JPS63237491A - 光学装置の製造方法 - Google Patents
光学装置の製造方法Info
- Publication number
- JPS63237491A JPS63237491A JP62072564A JP7256487A JPS63237491A JP S63237491 A JPS63237491 A JP S63237491A JP 62072564 A JP62072564 A JP 62072564A JP 7256487 A JP7256487 A JP 7256487A JP S63237491 A JPS63237491 A JP S63237491A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- semiconductor
- transparent
- bonded
- optical device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 54
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 31
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000465 moulding Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005453 pelletization Methods 0.000 abstract description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 55
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- TVEXGJYMHHTVKP-UHFFFAOYSA-N 6-oxabicyclo[3.2.1]oct-3-en-7-one Chemical compound C1C2C(=O)OC1C=CC2 TVEXGJYMHHTVKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序に従って本発明を説明する。
A、産業上の利用分野
B6発明の概要
C9背旦技術[第7図]
D3発明が解決しようとする問題点
E1問題点を解決するための手段
F1作用
G、実施例[第1図乃至第6図]
H1発明の効果
(A、産業上の利用分野)
本発明は光学装置の製造方法、特に半導体基板の一部に
一又は複数の受光素子が形成され、該受光素子形成領域
の近傍に半導体レーザチップがボンディングされ、上記
受光素子形成領域−ヒにプリズムが接着された光学装置
を製造する方法に関する。
一又は複数の受光素子が形成され、該受光素子形成領域
の近傍に半導体レーザチップがボンディングされ、上記
受光素子形成領域−ヒにプリズムが接着された光学装置
を製造する方法に関する。
(B、発明の概要)
本発明は、上記のような光学装置の製造方法において、
量産性を高めるため、
プリズム形成材料を型成形等してプリズムの光学斜面を
成す而を一つの面として有する半導体レーザチップ逃げ
孔を多数形成した透明体ウェハをつくり、この透明体ウ
ェハを半導体ウェハに接着した後ペレタイズするもので
ある。
成す而を一つの面として有する半導体レーザチップ逃げ
孔を多数形成した透明体ウェハをつくり、この透明体ウ
ェハを半導体ウェハに接着した後ペレタイズするもので
ある。
(C,背景技術)[第7図]
コンパクトディスクプレイヤー、レーザディスクプレイ
ヤー等に信号読取り用に用いられる光ピツクアップを構
成するものとして第7図に示す光学装置の製造方法が本
願出願人会社において開発され、それに関する各種の提
案が特願昭61−38576、特願昭61−12631
8、特願昭61−38575等により行われている。
ヤー等に信号読取り用に用いられる光ピツクアップを構
成するものとして第7図に示す光学装置の製造方法が本
願出願人会社において開発され、それに関する各種の提
案が特願昭61−38576、特願昭61−12631
8、特願昭61−38575等により行われている。
同図において、lは半導体基板で、表面部に受光素子2
1.2□、23,3..3゜、33.4が形成されてい
る。5.5、・・・は電極パッドである。6は半導体基
板1の表面にボンディングされた半導体レーザチップ、
7は上記受光素子2I、2□、23.31.32.33
が形成された領域上に接着されたプリズムで、断面形状
が台形に形成されており、8はその光学斜面で、半導体
レーザチップ6側に向けられている。
1.2□、23,3..3゜、33.4が形成されてい
る。5.5、・・・は電極パッドである。6は半導体基
板1の表面にボンディングされた半導体レーザチップ、
7は上記受光素子2I、2□、23.31.32.33
が形成された領域上に接着されたプリズムで、断面形状
が台形に形成されており、8はその光学斜面で、半導体
レーザチップ6側に向けられている。
このような光学装置は、半導体レーザチップ6の−・方
の面からレーザ光が出射されるとそのレーザ光がプリズ
ム7の光学斜面8にて」二側に反射され、戻り光がその
光学斜面8に戻ると光学斜面8からプリズム7に入射し
受光素子23.2□、23,3..3□、33、にて受
光されるようになっている。受光素子4は半導体レーザ
チップ6の他方の面から出射された光をモニター光とし
て検知して半導体レーザチップ6の出力コントロールに
供する役割を果す。
の面からレーザ光が出射されるとそのレーザ光がプリズ
ム7の光学斜面8にて」二側に反射され、戻り光がその
光学斜面8に戻ると光学斜面8からプリズム7に入射し
受光素子23.2□、23,3..3□、33、にて受
光されるようになっている。受光素子4は半導体レーザ
チップ6の他方の面から出射された光をモニター光とし
て検知して半導体レーザチップ6の出力コントロールに
供する役割を果す。
このような光学装置を用いれば非常に小型で部品数か少
なく、組立が容易な光ビックア・Iプを提供することか
できることは上記特願昭61−38576、特願昭61
−126318、特願昭61−38575号による提案
の際に明細書において述べられている。
なく、組立が容易な光ビックア・Iプを提供することか
できることは上記特願昭61−38576、特願昭61
−126318、特願昭61−38575号による提案
の際に明細書において述べられている。
そして、上記プリズム7は−・つ一つガラスを研摩して
加工することにより形成し、それを一つ一つ半導体ウェ
ハの各受光素子形成領域上に接着するようにしていた。
加工することにより形成し、それを一つ一つ半導体ウェ
ハの各受光素子形成領域上に接着するようにしていた。
(D、発明が解決しようとする問題点)ところで、上記
プリズム7をガラス研摩により一つ一つ加工することは
熟練を要し、またプリズム7を一つずつ半導体ウェハの
所定位置に接着することは意外に工数がかかり面倒であ
る。従って、光学装置を第7図に示すような構造にする
という技術が持つところの組立が容易でありコスト低減
に寄与することかできるという特長の一部が、プリズム
の製造、接着の面倒さによって相殺されてしまう。
プリズム7をガラス研摩により一つ一つ加工することは
熟練を要し、またプリズム7を一つずつ半導体ウェハの
所定位置に接着することは意外に工数がかかり面倒であ
る。従って、光学装置を第7図に示すような構造にする
という技術が持つところの組立が容易でありコスト低減
に寄与することかできるという特長の一部が、プリズム
の製造、接着の面倒さによって相殺されてしまう。
本発明はこのような問題点を解決すべく為されたもので
あり、光学装置の量産性を高めることを目的とするもの
である。
あり、光学装置の量産性を高めることを目的とするもの
である。
(E、問題点を解決するための手段)
本発明光学装置の製造方法は上記問題点を解決するため
、プリズム形成材料を型成形等してプリズムの光学斜面
を成す面を一つの面として有するところの半導体レーザ
チップ逃げ孔を多数形成した透明体ウェハをつくり、こ
の透明体ウェハを半導体ウェハに接着した後ペレタイズ
することを特徴とする。
、プリズム形成材料を型成形等してプリズムの光学斜面
を成す面を一つの面として有するところの半導体レーザ
チップ逃げ孔を多数形成した透明体ウェハをつくり、こ
の透明体ウェハを半導体ウェハに接着した後ペレタイズ
することを特徴とする。
(F、作用)
本発明光学装置の製造方法によれば、多数のプリズムを
−・体に形成した透明体ウェハを半導体ウェハに接着し
、接着により一体化された透明体ウェハ及び半導体ウェ
ハに対してペレタイズ処理を施すので、プリズムを一個
一個研摩加工により形成しこれ等を一個一個半導体つエ
バあるいは半導体基板に接着する面倒さがなくなり量産
性が高まる。
−・体に形成した透明体ウェハを半導体ウェハに接着し
、接着により一体化された透明体ウェハ及び半導体ウェ
ハに対してペレタイズ処理を施すので、プリズムを一個
一個研摩加工により形成しこれ等を一個一個半導体つエ
バあるいは半導体基板に接着する面倒さがなくなり量産
性が高まる。
(G、実施例)[第1図乃至第6図]
以丁、本発明光学装置の製造方法を図示実施例に従フて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図乃至第5図は本発明光学装置の製造方法の一つの
実施例を説明するためのものであり、第1図は光学装置
の基板Iが多数一体に形成されてなる半導体ウェハ10
と、多数のプリズムが一体に形成されてなる透明体ウェ
ハ11を示すものである。同図において第7図と同一部
分については同一符号を付して詳細な説明を省略する。
実施例を説明するためのものであり、第1図は光学装置
の基板Iが多数一体に形成されてなる半導体ウェハ10
と、多数のプリズムが一体に形成されてなる透明体ウェ
ハ11を示すものである。同図において第7図と同一部
分については同一符号を付して詳細な説明を省略する。
上記半導体ウェハ10は普通の半導体製造技術によって
製造される。12.12、−・・はペレタイズ処理によ
り個々の基板1.1、・・・に分離するとき切断される
ラインである。
製造される。12.12、−・・はペレタイズ処理によ
り個々の基板1.1、・・・に分離するとき切断される
ラインである。
上記透明体ウェハ11は透明なプラスチック(例えばP
MMA)を型成形により形成してなるもので、上記゛1
導体ウェハ10の各半導体レーザチップ6.6、・・・
と対応する位置に該半導体レーザチップ6.6.・・・
を逃げる逃げ孔14.14、・・・が形成されている。
MMA)を型成形により形成してなるもので、上記゛1
導体ウェハ10の各半導体レーザチップ6.6、・・・
と対応する位置に該半導体レーザチップ6.6.・・・
を逃げる逃げ孔14.14、・・・が形成されている。
該逃げ孔14.14、・・・は上側から見た形状が矩形
状て、その1′つの而15.15、・・・は斜め上側を
向いた傾斜面とされ、透明体ウェハ11の該各類斜面1
5.15、・・・よりも第1図における斜め左上側の各
部分16.16、・・・が後の工程でプリズム7.7、
・・・となる。17.17、・・・は帯状に半導体ウェ
ハ11の表面に形成された全反射膜で、例えばアルミニ
ュウムからなる。
状て、その1′つの而15.15、・・・は斜め上側を
向いた傾斜面とされ、透明体ウェハ11の該各類斜面1
5.15、・・・よりも第1図における斜め左上側の各
部分16.16、・・・が後の工程でプリズム7.7、
・・・となる。17.17、・・・は帯状に半導体ウェ
ハ11の表面に形成された全反射膜で、例えばアルミニ
ュウムからなる。
18.18、・・・は透明体ウェハ11の底面に形成さ
れた突起部で、後で述べる接着工程では該突起部18.
18、・・・の底面のみが接着される。このように透明
体ウェハ11の底面に突起部18.18、・・・を形成
するのは透明体ウェハ11の不要部分の底面が必要部分
の底面より高くなるようにするためである。
れた突起部で、後で述べる接着工程では該突起部18.
18、・・・の底面のみが接着される。このように透明
体ウェハ11の底面に突起部18.18、・・・を形成
するのは透明体ウェハ11の不要部分の底面が必要部分
の底面より高くなるようにするためである。
第2図は透明体ウェハ11の第1図2−2線に沿う断面
図である。
図である。
次に、第3図に示すように半導体ウェハ10に透明体ウ
ェハ11を位置あわせして接着する。この位置合わせは
各逃げ孔14,14、・・・内に14体レーザチップ6
.6、・・・が入り、且つその逃げ孔14.14、・・
・の第3図における左斜め上側に位置するところのプリ
ズム7.7、・・・となる部分16.16、・・・がそ
れぞれ受光素子21,22.23.31.32.33が
形成された受光素子形成領域上に位置するように行う。
ェハ11を位置あわせして接着する。この位置合わせは
各逃げ孔14,14、・・・内に14体レーザチップ6
.6、・・・が入り、且つその逃げ孔14.14、・・
・の第3図における左斜め上側に位置するところのプリ
ズム7.7、・・・となる部分16.16、・・・がそ
れぞれ受光素子21,22.23.31.32.33が
形成された受光素子形成領域上に位置するように行う。
この場合、半導体ウェハ10に接着されるのは透明体ウ
ェハ11の突起部18.18、・・・の底面だけである
。
ェハ11の突起部18.18、・・・の底面だけである
。
その後、第4図に示すように透明体ウェハ11に対して
その不要部分を除去して電極パッド5.5、・・・を露
出させるためのカッティングを行う。同図において、1
9.19は接着剤、20.20は不要部分、21はカッ
デングをするブレードを示している。このカッテングは
半導体ウェハ10表面を傷つけないようにブレード21
の先端を半導体ウェハ10の表面から稍浮かして行う。
その不要部分を除去して電極パッド5.5、・・・を露
出させるためのカッティングを行う。同図において、1
9.19は接着剤、20.20は不要部分、21はカッ
デングをするブレードを示している。このカッテングは
半導体ウェハ10表面を傷つけないようにブレード21
の先端を半導体ウェハ10の表面から稍浮かして行う。
第3図の22.22、・・・はこのブレード10により
カッテングすべきラインを示している。このカッテング
を終えると不要部分20.20、・・・を半導体ウェハ
lOから取り除く。その後、第5図に示すように半導体
ウェハ10をブレード23によりフルカットすることに
より個々の半導体基板1,1、・・・に分離する。その
後、適宜なケースによる実装に供する。
カッテングすべきラインを示している。このカッテング
を終えると不要部分20.20、・・・を半導体ウェハ
lOから取り除く。その後、第5図に示すように半導体
ウェハ10をブレード23によりフルカットすることに
より個々の半導体基板1,1、・・・に分離する。その
後、適宜なケースによる実装に供する。
このようにして製造された光学装置は第7図に示した光
学装置の製造方法とは樹脂からなる透明体がモニター用
受光素子4上をも覆っている点で異なってる。24はそ
の受光素子4上を覆っている透明体を示している。この
ように透明体24で受光素子4を覆っていても受光素子
4によるモニターに全く支障を来さないたけでなく、半
導体レーザチップ6から受光素子4側へ出射されたレー
ザ光がその透明体24によって有効に受光素子4へ導か
れ受光効率が高くなるから好ましいといえる。尚、透明
体ウェハ11に形成する逃げ孔14.14、・・・の長
さを長くして透明体ウェハ11を半導体ウェハ10に接
着したとき透明体ウエノX′11が半導体ウェハ10の
受光素子4.4′、・・・上を覆わないようにし−Cも
良い。このように゛すれば、光学装置が第7図に示す光
学装置と全く′同゛じようになる。
学装置の製造方法とは樹脂からなる透明体がモニター用
受光素子4上をも覆っている点で異なってる。24はそ
の受光素子4上を覆っている透明体を示している。この
ように透明体24で受光素子4を覆っていても受光素子
4によるモニターに全く支障を来さないたけでなく、半
導体レーザチップ6から受光素子4側へ出射されたレー
ザ光がその透明体24によって有効に受光素子4へ導か
れ受光効率が高くなるから好ましいといえる。尚、透明
体ウェハ11に形成する逃げ孔14.14、・・・の長
さを長くして透明体ウェハ11を半導体ウェハ10に接
着したとき透明体ウエノX′11が半導体ウェハ10の
受光素子4.4′、・・・上を覆わないようにし−Cも
良い。このように゛すれば、光学装置が第7図に示す光
学装置と全く′同゛じようになる。
上述したような製造方法、即ち、透明な樹脂を型成形加
工することにより透明体ウェハ11をつくり、こわをt
導体ウェハ10に位置合わせして接着し、透明体ウェハ
11の不要部分20.20、・・・をカッテング等によ
り除去した後、半導体ウェハ10、そしてそれに接着さ
れ不要部分20.20、・・・を除去された透明体ウェ
ハ11に対してペレタイズすることによって受光素子2
.3形成領域にプリズム7が接着された光学装置を得る
方法によれば、プリズムを1つ1つ研摩加工によりつく
り、それを11)1つ半導体基板1.1、・・・に高鯖
度に位置決めして接着するという面倒さがなくなり、大
量の光学装置の製造方法をバッチ処理により低工数でつ
くることがiり能になる。従って、低価格の光学装置の
製造方法を大!辻に供給することができ、光学装置の製
造方法により構成された製品、例えばレーザディスクプ
レイヤー、コンパクトディクプレイヤーの低価格化を促
す。
工することにより透明体ウェハ11をつくり、こわをt
導体ウェハ10に位置合わせして接着し、透明体ウェハ
11の不要部分20.20、・・・をカッテング等によ
り除去した後、半導体ウェハ10、そしてそれに接着さ
れ不要部分20.20、・・・を除去された透明体ウェ
ハ11に対してペレタイズすることによって受光素子2
.3形成領域にプリズム7が接着された光学装置を得る
方法によれば、プリズムを1つ1つ研摩加工によりつく
り、それを11)1つ半導体基板1.1、・・・に高鯖
度に位置決めして接着するという面倒さがなくなり、大
量の光学装置の製造方法をバッチ処理により低工数でつ
くることがiり能になる。従って、低価格の光学装置の
製造方法を大!辻に供給することができ、光学装置の製
造方法により構成された製品、例えばレーザディスクプ
レイヤー、コンパクトディクプレイヤーの低価格化を促
す。
第6図は本発明光学装置の製造方法の別の実施例を説明
するための斜視図である。
するための斜視図である。
本実b’6例は、半導体レーザチップ6.6、・・・を
逃げる逃げ孔14.14、・・・のほかにバッド5.5
、・・・を逃げる逃げ孔25.25、・・・を備えたも
のllaを透明体ウェハとして用いるものである。この
ような透明体ウェハllaを用いれば透明体ウェハll
aの一部を゛不要部分として取り除くことが必要でなく
なり、第4図に示すところの透明体ウェハ11の不要部
分20.20、・・を除去する工程は全く不要となる。
逃げる逃げ孔14.14、・・・のほかにバッド5.5
、・・・を逃げる逃げ孔25.25、・・・を備えたも
のllaを透明体ウェハとして用いるものである。この
ような透明体ウェハllaを用いれば透明体ウェハll
aの一部を゛不要部分として取り除くことが必要でなく
なり、第4図に示すところの透明体ウェハ11の不要部
分20.20、・・を除去する工程は全く不要となる。
従って、本実施例によれば第1図乃至第一5図に示した
実施例よりも更に製造コストを安くすることができる。
実施例よりも更に製造コストを安くすることができる。
尚、上記実施例において透明体ウェハ11は透明樹脂を
型成形することにより形成されるが、GaPのような透
明な化合物半導体で形成するようにしても良い。その場
合、逃げ孔14.25は選択的エツチングにより形成す
ることになる。
型成形することにより形成されるが、GaPのような透
明な化合物半導体で形成するようにしても良い。その場
合、逃げ孔14.25は選択的エツチングにより形成す
ることになる。
(H,発明の効果)
以上に述べたように、本発明光学装置の製造方法は、半
導体基板の一部領域の表面部に一又は複数の受光素子が
形成され、該受光素子形成領域の近傍に半導体レーザチ
ップがボンディングされ、上記受光素子形成領域上に半
導体レーザチップ側に光学斜面を有するプリズムが接着
された光学装置の製造方法であフて、複数の光学装置分
の上記半導体基板が一体に形成された半導体ウェハに、
プリズム形成材料からなり少なくとも上記半導体ウニへ
の半導体レーザチップ配置@域と対応する各部分に一つ
の而が上記光学斜面を成す逃げ孔を有する形状に形成し
た透明体ウェハを、接着する工程と、〃いに接着された
半導体ウェハ及び透明体クエへに対するフルカットをし
て1個の光学装置分与に分離する工程と、を少なくとも
有することを特徴とするものである。
導体基板の一部領域の表面部に一又は複数の受光素子が
形成され、該受光素子形成領域の近傍に半導体レーザチ
ップがボンディングされ、上記受光素子形成領域上に半
導体レーザチップ側に光学斜面を有するプリズムが接着
された光学装置の製造方法であフて、複数の光学装置分
の上記半導体基板が一体に形成された半導体ウェハに、
プリズム形成材料からなり少なくとも上記半導体ウニへ
の半導体レーザチップ配置@域と対応する各部分に一つ
の而が上記光学斜面を成す逃げ孔を有する形状に形成し
た透明体ウェハを、接着する工程と、〃いに接着された
半導体ウェハ及び透明体クエへに対するフルカットをし
て1個の光学装置分与に分離する工程と、を少なくとも
有することを特徴とするものである。
従って、本発明光学装置の製造方法によれば、多数のプ
リズムを一体に形成した透明体ウェハを半導体ウェハに
接着し、接着により一体化された透明体ウェハ及び半導
体ウェハに対してペレタイズ処理を施すので、プリズム
を−・個−個研摩加工により形成し、これ等を一個一個
接着する面倒さがなくなり量産性が非常に高まる。
リズムを一体に形成した透明体ウェハを半導体ウェハに
接着し、接着により一体化された透明体ウェハ及び半導
体ウェハに対してペレタイズ処理を施すので、プリズム
を−・個−個研摩加工により形成し、これ等を一個一個
接着する面倒さがなくなり量産性が非常に高まる。
第1図乃至第5図は本発明光学装置の製造方法の一つの
実施例を説明するためのもので、第1図は半導体ウェハ
と透明体ウェハを示す斜視図、第2図は透明体ウェハの
第1図2−2線視断面図、第3図は半導体ウェハに透明
体ウェハを接着した状態を示す斜視図、第4図は透明体
クエへの不要部分除去工程を示す第3図4−4線視断面
図、第5図はウェハをフルカットして各光学装置毎に分
離する工程を示す断面図、第6図は本発明光学装置の製
造方法の他の実施例を説明するための斜視図、第7図は
背景技術を説明するための光学装置の斜視図である。 符号の説明 1・・・半導体基板、2.3・・・受光素子、6・・・
半導体レーザチップ、 7・・・プリズム、8・・・光学斜面、10・・・!ト
導体ウェハ、 11、lla・・・透明体ウェハ、 14・・・逃げ孔、15・・・傾斜面。 出 願 人 ソニー株式会社 代理人弁理士 尾 川 秀 昭15・・・M
P1面 背景aiの個視図 第7図
実施例を説明するためのもので、第1図は半導体ウェハ
と透明体ウェハを示す斜視図、第2図は透明体ウェハの
第1図2−2線視断面図、第3図は半導体ウェハに透明
体ウェハを接着した状態を示す斜視図、第4図は透明体
クエへの不要部分除去工程を示す第3図4−4線視断面
図、第5図はウェハをフルカットして各光学装置毎に分
離する工程を示す断面図、第6図は本発明光学装置の製
造方法の他の実施例を説明するための斜視図、第7図は
背景技術を説明するための光学装置の斜視図である。 符号の説明 1・・・半導体基板、2.3・・・受光素子、6・・・
半導体レーザチップ、 7・・・プリズム、8・・・光学斜面、10・・・!ト
導体ウェハ、 11、lla・・・透明体ウェハ、 14・・・逃げ孔、15・・・傾斜面。 出 願 人 ソニー株式会社 代理人弁理士 尾 川 秀 昭15・・・M
P1面 背景aiの個視図 第7図
Claims (1)
- (1)半導体基板の一部領域の表面部に一又は複数の受
光素子が形成され、該受光素子形成領域の近傍に半導体
レーザチップがボンディングされ、上記受光素子形成領
域上に上記半導体レーザチップ側に光学斜面を有するプ
リズムが接着された光学装置の製造方法であって、 複数の光学装置分の上記半導体基板が一体に形成された
半導体ウェハに、プリズム形成材料からなり少なくとも
上記半導体ウェハの半導体レーザチップ配置領域と対応
する各部分に一つの面が上記光学斜面を成す逃げ孔を有
する形状に形成した透明体ウェハを、接着する工程と、 互いに接着された半導体ウェハ及び透明体ウェハに対し
てフルカットをして1個の光学装置分毎に分離する工程
と、 を少なくとも有することを特徴とする光学装置の製造方
法
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62072564A JPS63237491A (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 光学装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62072564A JPS63237491A (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 光学装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63237491A true JPS63237491A (ja) | 1988-10-03 |
Family
ID=13492984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62072564A Pending JPS63237491A (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 光学装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63237491A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH036662A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-14 | Nec Corp | ベクトル処理装置 |
JPH0380527U (ja) * | 1989-11-29 | 1991-08-19 | ||
US7558161B2 (en) | 2004-06-01 | 2009-07-07 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd | Integrated optical system and method of manufacturing the same and information recording and/or reproducing apparatus using the integrated optical system |
JP2010044855A (ja) * | 1998-03-26 | 2010-02-25 | Digital Optics Corp | 集積されたマイクロ光学システム |
US8059345B2 (en) | 2002-07-29 | 2011-11-15 | Digitaloptics Corporation East | Integrated micro-optical systems |
-
1987
- 1987-03-25 JP JP62072564A patent/JPS63237491A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH036662A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-14 | Nec Corp | ベクトル処理装置 |
JPH0380527U (ja) * | 1989-11-29 | 1991-08-19 | ||
JP2010044855A (ja) * | 1998-03-26 | 2010-02-25 | Digital Optics Corp | 集積されたマイクロ光学システム |
US8059345B2 (en) | 2002-07-29 | 2011-11-15 | Digitaloptics Corporation East | Integrated micro-optical systems |
US7558161B2 (en) | 2004-06-01 | 2009-07-07 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd | Integrated optical system and method of manufacturing the same and information recording and/or reproducing apparatus using the integrated optical system |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100409411C (zh) | 半导体器件的制造方法 | |
US8012804B1 (en) | Method and system for mounting lasers on energy assisted magnetic recording heads | |
KR970005706B1 (ko) | 고체촬상소자 및 그 제조방법 | |
US20050260829A1 (en) | Manufacturing method of a semiconductor device | |
US20060220183A1 (en) | Semiconductor wafer having multiple semiconductor elements and method for dicing the same | |
US20070222875A1 (en) | Semiconductor device | |
JP2001035972A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
EP0196200B1 (en) | Semiconductor laser devices | |
US6262413B1 (en) | Composite optical device and its manufacturing method | |
JPS63237491A (ja) | 光学装置の製造方法 | |
US20100091633A1 (en) | Method for manufacturing semiconductor device, semiconductor device and optical pickup module | |
JP2007518275A (ja) | 光センサを実装するための方法 | |
CN101162711A (zh) | 封装盖板、芯片封装结构及其制造方法 | |
US20100008203A1 (en) | Semiconductor device, its manufacturing method and optical pickup module | |
JPS63127444A (ja) | 光学ヘツドの製造方法 | |
JP2910113B2 (ja) | 光集積回路及び集積回路用パッケージ | |
KR100421269B1 (ko) | 광 헤드 장치용 기판 유닛과 그 제조 방법 | |
CN101196589B (zh) | 全息元件及其制造方法和全息激光器及光拾取器 | |
JP4125112B2 (ja) | 受光センサの製造方法 | |
JP2003007743A (ja) | Uvテープ及び半導体集積回路パッケージの製造方法 | |
JP2638039B2 (ja) | 光集積回路装置 | |
JPS6379344A (ja) | 半導体素子 | |
US20060203869A1 (en) | Semiconductor laser device | |
JPS60120018A (ja) | 半導体ウエ−ハダイシング方法 | |
JPH0632695Y2 (ja) | 受光装置 |