JPS63216350A - 電子部品の樹脂封止法 - Google Patents

電子部品の樹脂封止法

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Publication number
JPS63216350A
JPS63216350A JP5061387A JP5061387A JPS63216350A JP S63216350 A JPS63216350 A JP S63216350A JP 5061387 A JP5061387 A JP 5061387A JP 5061387 A JP5061387 A JP 5061387A JP S63216350 A JPS63216350 A JP S63216350A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead
cavity
sealing
plastic
Prior art date
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Pending
Application number
JP5061387A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Hayakawa
誠 早川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP5061387A priority Critical patent/JPS63216350A/ja
Publication of JPS63216350A publication Critical patent/JPS63216350A/ja
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は樹脂モールド電子部品の樹脂封止法、特にリー
ドフレーム上に組立てられた電子部品の樹脂封止法に関
する。
〔従来の技術〕
従来、IC等の電子部品のトランスファーモールド法に
よる84脂封止では、リードフレーム上に接着され、微
細金線により各リードとの間を接続されたICチップを
、樹脂封止金型のキャビティ上に載置し、注入された樹
脂により周囲の微細配線部とともに封止していた。妖合
したときの封止金型とリードフレームの断面図を第6図
に示す。
この図は、本発明に係る第2図に示すAA’断面と、同
じ向きの断面として示したものである。
先端に微細配線がされた各リード2は金型のキャビティ
部7の外周で上型5と下型6の平坦面によりクランプさ
れる。また各リード2は、キャビティ部7の外側でその
間をタイバー4により連結されたリードフレーム全構成
している。したがって、金型のキャビティ部7に注入さ
nた樹脂は各リード2間に構成嘔nる隙間を通りキャビ
ティ部7の外に流出し、タイバー4により塞き止められ
る。
このキャビティ部7から流出する余剰の樹脂かすけ後工
程で機械的に打抜き除去さ扛る。この後工程を省くため
余剰の樹脂かすの流出を防止する方法として、第7図に
示す様にタイバー4の内側の樹脂流出部(以下ではダム
部11という)に相当する位置に金型、上型5もしくは
下型6上に突起12を設ける改良方法も近年試みられて
いる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述したリードフレームのタイバー内りA 部に流出し
た樹脂かすは、通常櫛歯形状をした精密な樹脂抜金型を
使用して機械的に打抜き除去きれる。しかし微細な樹脂
片を残さず完全に除去するのは非常に困難であり、特に
エツチングリードフレームの場合、リードの側面にエツ
チング加工時に生じた凹凸が出来るため、樹脂抜金型に
より完全にこの樹脂かすを除去することは出来ない。
第7図に示す封止金型に突起を設はダム部を塞いだ改良
方式にも、リードと封止金型の突起とのすき間に樹脂が
流出するので、程度の差はあるが問題の解決にはならな
い。
この様に微細な樹脂片がリード側面に付着して残ると、
後のリード成形工程に、この樹脂片が分離されリード表
面への樹脂かす打ち込み又は打痕の発生を起こすことに
なる。
また、従来の樹脂封止法のもう一つの欠点は金型表面の
平坦度とリードフレーム板厚のバラツキにより生じるわ
ずかのすき間にもキャビティから樹脂が流出し、リード
表面上に樹脂薄膜を生じることである。したがって、後
のリード表面へのメッキ工程の前に、リード表面からこ
の樹脂薄膜を取シ除くために、化学処理や高圧水等によ
る機械的除去工程が必要となる。これは製造コストの増
加になるばかりでなく、処理法によっては電子部品の品
質および信頼性′!i−損なう原因となる。
本発明の目的は、上記の欠点を除去し、タイバー内のダ
ム部およびリード表面への樹脂流出を完全に防ぐことの
できる樹脂封止法を提供す、ることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の樹脂封止法は、樹脂封止部外周と樹脂封止部へ
延びるリードを連結するタイバーとの間の全周に、弾性
材テープを張り付けたり−ドフレームと、金型としてキ
ャビティ部をのぞく平坦部において前記テープ位置にお
いてリードに対応して窪み、もしくはダム部に対して突
起を形成した封止金型とを用いて樹脂モールドを行なう
ようにしている。
〔実施例〕
以下、図面を参照して、本発明の実施例につき説明する
。第1図は本発明の一実施例のファラドフラットICパ
ッケージの樹脂封止に関するもので、リードフレームと
金型とを嵌合したときの縦断面図で第2図のAA’線の
断面を示している。第2図はリードフレームの平面図、
第3図は金型上型の平面図、第4図がその縦断面である
。弾性材テープ3はリードフレーム1上でキャビティ部
7の周辺のダム部11相応位置にはりめぐされる。金型
上型5のリード2上にあたる部分は窪み8があり、金型
下型6のダム部11に相当する部分と段差があるので、
金型を嵌合したときに、図のように、ダム部11に弾性
材テープ3が押込まれる。
樹脂封止時に、キャビティ部7に注入された樹脂はキャ
ビティ部7の充填後、リード2とタイバー4で構成され
るダム部11へと流出するが、ダム部11にはリードフ
レーム1上に接着さ才した弾性材テープ3が前述のよう
に金型上型5により押し込まれており、流出が止められ
る。また、この弾性材テープ3はキャビティ部7とタイ
バー4の間のリード2上に張9つけられているため、金
型上型5に設けられた窪み8とリード2によりはさまれ
、従来の樹脂封止法の場合化ずる封止金型とリード2と
の間の微細なすき間の発生を防止し、リード2上への微
小樹脂漏′nを防ぐことが出来る。
弾性材テープ3としては、樹脂封止温度に耐えうるシリ
コンゴムやポリイミド、テフロン等のプラスチックが使
用出来る。又、テープの厚では、リードフレーム1の厚
さと同じか少し厚目の寸法にする必安がある。
前記した実施例は、従来法に対応するものであるが、従
来の改良法であるダム部に金型の突起が嵌合するように
した方法に、本発明の方法を併用した第2の実施例につ
き説明する。第5図がリードフレーム1と金型とを嵌合
したAA’線縦線面断面図って、ダム部11を塞ぐよう
に金型下型6に突起12ヲ設けであるが、リード位置に
おける金型上型5の窪み8はない。リード2とダム部1
1の突起12の上面は一様に平坦となり、その上に弾性
材テープ3が密着される。
本実施例の方法によると第7図の従来の改良方法のダム
部へ樹脂を流出させない効果をより完全にすると共に、
従来の方法では防止出来なかったリード表面上への樹脂
温れによる樹脂薄膜の発生・付Nk完全に防止すること
が出来る。
なお、本実施例の場合、第1実施例のように1ダム部へ
の弾性材テープの押込みはないから、弾性材テープはリ
ードフレームの板厚より本薄いテープを使うのが実際的
である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の樹脂封止法は、樹脂封止部
の周囲に弾性材テープが張り付けられ7’CIJ−ドフ
レームと、そのテープに相対する位置に選択的に窪み又
は突起が形成嘔扛た樹脂封止金型音用いることにより、
樹脂封止キャビティ部からのダム部及びリード上への樹
脂流出金防止する効果があり、これにより樹脂封止工程
後に必敬であった余剰樹脂かす除去工数の節減とこの樹
脂かす除去工程に起因する信頼性上の問題と、樹脂かす
残りに起因する品質上の問題を防止することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による樹脂封止法の一実施例の縦断面図
(第2図のA−A’線断面図)、第2図はリードフレー
ムの平面図、第3図は樹脂封止型の平面図、第4図はそ
の金型の縦断面図、第5図は本発明による樹脂封止法の
別の実施例の縦断面図(同様に第2図のA −A’線断
面図)である。第6図、第7図は従来の樹脂封止法を示
す縦断面図(第1図及び第5図と同様に第2図のA −
A’線断面図)である。 1・・・リードフレーム、  2・・・リード、3・・
・弾性材テープ、   4・・・タイバー、5・・・金
型上型、     6・・・金型下型)7・・・キャビ
ティ部、   8・・・金型窪み、9・・・ICチップ
、10・・・金線、11・・・ダム部、12・・・金型
突起。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 樹脂モールド電子部品の封止において、樹脂封止部外周
    と樹脂封止部へ延びるリードを連結するタイバーとの間
    の全周に、弾性材テープを張り付けたリードフレームと
    、金型としてキャビティ部をのぞく平坦部において前記
    テープ位置においてリードに対応して窪み、もしくはダ
    ム部に対して突起を形成した封止金型とを用いて樹脂モ
    ールドを行なうことを特徴とする樹脂封止法。
JP5061387A 1987-03-04 1987-03-04 電子部品の樹脂封止法 Pending JPS63216350A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5061387A JPS63216350A (ja) 1987-03-04 1987-03-04 電子部品の樹脂封止法

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JP5061387A JPS63216350A (ja) 1987-03-04 1987-03-04 電子部品の樹脂封止法

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JPS63216350A true JPS63216350A (ja) 1988-09-08

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JP5061387A Pending JPS63216350A (ja) 1987-03-04 1987-03-04 電子部品の樹脂封止法

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JP (1) JPS63216350A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5258331A (en) * 1989-10-20 1993-11-02 Texas Instruments Incorporated Method of manufacturing resin-encapsulated semiconductor device package using photoresist or pre-peg lead frame dam bars

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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