JPS6322523B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6322523B2 JPS6322523B2 JP56175368A JP17536881A JPS6322523B2 JP S6322523 B2 JPS6322523 B2 JP S6322523B2 JP 56175368 A JP56175368 A JP 56175368A JP 17536881 A JP17536881 A JP 17536881A JP S6322523 B2 JPS6322523 B2 JP S6322523B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sliced veneer
- knife mark
- knife
- receiver
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Veneer Processing And Manufacture Of Plywood (AREA)
- Manufacture Of Wood Veneers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスライスの刃こぼれや異物のつまり等
によつてスライス単板表面に生じるナイフマーク
を検出するためのナイフマーク検査方法及びナイ
フマーク検査機に関するものである。
によつてスライス単板表面に生じるナイフマーク
を検出するためのナイフマーク検査方法及びナイ
フマーク検査機に関するものである。
第１図は従来のナイフマーク検査機を示し、ス
ライス単板１の移送路上に、帯状の投光をスライ
ス単板１に対し浅い角度で照射するように投光器
２を配置するとともに、この投光器２からの帯状
の投光がスライス単板１表面に入射する部分の直
上方に、ライン状の受光部を有する受光器３を配
置してある。ここで受光器３は第１スリツト板４
とシリンドリカルレンズ５と第２スリツト板６と
光電子増倍管のような受光素子７とから構成さ
れ、帯状投光がスライス単板１に入射するライン
状の入射部からの反射光がその全長に亘つて受光
素子７に入射されるようにしてある。かくてこの
従来のナイフマーク検査機にあつては、スライス
単板１を順次連続的に移送している状態で、受光
器３により投光器２からの帯状投光のスライス単
板１表面での反射光を受光し、この受光光量の変
化によりナイフマークＸを検出するものである。
ライス単板１の移送路上に、帯状の投光をスライ
ス単板１に対し浅い角度で照射するように投光器
２を配置するとともに、この投光器２からの帯状
の投光がスライス単板１表面に入射する部分の直
上方に、ライン状の受光部を有する受光器３を配
置してある。ここで受光器３は第１スリツト板４
とシリンドリカルレンズ５と第２スリツト板６と
光電子増倍管のような受光素子７とから構成さ
れ、帯状投光がスライス単板１に入射するライン
状の入射部からの反射光がその全長に亘つて受光
素子７に入射されるようにしてある。かくてこの
従来のナイフマーク検査機にあつては、スライス
単板１を順次連続的に移送している状態で、受光
器３により投光器２からの帯状投光のスライス単
板１表面での反射光を受光し、この受光光量の変
化によりナイフマークＸを検出するものである。
ところがかかる従来例にあつては、第２図ａに
示すような対称な断面形状ナイフマークＸの場
合、同図ｂのように輝度レベルの上昇を伴う反射
光が得られて適確なナイフマークＸの検出が可能
である他、第３図ａに示すような投光側に深い切
り込みを有する断面形状のナイフマークＸの場合
も同図ｂのような輝度レベルの上昇があつてナイ
フマークＸの検出ができるのであるが、第４図ａ
に示すような反投光側に深い切り込みを有する断
面形状のナイフマークＸの場合、同図ｂに示すよ
うに反射光の輝度レベルの上昇が極めて小さく、
ナイフマークＸの検出が非常に困難である問題が
あつた。
示すような対称な断面形状ナイフマークＸの場
合、同図ｂのように輝度レベルの上昇を伴う反射
光が得られて適確なナイフマークＸの検出が可能
である他、第３図ａに示すような投光側に深い切
り込みを有する断面形状のナイフマークＸの場合
も同図ｂのような輝度レベルの上昇があつてナイ
フマークＸの検出ができるのであるが、第４図ａ
に示すような反投光側に深い切り込みを有する断
面形状のナイフマークＸの場合、同図ｂに示すよ
うに反射光の輝度レベルの上昇が極めて小さく、
ナイフマークＸの検出が非常に困難である問題が
あつた。
本発明は上述の点に鑑みて提供したものであつ
て、コンベア上を流れてくるスライス単板にナイ
フマークが発生した場合、このナイフマークと同
一形状のナイフマークを有するスライス単板が複
数枚必らず続いてくることに着目し、スライス単
板への投光方向を交互に換えるという容易な方法
でナイフマーク発生を見逃すことなく確実に検出
でき、しかも構造簡単で安価なナイフマーク検査
方法及びナイフマーク検査機を提供することを目
的とするものである。
て、コンベア上を流れてくるスライス単板にナイ
フマークが発生した場合、このナイフマークと同
一形状のナイフマークを有するスライス単板が複
数枚必らず続いてくることに着目し、スライス単
板への投光方向を交互に換えるという容易な方法
でナイフマーク発生を見逃すことなく確実に検出
でき、しかも構造簡単で安価なナイフマーク検査
方法及びナイフマーク検査機を提供することを目
的とするものである。
以下本発明の一実施例を図面により詳述する。
第５図は本発明実施例の斜視図を示し、前記第１
図従来例の装置に対し、投光器２からの帯状投光
がスライス単板１に入射する入射部に垂直な面を
中心として上記投光器２と面対称に別の投光器２
Ａを配置し、スライス単板１移送方向の受光器３
に対する前方及び信号に夫々投光器２及び２Ａが
配置されるようにしたものであり、両投光器２，
２Ａからの帯状投光のスライス単板１表面での反
射光は従来例と同一構成の単一の受光器３で受光
できるようにしてある。かくて上記実施例にあつ
ては、連続して順次送られてくる各スライス単板
１に対し上記両投光器２，２ａからの投光を交互
に行うようにし、この投光による反射光を受光器
３で受光検出してナイフマークＸの検出を行うの
である。ここで一般に一枚のスライス単板１にナ
イフマークＸが発生すると、これに続く次のスラ
イス単板１にも同一形状のナイフマークＸが発生
するものであるから、仮にナイフマークＸがある
一枚目のスライス単板１において投光器２又は２
ａからの帯状投光の投光方向とスライス単板１上
のナイフマークＸの断面形状とが合致せず、ナイ
フマークＸの検出ミスを生じた場合においても、
次に移送されてきたスライス単板１においては投
光状態の投光器２，２Ａが切り換り、投光器２Ａ
又は２からの帯状投光とナイフマークＸの断面形
状とが合致し、ナイフマークＸの検出を確実に行
うことができるものであり、これにより実質的に
検出ミスを生じることなくナイフマークＸの発生
を適確に検知できるものである。
第５図は本発明実施例の斜視図を示し、前記第１
図従来例の装置に対し、投光器２からの帯状投光
がスライス単板１に入射する入射部に垂直な面を
中心として上記投光器２と面対称に別の投光器２
Ａを配置し、スライス単板１移送方向の受光器３
に対する前方及び信号に夫々投光器２及び２Ａが
配置されるようにしたものであり、両投光器２，
２Ａからの帯状投光のスライス単板１表面での反
射光は従来例と同一構成の単一の受光器３で受光
できるようにしてある。かくて上記実施例にあつ
ては、連続して順次送られてくる各スライス単板
１に対し上記両投光器２，２ａからの投光を交互
に行うようにし、この投光による反射光を受光器
３で受光検出してナイフマークＸの検出を行うの
である。ここで一般に一枚のスライス単板１にナ
イフマークＸが発生すると、これに続く次のスラ
イス単板１にも同一形状のナイフマークＸが発生
するものであるから、仮にナイフマークＸがある
一枚目のスライス単板１において投光器２又は２
ａからの帯状投光の投光方向とスライス単板１上
のナイフマークＸの断面形状とが合致せず、ナイ
フマークＸの検出ミスを生じた場合においても、
次に移送されてきたスライス単板１においては投
光状態の投光器２，２Ａが切り換り、投光器２Ａ
又は２からの帯状投光とナイフマークＸの断面形
状とが合致し、ナイフマークＸの検出を確実に行
うことができるものであり、これにより実質的に
検出ミスを生じることなくナイフマークＸの発生
を適確に検知できるものである。
本発明は、上述のように２個の投光器を順次送
られてくるスライス単板毎に交互に投光するよう
にしただけであるから、本発明は、コンベア上に
流れてくるスライス単板にナイフマークが発生し
た場合、このナイフマークと同一形状のナイフマ
ークを有するスライス単板が複数枚必ず続いてく
ることに着目することにより、単に投光器からの
投光を交互に切り換えるという簡便な方法で、ス
ライス単板の移送方向あるいは逆移送方向に深い
切り込みを有するナイフマークであつても確実に
検出できる効果を奏するものである。
られてくるスライス単板毎に交互に投光するよう
にしただけであるから、本発明は、コンベア上に
流れてくるスライス単板にナイフマークが発生し
た場合、このナイフマークと同一形状のナイフマ
ークを有するスライス単板が複数枚必ず続いてく
ることに着目することにより、単に投光器からの
投光を交互に切り換えるという簡便な方法で、ス
ライス単板の移送方向あるいは逆移送方向に深い
切り込みを有するナイフマークであつても確実に
検出できる効果を奏するものである。
更に第２発明にあつては、上述のように構成し
たものであるから、実質的に従来装置に１個の投
光器を追加配置するだけでナイフマークの検出ミ
スをなくすことができ、しかも、２つの投光器と
１つの受光器でもつて同一の箇所に両側から投光
する場合や、同時に両側から投光を行なう場合に
は、投光するための制御方法、反射光の信号処理
方法、更には、同時に両側から投光した場合のナ
イフマークのはつきりしない明暗による受光器の
構成が複雑となるものであるが、本発明は、コン
ベア上に流れてくるスライス単板にナイフマーク
が発生した場合、このナイフマークと同一形状の
ナイフマークを有するスライス単板が複数枚必ず
続いてくることに着目して、２つの投光器と共用
する１つの受光器により、順次送られてくるスラ
イス単板毎に交互に異なる方向から投光するだけ
であるから、信号処理の構成が非常に簡単とな
り、そのため、装置の配設スペースも小さくで
き、装置のコストも安価にできる効果を奏するも
のである。
たものであるから、実質的に従来装置に１個の投
光器を追加配置するだけでナイフマークの検出ミ
スをなくすことができ、しかも、２つの投光器と
１つの受光器でもつて同一の箇所に両側から投光
する場合や、同時に両側から投光を行なう場合に
は、投光するための制御方法、反射光の信号処理
方法、更には、同時に両側から投光した場合のナ
イフマークのはつきりしない明暗による受光器の
構成が複雑となるものであるが、本発明は、コン
ベア上に流れてくるスライス単板にナイフマーク
が発生した場合、このナイフマークと同一形状の
ナイフマークを有するスライス単板が複数枚必ず
続いてくることに着目して、２つの投光器と共用
する１つの受光器により、順次送られてくるスラ
イス単板毎に交互に異なる方向から投光するだけ
であるから、信号処理の構成が非常に簡単とな
り、そのため、装置の配設スペースも小さくで
き、装置のコストも安価にできる効果を奏するも
のである。
第１図は従来例の斜視図、第２図乃至第４図
ａ，ｂは夫々異なる断面形状を有するナイフマー
クの検出動作を説明するスライス単板の拡大断面
図及び受光器の受光輝度レベル特性図、第５図は
本発明一実施例の斜視図であり、１はスライス単
板、２，２Ａは投光器、３は受光器、Ｘはナイフ
マークである。
ａ，ｂは夫々異なる断面形状を有するナイフマー
クの検出動作を説明するスライス単板の拡大断面
図及び受光器の受光輝度レベル特性図、第５図は
本発明一実施例の斜視図であり、１はスライス単
板、２，２Ａは投光器、３は受光器、Ｘはナイフ
マークである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ スライス単板の移送路上の投光器より帯状の
投光をスライス単板に対し浅い角度で照射し、上
記帯状の投光のスライス単板への入射部の直上方
に配置したライン状の受光器へ反射光を入光せし
めるようにし、この受光器配設部に対しスライス
単板移送方向の前方及び後方に夫々配置した投光
器より、順次送られてくるスライス単板毎に交互
に投光を行い、これら両投光器からの投光の反射
光を上記受光器で受光して受光光量の変化により
ナイフマークを検出するようにしたことを特徴と
するナイフマーク検査方法。 ２ スライス単板の移送路上に投光器を配置して
帯状の投光をスライス単板に対し浅い角度で照射
し、上記帯状の投光のスライス単板への入射部の
直上方にライン状の受光器を配置し、この受光器
への入射光量の変化によりナイフマークを検出す
るようにしたナイフマーク検査機において、受光
器配設部に対しスライス単板移送方向の前方及び
後方に夫々投光器を配設し、順次送られてくるス
ライス単板毎に上記両投光器より交互に投光され
た反射光を受光検出する受光器を設けて成ること
を特徴とするナイフマーク検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17536881A JPS5876706A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17536881A JPS5876706A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876706A JPS5876706A (ja) | 1983-05-09 |
| JPS6322523B2 true JPS6322523B2 (ja) | 1988-05-12 |
Family
ID=15994864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17536881A Granted JPS5876706A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876706A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249856A (en) * | 1975-10-17 | 1977-04-21 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | Display device for surface of steel |
| JPS55158505A (en) * | 1979-05-28 | 1980-12-10 | Matsushita Electric Works Ltd | Knifed mark inspector |
-
1981
- 1981-10-31 JP JP17536881A patent/JPS5876706A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249856A (en) * | 1975-10-17 | 1977-04-21 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | Display device for surface of steel |
| JPS55158505A (en) * | 1979-05-28 | 1980-12-10 | Matsushita Electric Works Ltd | Knifed mark inspector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5876706A (ja) | 1983-05-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5610826B2 (ja) | 画像読取装置 | |
| JP6167821B2 (ja) | 検査装置 | |
| EP2866059B1 (en) | Limited-Area reflection type optical sensor and electronic device | |
| US6521905B1 (en) | Method and device for detecting the position of a transparent moving conveyor belt | |
| US6130437A (en) | Sensor and detection system having wide diverging beam optics | |
| JPS6234096B2 (ja) | ||
| US5737096A (en) | Light illumination assembly having a tapered light guide plate for an optical reading unit | |
| US5932888A (en) | Web or sheet edge position measurement process and device | |
| JPH0415433B2 (ja) | ||
| JPS6322523B2 (ja) | ||
| CA1220260A (en) | Paper hole detecting apparatus | |
| GB2041198A (en) | Device for detecting the faulty splicing of film strips | |
| JPS6351482B2 (ja) | ||
| JPS6351481B2 (ja) | ||
| JP2911762B2 (ja) | 紙端部検知装置 | |
| JP2004205361A (ja) | 物体検出方法 | |
| JPS5875049A (ja) | ナイフマ−ク検査装置 | |
| JPH08122058A (ja) | 物体端位置検出センサー | |
| JPH06222156A (ja) | 物体検知装置 | |
| JPS6213617B2 (ja) | ||
| JPH0694438A (ja) | 光切断法による外観検査装置 | |
| JPH1196812A (ja) | 欠陥検出用の照明装置 | |
| JPH09257413A (ja) | 外周位置検出装置および方法 | |
| JPH0761824B2 (ja) | シ−ト状部材の幅検出装置 | |
| JPS6362026B2 (ja) |