JPS6351481B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスライサの刃こぼれや異物のつまり等
によつてスライス単板表面に生じるナイフマーク
を検出するためのナイフマーク検査機に関するも
のである。

第１図は発明者が発明した前提となるナイフマ
ーク検査機を示し、スライス単板１の移送路上
に、帯状の投光をスライス単板１に対し浅い角度
で照射するように投光器２を配置するとともに、
この投光器２からの帯状の投光がスライス単板１
表面に入射する部分の直上方に、ライン状の受光
部を有する受光器３を配置してある。またこの投
光器２からの帯状投光がスライス単板１に入射す
る入射部に垂直な面を中心として上記投光器２と
面対称に別の投光器２Ａを配置し、スライス単板
１移送方向の受光器３に対する前方及び後方に
夫々投光器２及び２Ａが配置されている。ここで
受光器３は第１スリツト板４とシリンドリカルレ
ンズ５と第２スリツト板６と光電増倍管のような
受光素子７とから構成され、帯状投光がスライス
単板１に入射するライン状の入射部からの反射光
がその全長に亘つて受光素子７に入射されるよう
にしてある。両投光器２，２Ａからの帯状投光の
スライス単板１表面での反射光は単一の受光器３
で受光できるようにしてある。

かくてこのナイフマーク検査機にあつては、連
続して順次送られてくる各スライス単板１に対し
上記両投光器２，２Ａからの投光を交互に行なう
うようにし、この投光による反射光を受光器３で
受光検出してナイフマークＸの検出を行なうので
ある。ここで一般に一枚のスライス単板１にナイ
フマークＸが発生すると、これに続く次のスライ
ス単板１にも同一形状のナイフマークＸが発生す
るものであるから、仮にナイフマークＸがある一
枚目のスライス単板１において投光器２又は２Ａ
からの帯状投光の投光方向とスライス単板１上の
ナイフマークＸの断面形状とが合致せず、ナイフ
マークＸの検出ミスを生じた場合においても、次
に移送されてきたスライス単板１においては投光
状態の投光器２，２Ａが切り換り、投光器２Ａ又
は２からの帯状投光とナイフマークＸの断面形状
とが合致し、ナイフマークＸの検出を行なうこと
が可能になるのである。従つて受光器３の出力を
ハイパスフイルタ８を介して２値化回路９に入力
することにより、この２値化回路９出力としてナ
イフマークＸの有無についてのデータを得ること
ができるのであるが、スライス単板１が移動状態
のままでナイフマークＸの検出が行なわれるた
め、投光器２又は２Ａからの投光方向がスライス
単板１の移送方向に対して同方向か反対方向かに
より、第２図、第３図に示すように同一断面形状
のナイフマークＸであつてもハイパスフイルタ８
の出力の極性に正負の差異を生じる。即ち第２図
及び第３図においてａはスライス単板１の断面形
状、ｂは受光器２出力、ｃはハイパスフイルタ８
の出力を夫々示すものであるが、スライス単板１
表面での反射光による誤動作成分を除去するため
のハイパスフイルタ８の出力は、投光方向がスラ
イス単板１の移送方向と同方向のとき第２図ｃの
ように正方向にピークを持つて大きく変化し、逆
に投光方向がスライス単板１の移送方向と逆方向
のとき、第３図ｃに示すように負方向にピークを
持つて大きく変化する。従つてこのハイパスフイ
ルタ８の出力をそのまま２値化回路９に入力する
と、投光器２による検出動作時と投光器２Ａによ
る検出動作時とではその検出動作レベルに差異が
生じ、条件によつては検出ミスを生じる場合もあ
るという問題がある。そこでこのナイフマーク検
査機にあつては、第４図に示すようにハイパスフ
イルタ８の出力を振分け回路１０に入力して投光
器２の場合の出力信号と投光器２Ａの場合の出力
信号とに振り分け、投光器２による投光を使用し
たときのハイパスフイルタ８の出力信号の場合に
は振分け回路１０よりそのまま〔正転して〕２値
化回路９に入力し、投光器２Ａによる投光を使用
したときのハイパスフイルタ８の出力信号の場合
には振分け回路１０より反転回路１１に入力し、
反転回路１１で正負逆転した信号を２値化回路９
に入力することになるものである。従つて２値化
回路９には投光器２，２Ａいずれかを使用してい
る場合のも、同一レベルの信号が入力することに
なり、検出ミスを生じるおそれを大巾に低減でき
るものである。しかしながらかかる場合において
は、振分け回路１０や反転回路１１等の回路構成
が複雑になり部品点数が多くなるという問題があ
つた。

本発明は上述の点に鑑みて提供したものであつ
て、ナイフマークを検査する際における投光器か
らの投光方向の違いによるナイフマーク検出信号
の出力差を吸収処理する回路を簡便にするととも
にナイフマークの検出漏れを防止することを目的
としたナイフマーク検査機を提供するものであ
る。

以下本発明の一実施例を図面により詳述する。
投光器２，２Ａや受光器３の構成は前述と同様に
してあり、受光素子７からの出力信号を処理する
ブロツク図を第５図に示す。即ち、前述の第４図
における振分け回路１０と反転回路１１との代わ
りに１回路からなる絶対値回路１５を挿入接続し
たものである。両投光器２，２Ａから投光されて
スライス単板の表面にて反射された反射光は、ナ
イフマークＸを検出すると夫々正方向、負方向に
大きなピークを持つてハイパスフイルタ８から電
気信号が出力される。この正方向、負方向のピー
クを持つた信号は絶対値回路１５で夫々絶対値で
もつて信号が出力され、次段の２値化回路９へ入
力される。従つて２値化回路９には投光器２，２
Ａいずれを使用している場合にも、同一レベルの
信号が入力することになり、検出ミスを生じるお
それを大巾に低減できるものである。しかも投光
方向の違いによる出力差を１個の絶対値回路１５
で吸収処理できて構成が簡便となるものである。

第６図は他の実施例を示し、第４図実施例のも
のにおいてハイパスフイルタ８の出力を絶対値化
した信号を２値化回路９に入力するに際し、スラ
イス単板１の表面状態に応じた正規化のための割
算部１２を介して入力するようにしたものであ
る。かくて割算部１２は絶対値回路１５側からの
入力をｘとし、ローパスフイルタ１３からの入力
をｙとしたとき、ｘ／ｙの演算動作を行なうもの
であり、ローパスフイルタ１３はスライス単板１
の全体的な表面状態についての情報を出力してく
るため、上記ｘ／ｙの演算動作によりスライス単
板１の模様や色調等による表面状態に応じて検出
信号の正規化が行なわれることになり、スライス
単板１の表面状態が変化しても常に一定のレベル
の信号が２値化回路９に送られ、ナイフマークＸ
の有無を判別する２値化信号が出力されることに
なる。従つて上述の絶対値化された出力信号をス
ライス単板１の地肌の違いにより正規化処理した
ものであるから、スライス単板１の表面状態が多
種にわたるような場合においても常に一定のレベ
ルでナイフマークＸの検出判別を行なうことがで
きるものである。

本発明は上述のように、投光器から交互に投光
されてその反射光の受光器における光量変化に対
応する出力信号を絶対値化する絶対値回路を形成
し、この絶対値回路からの信号を２値化するよう
にしたので、投光方向の違いによる反射光の受光
器からの出力信号を、正方向、負方向に夫々ピー
クを持つていたのを振分け回路と反転回路とで吸
収処理していた場合と比べ、１個の絶対値回路で
構成してあるから、部品点数が少なく、回路を複
雑にすることなく投光方向によるナイフマークの
見逃しを解消することができる効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は前提となるナイフマーク検査機の斜視
図、第２図及び第３図ａ〜ｃは同上の投光方向が
互いに異なる場合の動作説明図であつて夫々ａは
ナイフマーク断面に対する投光状態の説明図、ｂ
は受光素子の出力特性図、ｃはハイパスフイルタ
の出力特性図、第４図は同上の改良したブロツク
図、第５図は本発明の一実施例のブロツク図、第
６図は同上の他の実施例のブロツク図で、１はス
ライス単板、２，２Ａは投光器、３は受光器、１
５は絶対値回路、Ｘはナイフマークである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ スライス単板の移送路上に投光器を配置して
   帯状の投光をスライス単板に対し浅い角度で照射
   し、上記帯状の投光のスライス単板への入射部の
   直上方にライン状の受光器を配置し、受光器配設
   部に対しスライス単板移送方向の前方及び後方に
   夫々投光器を配置し、順次送られてくるスライス
   単板毎に上記両投光器より交互に投光を行ない、
   この投光の反射光に対応する受光器への入射光量
   の変化によりナイフマークを検出するようにした
   ナイフマーク検査機において、投光器からの交互
   に投光されてその反射光の光量変化に対応する出
   力信号を絶対値化する絶対値回路を形成し、この
   絶対値回路からの信号を２値化して成ることを特
   徴とするナイフマーク検査機。 ２ 絶対値回路からの信号を、スライス単板の地
   肌の違いにより正規化処理し、この正規化処理さ
   れた信号を２値化して成ることを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載のナイフマーク検査機。