JPS63228713A - 気相成長方法 - Google Patents
気相成長方法Info
- Publication number
- JPS63228713A JPS63228713A JP6291587A JP6291587A JPS63228713A JP S63228713 A JPS63228713 A JP S63228713A JP 6291587 A JP6291587 A JP 6291587A JP 6291587 A JP6291587 A JP 6291587A JP S63228713 A JPS63228713 A JP S63228713A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- susceptor
- vapor phase
- growth method
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 claims description 14
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 5
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 abstract description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 abstract 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 11
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 101000648659 Homo sapiens Transmembrane gamma-carboxyglutamic acid protein 3 Proteins 0.000 description 4
- 102100028870 Transmembrane gamma-carboxyglutamic acid protein 3 Human genes 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LZZYPRNAOMGNLH-UHFFFAOYSA-M Cetrimonium bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C LZZYPRNAOMGNLH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 101100130497 Drosophila melanogaster Mical gene Proteins 0.000 description 1
- 101100345589 Mus musculus Mical1 gene Proteins 0.000 description 1
- -1 and AJH314 are TMA2 Proteins 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N arsane Chemical compound [AsH3] RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は化合物半導体等を基板上に結晶成長する場合に
用いられる気相成長方法に関するものである。
用いられる気相成長方法に関するものである。
従来の技術
近年、■−■族および■−■族等の化合物および混晶半
導体の気相エピタキシャル成長法特に有機金属気相成長
法(MOVPE :Metal OzganicChe
mical Vapor Deposition)が、
大面積にわたる均一性、量産性、膜厚や組成の制御性等
の点から注目を集め、各所で研究開発が活発に行なわれ
ている。
導体の気相エピタキシャル成長法特に有機金属気相成長
法(MOVPE :Metal OzganicChe
mical Vapor Deposition)が、
大面積にわたる均一性、量産性、膜厚や組成の制御性等
の点から注目を集め、各所で研究開発が活発に行なわれ
ている。
従来、この種の気相成長方法に用いられる装置は第5図
に示すような構造になっていた。A7GaAs結晶を気
相成長させるためにA7 の出発原料である有機A7化
合物としてトリメチルAl ((CH3)3Al) 。
に示すような構造になっていた。A7GaAs結晶を気
相成長させるためにA7 の出発原料である有機A7化
合物としてトリメチルAl ((CH3)3Al) 。
TMA2を有機Ga化合物としてトリメチルG a (
(CH3) s G a ) 、 T M G 3を、
Asの供給源としてアルシンガスA s H31,4を
各々用いる。
(CH3) s G a ) 、 T M G 3を、
Asの供給源としてアルシンガスA s H31,4を
各々用いる。
TMA2 、TMG3はステンレス製バブラー容器に各
々収納されている。これらの有機金属化合物の蒸気圧の
制御は恒温槽を用いて温度を正確に制御されることによ
って行なわれる。有機金属化合物の蒸気はマスフローコ
ントローラ10〜13で精密に制御された水素ガスでバ
ブリングすることにより、配管内をH2ガスと共に搬送
される。
々収納されている。これらの有機金属化合物の蒸気圧の
制御は恒温槽を用いて温度を正確に制御されることによ
って行なわれる。有機金属化合物の蒸気はマスフローコ
ントローラ10〜13で精密に制御された水素ガスでバ
ブリングすることにより、配管内をH2ガスと共に搬送
される。
結晶成長室5内には、カーボン製すセグタT上に基板6
が載置されている。基板6は結晶成長室5外部に設けた
高周波コイルあるいは熱外線ランプあるいはサセプタに
設けられた抵抗加熱により、所定の温度に加熱できるよ
うになっていた。
が載置されている。基板6は結晶成長室5外部に設けた
高周波コイルあるいは熱外線ランプあるいはサセプタに
設けられた抵抗加熱により、所定の温度に加熱できるよ
うになっていた。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記のような装置だと、TMA2゜TM
G3およびA s H314を原料ガス導入管4を介し
て結晶成長室5に導入するようになっており、T M
A 2 、 T M G 3 A s H314が十分
に混合されないまま基板6に達する。通常M○VPEに
おいては、V/III 比が結晶性特に不純物濃度に影
響が出るため再現性よく混合されていないと、成長毎に
不純物濃度が異なり、再現性がない。又、A I G
a A s のような3元混晶ではTMA2とTMG3
のまざり具合によって組成の分布が生じるため、原料ガ
スが基板に達する捷でに十分混合されている方が好まし
い。
G3およびA s H314を原料ガス導入管4を介し
て結晶成長室5に導入するようになっており、T M
A 2 、 T M G 3 A s H314が十分
に混合されないまま基板6に達する。通常M○VPEに
おいては、V/III 比が結晶性特に不純物濃度に影
響が出るため再現性よく混合されていないと、成長毎に
不純物濃度が異なり、再現性がない。又、A I G
a A s のような3元混晶ではTMA2とTMG3
のまざり具合によって組成の分布が生じるため、原料ガ
スが基板に達する捷でに十分混合されている方が好まし
い。
問題点を解決するための手段
本発明は、上記問題点を解決するだめの手段として、反
応ガスがサセプタに達するまでに予め磁場の印加あるい
は磁場の印加と光を照射して、反応ガスを十分混合させ
て気相成長を行なうものである。
応ガスがサセプタに達するまでに予め磁場の印加あるい
は磁場の印加と光を照射して、反応ガスを十分混合させ
て気相成長を行なうものである。
作 用
この技術的手段による作用は次のようになる。
磁場の印加あるいは磁場の印加と光を照射して、反応ガ
スをサセプタに達する以前に予め十分に混合するため、
組成や層厚のバラツキはなくなり、大面積にわたって極
めて均一な結晶薄膜が再現性よく得られるようになった
。
スをサセプタに達する以前に予め十分に混合するため、
組成や層厚のバラツキはなくなり、大面積にわたって極
めて均一な結晶薄膜が再現性よく得られるようになった
。
本発明は結晶成長室内で混合するのであるが、ガスの流
れを妨害するものは全く用いないので、混合する場合は
磁場を印加し、混合を要しない場合は磁場を印加を停止
すればよい。したがって、ガスの淀みは全くないため、
成長毎の再現性も極めでよい。
れを妨害するものは全く用いないので、混合する場合は
磁場を印加し、混合を要しない場合は磁場を印加を停止
すればよい。したがって、ガスの淀みは全くないため、
成長毎の再現性も極めでよい。
実施例
本発明による気相成長方法を用いた具体的な一例を第1
図に示す。20は反応ガス混合用磁場発生コイルである
。基板6は外部から赤外線あるいはサセプタ7内部に設
けられた抵抗加熱により700°Cに加熱される。A
I G a A s の結晶成長について述べる。原料
ガス導入配管4を介して結晶成長室に供給されたTMA
2 、 TMG3 、AJH314はサセプタに達する
前に700°Cに加熱されたサセプタ7からの輻射熱に
より、TMA2 、TMGs。
図に示す。20は反応ガス混合用磁場発生コイルである
。基板6は外部から赤外線あるいはサセプタ7内部に設
けられた抵抗加熱により700°Cに加熱される。A
I G a A s の結晶成長について述べる。原料
ガス導入配管4を介して結晶成長室に供給されたTMA
2 、 TMG3 、AJH314はサセプタに達する
前に700°Cに加熱されたサセプタ7からの輻射熱に
より、TMA2 、TMGs。
A s H314の一部は熱分解反応
Δ
〔(CH3)3Al〕2→2AlCH3+4CH3・・
・(1)(CH3)3Ga−+GaCH3+2CH3・
・・・・・・・・(2)A s H3→As+テH2・
・・・・・・・・・・・・・・(3)が生じている。(
1)式及び(2)式で生じたメチル基はキャリアガスで
あるH2と即に反応し中性のメタンCH4となる。(1
)式及び(2)式におけるAlCH3は準安定状態にあ
り、電気的に正に帯下している。
・(1)(CH3)3Ga−+GaCH3+2CH3・
・・・・・・・・(2)A s H3→As+テH2・
・・・・・・・・・・・・・・(3)が生じている。(
1)式及び(2)式で生じたメチル基はキャリアガスで
あるH2と即に反応し中性のメタンCH4となる。(1
)式及び(2)式におけるAlCH3は準安定状態にあ
り、電気的に正に帯下している。
又(3)式で生じるAsばいくぶん負に帯電している。
M○VPEにおいては一般にV/III 比は10〜4
0にとられるのでAsは十分あり気相中のAsのふるま
いはあまり間項にならないが、A4CH3やCa CH
3のふるまいは組成の均一性に大きく効いてくる。例え
ば磁場をガスの流れ方向に印加したとする。結晶成長室
5内に入ったTMA2゜TMG3ば(1)式と(2)式
によって、AlCH3及びG a CH3となりあらゆ
る方向に動いている中で例えば第3図aに示すような方
向に動いている粒子を考えると、電気的に正に帯電した
粒子、この場合A7CH3及びG a CH3はローレ
ンツ力F=q(vXB) ・・・・・・・・・
・・・・・(4)なる作用を受ける。qは電荷、Vは粒
子が磁場Bの中を動く速度である。この粒子はbに示す
ように磁場Bの中をサイクロトロン運動しながらサセプ
タ7方向に進む。サセプタ7に近づくにつれて、AlC
H3及びG a CH3の一部はAlCH3→ Al
+CH3・・・・・・・・・・・・・・・(5)GaC
H3→Ga+CH3・・・川・・川・・直6)なる熱分
解反応を起こす。(5)式と(6)式におけるメチル基
CHはキャリアガスのH2と反応してメタンCH4とな
る。A4及びGa は正に帯電しており、サイクロト
ン運動しながらサセプタに達する。従って、サセプタ7
に達するまでにサイクロトロン運動により十分混合され
る。(1)式、(2)式。
0にとられるのでAsは十分あり気相中のAsのふるま
いはあまり間項にならないが、A4CH3やCa CH
3のふるまいは組成の均一性に大きく効いてくる。例え
ば磁場をガスの流れ方向に印加したとする。結晶成長室
5内に入ったTMA2゜TMG3ば(1)式と(2)式
によって、AlCH3及びG a CH3となりあらゆ
る方向に動いている中で例えば第3図aに示すような方
向に動いている粒子を考えると、電気的に正に帯電した
粒子、この場合A7CH3及びG a CH3はローレ
ンツ力F=q(vXB) ・・・・・・・・・
・・・・・(4)なる作用を受ける。qは電荷、Vは粒
子が磁場Bの中を動く速度である。この粒子はbに示す
ように磁場Bの中をサイクロトロン運動しながらサセプ
タ7方向に進む。サセプタ7に近づくにつれて、AlC
H3及びG a CH3の一部はAlCH3→ Al
+CH3・・・・・・・・・・・・・・・(5)GaC
H3→Ga+CH3・・・川・・川・・直6)なる熱分
解反応を起こす。(5)式と(6)式におけるメチル基
CHはキャリアガスのH2と反応してメタンCH4とな
る。A4及びGa は正に帯電しており、サイクロト
ン運動しながらサセプタに達する。従って、サセプタ7
に達するまでにサイクロトロン運動により十分混合され
る。(1)式、(2)式。
(3)式の反応を促進するために、第3図に示すように
エキシマレーザ21等の光を用いると便利がよい。
エキシマレーザ21等の光を用いると便利がよい。
次に実際KA10.3Gao、7A8 の結晶成長を行
ない本発明の効果を明らかにした。TMA2 。
ない本発明の効果を明らかにした。TMA2 。
T M G 3 、 A s H314およびキャリア
ガスH21の流量はそれぞれ10CC/組、30cc/
門、100CC/ ilB及び3 、21J / JL
IJ+ である。基板は100 GaAsで基板温度は
700 ’C*結晶成長室内圧力は100Torrであ
る。A I G a A s におけるAl の混晶比
が0.3近くになる。基板の大きさば5QfiX401
ffである。組成はホトルミネッセンス法から得られる
バンドギャップエネルギーから計算された。磁場をQガ
ウスから徐々に大きくしていくと、50゜ガウスを越え
たところで磁場印加による顕著な効果があられれてきた
。
ガスH21の流量はそれぞれ10CC/組、30cc/
門、100CC/ ilB及び3 、21J / JL
IJ+ である。基板は100 GaAsで基板温度は
700 ’C*結晶成長室内圧力は100Torrであ
る。A I G a A s におけるAl の混晶比
が0.3近くになる。基板の大きさば5QfiX401
ffである。組成はホトルミネッセンス法から得られる
バンドギャップエネルギーから計算された。磁場をQガ
ウスから徐々に大きくしていくと、50゜ガウスを越え
たところで磁場印加による顕著な効果があられれてきた
。
第4図に磁場が0ガウス(従来の気相成長方法)の場合
と500ガウス(本発明の気相成長方法)の場合のAl
GaAs の組成の面内分布を示したものである。同
図から明らかなように、0ガウスの時組成が大きくばら
つくがSOOガウスではほとんどばらつかなくなる。
と500ガウス(本発明の気相成長方法)の場合のAl
GaAs の組成の面内分布を示したものである。同
図から明らかなように、0ガウスの時組成が大きくばら
つくがSOOガウスではほとんどばらつかなくなる。
以上述べた実施例ではA I G a A s /G
a A sについて説明したが、InGaAsP/In
P系やAIGaInP/GaAs系は勿論のこと、他の
m−v族および■−■族化合物半導体に用いることがで
きることは言うまでもない。
a A sについて説明したが、InGaAsP/In
P系やAIGaInP/GaAs系は勿論のこと、他の
m−v族および■−■族化合物半導体に用いることがで
きることは言うまでもない。
発明の効果
本発明の気相成長方法は、反応ガスがサセプタに達する
までに予め磁場あるいは磁場とレーザ光を印加して、反
応ガスを十分混合させて気相成長を行なうものであり、
極めて均一性のよい結晶薄膜が再現性よく得られるよう
になった。
までに予め磁場あるいは磁場とレーザ光を印加して、反
応ガスを十分混合させて気相成長を行なうものであり、
極めて均一性のよい結晶薄膜が再現性よく得られるよう
になった。
その結果、この結晶より作られるデバイスのコストも大
幅に削減することが可能となり、非常に実用的効果は犬
である。
幅に削減することが可能となり、非常に実用的効果は犬
である。
第1図は本発明の一実施例方法に用いる気相成長装置の
模式的構成図、第2図は磁場における荷電粒子の運動を
示す図、第3図は本発明の第2の実施例方法に用いる気
相成長装置の模式的構成図、第4図は本発明を用いて作
製したA 73 G a A s の組成の分布特性
図、第5図は従来の気相成長装置の模式的構成図である
。 5・・・・・結晶成長室、6・・・・・・基板、7・・
・・・・サセプタ、20・・・・・・磁場発生用コイル
、21・・・・・エキシマレーザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名δ−
D−タソ爪°ン7゛
模式的構成図、第2図は磁場における荷電粒子の運動を
示す図、第3図は本発明の第2の実施例方法に用いる気
相成長装置の模式的構成図、第4図は本発明を用いて作
製したA 73 G a A s の組成の分布特性
図、第5図は従来の気相成長装置の模式的構成図である
。 5・・・・・結晶成長室、6・・・・・・基板、7・・
・・・・サセプタ、20・・・・・・磁場発生用コイル
、21・・・・・エキシマレーザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名δ−
D−タソ爪°ン7゛
Claims (4)
- (1)結晶成長室内に反応ガスを導入し、前記結晶成長
室内に載置されたサセプタ上の基板に薄膜を形成する際
に、前記反応ガスが前記サセプタに達するまでに予め磁
場を印加して薄膜を成長させてなる気相成長方法。 - (2)反応ガスがサセプタに達するまでに予め磁場及び
光を照射して薄膜を成長させる特許請求の範囲第1項に
記載の気相成長方法。 - (3)光照射をArレーザ又はエキシマレーザを用いて
行なう特許請求の範囲第2項に記載の気相成長方法。 - (4)反応ガスが有機金属化合物を用いたものである特
許請求の範囲第1項に記載の気相成長方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6291587A JPS63228713A (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 気相成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6291587A JPS63228713A (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 気相成長方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63228713A true JPS63228713A (ja) | 1988-09-22 |
Family
ID=13214026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6291587A Pending JPS63228713A (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 気相成長方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63228713A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04178434A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-25 | Mitsubishi Electric Corp | 有機薄膜の製造装置および製造方法 |
-
1987
- 1987-03-18 JP JP6291587A patent/JPS63228713A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04178434A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-25 | Mitsubishi Electric Corp | 有機薄膜の製造装置および製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4368098A (en) | Epitaxial composite and method of making | |
Tischler et al. | Self‐limiting mechanism in the atomic layer epitaxy of GaAs | |
JPS6134928A (ja) | 元素半導体単結晶薄膜の成長法 | |
US4800173A (en) | Process for preparing Si or Ge epitaxial film using fluorine oxidant | |
Tsang | Chemical beam epitaxy of InGaAs | |
US3338761A (en) | Method and apparatus for making compound materials | |
JPH1017400A (ja) | Mgドープ窒化物系III−V族化合物半導体結晶の成長方法 | |
JPS63228713A (ja) | 気相成長方法 | |
JPH02185026A (ja) | Al薄膜の選択的形成方法 | |
CA1287555C (en) | Metalorganic vapor phase epitaxial growth of group ii-vi semiconductor materials | |
US5306660A (en) | Technique for doping mercury cadmium telluride MOCVD grown crystalline materials using free radical transport of elemental indium and apparatus therefor | |
US5256595A (en) | Method of growing device quality InP onto an InP substrate using an organometallic precursor in a hot wall reactor | |
JPS63227007A (ja) | 気相成長方法 | |
JPH0212814A (ja) | 化合物半導体結晶成長方法 | |
JPS59164697A (ja) | 気相成長方法 | |
JPS6373617A (ja) | 化合物半導体の気相成長法 | |
JPS6390833A (ja) | 2族および6族からなる化合物薄膜の製造方法 | |
JPH04280896A (ja) | 結晶成長方法 | |
JPS61223186A (ja) | 炭素薄膜の製造方法 | |
JPH01136971A (ja) | 気相成長装置 | |
JPH0445273A (ja) | Al薄膜の選択的形成方法 | |
JPS6377112A (ja) | 気相成長方法 | |
JPS63278224A (ja) | 気相成長法における反応ガス導入方法 | |
JPS6251212A (ja) | 有機金属熱分解気相成長(mocvd)の方法 | |
JPS62182195A (ja) | 3−v族化合物半導体の成長方法 |