JPS63231442A - ネガテイブ・フオトレジスト組成物 - Google Patents
ネガテイブ・フオトレジスト組成物Info
- Publication number
- JPS63231442A JPS63231442A JP63008610A JP861088A JPS63231442A JP S63231442 A JPS63231442 A JP S63231442A JP 63008610 A JP63008610 A JP 63008610A JP 861088 A JP861088 A JP 861088A JP S63231442 A JPS63231442 A JP S63231442A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- source
- photoresist composition
- acid
- polyfunctional
- onium salt
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 17
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 title claims description 13
- -1 carbonium ions Chemical class 0.000 claims description 41
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 19
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 18
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 17
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 11
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims description 9
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 125000005626 carbonium group Chemical group 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 5
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 3
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QUKGYYKBILRGFE-UHFFFAOYSA-N benzyl acetate Chemical compound CC(=O)OCC1=CC=CC=C1 QUKGYYKBILRGFE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 150000005217 methyl ethers Chemical class 0.000 description 2
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- XTXNWQHMMMPKKO-UHFFFAOYSA-N tert-butyl 2-phenylethenyl carbonate Chemical compound CC(C)(C)OC(=O)OC=CC1=CC=CC=C1 XTXNWQHMMMPKKO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 2
- KCLWUNIWBXUMQO-UHFFFAOYSA-N (2,4,6-trimethylphenyl) acetate Chemical group CC(=O)OC1=C(C)C=C(C)C=C1C KCLWUNIWBXUMQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WAUKBOOEPYNAGU-UHFFFAOYSA-N 1-phenylprop-2-enyl acetate Chemical compound CC(=O)OC(C=C)C1=CC=CC=C1 WAUKBOOEPYNAGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FUGYGGDSWSUORM-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxystyrene Chemical compound OC1=CC=C(C=C)C=C1 FUGYGGDSWSUORM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229930185605 Bisphenol Natural products 0.000 description 1
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004971 Cross linker Substances 0.000 description 1
- 241001082241 Lythrum hyssopifolia Species 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- 206010073456 Microcolon Diseases 0.000 description 1
- 150000001491 aromatic compounds Chemical class 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940007550 benzyl acetate Drugs 0.000 description 1
- 230000001588 bifunctional effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000012039 electrophile Substances 0.000 description 1
- 238000007345 electrophilic aromatic substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- JDSHMPZPIAZGSV-UHFFFAOYSA-N melamine Chemical compound NC1=NC(N)=NC(N)=N1 JDSHMPZPIAZGSV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N mesitylene Substances CC1=CC(C)=CC(C)=C1 AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001827 mesitylenyl group Chemical group [H]C1=C(C(*)=C(C([H])=C1C([H])([H])[H])C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 239000004634 thermosetting polymer Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M triflate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)C(F)(F)F ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/028—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
- G03F7/029—Inorganic compounds; Onium compounds; Organic compounds having hetero atoms other than oxygen, nitrogen or sulfur
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/039—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/115—Cationic or anionic
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/12—Nitrogen compound containing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/122—Sulfur compound containing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/126—Halogen compound containing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/128—Radiation-activated cross-linking agent containing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野 ″
本発明は、きわめて高感度のネガティブ・フォトレジス
ト組成物に関するものである。この組成物は、特に深紫
外光、電子ビームまたはX線輻射を用いたりソグラフイ
に有用である。この組成物は、特徴的には、活性化され
た芳香族部分に結合するカルボニウム・イオンによって
交差結合(cross 1ink)する。
ト組成物に関するものである。この組成物は、特に深紫
外光、電子ビームまたはX線輻射を用いたりソグラフイ
に有用である。この組成物は、特徴的には、活性化され
た芳香族部分に結合するカルボニウム・イオンによって
交差結合(cross 1ink)する。
B、従来技術
本発明に関連する従来技術には次のようなもの −
がある。
がある。
(1) 11.E、Feeley他の、Proceed
ings from the7th Internat
ional Technical Conferenc
e onPhotopolymerg、SPE、49
(1985)には、メラミン交差結合剤を使用すること
を示す、しかし。
ings from the7th Internat
ional Technical Conferenc
e onPhotopolymerg、SPE、49
(1985)には、メラミン交差結合剤を使用すること
を示す、しかし。
この論文は、オニウム塩を使用することを開示しない。
(2)米国特許第4102687号は、薄膜コーティン
グの硬化のためにオニウム塩光反応開始剤を使用するこ
とを示す。しかしこの特許は、影像化能力については記
載せず、また示されているポリマはすべて熱硬化性ポリ
マである。
グの硬化のためにオニウム塩光反応開始剤を使用するこ
とを示す。しかしこの特許は、影像化能力については記
載せず、また示されているポリマはすべて熱硬化性ポリ
マである。
(3)米国特許第4491628号も、オニウム塩光反
応開始剤を使用することを示すが、交差結合については
関与しない。
応開始剤を使用することを示すが、交差結合については
関与しない。
(4)米国特許第4284707号は、2つの共重合体
を使用することによる交差結合機構を示す。
を使用することによる交差結合機構を示す。
しかし、これはオニウム塩には関与しない。
C0発明が解決しようとする問題点
この発明の目的は、きわめて高感度のネガティブ・フォ
トレジスト組成物を提供することにある。
トレジスト組成物を提供することにある。
D0問題点を解決するための手段
本願発明者らは、新規な光交差結合ポリマを見出した。
これはきわめて高性能ネガティブ・レジストである。こ
れは、活性化された芳香族化合物と容易に反応する、酸
によって生成されるカルボニウム・イオン求電子基(e
lectrophHes)に基づく。このレジストによ
れば、高解像度ネガティブ・トーン・イメージが得られ
る。これらの材料は異常にコントラストが高く、本願発
明者の知る限りでは、現時点で最も高感度のレジストで
ある。
れは、活性化された芳香族化合物と容易に反応する、酸
によって生成されるカルボニウム・イオン求電子基(e
lectrophHes)に基づく。このレジストによ
れば、高解像度ネガティブ・トーン・イメージが得られ
る。これらの材料は異常にコントラストが高く、本願発
明者の知る限りでは、現時点で最も高感度のレジストで
ある。
本発明は、酸を生成するオニウム塩光反応開始剤と、多
官能活性(activated)芳香族環の源と、多官
能カルボニウム・イオンの潜在源とを有する熱的に安定
なネガティブ・レジストを与え、このときその源のうち
の少くとも1つはポリマである。
官能活性(activated)芳香族環の源と、多官
能カルボニウム・イオンの潜在源とを有する熱的に安定
なネガティブ・レジストを与え、このときその源のうち
の少くとも1つはポリマである。
尚、「活性芳香族環」という表現が使用されるとき、そ
れは1通常の意味、すなわち芳香族環が、例えばヒドロ
キシル基、メトキシル基、または伝統的に「オルト−バ
ラ指向(ortho −paradirecting)
J と呼ばれる基である電子放出基で置換されている
ことを意図する。
れは1通常の意味、すなわち芳香族環が、例えばヒドロ
キシル基、メトキシル基、または伝統的に「オルト−バ
ラ指向(ortho −paradirecting)
J と呼ばれる基である電子放出基で置換されている
ことを意図する。
本発明は、2つのタイプの多官能性のさまざまな態様を
有する。本発明の1つの態様においては、その2つのタ
イプは単一の共重合体中にある。別の態様においては、
その2つのタイプは、2つの異なるポリマ中にある。さ
らに別の態様においては、1つの多官能性のタイプがポ
リマ中にあり、もう1つの多官能性のタイプが多官能モ
ノマ中にある。これらの態様はすべて、少くとも1つの
ポリマが多官能性の源として存在しなくてはならないと
言明する上述の記述によって゛包含される。
有する。本発明の1つの態様においては、その2つのタ
イプは単一の共重合体中にある。別の態様においては、
その2つのタイプは、2つの異なるポリマ中にある。さ
らに別の態様においては、1つの多官能性のタイプがポ
リマ中にあり、もう1つの多官能性のタイプが多官能モ
ノマ中にある。これらの態様はすべて、少くとも1つの
ポリマが多官能性の源として存在しなくてはならないと
言明する上述の記述によって゛包含される。
本発明のネガティブ・レジスト組成物は熱的に安定、す
なわちその組成物は使′用前に長期間保存することが可
能である。この良好なシェルフ・ライフ(shelf
1ife)は1本発明の組成が本質的に熱硬化性でない
、という事実による。
なわちその組成物は使′用前に長期間保存することが可
能である。この良好なシェルフ・ライフ(shelf
1ife)は1本発明の組成が本質的に熱硬化性でない
、という事実による。
本発明の組成物を使用する間に、輻射にさらされると、
オニウム塩が酸を産生ずる。この酸は。
オニウム塩が酸を産生ずる。この酸は。
多官能性の源のうちの1つと反応してカルボニウム・イ
オンを生成する。このカルボニウム・イオンが次に、活
性化された芳香族環と反応して交差結合を形成する。こ
の、カルボニウム・イオンと活性化された芳香族環の間
の反応はまた、輻射領域中に、きわめて高い感度をもた
らす連鎖反応を生じさせるために触媒的に十分な景の酸
を生成する。
オンを生成する。このカルボニウム・イオンが次に、活
性化された芳香族環と反応して交差結合を形成する。こ
の、カルボニウム・イオンと活性化された芳香族環の間
の反応はまた、輻射領域中に、きわめて高い感度をもた
らす連鎖反応を生じさせるために触媒的に十分な景の酸
を生成する。
酸を生成するオニウム塩光反応開始剤は、従来よりよく
知られている。それに有用な材料としては例えば、ジア
リルヨードニウム及びトリアリルスルホニウム塩がある
。好適な対アニオン(gegenanion)は、テト
ラフルオロはう濃酸塩、テトラフルオロアンチモン酸塩
、トリフルオロメタンスルホン酸塩、ヘキサフルオロ砒
酸塩、及びヘキサフルオロリン酸塩などの錯体金属ハロ
ゲン化物である。
知られている。それに有用な材料としては例えば、ジア
リルヨードニウム及びトリアリルスルホニウム塩がある
。好適な対アニオン(gegenanion)は、テト
ラフルオロはう濃酸塩、テトラフルオロアンチモン酸塩
、トリフルオロメタンスルホン酸塩、ヘキサフルオロ砒
酸塩、及びヘキサフルオロリン酸塩などの錯体金属ハロ
ゲン化物である。
多官能活性芳香族環の有用な源の好適な例は、p−ヒド
ロキシスチレンまたはその前駆体であるポリ(t−ブチ
ルオキシカルボニルオキシスチレン)である、ポリ(t
−ブチルオキシカルボニル −オキシスチレン)は
、光生成された酸の影響の下でポリ(p−ヒドロキシス
チレン)への変換を受ける(米国特許第4491628
号)。光生成された酸はこのように、活生部分を変性す
ることと、適当な前駆体からカルボニウム・イオンを生
成することの両方の働きを行う、多官能カルボニウム・
イオンの源の好適な例は、ポリ(ビニルベンジル・アセ
テート)である。ポリ(ビニルベンジル゛アセテート)
とその類似体は、光生成された酸との反応によりベンジ
ル・カルボニウム・イオンを発生する働きをする。多官
能カルボニウム・イオンのきわめて有用且つ好適なモノ
マ源は、トリスアセトキシ・メシチレン(TAM)であ
る、多官能モノマ活性芳香族の好適な源は、ビスフェノ
ールA、ビスフェノール、これらの化合物のメチル・エ
ーテル及び類似体である。
ロキシスチレンまたはその前駆体であるポリ(t−ブチ
ルオキシカルボニルオキシスチレン)である、ポリ(t
−ブチルオキシカルボニル −オキシスチレン)は
、光生成された酸の影響の下でポリ(p−ヒドロキシス
チレン)への変換を受ける(米国特許第4491628
号)。光生成された酸はこのように、活生部分を変性す
ることと、適当な前駆体からカルボニウム・イオンを生
成することの両方の働きを行う、多官能カルボニウム・
イオンの源の好適な例は、ポリ(ビニルベンジル・アセ
テート)である。ポリ(ビニルベンジル゛アセテート)
とその類似体は、光生成された酸との反応によりベンジ
ル・カルボニウム・イオンを発生する働きをする。多官
能カルボニウム・イオンのきわめて有用且つ好適なモノ
マ源は、トリスアセトキシ・メシチレン(TAM)であ
る、多官能モノマ活性芳香族の好適な源は、ビスフェノ
ールA、ビスフェノール、これらの化合物のメチル・エ
ーテル及び類似体である。
本発明が、2成分または3成分を含むシステムにおける
使用に役立つことは明らかである。2成分システムは、
酸生成オニウム塩光反応開始剤以外に、ペンダント活性
芳香族残留物をもつモノマ単位と、ペンダント・カルボ
ニウム・イオン前駆体をもつモノマ単位からなる2官能
共重合体を含む。そして、低線盆の深紫外線または電子
ビーム輻射により触媒的な意の強酸が発生され、これが
ポリマ上の多官能性と反応して、ポリマ鎖に沿ってカル
ボニウム・イオンを形成する。これらのポリマに結合さ
れた求電子体が、共重合体構造中にやはり存在する適当
に活性化された芳香族環と反応する。この機構に関与す
る求電子芳香族置換反応は、連鎖反応を継続するために
酸を再生成し、この連鎖反応は、交差結合と相俟って、
レジストにきわめて高い感度を与える。
使用に役立つことは明らかである。2成分システムは、
酸生成オニウム塩光反応開始剤以外に、ペンダント活性
芳香族残留物をもつモノマ単位と、ペンダント・カルボ
ニウム・イオン前駆体をもつモノマ単位からなる2官能
共重合体を含む。そして、低線盆の深紫外線または電子
ビーム輻射により触媒的な意の強酸が発生され、これが
ポリマ上の多官能性と反応して、ポリマ鎖に沿ってカル
ボニウム・イオンを形成する。これらのポリマに結合さ
れた求電子体が、共重合体構造中にやはり存在する適当
に活性化された芳香族環と反応する。この機構に関与す
る求電子芳香族置換反応は、連鎖反応を継続するために
酸を再生成し、この連鎖反応は、交差結合と相俟って、
レジストにきわめて高い感度を与える。
それとは別に、活性芳香族ポリマ、カルボニウム・イオ
ン発生体及びオニウム塩が3つの個別の成分である3成
分システムは、はるかに大きい設計上の柔軟性を与える
。例えば、塩基現像性、高いTg、エツチング抵抗など
の望ましいポリマの特性を、共重合体システムに内在的
である希釈化または平均化効果からひき起こされる困難
を伴うことなく、選択したポリマによって与えることが
できる。このように、3成分システムは、(1)活性化
された芳香族基をもつポリマと、(2)多官能カルボニ
ウム・イオン発生体と、(3)オニウム塩に基づくこと
ができる。あるいは、(1)カルボニウム・イオン発生
体をもつポリマと、(2)多官能活性芳香族化合物と、
(3)オニウム塩に基づくこともできる。
ン発生体及びオニウム塩が3つの個別の成分である3成
分システムは、はるかに大きい設計上の柔軟性を与える
。例えば、塩基現像性、高いTg、エツチング抵抗など
の望ましいポリマの特性を、共重合体システムに内在的
である希釈化または平均化効果からひき起こされる困難
を伴うことなく、選択したポリマによって与えることが
できる。このように、3成分システムは、(1)活性化
された芳香族基をもつポリマと、(2)多官能カルボニ
ウム・イオン発生体と、(3)オニウム塩に基づくこと
ができる。あるいは、(1)カルボニウム・イオン発生
体をもつポリマと、(2)多官能活性芳香族化合物と、
(3)オニウム塩に基づくこともできる。
上述のような種類のレジスト組成の1つまたはそれ以上
の成分に有機金属成分を組み込むことは明らかに可能で
ある。例えば、3重電%以上のSiまたはSnが組み込
まれたときには、結果のネガティブ・トーン・イメージ
が酸素ドライ・エツチングに対して抵抗性となされる。
の成分に有機金属成分を組み込むことは明らかに可能で
ある。例えば、3重電%以上のSiまたはSnが組み込
まれたときには、結果のネガティブ・トーン・イメージ
が酸素ドライ・エツチングに対して抵抗性となされる。
このように、そのような材料は、イメージ転写処理とし
て酸素反応性イオン・エツチングを使用する2層イメー
ジ形成に適用可能である。
て酸素反応性イオン・エツチングを使用する2層イメー
ジ形成に適用可能である。
レジストとして使用されるとき、本発明の組成は、先ず
、例えば溶液からのスピン・コーティングによって基板
上に被覆される。この被覆された被膜は次にベークされ
、例えばマスクを介して輻射に対してイメージ的に露光
される。すると、非輻射領域でなく輻射領域において触
媒的な量の酸が生成され、これがポリマ上の多官能基と
反応してカルボニウム・イオンを形成し、このカルボニ
ウム・イオンが芳香族環と反応する。この反応は連鎖反
応を継続するための酸を発生する。
、例えば溶液からのスピン・コーティングによって基板
上に被覆される。この被覆された被膜は次にベークされ
、例えばマスクを介して輻射に対してイメージ的に露光
される。すると、非輻射領域でなく輻射領域において触
媒的な量の酸が生成され、これがポリマ上の多官能基と
反応してカルボニウム・イオンを形成し、このカルボニ
ウム・イオンが芳香族環と反応する。この反応は連鎖反
応を継続するための酸を発生する。
E、実施例
E−1,2成分レジスト・システム
t−ブチルオキシカルボニルオキシスチレンと、ビニル
・ベンジル・アセテート(75/25)の共重合体が、
トルエン中での遊離基重合によって合成された。この高
分子量共重合体は、カルボニウム・イオン発生体(ベン
ジル・アセテート)と、活性芳香族(t−ブチルオキシ
カルボニルオキシスチレンで保護されたフェノール基)
からなる。
・ベンジル・アセテート(75/25)の共重合体が、
トルエン中での遊離基重合によって合成された。この高
分子量共重合体は、カルボニウム・イオン発生体(ベン
ジル・アセテート)と、活性芳香族(t−ブチルオキシ
カルボニルオキシスチレンで保護されたフェノール基)
からなる。
この共重合体は、トリフェニル・スルホニウム・ヘキサ
フルオロアンチモネートと調合され(90/10)、2
−ブタノンからスピン被覆された。
フルオロアンチモネートと調合され(90/10)、2
−ブタノンからスピン被覆された。
そして、波長254n+++で1.OmJ/aJ程度の
低い線址の光で高解像度微細線がプリントされた。その
後、アセトン・スプレー現像が使用された。すると膨潤
がないことにより、それはこの低い線址と中程度のベー
タ温度で達成された高い交差結合密度を明確に呈した。
低い線址の光で高解像度微細線がプリントされた。その
後、アセトン・スプレー現像が使用された。すると膨潤
がないことにより、それはこの低い線址と中程度のベー
タ温度で達成された高い交差結合密度を明確に呈した。
尚、より高い感度は、より高い温度でポストベークする
ことにより容易に得られることに注意されたい。例えば
、このレジスト・システムは、30秒間、135℃でポ
ストベークしたときに、10に近いコントラストをもつ
0.3mJ/cjの感度を有する。これは、本願発明者
の知る限りでは、今まで報告された最高感度且つ最高コ
ントラストのレジストである。
ことにより容易に得られることに注意されたい。例えば
、このレジスト・システムは、30秒間、135℃でポ
ストベークしたときに、10に近いコントラストをもつ
0.3mJ/cjの感度を有する。これは、本願発明者
の知る限りでは、今まで報告された最高感度且つ最高コ
ントラストのレジストである。
E−2,3成分システム
80%のp−ヒドロキシスチレンと、10%のトリス−
アセトキシメシチレンと、10%のトリフェニル・スル
ホニウム・ヘキサフルオロアンチモネートからなる塩基
可溶レジスト組成物が、254nm光でのイメージング
のための適当な透過性をもつ0.5ミクロン皮膜を与え
るようにシクロヘキサンからスピン被覆された。135
℃のホスト・ベークで、1.1mJ/dの線量を被った
、10以上のコントラスト値をもつレジストが得られた
。このコントラスト値は、今まで報告されている最高コ
ントラスト・ネガティブ・レジストの数倍である。この
高コントラストと塩基現像性の組合せは、きわめて高い
解像度の非膨潤レジストを与える。ネガティブ・レジス
トの5mJ/a#で露光されたパッドでは、1.0ミク
ロン間隔が現像された。現像は、希釈塩基溶液に3〜4
分浸漬し、そのあと水でリンスすることにより行なわれ
た。
アセトキシメシチレンと、10%のトリフェニル・スル
ホニウム・ヘキサフルオロアンチモネートからなる塩基
可溶レジスト組成物が、254nm光でのイメージング
のための適当な透過性をもつ0.5ミクロン皮膜を与え
るようにシクロヘキサンからスピン被覆された。135
℃のホスト・ベークで、1.1mJ/dの線量を被った
、10以上のコントラスト値をもつレジストが得られた
。このコントラスト値は、今まで報告されている最高コ
ントラスト・ネガティブ・レジストの数倍である。この
高コントラストと塩基現像性の組合せは、きわめて高い
解像度の非膨潤レジストを与える。ネガティブ・レジス
トの5mJ/a#で露光されたパッドでは、1.0ミク
ロン間隔が現像された。現像は、希釈塩基溶液に3〜4
分浸漬し、そのあと水でリンスすることにより行なわれ
た。
このレジスト組成は、感度の古典的な定義によると、2
0KeVで0.5マイクロク一ロン/d以上の電子ビー
ム感度をもつ。
0KeVで0.5マイクロク一ロン/d以上の電子ビー
ム感度をもつ。
2成分システムと同様に、最終的な感度は、多くの制御
可能な変数の関数である。このため、システム中で所望
の感度を容易に実現することができる。3成分システム
の柔軟性を示す例としては、ポリマ・カルボニウム・イ
オン発生体、例えばポリ(ビニルベンジル・アセテート
)と、低分子量多官能活性芳香族(例えばフェノール)
とオニウム塩光反応開始剤を使用することがある。
可能な変数の関数である。このため、システム中で所望
の感度を容易に実現することができる。3成分システム
の柔軟性を示す例としては、ポリマ・カルボニウム・イ
オン発生体、例えばポリ(ビニルベンジル・アセテート
)と、低分子量多官能活性芳香族(例えばフェノール)
とオニウム塩光反応開始剤を使用することがある。
E−3,3成分システムの他の例
ポリマ・カルボニウム・イオン発生体であるポリ(ビニ
ルベンジル・アセテート)(80%)、活性芳香族ビス
フェノールAのモノマ多官能源と、及び光反応開始剤で
あるトリフェニル・スルホニウム・ヘキサフルオロアン
チモネート(10%)が、シクロヘキサンからスピン被
覆され、1ミクロン厚のレジスト皮膜を与えるように1
35℃でべ一りされた。そして、パターン的に露光され
、130℃で90秒ベークされた。その後アセトン現像
すると、5mJ/cd以下の感度を呈した。
ルベンジル・アセテート)(80%)、活性芳香族ビス
フェノールAのモノマ多官能源と、及び光反応開始剤で
あるトリフェニル・スルホニウム・ヘキサフルオロアン
チモネート(10%)が、シクロヘキサンからスピン被
覆され、1ミクロン厚のレジスト皮膜を与えるように1
35℃でべ一りされた。そして、パターン的に露光され
、130℃で90秒ベークされた。その後アセトン現像
すると、5mJ/cd以下の感度を呈した。
F0発明の効果
以上述べたように、本発明によれば、きわめて感度が高
く、且つシェルフ・ライフの長いネガティブ・フォトレ
ジスト組成物が提供される。
く、且つシェルフ・ライフの長いネガティブ・フォトレ
ジスト組成物が提供される。
出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁理士 山 本 仁 朗(外1名)
・コーポレーション 代理人 弁理士 山 本 仁 朗(外1名)
Claims (4)
- (1)酸生成オニウム塩光反応開始剤と、多官能活性芳
香族環の源と、多官能カルボニウム・イオンの源を含み
、該源のうち少くとも1つはポリマであるネガティブ・
フォトレジスト組成物。 - (2)酸生成オニウム塩光反応開始剤と、カルボニウム
・イオン生成多官能性と活性芳香族多官能性をともに含
む共重合体を含むネガティブ・フォトレジスト組成物。 - (3)酸生成オニウム塩光反応開始剤と、カルボニウム
・イオンの多官能源と、複数の活性芳香族環を含むポリ
マを含み、該カルボニウム・イオンの源とポリマは、輻
射により反応して交差結合を形成するとともに酸を生成
するように選択されているネガティブ・フォトレジスト
組成物。 - (4)オニウム塩光反応開始剤と、カルボニウム・イオ
ンのポリマ源と、活性芳香族環のモノマ多官能源を含む
ネガティブ・フォトレジスト組成物。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US26425 | 1987-03-16 | ||
US07/026,425 US4800152A (en) | 1987-03-16 | 1987-03-16 | Negative resist compositions |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63231442A true JPS63231442A (ja) | 1988-09-27 |
JPH0520732B2 JPH0520732B2 (ja) | 1993-03-22 |
Family
ID=21831752
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63008610A Granted JPS63231442A (ja) | 1987-03-16 | 1988-01-20 | ネガテイブ・フオトレジスト組成物 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4800152A (ja) |
EP (1) | EP0282724B1 (ja) |
JP (1) | JPS63231442A (ja) |
BR (1) | BR8801160A (ja) |
CA (1) | CA1325353C (ja) |
DE (1) | DE3861251D1 (ja) |
ES (1) | ES2019413B3 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03142918A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Matsushita Electron Corp | レジストパターン形成方法 |
JPH03185449A (ja) * | 1989-09-25 | 1991-08-13 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 水性塩基溶液で現像しうるネガ型のレジスト組成物 |
JPH04217251A (ja) * | 1990-03-01 | 1992-08-07 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 酸開始フォトレジスト組成物 |
JPH04287047A (ja) * | 1991-03-15 | 1992-10-12 | Mitsubishi Electric Corp | パターン形成方法およびフォトマスクの製造方法 |
JPH05232707A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-09-10 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 乾式現像可能なフォトレジスト組成物およびその使用方法 |
JPH05249676A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | フォトレジスト組成物及びフォトレジスト像形成方法 |
JPH0611829A (ja) * | 1992-02-25 | 1994-01-21 | Morton Thiokol Inc | 遠紫外線感受性フォトレジスト |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3940965A1 (de) * | 1989-12-12 | 1991-06-13 | Basf Ag | Strahlungsempfindliches gemisch und verfahren zur herstellung von reliefstrukturen |
DE3943413A1 (de) * | 1989-12-30 | 1991-07-04 | Basf Ag | Strahlungsempfindliches gemisch und verfahren zur herstellung von reliefstrukturen |
JP2586692B2 (ja) * | 1990-05-24 | 1997-03-05 | 松下電器産業株式会社 | パターン形成材料およびパターン形成方法 |
DE4025959A1 (de) * | 1990-08-16 | 1992-02-20 | Basf Ag | Strahlungsempfindliches gemisch und verfahren zur herstellung von reliefmustern |
EP0501919A1 (de) * | 1991-03-01 | 1992-09-02 | Ciba-Geigy Ag | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen auf der Basis von Polyphenolen und Acetalen |
EP0502819A1 (de) * | 1991-03-01 | 1992-09-09 | Ciba-Geigy Ag | Säurekatalytisch vernetzbare Copolymere |
US5250395A (en) * | 1991-07-25 | 1993-10-05 | International Business Machines Corporation | Process for imaging of photoresist including treatment of the photoresist with an organometallic compound |
US6492092B1 (en) | 1999-03-12 | 2002-12-10 | Arch Specialty Chemicals, Inc. | Hydroxy-epoxide thermally cured undercoat for 193 NM lithography |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4193799A (en) * | 1976-07-09 | 1980-03-18 | General Electric Company | Method of making printing plates and printed circuit |
US4102687A (en) * | 1977-02-14 | 1978-07-25 | General Electric Company | UV Curable composition of a thermosetting condensation resin and Group VIa onium salt |
CA1127340A (en) * | 1977-12-30 | 1982-07-06 | Kohtaro Nagasawa | Photocurable light-sensitive composition and material |
EP0010897B1 (en) * | 1978-10-27 | 1984-01-25 | Imperial Chemical Industries Plc | Polymerisable compositions, derived coatings and other polymerised products |
US4491628A (en) * | 1982-08-23 | 1985-01-01 | International Business Machines Corporation | Positive- and negative-working resist compositions with acid generating photoinitiator and polymer with acid labile groups pendant from polymer backbone |
JPS6131426A (ja) * | 1984-07-23 | 1986-02-13 | Showa Highpolymer Co Ltd | 変性フエノ−ル樹脂組成物 |
US4603101A (en) * | 1985-09-27 | 1986-07-29 | General Electric Company | Photoresist compositions containing t-substituted organomethyl vinylaryl ether materials |
US4690957A (en) * | 1986-02-27 | 1987-09-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Ultra-violet ray curing type resin composition |
EP0249139B2 (en) * | 1986-06-13 | 1998-03-11 | MicroSi, Inc. (a Delaware corporation) | Resist compositions and use |
-
1987
- 1987-03-16 US US07/026,425 patent/US4800152A/en not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-01-20 JP JP63008610A patent/JPS63231442A/ja active Granted
- 1988-01-29 CA CA000557770A patent/CA1325353C/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-02-09 DE DE8888101849T patent/DE3861251D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-02-09 EP EP88101849A patent/EP0282724B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-02-09 ES ES88101849T patent/ES2019413B3/es not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-15 BR BR8801160A patent/BR8801160A/pt active Search and Examination
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03185449A (ja) * | 1989-09-25 | 1991-08-13 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 水性塩基溶液で現像しうるネガ型のレジスト組成物 |
JPH03142918A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Matsushita Electron Corp | レジストパターン形成方法 |
JPH04217251A (ja) * | 1990-03-01 | 1992-08-07 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 酸開始フォトレジスト組成物 |
JPH04287047A (ja) * | 1991-03-15 | 1992-10-12 | Mitsubishi Electric Corp | パターン形成方法およびフォトマスクの製造方法 |
JPH05232707A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-09-10 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 乾式現像可能なフォトレジスト組成物およびその使用方法 |
JPH05249676A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | フォトレジスト組成物及びフォトレジスト像形成方法 |
JPH0611829A (ja) * | 1992-02-25 | 1994-01-21 | Morton Thiokol Inc | 遠紫外線感受性フォトレジスト |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BR8801160A (pt) | 1988-10-18 |
CA1325353C (en) | 1993-12-21 |
US4800152A (en) | 1989-01-24 |
EP0282724A1 (en) | 1988-09-21 |
JPH0520732B2 (ja) | 1993-03-22 |
ES2019413B3 (es) | 1991-06-16 |
EP0282724B1 (en) | 1990-12-12 |
DE3861251D1 (de) | 1991-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63231442A (ja) | ネガテイブ・フオトレジスト組成物 | |
TW591323B (en) | Photoresist composition for deep UV and process thereof | |
US5069997A (en) | Positive and negative working radiation sensitive mixtures and production of relief patterns | |
JP2625014B2 (ja) | 感放射線混合物及びレリーフパターン作製方法 | |
JPH02150848A (ja) | 光退色性放射線感応性組成物およびそれを用いたパターン形成法 | |
US4054635A (en) | Copolymer of glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether | |
JP2006077228A (ja) | 2次ヒドロキシル基を有するアルキル環状オレフィンとアクリル化合物の重合体及びこれらを含んだ化学増幅型レジスト組成物 | |
EP0202458A2 (en) | Cross-linked polyalkenyl phenol based photoresist compositions | |
JP2648805B2 (ja) | 液体適用型の水性処理可能なホトレジスト組成物 | |
JPH01106038A (ja) | ポジチプ放射線感受性混合物、ポジチブ記録材料およびその製造方法 | |
JPH0252348A (ja) | 高エネルギー照射線硬化可能な組成物及び高エネルギー照射線記録法 | |
US4355094A (en) | Positive radiation sensitive resist terpolymers | |
JPH01201654A (ja) | ポジ型フォトレジスト材料 | |
CA2020378A1 (en) | Maleimide containing, negative working deep uv photoresist | |
JPH07219216A (ja) | ポジ型感放射線性樹脂組成物及びそれを用いるパターン形成法 | |
JPH0571605B2 (ja) | ||
US4210449A (en) | Radiation sensitive composition comprising copolymer of glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether and diazonium salt of complex halogenide | |
JPH0934112A (ja) | フォトレジスト組成物 | |
US4056393A (en) | Method of recording information using a copolymer of glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether | |
US4405776A (en) | Positive radiation sensitive resist terpolymer from omega alkynoic acid | |
US4071671A (en) | Copolymer of glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether | |
US4054451A (en) | Method of polymerizing a copolymer of glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether | |
JP2648804B2 (ja) | ドライフィルム型の水性処理可能なホトレジスト組成物 | |
US4054452A (en) | Method of imaging a layer containing copolymer of glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether | |
JPH09134015A (ja) | パタン形成材料,パタン形成方法および半導体素子製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |