JPS63249002A - 位置検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、位置検出装置、特に、被測定物上に照射し
た光の反射光を利用して被測定物の位置を検出する位置
検出装置に関するものである。

（従来の技術） 従来、この種の装置として第４図および第５図に示すも
のが知られている。第４図において、１は光の反射を用
いた測定素子、１ａはこの測定素子１の発光部、１ｂは
光電変換素子であるＣ、＋Ｓを用いた受光部、２は被測
定物、３はこの被測定物２上に設けた反射率の高い部材
または図示されない被測定物２の一部を凸段した部分で
ある反射部である。

上記構成において、測定素子１の発光部１ａからの光を
被測定物２上の反射部３にあて、この反射部３からの反
射光を測定素子１の受光部１ｂで集光することにより、
光電変換を行ない、測定素子１の内部で電圧の変化を生
じ、これを４３号として受けとる図示しない回路によっ
て、被測定物２の位置を検出する。第６図は、この被測
定物２を検出した位置についての前記測定素子ｌ内の電
圧のグラフで、Ｐは検出点を示す。

この場合において、被測定物２が静止状態でなく、直線
運動、回転運動の状態であっても、被測定物２上の反射
部３に光をあて、受光部１ｂに集光することにより、被
測定物２の位置を検出しうることはいうまでもない。

また、第５図は、第４図に示した装置において、測定素
子１と被測定物２の間にスリット４を設け、前記発光部
１ａからの光を、反射部３で反射して受光部！ｂで集光
しつる範囲を制限することにより、被測定物２の位置を
検出し易くしたものである。

前記第４図および第５図に示した従来装置はそれぞれ、
それなりに回転体などの被測定物２の位置を検出しつる
ものであった。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、従来装置にあっては、いずれも被測定物
の測定面に集光を良くすることを目的とする形状の考慮
がなされていないため１発光部１ａからの光が受光部１
ｂに反射光として到達する間に拡散により剥まり、被測
定休２の位置を精度良く検知しにくいという問題点があ
った。

（目的） この発明は、以上のような問題点を解決するためにした
もので、反射部を被測定物上に設けた集光機能を有する
部材としたことにより、精度良く良好に被測定体の位置
の精度を検知することができる位置検出装置を提供する
ことを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

このため、この発明に係る位置検出装置においては、反
射部を被測定物上に設けた集光機能を有する部材とした
ことにより、反射光の減衰を一層少なくし、前記の目的
を達成しようとするものである。

（作用） 以上のような構成により、この発明による位置検出装置
は、反射部を被測定物上に設けた集光部材としたことに
より、反射光の減衰を一層少なくし、被測定物の位置を
精度良く検出できる。

（実施例） 以下に、この発明の一実施例を第１図に基づいて説明す
る。

符号１〜４は従来装置と同一部分または相当部分を示し
、説明の重複をさける。

図において、５は被測定物２面に塗装した反射防止用塗
装膜、６は被測定物２に設けた集光機能を有する部材で
ある凹形状である凹形状部、６ａはこの凹形状部６面に
塗装した反射部である反射面用塗装置ｑである。

上記構成において、集光機能を有する凹形状部６を被測
定物２の基準位置に設けておき、また、測定素子１を特
定の位置に固定して被測定物２の位置検出をできるよう
にする。

前記被測定物２上の凹形状部６が、この凹形状部６と対
向する前記測定素子１に対しである特定の位置まで移動
すると、発光部１ａからの光を、前記凹形状部６面の反
射面用塗装膜６ａで反射する。凹形状部６を除く被測定
物２而の反射防止用塗装Ｈ５部からの反射を防止する。

このように反射した光を集光し、受光部１ｂにみちびく
と、測定素子１の内部で光電変換により電圧の変化がお
こり、これを信号として受けとる回路（不図示）により
、被測定物２の位置を検出する。

第３図は、被測定物２の移動した位置についての測定素
子内の電圧の例を示したグラフで、従来装置の第６図に
相当するもので、両者を対比することにより、この発明
の実施例によるほうが被測定物２の位置精度が良いこと
が理解される。

この発明の一実施例によれば１反射部が被測定物２に設
けた集光機能を有した凹形状を有することにより、反射
光の拡散を少なくし、被測定物２の位置を精度良く検知
でき、また、凹形状部６面に反射面用塗装膜６ａを塗装
し、凹形状部６を除く被測定物２面に反射防止用塗装膜
５を塗装したので、被測定物２の位置についての電圧が
、きわめて狭い範囲にピーク状に生じ、検知点Ｐである
前記被測定物２の位置を良い精度で検出することができ
る。

（他の実施例〕 この発明の一実施例において、反射部を凹形状部６面と
し、発光部１ａからの光をあて、その反射光を受光部１
ｂで集光したが、この発明の他の実施例では第２図に示
すように、前記凹形状部６を楕円体面とし、この楕円体
面の一方の焦点に前記発光部１ａを配置し、他方の焦点
に前記受光部】ｂを配置することにより、反射部である
凹形状部６面からの反射光は受光部１ｂに効果的に集光
しうることは特に、光学的に多言を要しないところであ
り、これによって航記第３図に見られるグラフからも、
反射光の減衰をさらに一層少なくし、被測定物２の位置
の測定積度を良くすることは、この種の装置を扱うふつ
うの技術者によって容易に理解される。

また、上記のこの発明の他の実施例においても、凹形状
部６面に反射面用塗装膜６ａを塗装し、凹形状部６面を
除く被測定物２面に反射防止用塗装膜５を塗装すること
により、一層良く精度を有する位置検出装置を提供しう
る効果がある。

さらに、この発明の実施例において、受光部１ｂに光電
変換素子としてＣｄＳ素子を用いたが、Ｃ，Ｓ、素子、
　Ｃｄ５−Ｃｄ５−固溶体素子などを用いてもよいこと
はもちろんである。

しかして、本実施例のように凹形状を設けることなく、
他の形状であっても集光機能を有する形状であれば、た
とえば、平坦な形状であっても反射率を変えることによ
り集光機能を有する形状であれば、この発明の範囲に含
まれることは明らかである。

（発明の効果） 以上に説明してきたように、この発明によれば、反射部
を被測定物上に設けた集光機能を有する部材としたこと
により、反射光の減衰を一層少なくし、被測定物の位置
を精度良く検出できる位置検出装置を提供しつる効果を
有する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の正断面図、第２図はこの
発明の他の実施例の正断面図、第３図は同被測定物を移
動した位置と測定素子内の電圧のグラフ、第４図および
第５図は従来装置の正断面図、第６図は従来装置におけ
る被測定物の移動した位置と測定素子内の電圧のグラフ
である。 １　ａ　−”　・−・発光部 １　ｂ　−−−−−−受光部 ２−−−−被測定物 ６ａ・・・−・凹形状部（反射部） なお、各図中、同一部分または相当部分は同一符号で表
わす。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）発光部からの光を被測定物上の反射部にあて、こ
   の反射部からの反射光を受光部で集光することにより、
   前記被測定物の位置を検出する位置検出装置において、
   前記反射部を被測定物上に設けた集光機能を有する部材
   としたことを特徴とする位置検出装置。
2. （２）前記集光機能を有する部材は凹形状をなしている
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の位置検出
   装置。
3. （３）前記凹形状が楕円体面で、この楕円体面の焦点に
   前記発光部と受光部を配設した特許請求の範囲第２項記
   載の位置検出装置。