JPS6351482B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6351482B2 JPS6351482B2 JP17537281A JP17537281A JPS6351482B2 JP S6351482 B2 JPS6351482 B2 JP S6351482B2 JP 17537281 A JP17537281 A JP 17537281A JP 17537281 A JP17537281 A JP 17537281A JP S6351482 B2 JPS6351482 B2 JP S6351482B2
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- JP
- Japan
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- light
- sliced veneer
- knife
- knife mark
- receiver
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Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000010606 normalization Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacture Of Wood Veneers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスライサの刃こぼれや異物のつまり等
によつてスライス単板表面に生じるナイフマーク
を検出するためのナイフマーク検査機に関するも
のである。
によつてスライス単板表面に生じるナイフマーク
を検出するためのナイフマーク検査機に関するも
のである。
第１図は従来のナイフマーク検査機を示し、ス
ライス単板１の移送路上に、帯状の投光をスライ
ス単板１に対し浅い角度で照射するように投光器
２を配置するとともに、この投光器２からの帯状
の投光がスライス単板１表面に入射する部分の直
上方に、ライン状の受光部を有する受光器３を配
置してある。ここで受光器３は第１スリツト板４
とシリンドリカルレンズ５と第２スリツト板６と
光電子増倍管のような受光素子７とから構成さ
れ、帯状投光がスライス単板１に入射するライン
状の入射部からの反射光がその全長に亘つて受光
素子７に入射されるようにしてある。かくてこの
従来のナイフマーク検査機にあつては、スライス
単板１を順次連続的に移送している状態で、受光
器３により投光器２からの帯状投光のスライス単
板１表面での反射光を受光し、この受光光量の変
化によりナイフマークＸを検出するのである。
ライス単板１の移送路上に、帯状の投光をスライ
ス単板１に対し浅い角度で照射するように投光器
２を配置するとともに、この投光器２からの帯状
の投光がスライス単板１表面に入射する部分の直
上方に、ライン状の受光部を有する受光器３を配
置してある。ここで受光器３は第１スリツト板４
とシリンドリカルレンズ５と第２スリツト板６と
光電子増倍管のような受光素子７とから構成さ
れ、帯状投光がスライス単板１に入射するライン
状の入射部からの反射光がその全長に亘つて受光
素子７に入射されるようにしてある。かくてこの
従来のナイフマーク検査機にあつては、スライス
単板１を順次連続的に移送している状態で、受光
器３により投光器２からの帯状投光のスライス単
板１表面での反射光を受光し、この受光光量の変
化によりナイフマークＸを検出するのである。
ところがかかる従来例にあつては、第２図ａに
示すような対称な断面形状ナイフマークＸの場
合、同図ｂのように輝度レベルの上昇を伴う反射
光が得られて適確なナイフマークＸの検出が可能
である他、第３図ａに示すような投光側に深い切
り込みを有する断面形状のナイフマークＸの場合
も同図ｂのような輝度レベルの上昇があつてナイ
フマークＸの検出ができるのであるが、第４図ａ
に示すような反投光側に深い切り込みを有する断
面形状のナイフマークＸの場合、同図ｂに示すよ
うに反射光の輝度レベルの上昇が極めて小さく、
ナイフマークＸの検出が非常に困難である問題が
あつた。
示すような対称な断面形状ナイフマークＸの場
合、同図ｂのように輝度レベルの上昇を伴う反射
光が得られて適確なナイフマークＸの検出が可能
である他、第３図ａに示すような投光側に深い切
り込みを有する断面形状のナイフマークＸの場合
も同図ｂのような輝度レベルの上昇があつてナイ
フマークＸの検出ができるのであるが、第４図ａ
に示すような反投光側に深い切り込みを有する断
面形状のナイフマークＸの場合、同図ｂに示すよ
うに反射光の輝度レベルの上昇が極めて小さく、
ナイフマークＸの検出が非常に困難である問題が
あつた。
本発明は上述の点に鑑みて提供したものであつ
て、コンベア上を流れてくるスライス単板にナイ
フマークが発生した場合、このナイフマークと同
一形状のナイフマークを有するスライス単板が複
数枚必らず続いてくることに着目し、ナイフマー
ク発生を見逃すことなく確実に検出でき、しかも
２台の投光器により互いに反対方向から投光する
ことによる検出出力の極性の反転にも適確に対応
した信号処理回路を構成して誤動作のおそれをな
くし、構造簡単で安価なナイフマーク検査機を提
供することを目的とするものである。
て、コンベア上を流れてくるスライス単板にナイ
フマークが発生した場合、このナイフマークと同
一形状のナイフマークを有するスライス単板が複
数枚必らず続いてくることに着目し、ナイフマー
ク発生を見逃すことなく確実に検出でき、しかも
２台の投光器により互いに反対方向から投光する
ことによる検出出力の極性の反転にも適確に対応
した信号処理回路を構成して誤動作のおそれをな
くし、構造簡単で安価なナイフマーク検査機を提
供することを目的とするものである。
以下本発明の一実施例を図面により詳述する。
第５図は本発明実施例の斜視図を示し、前記第１
図従来例の装置に対し、投光器２からの帯状投光
がスライス単板１に入射する入射部に垂直な面を
中心として上記投光器２と面対称に別の投光器２
Ａを配置し、スライス単板１移送方向の受光器３
に対する前方及び後方に夫々投光器２及び２Ａが
配置されるようにしたものであり、両投光器２，
２Ａからの帯状投光のスライス単板１表面での反
射光は従来例と同一構成の単一の受光器３で受光
できるようにしてある。かくて上記実施例にあつ
ては、連続して順次送られてくる各スライス単板
１に対し上記両投光器２，２Ａからの投光を交互
に行なうようにし、この投光による反射光を受光
器３で受光検出してナイフマークＸの検出を行な
うのである。ここで一般に一枚のスライス単板１
にナイフマークＸが発生すると、これに続く次の
スライス単板１にも同一形状のナイフマークＸが
発生するものであるから、仮にナイフマークＸが
ある一枚目のスライス単位１において投光器２又
は２Ａからの帯状投光の投光方向とスライス単板
１上のナイフマークＸの断面形状とが合致せず、
ナイフマークＸの検出ミスを生じた場合において
も、次に移送されてきたスライス単板１において
は投光状態の投光器２，２Ａが切り換り、投光器
２Ａ又は２からの帯状投光とナイフマークＸの断
面形状とが合致し、ナイフマークＸの検出を行な
うことが可能になるのである。従つて受光器３の
出力をハイパスフイルタ８を介して２値化回路９
に入力することにより、この２値化回路９出力と
してナイフマークＸの有無についてのデータを得
ることができるのであるが、スライス単板１が移
動状態のままでナイフマークＸの検出が行なわれ
るため、投光器２又は２Ａからの投光方向がスラ
イス単板１の移送方向に対して同方向か反対方向
かにより、第６図、第７図に示すように同一断面
形状のナイフマークＸであつてもハイパスフイル
タ８の出力の極性に正負の差異を生じる。即ち第
６図及び第７図においてａはスライス単板１の断
面形状、ｂは受光器２出力、ｃはハイパスフイル
タ８の出力を夫々示すものであるが、スライス単
板１表面での反射光による誤動作成分を除去する
ためのハイパスフイルタ８の出力は、投光方向が
スライス単板１の移送方向と同方向のとき第６図
ｃのように正方向にピークを持つて大きく変化
し、逆に投光方向がスライス単板１の移送方向と
逆方向のとき、第７図ｃに示すように負方向にピ
ークを持つて大きく変化する。従つてこのハイパ
スフイルタ８の出力をそのまま２値化回路９に入
力すると、投光器２による検出動作時と投光器２
Ａによる検出動作時とではその検出動作レベルに
差異が生じ、条件によつては検出ミスを生じる場
合もあるという問題がある。そこで本発明にあつ
ては、第８図に示すようにハイパスフイルタ８の
出力を振分け回路１０に入力して投光器２の場合
の出力信号と投光器２Ａの場合の出力信号とに振
り分け、投光器２による投光を使用したときのハ
イパスフイルタ８の出力信号の場合には振分け回
路１０よりそのまま〔正転して〕２値化回路９に
入力し、投光器２Ａによる投光を使用したときの
ハイパスフイルタ８の出力信号の場合には振分け
回路１０より反転回路１１に入力し、反転回路１
１で正負逆転した信号を２値化回路９に入力する
ことになるものである。従つて２値化回路９には
投光器２，２Ａいずれを使用している場合にも、
同一レベルの信号が入力することになり、検出ミ
スを生じるおそれを大巾に低減できるものであ
る。
第５図は本発明実施例の斜視図を示し、前記第１
図従来例の装置に対し、投光器２からの帯状投光
がスライス単板１に入射する入射部に垂直な面を
中心として上記投光器２と面対称に別の投光器２
Ａを配置し、スライス単板１移送方向の受光器３
に対する前方及び後方に夫々投光器２及び２Ａが
配置されるようにしたものであり、両投光器２，
２Ａからの帯状投光のスライス単板１表面での反
射光は従来例と同一構成の単一の受光器３で受光
できるようにしてある。かくて上記実施例にあつ
ては、連続して順次送られてくる各スライス単板
１に対し上記両投光器２，２Ａからの投光を交互
に行なうようにし、この投光による反射光を受光
器３で受光検出してナイフマークＸの検出を行な
うのである。ここで一般に一枚のスライス単板１
にナイフマークＸが発生すると、これに続く次の
スライス単板１にも同一形状のナイフマークＸが
発生するものであるから、仮にナイフマークＸが
ある一枚目のスライス単位１において投光器２又
は２Ａからの帯状投光の投光方向とスライス単板
１上のナイフマークＸの断面形状とが合致せず、
ナイフマークＸの検出ミスを生じた場合において
も、次に移送されてきたスライス単板１において
は投光状態の投光器２，２Ａが切り換り、投光器
２Ａ又は２からの帯状投光とナイフマークＸの断
面形状とが合致し、ナイフマークＸの検出を行な
うことが可能になるのである。従つて受光器３の
出力をハイパスフイルタ８を介して２値化回路９
に入力することにより、この２値化回路９出力と
してナイフマークＸの有無についてのデータを得
ることができるのであるが、スライス単板１が移
動状態のままでナイフマークＸの検出が行なわれ
るため、投光器２又は２Ａからの投光方向がスラ
イス単板１の移送方向に対して同方向か反対方向
かにより、第６図、第７図に示すように同一断面
形状のナイフマークＸであつてもハイパスフイル
タ８の出力の極性に正負の差異を生じる。即ち第
６図及び第７図においてａはスライス単板１の断
面形状、ｂは受光器２出力、ｃはハイパスフイル
タ８の出力を夫々示すものであるが、スライス単
板１表面での反射光による誤動作成分を除去する
ためのハイパスフイルタ８の出力は、投光方向が
スライス単板１の移送方向と同方向のとき第６図
ｃのように正方向にピークを持つて大きく変化
し、逆に投光方向がスライス単板１の移送方向と
逆方向のとき、第７図ｃに示すように負方向にピ
ークを持つて大きく変化する。従つてこのハイパ
スフイルタ８の出力をそのまま２値化回路９に入
力すると、投光器２による検出動作時と投光器２
Ａによる検出動作時とではその検出動作レベルに
差異が生じ、条件によつては検出ミスを生じる場
合もあるという問題がある。そこで本発明にあつ
ては、第８図に示すようにハイパスフイルタ８の
出力を振分け回路１０に入力して投光器２の場合
の出力信号と投光器２Ａの場合の出力信号とに振
り分け、投光器２による投光を使用したときのハ
イパスフイルタ８の出力信号の場合には振分け回
路１０よりそのまま〔正転して〕２値化回路９に
入力し、投光器２Ａによる投光を使用したときの
ハイパスフイルタ８の出力信号の場合には振分け
回路１０より反転回路１１に入力し、反転回路１
１で正負逆転した信号を２値化回路９に入力する
ことになるものである。従つて２値化回路９には
投光器２，２Ａいずれを使用している場合にも、
同一レベルの信号が入力することになり、検出ミ
スを生じるおそれを大巾に低減できるものであ
る。
第９図は本発明の、スライス単板１表面の差異
に適合した検出動作レベルの設定を可能にした他
の実施例を示すものである。第８図実施例のもの
においてハイパスフイルタ８の出力を正転又は反
転した信号を２値化回路９に入力するに際し、ス
ライス単板１の表面状態に応じた正規化のための
割算部１２を介して入力するようにしたものであ
る。かくて割算部１２は振分け回路１０側からの
入力をｘとし、ローパスフイルタ１３からの入力
をｙとしたとき、ｘ／ｙの演算動作を行なうもの
であり、ローパスフイルタ１３はスライス単板１
の全体的な表面状態についての情報を出力してく
るため、上記ｘ／ｙの演算動作によりスライス単
板１の模様や色調等による表面状態に応じて検出
信号の正規化が行なわれることになり、スライス
単板１の表面状態が変化しても常に一定のレベル
の信号が２値化回路９に送られ、ナイフマークＸ
の有無を判別する２値化信号が出力されることに
なる。従つて上述の正、反転された出力信号をス
ライス単板１の地肌の違いにより正規化処理した
ものであるから、スライス単板１の表面状態が多
種にわたるような場合においても常に一定のレベ
ルでナイフマークの検出判別を行なうことができ
るものである。
に適合した検出動作レベルの設定を可能にした他
の実施例を示すものである。第８図実施例のもの
においてハイパスフイルタ８の出力を正転又は反
転した信号を２値化回路９に入力するに際し、ス
ライス単板１の表面状態に応じた正規化のための
割算部１２を介して入力するようにしたものであ
る。かくて割算部１２は振分け回路１０側からの
入力をｘとし、ローパスフイルタ１３からの入力
をｙとしたとき、ｘ／ｙの演算動作を行なうもの
であり、ローパスフイルタ１３はスライス単板１
の全体的な表面状態についての情報を出力してく
るため、上記ｘ／ｙの演算動作によりスライス単
板１の模様や色調等による表面状態に応じて検出
信号の正規化が行なわれることになり、スライス
単板１の表面状態が変化しても常に一定のレベル
の信号が２値化回路９に送られ、ナイフマークＸ
の有無を判別する２値化信号が出力されることに
なる。従つて上述の正、反転された出力信号をス
ライス単板１の地肌の違いにより正規化処理した
ものであるから、スライス単板１の表面状態が多
種にわたるような場合においても常に一定のレベ
ルでナイフマークの検出判別を行なうことができ
るものである。
本発明は上述のように構成したものであるか
ら、実質的に従来装置に１個の投光器を追加配置
するだけでナイフマークの検出ミスをなくすこと
ができ、投光部のみを２個として受光器は１個で
共用しているため、装置の配設スペースも小さく
でき、装置のコストも安価にできる効果を有し、
しかも投光器の切り換え動作に同期して受光器出
力の正転、反転動作を交互に切り換えるようにし
たので、投光方向が正反方向に交互に切り換えら
れることによる受光信号の変化分の極性の相違に
も適確に対応でき、検出ミスを生じることなく確
実なナイフマーク検出が可能になる効果を奏す
る。
ら、実質的に従来装置に１個の投光器を追加配置
するだけでナイフマークの検出ミスをなくすこと
ができ、投光部のみを２個として受光器は１個で
共用しているため、装置の配設スペースも小さく
でき、装置のコストも安価にできる効果を有し、
しかも投光器の切り換え動作に同期して受光器出
力の正転、反転動作を交互に切り換えるようにし
たので、投光方向が正反方向に交互に切り換えら
れることによる受光信号の変化分の極性の相違に
も適確に対応でき、検出ミスを生じることなく確
実なナイフマーク検出が可能になる効果を奏す
る。
第１図は従来例の斜視図、第２図乃至第４図
ａ，ｂは夫々異なる断面形状を有するナイフマー
クの検出動作を説明するスライス単板の拡大断面
図及び受光器の受光輝度レベル特性図、第５図は
本発明一実施例の斜視図、第６図及び第７図ａ〜
ｃは本発明の投光方向が互いに異なる場合の動作
説明図であつて夫々ａはナイフマーク断面に対す
る投光状態の説明図、ｂは受光素子の出力特性
図、ｃはハイパスフイルタの出力特性図、第８図
は本発明実施例のブロツク図、第９図は本発明の
他の実施例のブロツク図であり、１はスライス単
板、２，２Ａは投光器、３は受光器、Ｘはナイフ
マークである。
ａ，ｂは夫々異なる断面形状を有するナイフマー
クの検出動作を説明するスライス単板の拡大断面
図及び受光器の受光輝度レベル特性図、第５図は
本発明一実施例の斜視図、第６図及び第７図ａ〜
ｃは本発明の投光方向が互いに異なる場合の動作
説明図であつて夫々ａはナイフマーク断面に対す
る投光状態の説明図、ｂは受光素子の出力特性
図、ｃはハイパスフイルタの出力特性図、第８図
は本発明実施例のブロツク図、第９図は本発明の
他の実施例のブロツク図であり、１はスライス単
板、２，２Ａは投光器、３は受光器、Ｘはナイフ
マークである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ スライス単板の移送路上に投光器を配置して
帯状の投光をスライス単板に対し浅い角度で照射
し、上記帯状の投光のスライス単板への入射部の
直上方にライン状の受光器を配置し、この受光器
への入射光量の変化によりナイフマークを検出す
るようにしたナイフマーク検査機において、受光
器配設部に対しスライス単板移送方向の前方及び
後方に夫々投光器を配置してこれら両投光器から
の投光の反射光を上記受光器で検出できるように
し、順次送られてくるスライス単板毎に上記両投
光器より交互に投光を行なうとともに、上記投光
器の切り換え動作に同期して受光器出力の正転、
反転された信号を２値化して成ることを特徴とす
るナイフマーク検査機。 ２ 上記投光器の切り換え動作に同期して受光器
出力の正転、反転動作を交互に切り換え、この
正、反転された出力信号をスライス単板の地肌の
違いにより正規化処理し、この正規化処理された
信号を２値化して成ることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載のナイフマーク検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17537281A JPS5876709A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17537281A JPS5876709A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876709A JPS5876709A (ja) | 1983-05-09 |
| JPS6351482B2 true JPS6351482B2 (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=15994939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17537281A Granted JPS5876709A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876709A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59167866A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気録画再生装置のテ−プ停止位置検知装置 |
| JPS59167865A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気録画再生装置のテ−プ停止位置検知装置 |
| JPS59201258A (ja) * | 1983-04-29 | 1984-11-14 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気テ−プ停止位置検知装置 |
-
1981
- 1981-10-31 JP JP17537281A patent/JPS5876709A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5876709A (ja) | 1983-05-09 |
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