JPS63255643A - 粒子解析装置 - Google Patents

粒子解析装置

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Publication number
JPS63255643A
JPS63255643A JP62090593A JP9059387A JPS63255643A JP S63255643 A JPS63255643 A JP S63255643A JP 62090593 A JP62090593 A JP 62090593A JP 9059387 A JP9059387 A JP 9059387A JP S63255643 A JPS63255643 A JP S63255643A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
mirror
reflecting
optical axis
particle analysis
Prior art date
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Pending
Application number
JP62090593A
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English (en)
Inventor
Moritoshi Miyamoto
守敏 宮本
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPS63255643A publication Critical patent/JPS63255643A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、例えば高速で流れる細胞浮遊溶液にレーザー
光を照射し、細胞粒子の性質、構造を解析するフローサ
イトメータ等の粒子解析装置に関するものである。
[従来の技術] フローサイトメータとは、高速で流れる細胞浮遊溶液、
即ちサンプル液に例えばレーザー光を照則し、その散乱
光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の性質φ構造を
解明する装置であり、細胞化学、免疫学、血液学、腫瘍
学、遺伝学等の分野で使用されている。
このフローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析
装置では、フローセルの中央部の例えば200ルmX 
200 Bmの微小な四角形断面を有する流通部内を、
シース液に包まれて通過する血球細胞などの被検粒子に
レーザー光等を照射し、その結果として生ずる前方及び
側方散乱光により、被検粒子の形状・大きさ・屈折率等
の粒子的性質を得ることが可能である。また、蛍光剤に
より染色され得る被検粒子に対しては、照射光とほぼ直
角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を検出すること
により、被検粒子を解析するための重要な情報を得るこ
とができる9 蛍光は通常では、側方観察光学系で検出されるが、従来
の粒子解析装置においては側方の観察光学系の光軸上に
半透鏡を設け、透過光と反射光の内の何れか一方を側方
散乱光の検出に、他方を蛍光の検出に用いている。また
、蛍光の強度は微弱であるため、充電検出器として感度
の高いフォトマル(光電子増倍管)が用いられている。
しかしながら、上述した従来例において例えば2種類の
蛍光及び側方散乱光を検出する場合には3個のフォトマ
ルが必要であり、・第3図に示すような構成となる。第
3図は従来の側方観察光学系の配置図であり、光軸Oに
沿って凸レンズ1.半透鏡2.3、反射鏡4が設けられ
ており、半透鏡2の反射方向には凸レンズ5、バリアフ
ィルタ6、フォトマル7が、反射鏡3の反射方向には凸
レンズ8、バリアフィルタ9、フォトマルlOが、更に
反射鏡4の反射方向には凸レンズ11、バリアフィルタ
12、フォトマル13が配されている。しかしながら、
このように2オトマルを3個並べると、光電検出部が大
きなスペースをとってしまうという欠点がある。
[発明の目的] 本発明の目的は、上述した従来例の欠点を除去し、光電
検出器の配置を工夫することによって、光電検出部の占
めるスペースを小さくした粒子解析装置を提供すること
にある。
[発明の概要] 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、被検粒子
に光ビームを照射する照明光学系と、被検粒子による前
方散乱光、側方散乱光及び蛍光を検出する観察光学系と
がら構成する粒子解析装置において、前記観察光f:系
の光軸1−に複数個の光分配器を設けると共に、これら
光分配器の反射方向にそれぞれ光電検出器を配し、隣接
する光分配器の反射方向は互いに異なるようにしたこと
を特徴とした粒子解析装置である。
[発明の実施例] 、を発明を第1図、第2図に図示の実施例に基づいて詳
細に説明する。
第1図は本発明の構成図であり、光軸o1に沿ってレー
ザー光源21、結像レンズ22、流通部23aを有する
フローセル23が配されている。
光軸01と流通部23aの流れ方向に垂直な光軸02に
沿って対物レンズ24、絞り25、凸レンズ26、半透
鏡27.28、反射鏡29が設けられており、更にf−
透鏡27の反射方向には凸レンズ30、バリアフィルタ
31、フォトマル32が、゛ト透鏡28の反射方向には
凸レンズ33、バリアフィルタ34、フォトマル35が
、そして反射鏡29の反射方向には凸レンズ36、バリ
アフィルタ37、ンオトマル38が配置きれている。な
お流通部23aには、紙面に対して垂直な方向に検体被
検粒子を含むサンプル液がシース液に包まれて高速層流
となって流れており、半透鏡27.28は波長選別手段
も兼ねている。
このように構成された粒子解析装置において、レーザー
光源2工から出射されたレーザー光は結像レンズ22を
介して流通部23aを流れるサンプル液流に照射される
。被検粒子による側方散乱光及び蛍光は、対物レンズ2
4、絞り25、凸レンズ26を介して半透鏡27.28
、反射鏡29に入射し、波長選別されてそれぞれ凸レン
ズ30.33.36、バリアフィルタ31.34゜37
を介してフォトマル32.35.38により波長バンド
ごとに検出される。そして、これらの検出信号によって
被検粒子の性質や構造を解析することになる。
この際に、半透鏡27及び反射鏡29の反射方向と半透
鏡28の反射方向を、例えば180’の角度をなすよう
にすることによってフォトマル32.35.38を光軸
02方向に布に配置することが可能となる。
また、」二連した実施例においてはフォトマル32.3
5.38を同一モ面−Lに配置しているか、第2図に示
すように光軸02方向から見て、フォトマル32.35
.38が順次に例えば90°の角度をなす螺旋状の配置
をしてもよい。
[発明の効果] 以」二説明したように本発明に係る粒子解析装置は、光
電検出器の配置を工夫することによって光電検出部のス
ペースを小さくすることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
図面第1図、第2図は本発明に係る粒子解析装置の実施
例を示すものであり、第1図はその光学的構成図、第2
図は他の実施例の光学的構成図であり、第3図は従来例
の光学的構成図である。 符号21はレーザー光源、22は結像レンズ、23はフ
ローセル、23aは流通部、24は対物レンズ、25は
絞り、27.28は半透鏡、29は反射鏡、31.34
.37は、<リアフィルタ、32.35.38はフォト
マルである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検粒子に光ビームを照射する照明光学系と、被検
    粒子による前方散乱光、側方散乱光及び蛍光を検出する
    観察光学系とから構成する粒子解析装置において、前記
    観察光学系の光軸上に複数個の光分配器を設けると共に
    、これら光分配器の反射方向にそれぞれ光電検出器を配
    し、隣接する光分配器の反射方向は互いに異なるように
    したことを特徴とした粒子解析装置。 2、前記観察光学系の光軸に沿って奇数番目の光電検出
    器と偶数番目の光電検出器とは対向して配置した特許請
    求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。 3、前記観察光学系の光軸に沿って奇数番目の光分配器
    と偶数番目の光分配器の反射方向は互に直交して配置し
    た特許請求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。 4、前記観察光学系の光軸方向から見て、前記光電検出
    器を順次に螺旋状に直交する方向に配置した特許請求の
    の範囲第1項に記載の粒子解析装置。
JP62090593A 1987-04-13 1987-04-13 粒子解析装置 Pending JPS63255643A (ja)

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