JPS6324505Y2 - - Google Patents
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- JPS6324505Y2 JPS6324505Y2 JP1985006693U JP669385U JPS6324505Y2 JP S6324505 Y2 JPS6324505 Y2 JP S6324505Y2 JP 1985006693 U JP1985006693 U JP 1985006693U JP 669385 U JP669385 U JP 669385U JP S6324505 Y2 JPS6324505 Y2 JP S6324505Y2
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- gate
- signal
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- microprocessor
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/30—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
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- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4074—Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
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- G11C11/412—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using field-effect transistors only
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- Microcomputers (AREA)
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Description
【考案の詳細な説明】
考案の分野
この考案は、一般にはマイクロプロセツサに関
するもので、より具体的にはオンチツプ・ランダ
ムアクセス・メモリを備えたマイクロプロセツサ
に関するものである。
するもので、より具体的にはオンチツプ・ランダ
ムアクセス・メモリを備えたマイクロプロセツサ
に関するものである。
考案の背景
マイクロプロセツサは広く用いられ、種々の応
用において極めて有用であることが認められてい
る。マイクロプロセツサは、命令及びOPコード
内蔵の外部メモリと組ませて使用されることが多
い。LSIの進歩に伴つて、メモリを同一チツプ上
に備えてマイクロプロセツサを構成できるように
なつたが、メモリは主にデータの一時蓄積用に限
定されている。同一の集積回路チツプにランダム
アクセス・メモリ(RAM)を持ち、且つ、この
RAMからのデータを内部データバスに入力でき
るように接続したマイクロプロセツサが切に望ま
れている。さらに、多数の応用例、特に車輌用の
マイクロプロセツサにおいては、マイクロプロセ
ツサの電源のダウン時に幾分かの情報をRAM内
に格納できることが望まれる。
用において極めて有用であることが認められてい
る。マイクロプロセツサは、命令及びOPコード
内蔵の外部メモリと組ませて使用されることが多
い。LSIの進歩に伴つて、メモリを同一チツプ上
に備えてマイクロプロセツサを構成できるように
なつたが、メモリは主にデータの一時蓄積用に限
定されている。同一の集積回路チツプにランダム
アクセス・メモリ(RAM)を持ち、且つ、この
RAMからのデータを内部データバスに入力でき
るように接続したマイクロプロセツサが切に望ま
れている。さらに、多数の応用例、特に車輌用の
マイクロプロセツサにおいては、マイクロプロセ
ツサの電源のダウン時に幾分かの情報をRAM内
に格納できることが望まれる。
考案の目的
従つて、本考案の一つの目的は、オペレーシヨ
ン・コードを内蔵したオンチツプRAMの電源ア
ツプ、ダウン時のRAM保持機能を提供すること
にある。
ン・コードを内蔵したオンチツプRAMの電源ア
ツプ、ダウン時のRAM保持機能を提供すること
にある。
本考案の他の目的は、電源アツプ・ダウン時に
全ての行選択線をデセーブルにしてRAMのリー
ド及びライト又はいづれか一方を禁止する回路を
提供することにある。
全ての行選択線をデセーブルにしてRAMのリー
ド及びライト又はいづれか一方を禁止する回路を
提供することにある。
本考案の上述した及びその他の目的を達成する
ための一形態として、電源アツプ、ダウン期間の
RAM保持機能を備えたマイクロプロセツサが提
供される。マイクロプロセツサと同一の集積回路
チツプ上に備えられたRAMの少くとも一部分に
はスタンバイ電源が供給される。電源ダウン直前
の入力信号を電源アツプ直後まで保持するラツチ
回路が使用される。このラツチ回路はリード、ラ
イト論理回路の動作を禁止する禁止信号をリー
ド、ライト論理回路に出力し、これによつて
RAMの少くとも一部分に蓄積された情報が変更
を受けないようにする。RAMのワードセレクト
線に結合し、上記のラツチ回路の出力で制御され
てこのワードセレクト線上の情報転送を妨げ、こ
れによつて保持ビツトのアドレス指定を禁止する
手段が提供される。
ための一形態として、電源アツプ、ダウン期間の
RAM保持機能を備えたマイクロプロセツサが提
供される。マイクロプロセツサと同一の集積回路
チツプ上に備えられたRAMの少くとも一部分に
はスタンバイ電源が供給される。電源ダウン直前
の入力信号を電源アツプ直後まで保持するラツチ
回路が使用される。このラツチ回路はリード、ラ
イト論理回路の動作を禁止する禁止信号をリー
ド、ライト論理回路に出力し、これによつて
RAMの少くとも一部分に蓄積された情報が変更
を受けないようにする。RAMのワードセレクト
線に結合し、上記のラツチ回路の出力で制御され
てこのワードセレクト線上の情報転送を妨げ、こ
れによつて保持ビツトのアドレス指定を禁止する
手段が提供される。
RAMをマイクロプロセツサと同一の集積回路
チツプ上に載置することは、集積回路チツプ面積
を極めて有効に利用することになる。さらに、
RAMからのデータをマイクロプロセツサの内部
バスに入力できるということは、チツプの有用性
を極めて高める。単一の集積回路チツプ上に
RAMとマイクロプロセツサが備えられている場
合に、RAMからマイクロプロセツサにデータを
入力させる方法は、RAM配列からデータを選択
すること及びこのデータをセンス・アンプから2
値スイツチに結合させる段階を含んでいる。次い
で、この2値スイツチの切換えが制御されて、
RAMからマイクロプロセツサのデータ・バスに
データが転送される。このデータは、また、マイ
クロプロセツサの命令レジスタにアクセス可能と
され、これによつてRAMが命令及びOPコード
を格納することを可能とする。RAMの一部又は
全部は、マイクロプロセツサの電力が除去された
ときもアクテイブ状態を保持するスタンバイ電源
によつて電力供給される。これによつて、RAM
が格納データを保持する。電源のアツプ及びダウ
ン時におけるRAMへのアクセスは禁止され、
RAMに蓄積されたデータが破壊も変更もされな
いように保証される。
チツプ上に載置することは、集積回路チツプ面積
を極めて有効に利用することになる。さらに、
RAMからのデータをマイクロプロセツサの内部
バスに入力できるということは、チツプの有用性
を極めて高める。単一の集積回路チツプ上に
RAMとマイクロプロセツサが備えられている場
合に、RAMからマイクロプロセツサにデータを
入力させる方法は、RAM配列からデータを選択
すること及びこのデータをセンス・アンプから2
値スイツチに結合させる段階を含んでいる。次い
で、この2値スイツチの切換えが制御されて、
RAMからマイクロプロセツサのデータ・バスに
データが転送される。このデータは、また、マイ
クロプロセツサの命令レジスタにアクセス可能と
され、これによつてRAMが命令及びOPコード
を格納することを可能とする。RAMの一部又は
全部は、マイクロプロセツサの電力が除去された
ときもアクテイブ状態を保持するスタンバイ電源
によつて電力供給される。これによつて、RAM
が格納データを保持する。電源のアツプ及びダウ
ン時におけるRAMへのアクセスは禁止され、
RAMに蓄積されたデータが破壊も変更もされな
いように保証される。
実施例の説明
第1図に、RAM11の全体を同一の集積回路
チツプ上に載置したマイクロプロセツサ・ユニツ
ト(MPU)10が図示されている。RAMの一
部分、必要に応じてRAMの全体は、スタンバイ
電圧VSTから電力供給を受ける。RAMへのアク
セスは、RAM制御回路12に供給されるRAM
エネーブル信号によつて制御される。マイクロプ
ロセツサは、命令レジスタ14を介してマイクロ
プロセツサの内部データバス16に接続されるク
ロツク・命令解読・制御ユニツト13を備えてい
る。命令解読・制御ユニツト13は種々の外部信
号を受信するが、これらの外部信号については後
に詳述する。データバツフア17を介してマイク
ロプロセツサにデータが入力、出力される。
チツプ上に載置したマイクロプロセツサ・ユニツ
ト(MPU)10が図示されている。RAMの一
部分、必要に応じてRAMの全体は、スタンバイ
電圧VSTから電力供給を受ける。RAMへのアク
セスは、RAM制御回路12に供給されるRAM
エネーブル信号によつて制御される。マイクロプ
ロセツサは、命令レジスタ14を介してマイクロ
プロセツサの内部データバス16に接続されるク
ロツク・命令解読・制御ユニツト13を備えてい
る。命令解読・制御ユニツト13は種々の外部信
号を受信するが、これらの外部信号については後
に詳述する。データバツフア17を介してマイク
ロプロセツサにデータが入力、出力される。
状態コード・レジスタ19は、演算ユニツト
(ALU)18に接続されて演算ユニツト18の結
果を表示する。状態コードレジスタ19で作成さ
れた結果は、ビツト形式であり、条件付き分岐命
令のようにテスト可能な条件として利用される。
プログラムカウンタ26は、カレントプログラム
のアドレスを表示する2バイト(例えば16ビツ
ト)のレジスタである。スタツクポインタ24
は、外部プツシユダウン/ポツプアツプ・スタツ
ク内の次に使用可能なアドレスを格納する2バイ
トのレジスタである。外部スタツクは、通常は、
適宜な配列ないしはアドレスを有するランダムア
クセス・リード/ライト・メモリである。インデ
ツクス・レジスタ23もまたマイクロプロセツサ
に備えられるが、このレジスタは、インデツクス
モードのメモリ番地指定用に、データ即ち16ビ
ツトのメモリアドレスを蓄積する2バイトのレジ
スタである。マイクロプロセツサ・ユニツト10
は2個の8ビツト・アキユムレータ21及び22
を備えており、これらのアキユムレータはオペラ
ンド及び演算ユニツト18の結果を保持するのに
使用される。プログラムカウンタ26、スタツク
ポインタ24、インデツクスレジスタ23、アキ
ユムレータ21,22、及び演算ユニツト18の
すべては、マイクロプロセツサの内部データバス
16に接続される。マイクロプロセツサのデータ
バス16は、アドレスないしは出力バツフア27
にも接続される。アドレスバス用として16個の出
力ピンが使用される。出力ないしは外部データバ
ツフア17は、8個のピンを使用し、データバス
16へのデータの入、出力を緩衝する。データバ
ツフア17は、双方向性であり、周辺装置、外部
メモリその他との間でデータをやり取りする。デ
ータバツフア17は、後に明らかになるように、
8個の個別バツフアを備え、そのインタフエース
接続は外部インタフエース用のデータバスを形成
する。
(ALU)18に接続されて演算ユニツト18の結
果を表示する。状態コードレジスタ19で作成さ
れた結果は、ビツト形式であり、条件付き分岐命
令のようにテスト可能な条件として利用される。
プログラムカウンタ26は、カレントプログラム
のアドレスを表示する2バイト(例えば16ビツ
ト)のレジスタである。スタツクポインタ24
は、外部プツシユダウン/ポツプアツプ・スタツ
ク内の次に使用可能なアドレスを格納する2バイ
トのレジスタである。外部スタツクは、通常は、
適宜な配列ないしはアドレスを有するランダムア
クセス・リード/ライト・メモリである。インデ
ツクス・レジスタ23もまたマイクロプロセツサ
に備えられるが、このレジスタは、インデツクス
モードのメモリ番地指定用に、データ即ち16ビ
ツトのメモリアドレスを蓄積する2バイトのレジ
スタである。マイクロプロセツサ・ユニツト10
は2個の8ビツト・アキユムレータ21及び22
を備えており、これらのアキユムレータはオペラ
ンド及び演算ユニツト18の結果を保持するのに
使用される。プログラムカウンタ26、スタツク
ポインタ24、インデツクスレジスタ23、アキ
ユムレータ21,22、及び演算ユニツト18の
すべては、マイクロプロセツサの内部データバス
16に接続される。マイクロプロセツサのデータ
バス16は、アドレスないしは出力バツフア27
にも接続される。アドレスバス用として16個の出
力ピンが使用される。出力ないしは外部データバ
ツフア17は、8個のピンを使用し、データバス
16へのデータの入、出力を緩衝する。データバ
ツフア17は、双方向性であり、周辺装置、外部
メモリその他との間でデータをやり取りする。デ
ータバツフア17は、後に明らかになるように、
8個の個別バツフアを備え、そのインタフエース
接続は外部インタフエース用のデータバスを形成
する。
RAM11及びRAM制御回路12を除いたマ
イクロプロセツサ10の全回路は、Thomas H.
Bennetらに付与された米国特許第3962682号に示
されている。本件と同一の譲受人に譲渡されたこ
の米国特許第3962682号を本明細書中で参照しよ
う。マイクロプロセツサ・ユニツト10は、8ビ
ツトのデータ・ワード及び16ビツトのメモリアド
レスを有する小形の計算機である。この命令解
読・制御ユニツト13には、ホールト信号が入力
する。ホールトが論理のロー状態であれば、マイ
クロプロセツサの全動作が停止する。ホールトは
レベル・センシテイブである。ホールトモードに
おいては、マイクロプロセツサは命令の終了と共
に停止し、バスアベイラブルはハイの状態とな
り、バリツド・メモリアドレス(VMA)はロー
状態となる。出力バツフア27に接続されるアド
レスバスは、次の命令のアドレスを表示する。リ
ード/ライト(R/W)は、制御ユニツト13か
らの出力であり、マイクロプロセツサがリード状
態とライト状態のいづれにあるかを周辺装置と外
部メモリに報らせる。リードは論理のハイレベル
であり、これに対して、ライトは論理のローレベ
ルである。リード/ライトの通常のスタンバイ状
態は、論理の“1”即ちハイ状態である。制御ユ
ニツト13のその他の出力は、アドレスバス上に
正しいアドレスが乗つていることを所定の周辺装
置に表示するバリツド・メモリアドレス
(VMA)である。この信号は、通常動作中は、
周辺インタフエース・アダプタ(PIA)及び非同
期通信インタフエース・アダプタ(ACIA)その
他の周辺インタフエースをエネーブルにするため
使用される。制御ユニツト13からのその他の出
力としてバスアベイラブル信号があるが、通常こ
の信号は論理のロー状態にある。バスアベイラブ
ル(BA)信号がアクテイブになると、これは論
理のハイ状態となり、マイクロプロセツサが停止
してアドレスバスがアベイラブルであることが表
示される。これは、ホールト信号線が論理のロー
状態にあるか又はマイクロプロセツサがウエイト
命令の実行の結果ウエイト状態にある場合に生じ
る。割込み要求(IRQ)は、制御ユニツト13へ
のレベル・センシテイブ入力であり、この入力は
マイクロプロセツサに割込みシーケンスの作成を
要求するものである。マイクロプロセツサは、割
込み要求を識別する以前に実行していた現在の命
令を完了するまで待つ。割込み要求が識別され、
かつ、状態コードレジスタ19内の割込みマスク
ビツトがセツトされていなければ、マイクロプロ
セツサは割込みシーケンスを開始する。インデツ
クスレジスタ23、プログラムカウンタ26、ア
キユムレータ21,22及び状態コードレジスタ
19内のデータはスタツクメモリ内に格納され
る。引続いてマイクロプロセツサは、更に割込み
要求が生じないように割込みマスクビツトをハイ
にしたのち割込み要求に応じる。最後に、所定の
メモリ位置に位置するベクトルアドレスを表示す
るための16ビツトのアドレスをロードしてこのサ
イクルを終了する。上記所定のメモリ位置にロー
ドされたアドレスは、マイクロプロセツサをメモ
リ内の割込みルーチンに分岐させる。ホールト信
号線は、割込みが識別されるよう論理のハイ状態
となる。
イクロプロセツサ10の全回路は、Thomas H.
Bennetらに付与された米国特許第3962682号に示
されている。本件と同一の譲受人に譲渡されたこ
の米国特許第3962682号を本明細書中で参照しよ
う。マイクロプロセツサ・ユニツト10は、8ビ
ツトのデータ・ワード及び16ビツトのメモリアド
レスを有する小形の計算機である。この命令解
読・制御ユニツト13には、ホールト信号が入力
する。ホールトが論理のロー状態であれば、マイ
クロプロセツサの全動作が停止する。ホールトは
レベル・センシテイブである。ホールトモードに
おいては、マイクロプロセツサは命令の終了と共
に停止し、バスアベイラブルはハイの状態とな
り、バリツド・メモリアドレス(VMA)はロー
状態となる。出力バツフア27に接続されるアド
レスバスは、次の命令のアドレスを表示する。リ
ード/ライト(R/W)は、制御ユニツト13か
らの出力であり、マイクロプロセツサがリード状
態とライト状態のいづれにあるかを周辺装置と外
部メモリに報らせる。リードは論理のハイレベル
であり、これに対して、ライトは論理のローレベ
ルである。リード/ライトの通常のスタンバイ状
態は、論理の“1”即ちハイ状態である。制御ユ
ニツト13のその他の出力は、アドレスバス上に
正しいアドレスが乗つていることを所定の周辺装
置に表示するバリツド・メモリアドレス
(VMA)である。この信号は、通常動作中は、
周辺インタフエース・アダプタ(PIA)及び非同
期通信インタフエース・アダプタ(ACIA)その
他の周辺インタフエースをエネーブルにするため
使用される。制御ユニツト13からのその他の出
力としてバスアベイラブル信号があるが、通常こ
の信号は論理のロー状態にある。バスアベイラブ
ル(BA)信号がアクテイブになると、これは論
理のハイ状態となり、マイクロプロセツサが停止
してアドレスバスがアベイラブルであることが表
示される。これは、ホールト信号線が論理のロー
状態にあるか又はマイクロプロセツサがウエイト
命令の実行の結果ウエイト状態にある場合に生じ
る。割込み要求(IRQ)は、制御ユニツト13へ
のレベル・センシテイブ入力であり、この入力は
マイクロプロセツサに割込みシーケンスの作成を
要求するものである。マイクロプロセツサは、割
込み要求を識別する以前に実行していた現在の命
令を完了するまで待つ。割込み要求が識別され、
かつ、状態コードレジスタ19内の割込みマスク
ビツトがセツトされていなければ、マイクロプロ
セツサは割込みシーケンスを開始する。インデツ
クスレジスタ23、プログラムカウンタ26、ア
キユムレータ21,22及び状態コードレジスタ
19内のデータはスタツクメモリ内に格納され
る。引続いてマイクロプロセツサは、更に割込み
要求が生じないように割込みマスクビツトをハイ
にしたのち割込み要求に応じる。最後に、所定の
メモリ位置に位置するベクトルアドレスを表示す
るための16ビツトのアドレスをロードしてこのサ
イクルを終了する。上記所定のメモリ位置にロー
ドされたアドレスは、マイクロプロセツサをメモ
リ内の割込みルーチンに分岐させる。ホールト信
号線は、割込みが識別されるよう論理のハイ状態
となる。
制御ユニツト13へのリセツト入力は、マイク
ロプロセツサをパワー・ダウン状態からリセツト
スタートさせるのに用いられる。リセツト入力が
論理のロー状態にあるときは、マイクロプロセツ
サ・ユニツトはノンアクテイブ状態にあり、レジ
スタ内の情報は失われる。リセツト入力線上に論
理のハイレベルが検出されると、マイクロプロセ
ツサは再スタートシーケンスを開始し、上位アド
レス信号線の全てがハイとなる。割込みマスクビ
ツトは、再スタートルーチンの期間中はセツトさ
れ、マイクロプロセツサが割込み要求信号で割込
まれる前にリセツトされなければならない。制御
ユニツト13にはマスクされない割込み(NMI)
信号も入力する。マスクされない割込み入力の立
下り部は、マスクされない割込みシーケンスを発
生することをマイクロプロセツサに要求する。割
込み要求信号の場合と同様に、マイクロプロセツ
サは、マスクされない割込み信号を識別する以前
から実行していたカレント命令を完了させる。状
態コードレジスタ19内の割込みマスクビツト
は、マスクされない割込み要求信号には何らの影
響も及ぼさない。割込み要求及びマスクされない
割込み入力は、ハード的には割込み信号線であ
り、エネーブル信号が論理のハイ状態にあるとき
にサンプルされ、命令が完了すると直ちにエネー
ブル信号をロー状態として割込みルーチンが開始
される。エネーブル信号は、制御ユニツトへの入
力であり、マイクロプロセツサのクロツク及びシ
ステムのリセツトを供給する。
ロプロセツサをパワー・ダウン状態からリセツト
スタートさせるのに用いられる。リセツト入力が
論理のロー状態にあるときは、マイクロプロセツ
サ・ユニツトはノンアクテイブ状態にあり、レジ
スタ内の情報は失われる。リセツト入力線上に論
理のハイレベルが検出されると、マイクロプロセ
ツサは再スタートシーケンスを開始し、上位アド
レス信号線の全てがハイとなる。割込みマスクビ
ツトは、再スタートルーチンの期間中はセツトさ
れ、マイクロプロセツサが割込み要求信号で割込
まれる前にリセツトされなければならない。制御
ユニツト13にはマスクされない割込み(NMI)
信号も入力する。マスクされない割込み入力の立
下り部は、マスクされない割込みシーケンスを発
生することをマイクロプロセツサに要求する。割
込み要求信号の場合と同様に、マイクロプロセツ
サは、マスクされない割込み信号を識別する以前
から実行していたカレント命令を完了させる。状
態コードレジスタ19内の割込みマスクビツト
は、マスクされない割込み要求信号には何らの影
響も及ぼさない。割込み要求及びマスクされない
割込み入力は、ハード的には割込み信号線であ
り、エネーブル信号が論理のハイ状態にあるとき
にサンプルされ、命令が完了すると直ちにエネー
ブル信号をロー状態として割込みルーチンが開始
される。エネーブル信号は、制御ユニツトへの入
力であり、マイクロプロセツサのクロツク及びシ
ステムのリセツトを供給する。
XTAL及びEXTAL入力も、制御ユニツト13
に供給され、内部発振器の水晶制御のための並列
共振水晶発振器として使用される。制御ユニツト
13には、エネーブル信号を伸長するメモリレデ
イ信号も入力する。このメモリレデイ信号が論理
のハイレベルにあるときは、エネーブル信号は通
常の動作状態にある。メモリレデイ信号が論理の
ローレベルにあるときは、エネーブル信号は半周
期にわたつて積分されて伸長され、低速メモリと
のインタフエースが可能となる。
に供給され、内部発振器の水晶制御のための並列
共振水晶発振器として使用される。制御ユニツト
13には、エネーブル信号を伸長するメモリレデ
イ信号も入力する。このメモリレデイ信号が論理
のハイレベルにあるときは、エネーブル信号は通
常の動作状態にある。メモリレデイ信号が論理の
ローレベルにあるときは、エネーブル信号は半周
期にわたつて積分されて伸長され、低速メモリと
のインタフエースが可能となる。
RAM制御ユニツト12に入力するRAMエネ
ーブル信号は、オンチツプRAMを制御する。
RAMエネーブル入力信号が論理のハイ状態にあ
るときは、オンチツプ・メモリはエネーブルとな
つてマイクロプロセツサの制御を受ける。RAM
エネーブル信号が論理のロー状態にあるときは、
RAMはデセーブルとなる。以下で説明するよう
に、RAMエネーブル信号は、オンチツプRAM
を電源ダウン状態の期間中デセーブルするのに使
用される。マイクロプロセツサへ供給される電源
が、ダウン時に所定のレベル、例えば4.75ボルト
を切る3マイクロ秒前に、RAMエネーブル信号
は論理のロー状態にされる。スタンバイ電源電圧
VSTは、RAM及びRAM制御論理回路12に直流
電圧を供給する。電源ダウン時に、RAM内の情
報のすべてについてはこれを保持する必要がない
ならば、パワーダウン状態の間中データの保持を
必要とするRAM部分にのみスタンバイ電圧を印
加すればよい。
ーブル信号は、オンチツプRAMを制御する。
RAMエネーブル入力信号が論理のハイ状態にあ
るときは、オンチツプ・メモリはエネーブルとな
つてマイクロプロセツサの制御を受ける。RAM
エネーブル信号が論理のロー状態にあるときは、
RAMはデセーブルとなる。以下で説明するよう
に、RAMエネーブル信号は、オンチツプRAM
を電源ダウン状態の期間中デセーブルするのに使
用される。マイクロプロセツサへ供給される電源
が、ダウン時に所定のレベル、例えば4.75ボルト
を切る3マイクロ秒前に、RAMエネーブル信号
は論理のロー状態にされる。スタンバイ電源電圧
VSTは、RAM及びRAM制御論理回路12に直流
電圧を供給する。電源ダウン時に、RAM内の情
報のすべてについてはこれを保持する必要がない
ならば、パワーダウン状態の間中データの保持を
必要とするRAM部分にのみスタンバイ電圧を印
加すればよい。
第2図は、第1図のシステムの回路部分を詳細
に示したものである。第1図のRAM11の一部
をメモリ30として図示する。8ビツトワードの
システムであれば、メモリ30は8列のメモリセ
ル31を有する。8個の列は1個のセンスアンプ
41を共有する。各メモリセルはバツク・ツー・
バツクに接続された2個のインバータ32及び3
3から成つている。メモリセル31に蓄積された
データは、FETカツプラ34によつて36及び
37で例示される列センス線に転送される。カツ
プラ34は、行選択線124及び125上に現わ
れる信号によりエネーブルにされる。8ビツト・
ワードのシステム用のメモリアレイは、8列のメ
モリセル31を有するだけでなく、多数の行の、
例えば16行のメモリセル31を有し、各行は12
4及び125のような行選択線を有しよう。
に示したものである。第1図のRAM11の一部
をメモリ30として図示する。8ビツトワードの
システムであれば、メモリ30は8列のメモリセ
ル31を有する。8個の列は1個のセンスアンプ
41を共有する。各メモリセルはバツク・ツー・
バツクに接続された2個のインバータ32及び3
3から成つている。メモリセル31に蓄積された
データは、FETカツプラ34によつて36及び
37で例示される列センス線に転送される。カツ
プラ34は、行選択線124及び125上に現わ
れる信号によりエネーブルにされる。8ビツト・
ワードのシステム用のメモリアレイは、8列のメ
モリセル31を有するだけでなく、多数の行の、
例えば16行のメモリセル31を有し、各行は12
4及び125のような行選択線を有しよう。
列センス線36及び37は、FET38及び3
9の各々を介してセンスアンプ41に結合する。
トランジスタ38及び39は、信号線40上に現
われる列選択信号によつてアクテイブとなる。各
列は40,45のような個有の列選択信号線を有
している。交叉接続されたセンスアンプ41は、
インバータ42により緩衝される。ノアゲート7
3からのリード信号は、バツフア42の出力側と
インバータ44の入力側の間にあるFET43を
エネーブルにする。バツフアないしインバータ4
4の出力は、トランジスタ46により信号線ない
し導体47に結合される。トランジスタ46は、
ノアゲート79からの同期タイミング信号でエネ
ーブルとなる。信号線47はノアゲート48の一
方の入力端に接続され、ノアゲート48の他方の
入力端にはタイミング信号線が接続される。ノア
ゲート48の出力は、トランジスタ51の制御電
極とノアゲート49の一方の入力端に供給され
る。ノアゲート49には、ノアゲート48と同様
にタイミング信号も入力する。ノアゲート49の
出力はトランジスタ52の制御電極に供給され
る。トランジスタ51と52が電源VDDと基準接
地点間で直列に接続されている。これら直列接続
されたトランジスタ51と52の接続点から、バ
ツフアされた出力が外部データバス53に供給さ
れる。このように、RAMからのデータ出力は外
部データバス上に乗せられる。RAMの8ビツト
の各セクシヨンは、各自のバツフアと外部データ
バス端子を持つている。スイツチングトランジス
タ63を導通させることにより、信号線47上の
RAMデータ出力をマイクロプロセツサの内部デ
ータバス62上へ出力させることもできる。トラ
ンジスタ63はノアゲート84の出力信号で制御
される。外部データバス端子53は当該マイクロ
プロセツサへの入力データも受けとる。この入力
データは、プロテクシヨン・トランジスタ54、
インバータ・バツフア57、クロツクで駆動され
るトランジスタ58を介してインバータ・バツフ
ア59に供給される。次にこの入力データは、ノ
アゲート88の出力信号で制御されるトランジス
タ61によつてスイツチされる。マイクロプロセ
ツサの内部データバス62からのデータも、トラ
ンジスタ63をエネーブルにすることによつて
RAM内に書込むことができる。RAM内にデー
タを書込むときは、トランジスタ43と46は勿
論エネーブルにされない。信号線47上のデータ
はインバータを介してノアゲートに供給される。
このノアゲートは書込み信号Wでエネーブルにさ
れて列センス線に供給される。所望の列センス線
が信号線40,45その他によつてエネーブルに
される。列センス線をプレチヤージできるよう
に、これをプロアツプ・トランジスタ126を介
して電源線VDDに接続している。
9の各々を介してセンスアンプ41に結合する。
トランジスタ38及び39は、信号線40上に現
われる列選択信号によつてアクテイブとなる。各
列は40,45のような個有の列選択信号線を有
している。交叉接続されたセンスアンプ41は、
インバータ42により緩衝される。ノアゲート7
3からのリード信号は、バツフア42の出力側と
インバータ44の入力側の間にあるFET43を
エネーブルにする。バツフアないしインバータ4
4の出力は、トランジスタ46により信号線ない
し導体47に結合される。トランジスタ46は、
ノアゲート79からの同期タイミング信号でエネ
ーブルとなる。信号線47はノアゲート48の一
方の入力端に接続され、ノアゲート48の他方の
入力端にはタイミング信号線が接続される。ノア
ゲート48の出力は、トランジスタ51の制御電
極とノアゲート49の一方の入力端に供給され
る。ノアゲート49には、ノアゲート48と同様
にタイミング信号も入力する。ノアゲート49の
出力はトランジスタ52の制御電極に供給され
る。トランジスタ51と52が電源VDDと基準接
地点間で直列に接続されている。これら直列接続
されたトランジスタ51と52の接続点から、バ
ツフアされた出力が外部データバス53に供給さ
れる。このように、RAMからのデータ出力は外
部データバス上に乗せられる。RAMの8ビツト
の各セクシヨンは、各自のバツフアと外部データ
バス端子を持つている。スイツチングトランジス
タ63を導通させることにより、信号線47上の
RAMデータ出力をマイクロプロセツサの内部デ
ータバス62上へ出力させることもできる。トラ
ンジスタ63はノアゲート84の出力信号で制御
される。外部データバス端子53は当該マイクロ
プロセツサへの入力データも受けとる。この入力
データは、プロテクシヨン・トランジスタ54、
インバータ・バツフア57、クロツクで駆動され
るトランジスタ58を介してインバータ・バツフ
ア59に供給される。次にこの入力データは、ノ
アゲート88の出力信号で制御されるトランジス
タ61によつてスイツチされる。マイクロプロセ
ツサの内部データバス62からのデータも、トラ
ンジスタ63をエネーブルにすることによつて
RAM内に書込むことができる。RAM内にデー
タを書込むときは、トランジスタ43と46は勿
論エネーブルにされない。信号線47上のデータ
はインバータを介してノアゲートに供給される。
このノアゲートは書込み信号Wでエネーブルにさ
れて列センス線に供給される。所望の列センス線
が信号線40,45その他によつてエネーブルに
される。列センス線をプレチヤージできるよう
に、これをプロアツプ・トランジスタ126を介
して電源線VDDに接続している。
次にリード/ライト指令、バツフアエネーブル
信号などを発生するための論理動作を説明する。
トランジスタ97,98及び99の制御電源には
タイミング信号φ2が供給される。トランジスタ
98への信号はインバータで反転される。接地点
とVDD間に、トランジスタ97と98が直列接続
される。トランジスタ97はトランジスタ99と
並列になつている。トランジスタ97と98の出
力はインバータ101で反転されてノアゲート1
02の入力に供給される。上記の出力はアンドゲ
ート104の入力へも供給される。ノアゲート1
02は、ノアゲート73からのリード信号Rとア
ンドゲート103からの信号も受ける。アンドゲ
ート103には、クロツク信号φ2とリード/ラ
イト信号が入力する。このリード/ライト信号は
アンドゲート104にも入力する。アンドゲート
104の出力はノアゲート106へ供給される。
ノアゲート106の出力はノアゲート84の入力
となる。ノアゲート84はスイツチング・トラン
ジスタ63にエネーブル信号を供給する。ノアゲ
ート84の入力端に接続された導体83にクロツ
ク信号φ2が供給される。この導体83は、トラ
ンジスタ86のエネーブル信号とノアゲート81
への入力信号も供給する。トランジスタ86は、
エネーブルになると、タイミング信号BIDIをイ
ンバータ82に供給する。インバータ82はノア
ゲート81への入力を与え、このノアゲート81
の出力はノアゲート79の入力となる。ノアゲー
ト79はトランジスタ46に同期信号を供給し、
トランジスタ46はRAMからのデータを出力バ
ツフアに供給する。タイミング信号BIDIは、ト
ランジスタ92と93の各々により、ノアゲート
88と89に供給される。クロツク信号即ちクロ
ツクパルスφ2は、トランジスタ92と93をエ
ネーブルにすると共にノアゲート88と89へも
入力する。ノアゲート89の出力はノアゲート1
06とノアゲート78に供給される。ノアゲート
88の出力はトランジスタ61をエネーブルに
し、このトランジスタはデータバス53の入力デ
ータを当該マイクロプロセツサの内部データバス
62へ供給する。ノアゲート88はノアゲート8
7からの第3の入力を有し、ノアゲート89もイ
ンバータ77からの第3の入力を有している。イ
ンバータ77の出力はトランジスタ91と94を
介してノアゲート87と89にそれぞれ入力す
る。トランジスタ91と94はクロツク信号φ2
によつてエネーブルにされる。
信号などを発生するための論理動作を説明する。
トランジスタ97,98及び99の制御電源には
タイミング信号φ2が供給される。トランジスタ
98への信号はインバータで反転される。接地点
とVDD間に、トランジスタ97と98が直列接続
される。トランジスタ97はトランジスタ99と
並列になつている。トランジスタ97と98の出
力はインバータ101で反転されてノアゲート1
02の入力に供給される。上記の出力はアンドゲ
ート104の入力へも供給される。ノアゲート1
02は、ノアゲート73からのリード信号Rとア
ンドゲート103からの信号も受ける。アンドゲ
ート103には、クロツク信号φ2とリード/ラ
イト信号が入力する。このリード/ライト信号は
アンドゲート104にも入力する。アンドゲート
104の出力はノアゲート106へ供給される。
ノアゲート106の出力はノアゲート84の入力
となる。ノアゲート84はスイツチング・トラン
ジスタ63にエネーブル信号を供給する。ノアゲ
ート84の入力端に接続された導体83にクロツ
ク信号φ2が供給される。この導体83は、トラ
ンジスタ86のエネーブル信号とノアゲート81
への入力信号も供給する。トランジスタ86は、
エネーブルになると、タイミング信号BIDIをイ
ンバータ82に供給する。インバータ82はノア
ゲート81への入力を与え、このノアゲート81
の出力はノアゲート79の入力となる。ノアゲー
ト79はトランジスタ46に同期信号を供給し、
トランジスタ46はRAMからのデータを出力バ
ツフアに供給する。タイミング信号BIDIは、ト
ランジスタ92と93の各々により、ノアゲート
88と89に供給される。クロツク信号即ちクロ
ツクパルスφ2は、トランジスタ92と93をエ
ネーブルにすると共にノアゲート88と89へも
入力する。ノアゲート89の出力はノアゲート1
06とノアゲート78に供給される。ノアゲート
88の出力はトランジスタ61をエネーブルに
し、このトランジスタはデータバス53の入力デ
ータを当該マイクロプロセツサの内部データバス
62へ供給する。ノアゲート88はノアゲート8
7からの第3の入力を有し、ノアゲート89もイ
ンバータ77からの第3の入力を有している。イ
ンバータ77の出力はトランジスタ91と94を
介してノアゲート87と89にそれぞれ入力す
る。トランジスタ91と94はクロツク信号φ2
によつてエネーブルにされる。
RAMエネーブル信号REがインバータ64を
介してRAM制御論理回路に供給される。インバ
ータ・バツフア64の出力は、トランジスタ66
を介して、インバータ68,69及びトランジス
タ71を有するラツチ回路に供給される。トラン
ジスタ71は、インバータ69の出力をインバー
タ68の入力側に結合させることにより、直列接
続されたインバータ68と69の帰還を行つてい
る。トランジスタ71はスタンバイ電圧VSTによ
りエネーブルにされる。インバータ68と69の
接続点70からも出力が取出され、この出力はト
ランジスタ114をエネーブルにし、かつインバ
ータ72に入力を供給するのに使用される。イン
バータ67を介して入力するクロツクパルスφ2
はトランジスタ66をエネーブルにする。インバ
ータ64,68,69及び72のすべてはスタン
バイ電圧VSTの供給を受けるものである点に留意
されたい。このラツチ回路の出力であるインバー
タ69の出力は、ノアゲート73と74へ供給さ
れ、これらのノアゲートへの他の入力信号と共に
ノアの論理操作を受け、RAMに対するリード及
びライト信号を発生する。ノアゲート74から出
力されたライト信号はインバータ76で反転され
る。ノアゲート73から出力されたリード信号は
インバータ77、ノアゲート78及びトランジス
タ43に供給される。ラツチ回路の出力は、トラ
ンジスタ116の制御即ちゲート電極とノアゲー
ト117に入力する。トランジスタ66は、クロ
ツク信号φ2でエネーブルにされてバツフア・イ
ンバータ64からのRAMエネーブル信号をラツ
チ回路に供給する同期結合素子として動作する。
接続点70からの出力は、インバータ72を介し
てノアゲート87に入力すると共に行選択線に接
続されたトランジスタ122,123などのトラ
ンジスタに入力する。トランジスタ122,12
3は、インバータ72からのエネーブル信号が制
御電極に入力すると、行選択信号線を放電させて
これらの信号線をロー状態ないし接地電位に保
つ。インバータ72からの信号はRAMエネーブ
ル2(RE2)信号と称されるものである。
介してRAM制御論理回路に供給される。インバ
ータ・バツフア64の出力は、トランジスタ66
を介して、インバータ68,69及びトランジス
タ71を有するラツチ回路に供給される。トラン
ジスタ71は、インバータ69の出力をインバー
タ68の入力側に結合させることにより、直列接
続されたインバータ68と69の帰還を行つてい
る。トランジスタ71はスタンバイ電圧VSTによ
りエネーブルにされる。インバータ68と69の
接続点70からも出力が取出され、この出力はト
ランジスタ114をエネーブルにし、かつインバ
ータ72に入力を供給するのに使用される。イン
バータ67を介して入力するクロツクパルスφ2
はトランジスタ66をエネーブルにする。インバ
ータ64,68,69及び72のすべてはスタン
バイ電圧VSTの供給を受けるものである点に留意
されたい。このラツチ回路の出力であるインバー
タ69の出力は、ノアゲート73と74へ供給さ
れ、これらのノアゲートへの他の入力信号と共に
ノアの論理操作を受け、RAMに対するリード及
びライト信号を発生する。ノアゲート74から出
力されたライト信号はインバータ76で反転され
る。ノアゲート73から出力されたリード信号は
インバータ77、ノアゲート78及びトランジス
タ43に供給される。ラツチ回路の出力は、トラ
ンジスタ116の制御即ちゲート電極とノアゲー
ト117に入力する。トランジスタ66は、クロ
ツク信号φ2でエネーブルにされてバツフア・イ
ンバータ64からのRAMエネーブル信号をラツ
チ回路に供給する同期結合素子として動作する。
接続点70からの出力は、インバータ72を介し
てノアゲート87に入力すると共に行選択線に接
続されたトランジスタ122,123などのトラ
ンジスタに入力する。トランジスタ122,12
3は、インバータ72からのエネーブル信号が制
御電極に入力すると、行選択信号線を放電させて
これらの信号線をロー状態ないし接地電位に保
つ。インバータ72からの信号はRAMエネーブ
ル2(RE2)信号と称されるものである。
第2図にはアドレス・エネーブル信号を発生す
る回路も図示されている。4個のインバータ11
0,111,112及び113の直列接続回路は
ノアゲート117へ入力を供給する。クロツク信
号φ2は、この直列接続インバータ群に入力する
と共にノアゲート117の他の入力端へも入力す
る。このクロツク信号はノアゲート118へも入
力する。ノアゲート117の出力はノアゲート1
18への第2の入力となる。インバータ即ちゲー
ト110,111,112及び113はクロツク
信号φ2を遅延させる手段である。インバータの
物理的寸法を変えることによつて、インバータに
よる遅延量を制御できる。インバータの段数を減
らして遅延量を減らすことも、インバータの段数
を増して遅延量を増すことも勿論可能である。ク
ロツク信号φ2はトランジスタ114を介してノ
アゲート118に入力する。トランジスタ114
の制御電極はラツチ回路に接続されている。トラ
ンジスタ114の目的は、RAMエネーブル信号
が存在しないときだけクロツク信号φ2をノアゲ
ート118に供給することにある。トランジスタ
116は、通常はクロツクパルスφ2が乗つてい
るノアゲート118への入力を接地するのに使用
される。RAMエネーブル信号が論理の“0”状
態のとき、トランジスタ116がアクテイブにな
る。これによりRAMがエネーブルにされていな
いときはノアゲート118への入力が論理の
“0”状態になることが保証される。ノアゲート
118からのアドレス・エネーブル信号AEは、
ノアゲート119と121で表示されているアド
レス・デコーダに供給される。ノアゲート119
と121で例示したアドレス・デコーダには上記
のアドレス・エネーブル入力の他にコード化され
たアドレス入力も供給される点を理解されたい。
る回路も図示されている。4個のインバータ11
0,111,112及び113の直列接続回路は
ノアゲート117へ入力を供給する。クロツク信
号φ2は、この直列接続インバータ群に入力する
と共にノアゲート117の他の入力端へも入力す
る。このクロツク信号はノアゲート118へも入
力する。ノアゲート117の出力はノアゲート1
18への第2の入力となる。インバータ即ちゲー
ト110,111,112及び113はクロツク
信号φ2を遅延させる手段である。インバータの
物理的寸法を変えることによつて、インバータに
よる遅延量を制御できる。インバータの段数を減
らして遅延量を減らすことも、インバータの段数
を増して遅延量を増すことも勿論可能である。ク
ロツク信号φ2はトランジスタ114を介してノ
アゲート118に入力する。トランジスタ114
の制御電極はラツチ回路に接続されている。トラ
ンジスタ114の目的は、RAMエネーブル信号
が存在しないときだけクロツク信号φ2をノアゲ
ート118に供給することにある。トランジスタ
116は、通常はクロツクパルスφ2が乗つてい
るノアゲート118への入力を接地するのに使用
される。RAMエネーブル信号が論理の“0”状
態のとき、トランジスタ116がアクテイブにな
る。これによりRAMがエネーブルにされていな
いときはノアゲート118への入力が論理の
“0”状態になることが保証される。ノアゲート
118からのアドレス・エネーブル信号AEは、
ノアゲート119と121で表示されているアド
レス・デコーダに供給される。ノアゲート119
と121で例示したアドレス・デコーダには上記
のアドレス・エネーブル入力の他にコード化され
たアドレス入力も供給される点を理解されたい。
インバータ110,111,112及び113
は、偶数個あるので、クロツク信号φ2が論理の
“1”のときノアゲート117に論理の“1”を
供給する。これより先に、クロツク信号φ2はノ
アゲート117に直接入力している。従つて、ノ
アゲート117の2個の入力端は論理の“1”と
なる。ノアゲート117への第3の入力はその出
力に何ら影響しないので、ノアゲート117の出
力は論理の“0”になる。この論理の“0”はノ
アゲート118の一方の入力端子に入力し、この
ノアゲートの他方の入力端子には論理の“1”と
しているクロツクパルスφ2が入力する。インバ
ータ64に入力するRAMエネーブル信号が論理
の“1”である限り、トランジスタ114は導通
状態を保つている。ノアゲート118の入力が論
理の“1”であるため、その出力は論理の“0”
となり、従つてアドレスデコーダには禁止信号が
供給されない。
は、偶数個あるので、クロツク信号φ2が論理の
“1”のときノアゲート117に論理の“1”を
供給する。これより先に、クロツク信号φ2はノ
アゲート117に直接入力している。従つて、ノ
アゲート117の2個の入力端は論理の“1”と
なる。ノアゲート117への第3の入力はその出
力に何ら影響しないので、ノアゲート117の出
力は論理の“0”になる。この論理の“0”はノ
アゲート118の一方の入力端子に入力し、この
ノアゲートの他方の入力端子には論理の“1”と
しているクロツクパルスφ2が入力する。インバ
ータ64に入力するRAMエネーブル信号が論理
の“1”である限り、トランジスタ114は導通
状態を保つている。ノアゲート118の入力が論
理の“1”であるため、その出力は論理の“0”
となり、従つてアドレスデコーダには禁止信号が
供給されない。
クロツクパルスφ2の立下り端で、ノアゲート
117への直結入力端子は論理の“0”になる
が、遅延手段を介して結合された入力端子は、直
列接続されたインバータ110,111,112
及び113による全遅延量に該当する所定時間だ
け論理の“1”に保たれる。従つて、ノアゲート
118に接続されるノアゲート117の出力は所
定時間だけ論理の“0”に保たれ、クロツクパル
スφ2が直結されるノアゲート118の他方の入
力端子は論理の“0”となり、従つてノアゲート
118の出力は論理の“1”になる。この論理の
“1”即ち正出力はアドレスデコーダへ供給され、
インバータ110〜113による遅延量に該当す
る期間アドレスデコーダに禁止信号を供給する。
アドレスエネーブル信号がアドレスの解読を禁止
する短期間にわたり、行選択信号線は論理のロー
状態に保持される。これは、アドレス・デコーダ
の入力におけるアドレスコードの変化によつて引
起され、パターン感度とも称されるチヤージスプ
リツト及びカツプリングの問題を軽減する。換言
すれば、センス線中の前の信号が次にアドレスさ
れたメモリセルの状態を変化させがちである。ア
ドレスデコーダが禁止されている間、センス線は
プルアツプ装置126により論理の“1”に引上
げられている。クロツクパルスφ2の立下り端で
アドレスデコーダを禁止することにより、行選択
線上の信号の重なりから生ずるマルチ・セレク
ト/デセレクトの問題も軽減できる。このような
信号の重なりは、前にアドレスされた信号線が完
全に選択解除される前に新たなセルが選択されて
しまう事態を生ずる。一つのデコーダのゲート出
力が他のデコーダのゲート出力よりも早く変化す
る場合にも、このマルチ・セレクト/デセレクト
の問題が生じ、一時的な誤アドレスを生ずる。
117への直結入力端子は論理の“0”になる
が、遅延手段を介して結合された入力端子は、直
列接続されたインバータ110,111,112
及び113による全遅延量に該当する所定時間だ
け論理の“1”に保たれる。従つて、ノアゲート
118に接続されるノアゲート117の出力は所
定時間だけ論理の“0”に保たれ、クロツクパル
スφ2が直結されるノアゲート118の他方の入
力端子は論理の“0”となり、従つてノアゲート
118の出力は論理の“1”になる。この論理の
“1”即ち正出力はアドレスデコーダへ供給され、
インバータ110〜113による遅延量に該当す
る期間アドレスデコーダに禁止信号を供給する。
アドレスエネーブル信号がアドレスの解読を禁止
する短期間にわたり、行選択信号線は論理のロー
状態に保持される。これは、アドレス・デコーダ
の入力におけるアドレスコードの変化によつて引
起され、パターン感度とも称されるチヤージスプ
リツト及びカツプリングの問題を軽減する。換言
すれば、センス線中の前の信号が次にアドレスさ
れたメモリセルの状態を変化させがちである。ア
ドレスデコーダが禁止されている間、センス線は
プルアツプ装置126により論理の“1”に引上
げられている。クロツクパルスφ2の立下り端で
アドレスデコーダを禁止することにより、行選択
線上の信号の重なりから生ずるマルチ・セレク
ト/デセレクトの問題も軽減できる。このような
信号の重なりは、前にアドレスされた信号線が完
全に選択解除される前に新たなセルが選択されて
しまう事態を生ずる。一つのデコーダのゲート出
力が他のデコーダのゲート出力よりも早く変化す
る場合にも、このマルチ・セレクト/デセレクト
の問題が生じ、一時的な誤アドレスを生ずる。
RAMはアドレスの作成されるICチツプ上に存
在するので、製造プロセスのばらつきが相殺され
る傾向にある。アドレス回路の動作を遅くするよ
うな製造プロセスのばらつきが存在すれば、シー
ケンシヤル・インバータ110,111,112
及び113の遅延時間も長くなり、この逆もまた
成立する。シーケンシヤル・インバータの遅延時
間は、アドレス信号がアドレスレジスタから
RAMアドレスデコーダに取出される時間に少く
とも等しい値とされる。不要のアドレスパルスを
ブロツクアウトするのに十分な長さのパルスを発
生させることが要点であり、これを達成するため
の一手法は、上述したように、ゲートないしはイ
ンバータの個数を適宜な値に選択することであ
る。
在するので、製造プロセスのばらつきが相殺され
る傾向にある。アドレス回路の動作を遅くするよ
うな製造プロセスのばらつきが存在すれば、シー
ケンシヤル・インバータ110,111,112
及び113の遅延時間も長くなり、この逆もまた
成立する。シーケンシヤル・インバータの遅延時
間は、アドレス信号がアドレスレジスタから
RAMアドレスデコーダに取出される時間に少く
とも等しい値とされる。不要のアドレスパルスを
ブロツクアウトするのに十分な長さのパルスを発
生させることが要点であり、これを達成するため
の一手法は、上述したように、ゲートないしはイ
ンバータの個数を適宜な値に選択することであ
る。
パワーダウン状態の直前に、RAMエネーブル
信号及びクロツクパルスφ2は論理の“0”とな
るようにコマンドされる。同期カツプラ66がイ
ンバータ67からの論理の“1”でエネーブルと
なるので、インバータ69の出力も論理の“1”
となり、これは帰還結合手段71を介してインバ
ータ68の入力に帰還される。インバータ69か
らの論理の“1”はリード、ライト論理ゲートの
禁止入力となる。これによつて、パワーダウン状
態では、RAMからの情報の読出し、書込みが禁
止される。インバータ68の出力である論理の
“0”はトランジスタ114をエネーブルにし、
一方、インバータ69の出力でトランジスタ11
6はエネーブルにされ、ノアゲート118への入
力を論理の“0”とする。インバータ69の論理
の“1”出力はノアゲート117に入力し、ノア
ゲート117は論理の“0”を出力する。ノアゲ
ート118への入力はいづれも“0”であるから
その出力は論理の“1”となり、アドレスデコー
ダに禁止信号を与える。アドレスデコーダの出力
は、行選択線を“0”にする。インバータ68の
出力はインバータ72へも入力する。インバータ
72の出力はRE2信号を発生し、これは上述し
たように、トランジスタ122と123をアクテ
イブにし、行選択線が“0”状態を保つことを保
証する。
信号及びクロツクパルスφ2は論理の“0”とな
るようにコマンドされる。同期カツプラ66がイ
ンバータ67からの論理の“1”でエネーブルと
なるので、インバータ69の出力も論理の“1”
となり、これは帰還結合手段71を介してインバ
ータ68の入力に帰還される。インバータ69か
らの論理の“1”はリード、ライト論理ゲートの
禁止入力となる。これによつて、パワーダウン状
態では、RAMからの情報の読出し、書込みが禁
止される。インバータ68の出力である論理の
“0”はトランジスタ114をエネーブルにし、
一方、インバータ69の出力でトランジスタ11
6はエネーブルにされ、ノアゲート118への入
力を論理の“0”とする。インバータ69の論理
の“1”出力はノアゲート117に入力し、ノア
ゲート117は論理の“0”を出力する。ノアゲ
ート118への入力はいづれも“0”であるから
その出力は論理の“1”となり、アドレスデコー
ダに禁止信号を与える。アドレスデコーダの出力
は、行選択線を“0”にする。インバータ68の
出力はインバータ72へも入力する。インバータ
72の出力はRE2信号を発生し、これは上述し
たように、トランジスタ122と123をアクテ
イブにし、行選択線が“0”状態を保つことを保
証する。
行選択線上のRE2の動作は第3図に明示され
ている。第3図に図示するように、トランジスタ
142は第2図のトランジスタ122と123と
同一の機能を果す。トランジスタ142はビツト
ないし行選択線の各々の端に位置し、従つてこれ
ら行選択線の中央部に接続されたアドレスデコー
ダ144が中央部を論理の“0”に引下げると、
トランジスタ142は各行選択線の端を“0”に
引下げる点に留意されたい。第3図はRAM内の
8群の8ビツト・メモリセルを図示している。8
個の群は、131,132,133,134,1
35,136,137及び138である。群13
1を他の群よりも詳細に図示する。群131は複
数個のメモリセルから構成されている。メモリセ
ル130の各各は行選択線141を介してアドレ
スデコーダ144に接続されている。行選択線1
41はトランジスタ142を介してゼロボルト基
準点ないし接地導体143に接続されている。ト
ランジスタ142の制御電極は、RE2信号が乗
つていてトランジスタ142を制御する信号線1
47と148に接続される。群131のセンスア
ンプ146はY0乃至Y7のコマンド信号で選択さ
れるセンス線に接続されている。
ている。第3図に図示するように、トランジスタ
142は第2図のトランジスタ122と123と
同一の機能を果す。トランジスタ142はビツト
ないし行選択線の各々の端に位置し、従つてこれ
ら行選択線の中央部に接続されたアドレスデコー
ダ144が中央部を論理の“0”に引下げると、
トランジスタ142は各行選択線の端を“0”に
引下げる点に留意されたい。第3図はRAM内の
8群の8ビツト・メモリセルを図示している。8
個の群は、131,132,133,134,1
35,136,137及び138である。群13
1を他の群よりも詳細に図示する。群131は複
数個のメモリセルから構成されている。メモリセ
ル130の各各は行選択線141を介してアドレ
スデコーダ144に接続されている。行選択線1
41はトランジスタ142を介してゼロボルト基
準点ないし接地導体143に接続されている。ト
ランジスタ142の制御電極は、RE2信号が乗
つていてトランジスタ142を制御する信号線1
47と148に接続される。群131のセンスア
ンプ146はY0乃至Y7のコマンド信号で選択さ
れるセンス線に接続されている。
第4A図は、RAMとマイクロプロセツサの一
体構成について、パワーアツプ時の入力のタイミ
ング関係を図示するものである。最上段の波形は
チツプへの電源電圧VCCである。スタンバイ電圧
VST(図示せず)は勿論、連続してオンとなつて
いる。第2段目の波形はエネーブル信号Eである
が、これは電源がオンしてからしばらくは発生し
ないことに留意されたい。リセツト信号はエネー
ブル信号が出現した後にフルレベルに到達する。
RAMエネーブル信号REは、電源電圧VCCとエネ
ーブル信号Eがオンしてからしばらくの間は論理
の低レベルを変化させない。最下段の波形はパリ
ツド・メモリアドレスVMAであり、RAMエネ
ーブル信号と同時に生じてRAMエネーブル信号
が消滅してもしばらくは継続する。第4B図はパ
ワーダウンのシーケンスを示す。エネーブル信号
Eが論理の1に変わるよりも十分前に、下側の
RAMエネーブル信号REが最初に論理の“0”
レベルに変化し、エネーブル信号が次に論理の
“1”状態にある間中RAMの読出し、書込み、
さらにはアドレスも禁止する。
体構成について、パワーアツプ時の入力のタイミ
ング関係を図示するものである。最上段の波形は
チツプへの電源電圧VCCである。スタンバイ電圧
VST(図示せず)は勿論、連続してオンとなつて
いる。第2段目の波形はエネーブル信号Eである
が、これは電源がオンしてからしばらくは発生し
ないことに留意されたい。リセツト信号はエネー
ブル信号が出現した後にフルレベルに到達する。
RAMエネーブル信号REは、電源電圧VCCとエネ
ーブル信号Eがオンしてからしばらくの間は論理
の低レベルを変化させない。最下段の波形はパリ
ツド・メモリアドレスVMAであり、RAMエネ
ーブル信号と同時に生じてRAMエネーブル信号
が消滅してもしばらくは継続する。第4B図はパ
ワーダウンのシーケンスを示す。エネーブル信号
Eが論理の1に変わるよりも十分前に、下側の
RAMエネーブル信号REが最初に論理の“0”
レベルに変化し、エネーブル信号が次に論理の
“1”状態にある間中RAMの読出し、書込み、
さらにはアドレスも禁止する。
以上、マイクロプロセツサの内部データバス上
にデータを直接出力することのできるオンチツプ
RAMを説明した。電源ダウン及び電源アツプの
期間のRAM保持機能が達成されると共にRAM
へのアドレス・アクセスの直後においてアドレ
ス・デコーダにアドレス禁止信号が印加される。
にデータを直接出力することのできるオンチツプ
RAMを説明した。電源ダウン及び電源アツプの
期間のRAM保持機能が達成されると共にRAM
へのアドレス・アクセスの直後においてアドレ
ス・デコーダにアドレス禁止信号が印加される。
以上述べたことより、本考案は下記の如く要約
される。
される。
RAM11は、スタンバイ電源VSTにより付勢
され、電源アツプ、ダウンが与えられている間
RAMに蓄積された情報の全部又は一部分を保護
する制御回路12を具えている。ラツチ回路は、
電源ダウンの直前及び電源アツプの直後に入力信
号を保持するのに使用される。ラツチ回路は、リ
ード、ライト論理及びワード選択論理に結合され
ているので、ラツチ回路は、電源アツプ、ダウン
の間RAMの保持部分の蓄積セルのアドレス能力
を禁止すると同時に読出し、書込み論理を禁止で
きるようにする。制御電極を有するトランジスタ
は、RAMのワード選択線に接続され、電源アツ
プ、電源ダウンの間ワード選択線を零電圧の近傍
に保持し、情報がワード選択線上を流れるのを防
止する。
され、電源アツプ、ダウンが与えられている間
RAMに蓄積された情報の全部又は一部分を保護
する制御回路12を具えている。ラツチ回路は、
電源ダウンの直前及び電源アツプの直後に入力信
号を保持するのに使用される。ラツチ回路は、リ
ード、ライト論理及びワード選択論理に結合され
ているので、ラツチ回路は、電源アツプ、ダウン
の間RAMの保持部分の蓄積セルのアドレス能力
を禁止すると同時に読出し、書込み論理を禁止で
きるようにする。制御電極を有するトランジスタ
は、RAMのワード選択線に接続され、電源アツ
プ、電源ダウンの間ワード選択線を零電圧の近傍
に保持し、情報がワード選択線上を流れるのを防
止する。
前記のトランジスタの制御電極は、ラツチ回路
の出力に接続されている。
の出力に接続されている。
以下本考案の実施の態様を列記する。
1 RAM回路11は、RAM回路と同一の集積
回路チツプ上に位置する他の回路10の電源ア
ツプ及びダウン期間に該RAM回路11内に蓄
積された情報の少くとも一部を保護する制御回
路を有するものであり、前記他の回路はマイク
ロプロセツサ並びにスタンバイ電源VSTの供給
を受けるRAM回路11及びRAM制御回路1
2を具え、電源ダウン直前の入力信号を電源ア
ツプ直後まで保持し且つ出力を生ずるラツチ回
路68,69と、該ラツチ回路に結合され、か
つ該ラツチ回路68,69の出力によつて禁止
され前記RAM回路11内に蓄積された情報の
保護部分を乱すことが禁止される読出し、書込
み論理回路117,118と、前記ラツチ回路
68,69に結合されかつ該ラツチ回路により
制御されると共に前記RAM回路11の少くと
も複数のワード選択線124,125に結合さ
れ該RAM回路11の蓄積される保護部分をア
ドレスするのを禁止することを可能にする手段
122,123と、を備えたことを特徴とする
電源アツプ、ダウン時のRAM保持機能を有す
るマイクロプロセツサ。
回路チツプ上に位置する他の回路10の電源ア
ツプ及びダウン期間に該RAM回路11内に蓄
積された情報の少くとも一部を保護する制御回
路を有するものであり、前記他の回路はマイク
ロプロセツサ並びにスタンバイ電源VSTの供給
を受けるRAM回路11及びRAM制御回路1
2を具え、電源ダウン直前の入力信号を電源ア
ツプ直後まで保持し且つ出力を生ずるラツチ回
路68,69と、該ラツチ回路に結合され、か
つ該ラツチ回路68,69の出力によつて禁止
され前記RAM回路11内に蓄積された情報の
保護部分を乱すことが禁止される読出し、書込
み論理回路117,118と、前記ラツチ回路
68,69に結合されかつ該ラツチ回路により
制御されると共に前記RAM回路11の少くと
も複数のワード選択線124,125に結合さ
れ該RAM回路11の蓄積される保護部分をア
ドレスするのを禁止することを可能にする手段
122,123と、を備えたことを特徴とする
電源アツプ、ダウン時のRAM保持機能を有す
るマイクロプロセツサ。
2 RAM回路11がマイクロプロセツサと共に
単一の集積回路チツプ上にあり、かつ該RAM
回路11の少くとも一部が前記マイクロプロセ
ツサ用の電源VDDから分離した電源VSTを有し
ており、該RAM回路は複数のビツト選択線1
24,125並びに前記RAM回路の少くとも
一部用の電源VSTの供給を受ける回路を備えて
おり、該回路は前記RAM回路11への読出
し、書込み機能を禁止する信号をラツチする第
1の手段68,72と、該第1の手段により制
御されて前記RAM回路11のビツト選択線1
24,125をデセーブルにする第2の手段1
22,123とを備えたことを特徴とする電源
アツプ、ダウン時のRAM保持機能を有するマ
イクロプロセツサ。
単一の集積回路チツプ上にあり、かつ該RAM
回路11の少くとも一部が前記マイクロプロセ
ツサ用の電源VDDから分離した電源VSTを有し
ており、該RAM回路は複数のビツト選択線1
24,125並びに前記RAM回路の少くとも
一部用の電源VSTの供給を受ける回路を備えて
おり、該回路は前記RAM回路11への読出
し、書込み機能を禁止する信号をラツチする第
1の手段68,72と、該第1の手段により制
御されて前記RAM回路11のビツト選択線1
24,125をデセーブルにする第2の手段1
22,123とを備えたことを特徴とする電源
アツプ、ダウン時のRAM保持機能を有するマ
イクロプロセツサ。
第1図はオンチツプRAMを有するマイクロプ
ロセツサのブロツク図、第2図は第1図のシステ
ムの一部分の回路図、第3図は第1図のRAMの
ブロツク図、第4A,B図は第1図のシステムの
動作を説明するためのタイミング波形の一部であ
る。 10……マイクロプロセツサ・ユニツト、11
……RAM回路、12……RAM制御回路、13
……クロツク・命令解読・制御ユニツト、14…
…命令レジスタ、16……内部データバス、17
……データバツフア、18……ALU、19……
制御コードレジスタ、21,22……アキユムレ
ータ、23……インデツクスレジスタ、24……
スタツクポインタ、26……プログラムカウン
タ、27……出力バツフア、144……アドレス
レコーダ、146……センスアンプ。
ロセツサのブロツク図、第2図は第1図のシステ
ムの一部分の回路図、第3図は第1図のRAMの
ブロツク図、第4A,B図は第1図のシステムの
動作を説明するためのタイミング波形の一部であ
る。 10……マイクロプロセツサ・ユニツト、11
……RAM回路、12……RAM制御回路、13
……クロツク・命令解読・制御ユニツト、14…
…命令レジスタ、16……内部データバス、17
……データバツフア、18……ALU、19……
制御コードレジスタ、21,22……アキユムレ
ータ、23……インデツクスレジスタ、24……
スタツクポインタ、26……プログラムカウン
タ、27……出力バツフア、144……アドレス
レコーダ、146……センスアンプ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 他の関連RAM回路10に対し電源VDDから分
離した電源VSTを有するRAM11及びその少な
くとも一部を具え、他の関連RAM回路10のパ
ワーアツプ及びパワーダウンの間、RAM11の
保持機能を有するマイクロプロセツサであつて、 少なくとも2つの直列接続されたインバータ6
8,69及び帰還手段71をするラツチ回路を具
え、該ラツチ回路はその入力をその出力に結合さ
せるものであり、 ワード選択線124,125を放電させるよう
にRAM11のワード選択線に接続され、RAM
回路に入力する無関係な情報を妨げ、ラツチ回路
の出力に結合される手段122,123と、 RAM回路の読出し、書込み機能をエネーブル
にする論理手段117,118と、を具え、 該論理手段は、入力をインバータ68,69の
出力に結合させてインバータ68,69が論理手
段117,118を禁止させ、それによりRAM
11に書込み、読出される情報を妨げることを特
徴とする電源アツプ、ダウン時のRAM保持機能
を有するマイクロプロセツサ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US884790 | 1978-03-09 | ||
US05/884,790 US4145761A (en) | 1978-03-09 | 1978-03-09 | Ram retention during power up and power down |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60150700U JPS60150700U (ja) | 1985-10-07 |
JPS6324505Y2 true JPS6324505Y2 (ja) | 1988-07-05 |
Family
ID=25385398
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2404179A Pending JPS54124942A (en) | 1978-03-09 | 1979-03-01 | System having ram retaining function at power up and down time |
JP1985006693U Granted JPS60150700U (ja) | 1978-03-09 | 1985-01-21 | 電源アップ,ダウン時のram保持機能を有するマイクロプロセッサ |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2404179A Pending JPS54124942A (en) | 1978-03-09 | 1979-03-01 | System having ram retaining function at power up and down time |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4145761A (ja) |
JP (2) | JPS54124942A (ja) |
DE (1) | DE2905675A1 (ja) |
FR (1) | FR2419545A1 (ja) |
GB (1) | GB2016179B (ja) |
MY (1) | MY8500471A (ja) |
SG (1) | SG16384G (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CA1160744A (en) * | 1979-05-09 | 1984-01-17 | Jesse T. Quatse | Electronic postage meter having improved security and fault tolerance features |
US4484307A (en) * | 1979-05-09 | 1984-11-20 | F.M.E. Corporation | Electronic postage meter having improved security and fault tolerance features |
US4247913A (en) * | 1979-05-10 | 1981-01-27 | Hiniker Company | Protection circuit for storage of volatile data |
US4271487A (en) * | 1979-11-13 | 1981-06-02 | Ncr Corporation | Static volatile/non-volatile ram cell |
US4288865A (en) * | 1980-02-06 | 1981-09-08 | Mostek Corporation | Low-power battery backup circuit for semiconductor memory |
US4322807A (en) * | 1980-03-07 | 1982-03-30 | The Perkin-Elmer Corporation | Safe memory system for a spectrophotometer |
US4327410A (en) * | 1980-03-26 | 1982-04-27 | Ncr Corporation | Processor auto-recovery system |
US4323987A (en) * | 1980-03-28 | 1982-04-06 | Pitney Bowes Inc. | Power failure memory support system |
JPS6022438B2 (ja) * | 1980-05-06 | 1985-06-01 | 松下電器産業株式会社 | 不揮発性メモリのリフレッシュ方式 |
JPS5764397A (en) * | 1980-10-03 | 1982-04-19 | Olympus Optical Co Ltd | Memory device |
JPS5769588A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-28 | Nec Corp | Memort circuit |
US4388706A (en) * | 1980-12-01 | 1983-06-14 | General Electric Company | Memory protection arrangement |
JPH0124656Y2 (ja) * | 1981-05-18 | 1989-07-26 | ||
JPS5875264A (ja) * | 1981-10-29 | 1983-05-06 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロプロセツサ |
US4578774A (en) * | 1983-07-18 | 1986-03-25 | Pitney Bowes Inc. | System for limiting access to non-volatile memory in electronic postage meters |
FR2571870B1 (fr) * | 1984-10-15 | 1987-02-20 | Sagem | Dispositif de sauvegarde de memoire de microprocesseur. |
JPS61125660A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-13 | Toshiba Corp | バツテリ−バツクアツプ回路 |
JP3172214B2 (ja) * | 1991-09-30 | 2001-06-04 | 富士通株式会社 | 状態モード設定方式 |
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