満足させることがで
きる。
)従って、第5図の場合と同様にC’l、C2を調整す
ることによりZi =Zcの条件を満足させることがで
きる。
従来この調整は出力インピーダンスがZc<純抵抗)の
発振器を用意し、これとプローブヘッド間に方向性結合
器を挿入することにより反゛射電力が零になるところを
試行錯誤で見つけるようにして行われていた。
発振器を用意し、これとプローブヘッド間に方向性結合
器を挿入することにより反゛射電力が零になるところを
試行錯誤で見つけるようにして行われていた。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで従来の調整方法では、手作業による場合は、2
つの可変コンデンサを同時に調整することが要請され、
調整操作に勘や経験に頼るとことがおるため効率が悪い
という問題がある。この手作業に代ってマイクロプロセ
ッサ等を用いた自動調整法が提案されているが、マイク
ロプロセッサの判断機能に頼る部分が多く効率が悪かっ
た。
つの可変コンデンサを同時に調整することが要請され、
調整操作に勘や経験に頼るとことがおるため効率が悪い
という問題がある。この手作業に代ってマイクロプロセ
ッサ等を用いた自動調整法が提案されているが、マイク
ロプロセッサの判断機能に頼る部分が多く効率が悪かっ
た。
本発明は以上のような事情に対処して成されたもので、
効率のよい調整が簡単なハードウェアで行えるMRI装
置のインピーダンス自動調整装置を提供することを目的
とするものである。
効率のよい調整が簡単なハードウェアで行えるMRI装
置のインピーダンス自動調整装置を提供することを目的
とするものである。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、プローブヘッドの
インピーダンスを実部と虚部とに分けて電圧として検出
する検出部と、実部と虚部の電圧に応じて各電圧を零に
調整するための制御信号をプローブヘッドに供給するコ
ントロール部とを備えたことを特徴とするものである。
インピーダンスを実部と虚部とに分けて電圧として検出
する検出部と、実部と虚部の電圧に応じて各電圧を零に
調整するための制御信号をプローブヘッドに供給するコ
ントロール部とを備えたことを特徴とするものである。
(作 用)
プローブヘッドのインピーダンスが実部と虚部に分けて
電圧として検出され、これの検出電圧が零になるような
制御が行われて、プローブヘッドのインピーダンスが特
性インピーダンスに等しくなるよう調整される。従って
調整が手作業によることなく自動的に行われるので、効
率のよい調整が行われる。
電圧として検出され、これの検出電圧が零になるような
制御が行われて、プローブヘッドのインピーダンスが特
性インピーダンスに等しくなるよう調整される。従って
調整が手作業によることなく自動的に行われるので、効
率のよい調整が行われる。
(実施例)
先ず本発明の詳細な説明する。
”RF expo east (Nov、10−12.
1986.Boston。
1986.Boston。
HaSSaCIvuSettS ”で紹介されている論
文“^com−plex Impedance Met
er (Carl G、 Lodstroem、Dow
−にey Microwave Corporatio
n 1110 Mark AvenueCarprin
teria、 CA 93013−2918)”による
と、第4図に示すように発振器1(出力インピーダンス
Zc>と負荷2(インピーダンスZL)間にλ/8ケー
ブルを接続することにより、負荷2のインピーダンスが
実部(Re: Real part)と虚部(In:I
maginary part)とに分けて電圧に対応し
た形で容易に検出できることが示されている。尚、Di
。
文“^com−plex Impedance Met
er (Carl G、 Lodstroem、Dow
−にey Microwave Corporatio
n 1110 Mark AvenueCarprin
teria、 CA 93013−2918)”による
と、第4図に示すように発振器1(出力インピーダンス
Zc>と負荷2(インピーダンスZL)間にλ/8ケー
ブルを接続することにより、負荷2のインピーダンスが
実部(Re: Real part)と虚部(In:I
maginary part)とに分けて電圧に対応し
た形で容易に検出できることが示されている。尚、Di
。
D2 、D3 、D4はダイオード、R1、R2は可変
抵抗、3は実部に対応した直流電圧計、4は虚部に対応
した直流電圧計、5は減衰器(発振器1の出力インピー
ダンスを正確にZc(=50Ω)にするためのもの)で
ある。
抵抗、3は実部に対応した直流電圧計、4は虚部に対応
した直流電圧計、5は減衰器(発振器1の出力インピー
ダンスを正確にZc(=50Ω)にするためのもの)で
ある。
λ/8ケーブルが正確にケーブル長に合っている場合、
負荷2としてZL =Zcの値のものを接続し電圧計3
,4の指示がどちらもO(V)となるように、予め可変
抵抗器(トリムポット型)R1゜R2を調整して初期状
態を設定してあくものとする。この状態で例えば実部(
Re)がZcより小さい場合は実部電圧計3は正の電圧
を示し、Zcより大きい場合は負の電圧を示す。また、
虚部(Im)がインダクテイブな場合は虚部電圧計4は
正の電圧を示し、キャパシティブな場合は負の電圧を示
す。従って実部電圧計3及び虚部電圧計4の指示を観察
することにより、負荷のインピーダンスZcの値が大小
のいずれの方向にずれているかを把握することができる
。なおλは発振器1の周波数によって決定される。
負荷2としてZL =Zcの値のものを接続し電圧計3
,4の指示がどちらもO(V)となるように、予め可変
抵抗器(トリムポット型)R1゜R2を調整して初期状
態を設定してあくものとする。この状態で例えば実部(
Re)がZcより小さい場合は実部電圧計3は正の電圧
を示し、Zcより大きい場合は負の電圧を示す。また、
虚部(Im)がインダクテイブな場合は虚部電圧計4は
正の電圧を示し、キャパシティブな場合は負の電圧を示
す。従って実部電圧計3及び虚部電圧計4の指示を観察
することにより、負荷のインピーダンスZcの値が大小
のいずれの方向にずれているかを把握することができる
。なおλは発振器1の周波数によって決定される。
本発明はこのような原理を基になされたもので以下図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
第1図は本発明実施例のMRI装置のインピーダンス自
動調整装置を示すブロック図で、出力インピーダンスが
Zcの発振器1とプローブヘッド6間に検出部7が接続
され、この検出部7とプローブヘッド6間にコントロー
ル部8が接続される。
動調整装置を示すブロック図で、出力インピーダンスが
Zcの発振器1とプローブヘッド6間に検出部7が接続
され、この検出部7とプローブヘッド6間にコントロー
ル部8が接続される。
検出部7の構成は第4図と同様にλ/8ケーブルを用い
ることにより、プローブヘッド6のインピーダンスZi
を実部(Re)と虚部(Im)とに分けて各々の電圧計
によって電圧として検出するようになっている。またコ
ントロール部8は、例えば後述の第2図のような構成に
なっており、前記検出部7によって検出された実部電圧
と虚部電圧に応じて各電圧を零に調整するための制御信
号をプローブヘッド6のコンデンサC1、C2に供給す
るようになっている。以下、コントロール部8の動作に
ついて詳細に説明する。
ることにより、プローブヘッド6のインピーダンスZi
を実部(Re)と虚部(Im)とに分けて各々の電圧計
によって電圧として検出するようになっている。またコ
ントロール部8は、例えば後述の第2図のような構成に
なっており、前記検出部7によって検出された実部電圧
と虚部電圧に応じて各電圧を零に調整するための制御信
号をプローブヘッド6のコンデンサC1、C2に供給す
るようになっている。以下、コントロール部8の動作に
ついて詳細に説明する。
検出部7によって検出された実部電圧(Re側電圧)が
正の場合、前記本発明の原理からZi <Zcと判定で
きるので、プローブヘッド6のC2を小ざくするような
(前記(1)式に暴き)制御信号を供給する。これによ
って7:iG、tZcより大となる方向に向かうので、
実部電圧がO’mになったとき、C2に対する制御信号
の供給を停止する。
正の場合、前記本発明の原理からZi <Zcと判定で
きるので、プローブヘッド6のC2を小ざくするような
(前記(1)式に暴き)制御信号を供給する。これによ
って7:iG、tZcより大となる方向に向かうので、
実部電圧がO’mになったとき、C2に対する制御信号
の供給を停止する。
検出部7によって検出された実部電圧が負の場合、前記
と逆にZi >Zcと判定できるので、C2を大きくす
るような制御信号を供給する。これによって71はZc
より小となる方向に向かうので、実部電圧をO(V)に
することができる。
と逆にZi >Zcと判定できるので、C2を大きくす
るような制御信号を供給する。これによって71はZc
より小となる方向に向かうので、実部電圧をO(V)に
することができる。
検出部7によって検出された虚部電圧(Imffl1m
圧)が正の場合、前記本発明の原理からインダクティブ
と判定できるので、C1を小さくするような制御像8を
供給する。これによって虚部は相殺されてキャパシティ
ブな方向へ向かうので、虚部電圧がOmになったときC
1に対する制御信号の供給を停止する。
圧)が正の場合、前記本発明の原理からインダクティブ
と判定できるので、C1を小さくするような制御像8を
供給する。これによって虚部は相殺されてキャパシティ
ブな方向へ向かうので、虚部電圧がOmになったときC
1に対する制御信号の供給を停止する。
検出部7によって検出された虚部電圧が負の場合、前記
と逆にキャパシティブと判定できるので、C1を大きく
するような制御信号を供給する。これによって虚部はイ
ンダクティブな方向へ向かうので、虚部電圧をO(V)
にすることができる。
と逆にキャパシティブと判定できるので、C1を大きく
するような制御信号を供給する。これによって虚部はイ
ンダクティブな方向へ向かうので、虚部電圧をO(V)
にすることができる。
このようにコントロール部8は検出部7によって検出さ
れた東部電圧と虚部電圧に応じて、各々を零に調整する
ような制御信号即ち負帰還(NFB)信号をプローブヘ
ッド6のC2又はC1に供給するように動作するので、
最終的にZi =Zcの条件を満足するように調整され
る。
れた東部電圧と虚部電圧に応じて、各々を零に調整する
ような制御信号即ち負帰還(NFB)信号をプローブヘ
ッド6のC2又はC1に供給するように動作するので、
最終的にZi =Zcの条件を満足するように調整され
る。
但し、C2及びC1に対し同じ応答性を持つ負帰還をか
けた場合、ZtがZcに収束しないで振動してしまう可
能性が生ずる。このため、実部側か虚部側の一方を他方
より負帰還の応答速度を速く設定しておくことにより、
速い方が先に追従するので、Zc<Ω)又はj−O(Ω
)となるので振動は生じない。従って、ZiをZcに収
束させることができる。
けた場合、ZtがZcに収束しないで振動してしまう可
能性が生ずる。このため、実部側か虚部側の一方を他方
より負帰還の応答速度を速く設定しておくことにより、
速い方が先に追従するので、Zc<Ω)又はj−O(Ω
)となるので振動は生じない。従って、ZiをZcに収
束させることができる。
また、大部電圧か虚部電圧の一方がO(V)になった場
合、これら電圧に積分操作を加えることによりC2又は
C1の制御を自動的に停止させることができる。即ち、
いずれか一方の電圧を積分し、この積分値に1対1で対
応するようにC2又はC1を制御することにより、いず
れかの検出電圧がO(V)になったところでその制御を
自動的に停止させることができる。
合、これら電圧に積分操作を加えることによりC2又は
C1の制御を自動的に停止させることができる。即ち、
いずれか一方の電圧を積分し、この積分値に1対1で対
応するようにC2又はC1を制御することにより、いず
れかの検出電圧がO(V)になったところでその制御を
自動的に停止させることができる。
第2図はコントロール部8の具体的構成を示すブロック
図で、8Aは実部側、8Bは虚部側を示し、9はバッフ
ァ段、10は反転・増幅段、11は反転・積分段である
。反転・積分段11の各出力はインピーダンス整合41
/Dコンバータで変換されて保持され、実部側8Aから
はC2に対する制御電圧が出力されると共に、虚部8B
からはC1に対する制御電圧が出力される。なお応答性
を異ならすために反転・積分段11における時定数01
、R1,C2、R2の関係を、CI R1>C2R2
(又はC2R2)CI R1)に保つ必要がおる。なお
、検出部7とプローブヘッド6の間にλ/2長の整数倍
のケーブル(又は等何回路)が接続されていてもかまわ
ない。
図で、8Aは実部側、8Bは虚部側を示し、9はバッフ
ァ段、10は反転・増幅段、11は反転・積分段である
。反転・積分段11の各出力はインピーダンス整合41
/Dコンバータで変換されて保持され、実部側8Aから
はC2に対する制御電圧が出力されると共に、虚部8B
からはC1に対する制御電圧が出力される。なお応答性
を異ならすために反転・積分段11における時定数01
、R1,C2、R2の関係を、CI R1>C2R2
(又はC2R2)CI R1)に保つ必要がおる。なお
、検出部7とプローブヘッド6の間にλ/2長の整数倍
のケーブル(又は等何回路)が接続されていてもかまわ
ない。
第3図はプローブヘッド6の具体的構成を示すもので、
C2p Ciとして可変容量ダイオードを用いた例を示
すものである。これら可変容量ダイオードで構成される
C2 、C1に対しては第2図の実部側8A及び虚部側
8Bからの制御電圧が各々加えられる。可変容量ダイオ
ードは加えられる逆バイアス電圧が高いほど容量は小ざ
くなる(第3図)。
C2p Ciとして可変容量ダイオードを用いた例を示
すものである。これら可変容量ダイオードで構成される
C2 、C1に対しては第2図の実部側8A及び虚部側
8Bからの制御電圧が各々加えられる。可変容量ダイオ
ードは加えられる逆バイアス電圧が高いほど容量は小ざ
くなる(第3図)。
次に本実施例の作用を説明する。
検出部7の実部電圧計3及び虚部電圧計4が0 (V)
になるように初期状態に設定した基で、実部電圧計3及
び虚部電圧計4の指示を観察する。
になるように初期状態に設定した基で、実部電圧計3及
び虚部電圧計4の指示を観察する。
実部電圧計3が正電圧の場合、コントロール部8によっ
てプ[1−アヘッド6のC2に対し、この値を小ざくす
るような負帰還をかレプることにより、電圧は○(V)
に調整される。実部電圧計3が負電圧の場合、逆にC2
に対してこの値を大きくするような負帰還をかけること
により、電圧はO(V)に調整される。
てプ[1−アヘッド6のC2に対し、この値を小ざくす
るような負帰還をかレプることにより、電圧は○(V)
に調整される。実部電圧計3が負電圧の場合、逆にC2
に対してこの値を大きくするような負帰還をかけること
により、電圧はO(V)に調整される。
虚部電圧計4が正電圧の場合、コントロール部8によっ
てブローアヘッド6のC1に対してこの値を小さくする
ような負帰還をかけることにより、電圧はO(V)に調
整される。虚部電圧計4が負電圧の場合、逆に01に対
してこの値を大きくするような負帰還をかけることによ
り、電圧はOnに調整される。
てブローアヘッド6のC1に対してこの値を小さくする
ような負帰還をかけることにより、電圧はO(V)に調
整される。虚部電圧計4が負電圧の場合、逆に01に対
してこの値を大きくするような負帰還をかけることによ
り、電圧はOnに調整される。
従って東部電圧計3及び虚部電圧計4が正電圧又は負電
圧を指示していても、最終的にいずれも自動的にOnに
調整される。これによって、Zi =Zcの条件を満足
するように自動的に調整される。
圧を指示していても、最終的にいずれも自動的にOnに
調整される。これによって、Zi =Zcの条件を満足
するように自動的に調整される。
このように本実施例によれば、プローブヘッドのインピ
ーダンスZiを手作業によることなしに自動的に特性イ
ンピーダンスZcに等しく調整できるので効率のよい調
整を行うことができる。また、調整装置の構成も簡単な
ので安価に製作することができ、インピーダンスの自動
調整化により患者のスループットを向上させることもで
きる。
ーダンスZiを手作業によることなしに自動的に特性イ
ンピーダンスZcに等しく調整できるので効率のよい調
整を行うことができる。また、調整装置の構成も簡単な
ので安価に製作することができ、インピーダンスの自動
調整化により患者のスループットを向上させることもで
きる。
プローブヘッド6におけるC1 、C2はバリコンを用
い、バリコン用アクチュエータの速度を検出電圧に比例
させ°て制御することもでき、これによって積分段を省
略することも可能である。なぜならば、バリコンの回転
角度は速度を積分したものに比例し、検出電圧がO(V
)になれば自動的にその角度を保持したままバリコンが
停止するからである。この場合検出電圧と回転方向とが
負帰還の関係を満たすように符号を調整する必要がおる
のは言うまでもない。
い、バリコン用アクチュエータの速度を検出電圧に比例
させ°て制御することもでき、これによって積分段を省
略することも可能である。なぜならば、バリコンの回転
角度は速度を積分したものに比例し、検出電圧がO(V
)になれば自動的にその角度を保持したままバリコンが
停止するからである。この場合検出電圧と回転方向とが
負帰還の関係を満たすように符号を調整する必要がおる
のは言うまでもない。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明によれば、ブローアヘッドの
インピーダンスを実部と虚部とに分けて検出し、この値
を零に調整するようにしたので、自動的にインピーダン
ス調整を行うことができる。
インピーダンスを実部と虚部とに分けて検出し、この値
を零に調整するようにしたので、自動的にインピーダン
ス調整を行うことができる。
第1図は本発明実施例のMRI装置のインピーダンス自
動調整装置を示すブロック図、第2図は本実施例装置の
コントロール部の具体的構成を示すブロック図、第3図
は本実施例装置のプローブヘッドの具体的構成を示す回
路図、第4図は本発明の原理を示すブロック図、第5図
はプローブヘッドの等価回路、第6図は撮影時のプロー
ブヘッドの等価回路、第7図は第6図の変換等価回路、
第8図は第7図の変換等価回路である。 1・・・発振器、 3・・・大部電圧計、4・・・
虚部電圧計、 6・・・プローブヘッド、7・・・検出
部、 8・・・コントロール部、8A・・・実部側
コントロール部、 8B・・・虚部側コントロール部。 代理人 弁理士 三 澤 正 義r第2図 第3図 第6図 第7図 第8図
動調整装置を示すブロック図、第2図は本実施例装置の
コントロール部の具体的構成を示すブロック図、第3図
は本実施例装置のプローブヘッドの具体的構成を示す回
路図、第4図は本発明の原理を示すブロック図、第5図
はプローブヘッドの等価回路、第6図は撮影時のプロー
ブヘッドの等価回路、第7図は第6図の変換等価回路、
第8図は第7図の変換等価回路である。 1・・・発振器、 3・・・大部電圧計、4・・・
虚部電圧計、 6・・・プローブヘッド、7・・・検出
部、 8・・・コントロール部、8A・・・実部側
コントロール部、 8B・・・虚部側コントロール部。 代理人 弁理士 三 澤 正 義r第2図 第3図 第6図 第7図 第8図
Claims (3)
- (1)プローブヘッドの入力側からみたインピーダンス
Ziを特性インピーダンスZcに等しく調整するMRI
装置のインピーダンス自動調整装置において、プローブ
ヘッドに信号を供給する出力インピーダンスがZcの発
振器と、プローブヘッドと発振器間に接続されプローブ
ヘッドのインピーダンスZiを実部と虚部とに分けて電
圧として検出する検出部と、実部と虚部の電圧に応じて
各電圧を零に調整するための制御信号をプローブヘッド
に供給するコントロール部とを備えたことを特徴とする
MRI装置のインピーダンス自動調整装置。 - (2)プローブヘッドの可変コンデンサに制御信号を供
給する特許請求の範囲第1項記載のMRI装置のインピ
ーダンス自動調整装置。 - (3)制御信号が負帰還信号である特許請求の範囲第1
項又は第2項記載のMRI装置のインピーダンス自動調
整装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62111942A JPS63277049A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置 |
US07/190,451 US4882541A (en) | 1987-05-08 | 1988-05-05 | Automatic impedance adjuster for MRI system |
DE3815567A DE3815567A1 (de) | 1987-05-08 | 1988-05-06 | Automatische impedanzeinstelleinheit fuer ein magnetresonanz-abbildungssystem |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62111942A JPS63277049A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63277049A true JPS63277049A (ja) | 1988-11-15 |
Family
ID=14574007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62111942A Pending JPS63277049A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4882541A (ja) |
JP (1) | JPS63277049A (ja) |
DE (1) | DE3815567A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01201244A (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-14 | Toshiba Corp | Mri装置のインピーダンス自動調整装置 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4916398A (en) * | 1988-12-21 | 1990-04-10 | Spectroscopy Imaging Systems Corp. | Efficient remote transmission line probe tuning for NMR apparatus |
US5149931A (en) * | 1989-04-11 | 1992-09-22 | Mitsubishi Denki K.K. | Power source for electric discharge machining |
US5450011A (en) * | 1992-05-07 | 1995-09-12 | U.S. Philips Corporation | Magnetic resonance apparatus having a wideband matching network |
US5347222A (en) * | 1993-01-11 | 1994-09-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Signal/noise ratio optimization tuning system |
US5433717A (en) * | 1993-03-23 | 1995-07-18 | The Regents Of The University Of California | Magnetic resonance imaging assisted cryosurgery |
WO1995017683A1 (de) * | 1993-12-21 | 1995-06-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur automatischen impedanzanpassung einer hf-sende- oder empfangseinrichtung in einer anlage zur kernspintomographie und verfahren zum betrieb der vorrichtung |
US5424691A (en) * | 1994-02-03 | 1995-06-13 | Sadinsky; Samuel | Apparatus and method for electronically controlled admittance matching network |
US5432451A (en) * | 1994-03-22 | 1995-07-11 | Northrop Grumman Corporation | Magnetic resonance imaging reflectometer tuning unit |
US6459265B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-10-01 | General Electric Company | Method and apparatus for reducing input impedance of a preamplifier |
US8497730B1 (en) * | 2011-06-09 | 2013-07-30 | Rockwell Collins, Inc. | System for and method of modifying impedance characteristics of circuit elements |
FR3013537A1 (fr) * | 2013-11-21 | 2015-05-22 | St Microelectronics Tours Sas | Commande de condensateur bst |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3919644A (en) * | 1970-02-02 | 1975-11-11 | Gen Dynamics Corp | Automatic antenna coupler utilizing system for measuring the real part of the complex impedance or admittance presented by an antenna or other network |
US4028645A (en) * | 1976-06-21 | 1977-06-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Automatic impedance matching using resistive and reactive diodes |
US4356458A (en) * | 1981-08-31 | 1982-10-26 | Harry H. Leveen | Automatic impedance matching apparatus |
US4493112A (en) * | 1981-11-19 | 1985-01-08 | Rockwell International Corporation | Antenna tuner discriminator |
DE3374813D1 (en) * | 1982-12-28 | 1988-01-14 | Toshiba Kk | Nuclear magnetic resonance diagnostic apparatus |
US4633181A (en) * | 1983-08-11 | 1986-12-30 | Regents Of The University Of Calif. | Apparatus and method for increasing the sensitivity of a nuclear magnetic resonance probe |
US4634980A (en) * | 1984-08-16 | 1987-01-06 | Picker International, Inc. | Nuclear magnetic resonance radio frequency antenna |
US4638253A (en) * | 1984-10-29 | 1987-01-20 | General Electric Company | Mutual inductance NMR RF coil matching device |
FR2590993B1 (fr) * | 1985-11-29 | 1988-04-29 | Thomson Cgr | Dispositif et procede de reglage d'une antenne radiofrequence d'un appareil de resonance magnetique nucleaire |
US4783629A (en) * | 1987-10-07 | 1988-11-08 | The Regents Of The University Of California | RF coil for MRI with self-tracking ganged coupling capacitors |
-
1987
- 1987-05-08 JP JP62111942A patent/JPS63277049A/ja active Pending
-
1988
- 1988-05-05 US US07/190,451 patent/US4882541A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-05-06 DE DE3815567A patent/DE3815567A1/de not_active Ceased
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01201244A (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-14 | Toshiba Corp | Mri装置のインピーダンス自動調整装置 |
JPH0578340B2 (ja) * | 1988-02-08 | 1993-10-28 | Tokyo Shibaura Electric Co |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3815567A1 (de) | 1988-11-17 |
US4882541A (en) | 1989-11-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63277049A (ja) | Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置 | |
JP2929284B2 (ja) | 高周波プラズマ処理装置のためのインピーダンス整合及び電力制御システム | |
US6291999B1 (en) | Plasma monitoring apparatus | |
US4890062A (en) | Automatic impedance adjuster for MRI system | |
US20080061901A1 (en) | Apparatus and Method for Switching Between Matching Impedances | |
JP2002064569A (ja) | ハイブリッドを具備する自己調節可能インピーダンスラインドライバ | |
JPH01280998A (ja) | インピーダンス補償回路 | |
JPH10285224A (ja) | 信号伝送方法及びこれに用いる駆動回路、バイアス発生回路 | |
US6765333B1 (en) | Power assistance device for an ultrasonic vibration dental handpiece | |
US6646450B2 (en) | Method and apparatus for near losslessly measuring inductor current | |
US4623871A (en) | Receiving apparatus | |
AU594530B2 (en) | Electronic hybrid circuit | |
JP2736112B2 (ja) | 自動整合方法 | |
JP2653476B2 (ja) | Mri装置のインピーダンス自動調整装置 | |
CN109217714B (zh) | 一种基于前馈自适应补偿的自感应压电驱动电路 | |
JP3021093B2 (ja) | プラズマインピーダンス測定装置 | |
JP2775656B2 (ja) | 成膜装置 | |
JP3143734B2 (ja) | 差動減衰器 | |
JPH10163889A (ja) | 自動インピーダンス整合方式 | |
JPH073349B2 (ja) | 超音波流量測定装置用作動回路 | |
JPH01129175A (ja) | インターフエース回路 | |
US3965410A (en) | A.C. potentiometer with bridge having voltage controllable devices | |
JPS63279609A (ja) | Rf発生装置の自動整合装置 | |
CN110954721A (zh) | 使用极零相消的高动态范围探头 | |
JPS6317677B2 (ja) |