JPS63275124A - シリカ系被膜の形成法 - Google Patents

シリカ系被膜の形成法

Info

Publication number
JPS63275124A
JPS63275124A JP10977887A JP10977887A JPS63275124A JP S63275124 A JPS63275124 A JP S63275124A JP 10977887 A JP10977887 A JP 10977887A JP 10977887 A JP10977887 A JP 10977887A JP S63275124 A JPS63275124 A JP S63275124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silica
film
water vapor
coating film
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10977887A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2752968B2 (ja
Inventor
Muneo Nakayama
中山 宗雄
Satoshi Inomata
猪又 敏
Katsuya Tanitsu
克也 谷津
Yoshimi Sato
善美 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority to JP62109778A priority Critical patent/JP2752968B2/ja
Publication of JPS63275124A publication Critical patent/JPS63275124A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2752968B2 publication Critical patent/JP2752968B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はシリカ系被膜の形成方法に関し、特に基板上に
被膜特性の高い緻密化されたシリカ系被膜を形成させる
方法に関する。
〔従来の技術〕
シリカ系被膜は近年その用途が多種多様に広がっており
、たとえば液晶表示素子の絶縁膜または配向制御膜;セ
ラミックス、プラスチックまたは金属に対する表面保護
膜;半導体素子の表面安定化膜または層間絶縁膜などに
使用されている。
このような用途に使用されるシリカ系被膜に要求される
特性としては、ピンホールやクラックなどの欠陥がなく
均一であり、機械的強度に優れ、シリカ系被膜自体の緻
密性により太きく影響されることがわかっており、この
緻密性は、一般に被膜の屈折率の増加やエツチング処理
による膜べり速度の減少などにより評価することができ
る、従来より5in2膜などのシリカ系被膜の緻密化を
向上させるために、SiO2膜を被着後、加熱処理を行
う方法が提案されている(特公昭52−37353号公
報)。
しかしながら、この方法は5in2膜の緻密化を目的と
したものであるが、実際にこの方法を利用して得られる
5f02膜はピンホールやクラックが生じ、十分な膜特
性を得ることができないという問題点を有している。
また半導体基板の表面にガラス粉末層を被着し、これに
スチームを含む雰囲気中にて焼成を施すことでピンホー
ルやクラックのないガラス被膜を形成する方法も提案さ
れている(特開昭55−121651号公報)。この方
法はアモルファスなガラス粉末を溶融して被膜を形成す
るため、実用的な被膜を得るためのプロセス管理が難し
いなどの問題点を有しており、被膜自体の緻密化を達成
できる方法ではない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明者らは上記従来方法の問題点を改良し、被膜特性
が高ぐ、かつ被膜自体の緻密性も優れたシリカ系被膜の
形成方法の提供を目的として鋭意研究を行った結果、シ
リカ系被膜形成用塗布液を基板上に被着後、水蒸気を含
む雰囲気中にて特定温度で加熱処理することにより、そ
の目的を達成できることを見い出し、本発明をなすに至
った。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は基板上にシリカ系被膜形成用塗布液を塗布し、
乾燥したのち、加熱処理することによりシリカ系被膜を
形成する方法において該加熱処理が水蒸気を含む雰囲気
中にて施されることを特徴とするシリカ系被膜の形成法
である。
以下本発明の詳細な説明する。
本発明で使用するシリカ系被膜形成用塗布液は、シリコ
ン化合物の有機溶剤溶液を主剤とするものであり、シリ
コン化合物としてはハロゲン化シランまたはアルコキシ
シランが有用である。
ハロゲン化シランは一般式 RnS iX4−n (式中、Xはハロゲン原子、Rは
アルキル基、アリール基、グリシドキシア ルキル基またはビニル基、nは0また は1〜3の整数である) で表わされる化合物であって、例えば四塩化ケイ素、四
臭化ケイ素、テトラクロロシラン−ジブロモジクロロシ
ラン、ビニルトリクロロシラン、メチルトリクロロシラ
ン、エチルトリクロロシラン、フェニルトリクロロシラ
ン、ジメチルジクロロシラン、ジフェニルジクロロシラ
ン、ジエチルジクロロシラン、β−クリシトキシエチル
トリクロロシランなどを挙げることができる。
また、アルコキシシランは一般式 %式% (RO)nSiR/4−n  (式中、Xはハロゲン原
子、RとRはそれぞれ独立して、アル キル基、アリル基、アリール基、 グリシドキシアルキル基、アク リロキシアルキル基、メタクリ ロキシアルキル基またはビニル 基、nは0または1〜4の整数 である) で表わされる化合物であって、例えばモノメトキシトリ
クロロシラン、ジメトキシジクロロシラン、トリメトキ
シモノクロロシラン、モノエトキシトリクロロシラン、
ジェトキシジクロロシラン、トリエトキシモノクロロシ
ラン、モノアクリロキシトリクロロシラン、ジアクリロ
キシジクロロシラン、テトラメトキシシラン、テトラエ
トキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブトキ
シシラン、モノメチルトリメトキシシラン、モノエチル
トリメトキシシラン、モノメチルトリエトキシシラン、
モノエチルトリエトキシシラン、モノエチルトリプトキ
シシラン、モノフェニルトリメトキシシラン、モノフェ
ニルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、
ジエチルジェトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラ
ン、ジフェニルジェトキシシラン、ジエチルジブトキシ
シラン、ビニルメチルジメトキシシラン、ビニルエチル
ジェトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニル
トリエトキシシラン、ビニルトリプトキシシラン、γ−
アクリロキシグロピルトリメトキシシラン、γ−アクリ
ロキシプロピルトリエトキシシラン、β−メタクリロキ
シエチルトリメトキシシラン、β−メタクリロキシエチ
ルトリエトキシシラン、β−グリシドキシエチルトリメ
トキシシラン、β−グリシドキシエチルトリエトキシシ
ラン、r−グリシドキシプロビルトリメトキシシラン、
γ−グリシドキシプロビルトリエトキシシランなどを挙
げることができる。
上記したハロゲン化シランおよびアルコキシシランは単
独でも、また2種以上混合しても使用できる。
これらのシリコン化合物は有機溶剤に溶解され、塗布液
として調製されるが、使用される有機溶剤としては、ア
ルコール類、エステル類、ケトン類および芳香族炭化水
素類が好適であり、アルコール類としては、例えばメチ
ルアルコール、エチルアルコール、プロピルアルコール
、メチルアルコール、シクロヘキサノール、ベンジルア
ルコール、ジメチロールベンゼン、フルフリルアルコー
ル、テトラヒドロフルフリルアルコール、ジアセトンア
ルコール、エチレングリコールモノアルキルエーテル、
ジエチレングリコールモノアルキルエーテル、トリエチ
レングリコールモノアルキルエーテル、フロピレンゲリ
コールモノアルキルエーテルなどを挙げることができ、
エステル類としては、例えば酢酸アルキルエステル、ジ
エチレングリコールモノアルキルエーテルアセテ−)、
)!Jエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテ
ート、プロピレングリコールモノアルキルエーテルアセ
テート、アセト酢酸エチルエステル、乳酸アルキルエス
テル、安息香酸アルキルエステル、ベンジルアセテート
、グリセリンジアセテートなどを挙げることができる。
またケトン類としては、例えばアセトン、メチルエチル
ケトン、シクロヘキサノン、アセチルアセトン、イソホ
ロン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトン、メチ
ルn−ブチルケトン、アセトニルアセトンなどを挙げる
ことができ、芳香族炭化水素類としては、例えばベンゼ
ン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、ジエチルベ
ンゼン、クメン、テトラリンなどを挙げることができる
。これらは単独でもよいし、2種以上混合しても用いる
ことができる。
本発明においては、前記したシリコン化合物を有機溶剤
に溶解し、濃縮して得られる溶液をシリカ系被膜形成用
塗布液とすることができるが、通常は前記したシリコン
化合物の加水分解物を含有する有機溶剤溶液を調製し、
濃縮して得られる溶液がシリカ系被膜形成用塗布液とし
て好ましく使用される。
加水分解物を含有する有機溶剤の調製方法としては、例
えばシリコン化合物の有機溶剤溶液に水と有機酸または
無機酸を添加する方法やハロゲン化シランとカルボン酸
との反応生成物にアルコールと反応させる方法(特公昭
52−16488号公報)やアルコキシシランと有機カ
ルボン酸とアルコールの混合物に無機酸を添加する方法
(特公昭56−34234号公報)などを挙げることが
でき、これらの方法により容易に製造されるシリコン化
合物の加水分解物を前記した有機溶剤に通常5〜50重
量係、好ましくは10〜30重量%の濃度に溶解し、次
いでこの溶液を200℃未満の温度、必要により減圧下
で脱水縮合反応させ、2×10−3〜0゜2Pa−8種
度の粘度に調整することで実用上好適なシリカ系被膜形
成用塗布液を得ることができる。
また、このシリカ系被膜形成用塗布液には、必要により
、ガラス質形成剤としてLi 、 B、 Na、’に、
Fe、Ni、Cr、Mg、At、P、  Ca、Ti 
、Zr。
Mo −In s  Sn %Sb −Ba bTa 
s  W 、Mn s  Pb −Pt、Au、Ceな
どの金属のハロゲン化物、水酸化物、酸fヒ物、無機酸
塩、有機酸塩、アルコキシ化合物、キレート化合物およ
び有機金属化合物を添加することができる。これらの添
加量はシリコン化合物に対し、金属換算で1〜50重量
係が好ましい。
本発明のシリカ系被膜の形成方法として、シリカ系被膜
形成用塗布液を用いた場合の例を示せば、シリカ系被膜
形成用塗布液をガラス、セラミックス、金属、シリコン
化合物・−などの基板上にスピンナー法、浸漬法、スプ
レー法、印刷法、刷毛塗り法などの慣用方法により所定
膜厚に塗布し、乾燥することにより基板上にシリカ系被
膜を被着する。この場合の乾燥条件はできるだけ低温で
行うのが好ましく、100℃未満、特に50〜90℃で
10〜30分間の乾燥が好適である。
本発明では乾燥後、その被膜を水蒸気を含む雰囲気中に
て加熱処理するが、水蒸気は窒素ガス、酸素ガス、窒素
と酸素との混合ガスまたは空気中に含有され、その中の
水蒸気量は多いほど良く、少なくとも0.2 X 1O
−5Pa以上の水蒸気圧を有していることが必要である
。また加熱温度は100〜1000℃の範囲であること
が好ましく、この温度範囲内であれば固定した特定温度
でも、温度を連続的または不連続的に変化させてもよい
。この加熱処理時における水蒸気を含むガスの導入方法
としては、一定量で連続的に導入するのが実用的で、ま
た加熱時間としては通常20〜60分間で行われるが、
特に限定される事項ではない。特に好ましい加熱処理と
しては、この加熱温度範囲内において100〜200℃
の低温域から、この低温域以上で1000℃以下の高温
域へ連続的または不連続的に加熱されるのが好ましく、
この場合の連続的加熱処理とは一定の昇温速度による加
熱を意味し、また不連続的加熱処理とは段階的に昇温さ
せる加熱を意味する。このような加熱処理を施すことに
より緻密性の高い均一なシリカ系被膜を形成することが
できる。
〔実施例〕
実施例1 4インチシリコンウエノ1−上にシリカ系被膜形成用塗
布液であるアルコキシシランの加水分解物を溶解して成
るOCD Type −6(東京応化工業社製)をスピ
ンナー法により3000 rpmで塗布し、80℃で2
0分間乾燥させたのち、150℃に設定され、かつ常圧
下で発生させた飽和水蒸気を含有した空気が5LAni
nで導入されて(\る加熱炉内に搬入し、この加熱炉を
10℃/minの昇温速度に設定し、800℃になるま
で加熱処理を施すことにより得られたシリカ系被膜は均
一でピンホールやクラックの発生がなく、膜厚1170
^、屈折率1.437であった。
次いでこのシリカ系被膜全0.5重量%HF水溶液に2
5℃で1分間浸漬し、その浸漬前後におけるシリカ系被
膜の膜厚の変fヒから膜ベリ速度を求めたところ5.5
穴/secであった0実施例2 氷酢酸4001とテトラクロロシラン1252とを混合
し、常温でかきまぜながら反応させたものを減圧蒸留し
て得られた残留物にエチルアルコール4201i”!r
加え溶解し、60℃でかきまぜながら10時間反応させ
ることで濃度6.0重量%のシリカ系被膜形成用塗布液
を得た。この塗布液を用いて4インチシリコンウェハー
上にスピンナー法により3000 rpmで塗布し、8
0℃で20分間乾燥させたのち、120℃に設定され、
かつ常圧下で発生させた飽和水蒸気を含有した空気が1
0/minで導入されている加熱炉内に搬入し、この加
熱炉を13℃/minの昇温速度に設定し、900℃に
なるまで加熱処理を施すことにより得られたシリカ系被
膜は均一でピンホールやクラックの発生がなく、膜厚1
200A、屈折率1.44.0であった。そして実施例
1と同様にして得られた膜べり速度は4.0λ/sec
であった。
実施例3 テトラメトキシシラン2082と氷酢酸240グとエチ
ルアルコール1842とを混合し、この中ヘマレイン酸
15.O5’′ff:かきまぜながら添加させ、50℃
で5時間かきまぜたのち、室温で3日間放置させ、濃度
11.0重量%のシリカ系被膜形成用塗布液を得たー この塗布液を用いて4インチシリコンウエノ・−十にス
ピンナー法により3000 rpmで塗布し、80℃で
20分間乾燥させたのち、180℃に設定され、かつ常
圧下で発生させた飽和水蒸気を含有した空気が15t/
minで導入されている加熱炉内に搬入し、この加熱炉
を8℃/minの昇温速度に設定し、700℃になるま
で加熱処理を施すことで得られたシリカ系被膜は均一で
ピンホールやクラックの発生がなく、膜厚1300^、
屈折率1.438であった。そして実施例1と同様にし
て得られた膜べり速度は6.0^/Becであった。
実施例4 プロピオン酸4002とモノメチルトリクロロシラン1
251とを混合し、常温でかきまぜながら反応させたも
のを減圧蒸留して得られた残留物にメチルアルコール4
20fi加えて溶解させ、室温で5日間放置したのち、
B2030.5 ? f溶解することにより濃度5.9
 M量係のシリカ系被膜形成用塗布液を得た。
この塗布液を用いて実施例1と同様の操作により得られ
たシリカ系被膜は均一でピンポールやクラックの発生が
なく、膜厚1200^、屈折率1.450、膜’< ’
) 速W 6.5 A / see テロ ッf、:。
比較例1〜4 実施例1〜4の加熱処理において、水蒸気ガスを導入し
ないこと以外は実施例1〜4と同様の操作を施したもの
を比較例1〜4とし、それぞれ得られたシリカ系被膜の
膜厚、屈折率および膜べり速度を求め、その値を実施例
1〜4と比較して表に示す。
この表から水蒸気ガスを導入する実施例1〜4の値が比
較例1〜4に比べ、膜厚では薄くなり、屈折率では高く
なり、そして膜べり速度では遅くなっていることから、
シリカ系被膜の緻密性を向上させるために、本発明方法
が有効であることが確認された。
実施例5 1.1謳厚のソーダガラス基板上に、実施例1と同様の
シリカ系被膜形成用塗布液を使用して、3゜m/min
  の等速浸漬引き上げ法により塗布したのち、80℃
で20分間乾燥させ、300℃に設定され、かつ常圧下
で発生させた飽和水蒸気を含有する空気が連続的に5t
Aninで導入されている加熱炉内に搬入して、30分
間の加熱処理を行って得られたシリカ系被膜は均一でピ
ンホールやクラックの発生がなく膜厚1180穴、屈折
率1.437であった。次いで実施例1と同様にして、
膜べり速度を求めたところ、5. OA / seeで
あった。
比較のため、水蒸気を含有する空気を導入しない以外は
全て上記と同様にして得られたシリカ系被膜は膜厚12
00^、屈折率1.421、膜べり速度9. OA /
 secであった。この結果から水蒸気の導入が、シリ
カ系被膜の緻密度を向上させることか確認された。
実施例6 1、1 tm厚のホウケイ酸ガラス基板上に、実施例1
と同様のシリカ系被膜形成用塗布液を使用して、転写印
刷法により塗布し、80℃で20分間乾燥させ、500
℃に設定され、かつ常圧下で発生させた飽和水蒸気を含
有する空気が連続的に5 tAninで導入されている
加熱炉内に搬入して、30分間の加熱処理を行って得ら
れたシリカ系被膜は均一でピンホールやクラックの発生
がなく膜厚1200A %屈折率1.440であった。
次いで実施例1と同様にして膜べり速度を求めたところ
、6.OA/secであった。
比較のため、水蒸気を含有する空気を導入しない以外は
全て上記と同様にして得られたシリカ系被膜は膜厚12
30A、屈折率1.344、膜ベリ速度8. OA /
 secであった。
この結果から水蒸気の導入が、シリカ系被膜の緻密度を
向上させることが確認された。
〔発明の効果〕
本発明のシリカ系被膜の形成方法では基板上にシリカ系
被膜形成用塗布液を塗布し、乾燥した後水蒸気を含む雰
囲気中で加熱処理することにより、シリカ系被膜を構造
的に変成させながら焼成することができるため、緻密性
の高いシリカ系被膜を得ることができ、ピンホールやク
ラックのない均−なシリカ系被膜を簡単に形成すること
ができる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上にシリカ系被膜形成用塗布液を塗布し、乾
    燥したのち、加熱処理することによりシリカ系被膜を形
    成する方法において、該加熱処理が水蒸気を含む雰囲気
    中にて施されることを特徴とするシリカ系被膜の形成法
  2. (2)加熱処理における温度が100〜1000℃の温
    度範囲内において、固定した特定温度または低温域から
    高温域へ連続的あるいは不連続的に変化するものである
    特許請求の範囲第(1)項記載のシリカ系被膜の形成法
JP62109778A 1987-05-07 1987-05-07 シリカ系被膜の形成法 Expired - Lifetime JP2752968B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62109778A JP2752968B2 (ja) 1987-05-07 1987-05-07 シリカ系被膜の形成法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62109778A JP2752968B2 (ja) 1987-05-07 1987-05-07 シリカ系被膜の形成法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63275124A true JPS63275124A (ja) 1988-11-11
JP2752968B2 JP2752968B2 (ja) 1998-05-18

Family

ID=14518987

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62109778A Expired - Lifetime JP2752968B2 (ja) 1987-05-07 1987-05-07 シリカ系被膜の形成法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2752968B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008026387A1 (fr) * 2006-08-28 2008-03-06 Catalysts & Chemicals Industries Co., Ltd. Procédé de formation d'un revêtement de silice amorphe à faible constante diélectrique et revêtement de silice amorphe à faible constante diélectrique obtenu grâce à celui-ci
CN105776883A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京有色金属研究总院 一种二氧化硅颗粒成膜制备减反射膜的方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4841068A (ja) * 1971-09-29 1973-06-16
JPS4883110A (ja) * 1972-01-18 1973-11-06
JPS57191219A (en) * 1981-05-20 1982-11-25 Tokyo Denshi Kagaku Kabushiki Formation of silica coating pattern

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4841068A (ja) * 1971-09-29 1973-06-16
JPS4883110A (ja) * 1972-01-18 1973-11-06
JPS57191219A (en) * 1981-05-20 1982-11-25 Tokyo Denshi Kagaku Kabushiki Formation of silica coating pattern

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008026387A1 (fr) * 2006-08-28 2008-03-06 Catalysts & Chemicals Industries Co., Ltd. Procédé de formation d'un revêtement de silice amorphe à faible constante diélectrique et revêtement de silice amorphe à faible constante diélectrique obtenu grâce à celui-ci
JP2008053657A (ja) * 2006-08-28 2008-03-06 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 低誘電率非晶質シリカ系被膜の形成方法および該方法より得られる低誘電率非晶質シリカ系被膜
US8227028B2 (en) 2006-08-28 2012-07-24 Jgc Catalysts And Chemicals Ltd. Method for forming amorphous silica-based coating film with low dielectric constant and thus obtained amorphous silica-based coating film
CN105776883A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 北京有色金属研究总院 一种二氧化硅颗粒成膜制备减反射膜的方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2752968B2 (ja) 1998-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2624254B2 (ja) シリカ系被膜の膜質改善方法
US5043789A (en) Planarizing silsesquioxane copolymer coating
EP2250213B1 (en) Silsesquioxane resins
JP3488965B2 (ja) ゾル−ゲル法による独立膜の製造方法
US4865649A (en) Coating solution for forming a silica-based coating film
US4694040A (en) Liquid composition for forming a coating film of organopolysiloxane and method for the preparation thereof
JPH02178330A (ja) 平面化ラダー型シルセスキオキサンポリマー絶縁層の形成方法
US6680107B2 (en) Film forming composition, porous film and their preparation
JP3998979B2 (ja) 低誘電率シリカ系被膜の形成方法および低誘電率被膜付半導体基板
JP4473352B2 (ja) 低比誘電率シリカ系被膜、それを形成するための塗布液、その塗布液の調製方法
KR20060110777A (ko) 도막 형성방법
JPH0225990B2 (ja)
TWI234787B (en) Silica-based coating film on substrate and coating solution therefor
US5508062A (en) Method for forming an insoluble coating on a substrate
JPH0829932B2 (ja) シリカ系被膜の膜質改善方法
JPS63275124A (ja) シリカ系被膜の形成法
JPH11340220A (ja) シリカ系被膜形成用塗布液及びその製造方法
JP2639526B2 (ja) シリカ系被膜の形成方法
JP2000038509A (ja) 多孔質膜形成用組成物、該組成物の製造方法、膜の形成方法および多孔質膜
JPH05179202A (ja) シリカ被膜形成用塗布液
JPS6155164A (ja) シリカ被膜の形成方法
JPH04108881A (ja) シリカ系被膜形成用塗布液およびシリカ系被膜の製造法
KR20220163404A (ko) 구배 유리-유사 세라믹 구조 및 이의 상향식 제조 방법
JPH0226778B2 (ja)
JPH03261629A (ja) 膜の形成方法

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080227

Year of fee payment: 10