JP4125112B2 - 受光センサの製造方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームを受光して電気信号を出力する受光センサの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、情報機器の小型化、高性能化の要求が強く、レーザ光を利用して情報の記録や再生を行う光ディスク装置においては、大容量化、記録密度の向上を実現させるために使用される半導体レーザ素子の波長の短波長化して記録密度を向上させる方法が広く用いられている。
【0003】
従来、光ディスク装置の光ヘッドに搭載される受光センサは、半導体レーザ素子から出射された光ビームは対物レンズにより光ディスク上の所定の位置に集光される。集光された光は光ディスク上の記録、位置情報に応じた強度分布を有する光ビームとなって反射され受光センサ内の受光素子に導入される。受光素子は反射光ビームの強度分布を検出し、光電変換素子等が反射光ビームの強度分布を電気信号に変換する。この電気信号を演算回路がトラッキング誤差信号及びフォーカス誤差信号として算出し、光ディスクの所定の位置に光ビームが集光されるようにレンズ駆動手段にフィードバックされる。一般に広く知られている受光センサはSi−PINフォトダイオードに代表される受光素子や増幅回路等の半導体IC等を透過率の高い透明の、例えば熱硬化性のエポキシ樹脂材料内に電気接続用の端子部と共に封入されたクリアモールドパッケージやCOB(チップ・オン・ボード)等の一体構造をしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、半導体レーザ光の短波長化、およそ400nm前後の波長の使用に伴い、従来使用されていた樹脂材料では短波長領域の光を吸収して、透過率が悪化し、長時間使用するうちに樹脂が劣化し、正しいセンサ出力を出すことができなくなってしまうという問題点があった。
【0005】
また、樹脂を使用せずにガラス材をレーザ光の通路に配置するセンサもあるが、多数個生産には向かず、部品の加工コストや組み立てコストが高価になってしまうという問題点がある。
【0006】
本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、短波長に対応した多数個生産が可能な、受光センサの製造方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するために、本発明の受光センサの製造方法は、複数の基板に分割できる集合基板に対して、少なくとも受光素子を含む半導体ICを、前記基板に接着する接着工程と、前記半導体ICを取り囲むように設けられる第一の周壁の集合体である周壁集合体を、前記基板上に搭載する第一の搭載工程と、複数個に分割可能なガラス平板を前記第一の周壁上に搭載する第二の搭載工程と、前記半導体ICの外側の集合基板と、前記ガラス平板と、前記第一の周壁とで囲まれた空間部に、樹脂を流し込み、硬化させることで第二の周壁を形成する形成工程と、前記第二の周壁に沿って、前記集合基板及び前記ガラス平板を分割する分割工程と、を含むことを特徴とする
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明による実施の形態を説明する。
【0012】
図1は本実施形態の受光センサを示す平面図である。図2は図1に示したA−A線に沿った断面図である。図3は図1、図2に示す受光センサの斜視図を示す。
【0013】
まず本発明の受光センサの構成について説明する。図1から3において、受光センサ1は、BTレジン等の材料から成る基板2には半導体IC3等を搭載する電極パターン4と半導体IC3をワイヤボンディングするボンディングパッド5や外部接続用入出力端子であるスルーホール6が形成されている。スルーホール6の上面にはフィルム7が貼られている。基板2上には受光素子及び増幅回路をモノリシックあるいはハイブリッド構造に構成した半導体IC3が搭載され、Auワイヤ8によりワイヤボンディングされている。半導体IC3とAuワイヤの周囲には第一の周壁9が設けられている。第一の周壁9のさらに外側には第二の周壁10が、第一の周壁9と同じ高さに設けられている。第二の周壁10の外形は基板2の外形と同じである。
【0014】
最上部には基板と平行に石英ガラス等のガラス板11が設けられており、基板2と第一の周壁9とガラス板11により中空部12が形成され、その中に半導体IC3が気密に封入されている構成である。本実施形態では第二の周壁はUV硬化性のエポキシ樹脂からできており基板2と第一の周壁9とガラス板11を固定する機能を果たしている。受光センサとしてはガラス板11の外側から半導体IC3の上面までの距離Lが光学的に重要であるが、半導体IC3は基板2上に精度よくダイボンドされ、基板2とガラス板11の間隔は第一の周壁9の高さで精度良く決定されるので、ガラス板11の上面と半導体IC3の上面との距離Lは、第二の周壁10のUV硬化性樹脂の硬化時にも収縮の影響を受けることなく、精度良く保たれている。
【0015】
次に図4、図5に受光センサ1を多数個一度に生産するときの製造方法について説明する。図4は、受光センサの製造方法における集合基板の平面図であり、図5は、受光センサの製造方法において製造フローに沿って示す集合基板の断面図である。
【0016】
集合基板13には受光センサが単品になったときの外部接続用入出力端子となるスルーホール列14が全面に格子状に形成されている。半導体IC3はスルーホール列14で囲まれる四角形の中に1個ずつボンディングされている(図5−(a))。次に第一の周壁9となる略四角中空柱状を複数個設けた周壁集合体15が集合基板13に対して図示しない位置決めによって精度良く位置決めされて搭載される。単品となったときに第一の周壁9となる個々の四角中空柱状の枠16は隣り合う枠16と高さの低いランナー部17により連結され周壁集合体15を形成している(図5−(b))。
【0017】
そしてスルーホール列14の上には樹脂が流れ込まないようにフィルム7が貼られている。次に周壁集合体15の上にガラス平板18が載せられる(図5−(c))。半導体IC3が有る個所は、集合基板13と枠16とガラス平板18により中空部12が形成される。ガラス平板18を集合基板13とで周壁集合体15を挟むように固定し、周壁集合体15において半導体IC3の外側の隙間、すなわち集合基板とガラス平板の空間部に第二の周壁9となるUV硬化性樹脂19を流し込み、UV照射し、硬化させる(図5−(d))。硬化してできた受光センサ集合体20を格子状のスルーホールの中心線でワイヤソウやスライシングマシン等の切断手段で分割することで受光センサ1の個品が出来上がる(図5−(e))。以上のように集合体として加工することで一度に多くの受光センサを製造することができる。
【0018】
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明の好適な実施の態様を以下のとおり列挙する。
[実施態様1] 基板と、前記基板上に設けられた少なくとも受光素子を含む半導体ICと、前記半導体ICの周囲を取り囲むように設けられた第一の周壁と、前記第一の周壁の外周を取り囲むように設けられた第二の周壁と、前記基板と平行に設けられたガラス板とを備え、前記半導体ICを前記基板と前記第一の周壁と前記ガラス板により中空に気密封止したことを特徴とする受光センサ。
[実施態様2] 前記第一の周壁を第一の樹脂材料、前記第二の周壁を第二の樹脂材料によって形成したことを特徴とする実施態様1に記載の受光センサ。
[実施態様3] 前記第一の周壁により、前記基板と前記ガラス板との距離精度を決定することを特徴とする実施態様1に記載の受光センサ。
[実施態様4] 前記第二の周壁の第二の樹脂材料がUV硬化性樹脂であることを特徴とする実施態様2に記載の受光センサ。
[実施態様5] 受光素子の感度波長λが350〜450nmであることを特徴とする実施態様1に記載の受光センサ。
[実施態様6] 多数個取りする集合基板の全面に格子状に複数個のスルーホールを形成し、前記集合基板に少なくとも受光素子を含む半導体ICを前記スルーホールの格子内に搭載するボンディング工程と、前記半導体ICと集合基板上のボンディングパッドとを接続するワイヤボンディング工程と、スルーホールにフィルムを貼付するマスキング工程と、第一周壁の集合体である周壁集合体を前記基板に位置決め搭載し、さらに周壁集合体を集合基板との間に挟むようにガラス平板を設置し、前記半導体ICの外側の集合基板とガラス平板の空間部に樹脂を流し込み第二周壁を成形し受光センサの集合体を形成する一体化工程と、前記一体化集合体を分割手段で単品に分割する分割工程とより成ることを特徴とする受光センサの製造方法。
【0019】
【発明の効果】
前述のように、本発明の構成により、短波長の半導体レーザに対応した中空状の受光センサが第一の周壁を設けたことによりガラス板とセンサ表面の距離を精度良く製造することができる。
【0020】
また、加工プロセスが多数個取り可能な集合基板で処理する等、一括生産ができ生産性が高くコスト低減を図ることができる。
【0021】
また、周壁集合体は別の成形工程で安価に製造することができるので、受光センサの製造が容易である。
【0022】
また、第二の周壁にUV硬化性樹脂を用いることにより、型や成型機が不要で安価に製造できる。さらに受光センサの外形型が不要であることからサイズの変更に容易に対応が可能で集合体の大きさによって生産量の変更も容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る受光センサを示す平面図
【図2】受光センサの断面図
【図3】受光センサの斜視図
【図4】本発明の実施の形態に係る受光センサの製造方法における集合基板の平面図
【図5】受光センサの製造方法において製造フローに沿って示す集合基板の断面図
【符号の説明】
1 受光センサ
2 基板
3 半導体IC
4 電極パターン
5 ボンディングパッド
6 スルーホール
7 フィルム
8 Auワイヤ
9 第一の周壁
10 第二の周壁
11 ガラス板
12 中空部
13 集合基板
14 スルーホール列
15 周壁集合体
16 枠
17 ランナー部
18 ガラス平板
19 UV硬化性樹脂
20 受光センサ集合体

Claims (1)

  1. 複数の基板に分割できる集合基板に対して、少なくとも受光素子を含む半導体ICを、前記基板に接着する接着工程と、
    前記半導体ICを取り囲むように設けられる第一の周壁の集合体である周壁集合体を、前記基板上に搭載する第一の搭載工程と、
    複数個に分割可能なガラス平板を前記第一の周壁上に搭載する第二の搭載工程と、
    前記半導体ICの外側の集合基板と、前記ガラス平板と、前記第一の周壁とで囲まれた空間部に、樹脂を流し込み、硬化させることで第二の周壁を形成する形成工程と、
    前記第二の周壁に沿って、前記集合基板及び前記ガラス平板を分割する分割工程と、
    を含むことを特徴とする受光センサの製造方法。
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