JPS63208741A - 発塵量測定装置 - Google Patents

発塵量測定装置

Info

Publication number
JPS63208741A
JPS63208741A JP62042388A JP4238887A JPS63208741A JP S63208741 A JPS63208741 A JP S63208741A JP 62042388 A JP62042388 A JP 62042388A JP 4238887 A JP4238887 A JP 4238887A JP S63208741 A JPS63208741 A JP S63208741A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dust
measured
measuring device
gas
measurement chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62042388A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0721448B2 (ja
Inventor
Takenobu Matsuo
剛伸 松尾
Hitoshi Fukao
仁 深尾
Masayuki Imafuku
正幸 今福
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taisei Corp
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Taisei Corp
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taisei Corp, Tokyo Electron Ltd filed Critical Taisei Corp
Priority to JP62042388A priority Critical patent/JPH0721448B2/ja
Publication of JPS63208741A publication Critical patent/JPS63208741A/ja
Publication of JPH0721448B2 publication Critical patent/JPH0721448B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、発塵量測定装置に係り、特に超清浄環境内等
で使用される装置および装置の運動機構等の動作状態に
おける発塵量の測定等に利用して好適な発塵量測定装置
に関する。
(従来の技術) 例えば、半導体デバイスの製造では、半導体ウェハ上に
微細なパターンの形成を行う工程等、極度に清浄化され
た雰囲気が要求される工程が多く、このような工程は一
般にクリーンルーム内で行われる。
一般にクリーンルームは、超高性能エアフィルタ等を用
いて清浄化されたクリーンエアーが上部から下部へ向け
て流通されるダウンフローが形成されており、クリーン
ルーム内の装置、人体等から発生した塵埃は、床部から
排出されるよう構成されている。
しかしながら、このようなりリーンルーム内で使用され
る装置においては可動部分等からの発塵量は可能な限り
少ないことが好ましく、このため例えば半導体製造装置
等では、駆動部分等からの発11量を可能な限り低減す
る努力がなされている。
従来このような発aXを測定する装置はなく、発塵量を
測定する場合は、クリーンルーム内に被測定装置等を配
置し、レーザ光等を用いて塵埃数をカウントするダスト
カウンタ等の気体採取部分を装置近傍に配置して、動作
状態における被測定装置近傍の塵埃を採取し、発m里を
測定する方法が行われていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上述の従来の方法では、クリーンルーム
内の流れの影響、クリーンルーム内の他の装置あるいは
人体等から発生した塵埃の影響等があり、正確に発塵量
を測定することができないという問題がある。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、被測定物の動作状態における発塵量等を正確に測定す
ることのできる発塵量測定装置を提供しようとするもの
である。
[発明の構成コ (問題点を解決するための手段) すなわち本発明の発塵量測定装置は、被測定物を格納す
る測定室と、この測定室内に上流側からフィルタによっ
て清浄化された気体を導入する導入配管と、前記測定室
下部にベルマウスレデューサを介して接続された排気配
管と、この排気配管内に一方の開口端を配置したサンプ
リング管と、このサンプリング管の他方の開口端を接続
され採取された気体の塵埃数を測定する測定装置とを備
えたことを特徴とする。
(作 用) 上記構成の本発明の発塵量測定装置では、被測定物を測
定室内に収容して他の発塵体と隔離し、導入配管と測定
室下部にベルマウスレデューサを介して接続された排気
配管とによって測定室内に上部から下部へ向けて流通す
る清浄気体流を形成する。そして、例えば動作状態とさ
れた被測定物から発生した塵埃を、排気配管内に一方の
開口端を配置されたサンプリング管によって流通気体の
一部とともに採取して、測定装置によって塵埃数をn1
定する。
したがって、他の発塵体から発生した塵埃の影響を受け
ることがなく、また、サンプリング管は、測定室下部に
ベルマウスレデューサを介して接続された排気配管内に
配置されており、気体流れを乱すことなく効率良く塵埃
を採取することができ、正確に発a藍を測定することが
できる。
(実施例) 以下本発明の発塵量測定装置を図面を参照して一実施例
について説明する。
この実施例の発塵量測定装置では、測定室1は、例えば
帯電防止処理を施された透明な硬質塩化ビニル板(帯電
防止プレート)からなり、例えば内径30011〜50
0111、高さ200nn 〜400nra程度の円筒
状に形成され、内部を目視可能に構成されている。
また、測定室1内には、被測定物2を保持するための保
持機構1aが配置されている。この保持1i構1aは、
測定室1内の気体流を乱さない形状とする必要があり、
例えば直径8IIIl程度の鏡面仕上を施されたステン
レス丸棒が、8011程度の間隔を設けて2本配置され
て構成されている。  7測定室1の上部には、フィル
タ収容室3を介してフレキシブルダクト等からなる導入
配管4が接続されており、この導入配管4は、スライダ
ック5により送風量を可変とされたブロワ6等の送風手
段に接続されている。
なお、フィルタ収容室3は、例えば横断面が−辺200
mn〜400nui程度の正方形等とされた形状とされ
ており、上部にプレフィルタ3aが配置され、下部に例
えばウルパフィルタ等の超高性能エアフィルタ3bが配
置されている。このフィルタ収容室3、プレフィルタ3
a、超高性能エアフィルタ3bは、被測定物2全体に清
浄化気体流を吹き付けられる程度の大きさおよび形状と
することが好ましい。また、フィルタの種類は、例えば
測定対象となる塵埃を被測定物2が運動しない状態でほ
とんどゼロとなる程度に除去できるものであればどのよ
うなものでも良い。
測定室1の下部には、ベルマウスレデューサ7を介して
排気配管8が接続され、排気配管8内には、光散乱式粒
子計数器9に接続されたサンプリング管10が配置され
ており、サンブリンク管10が配置された部位の下流側
には、例えばオリフィスllaと圧力計(デジタルマノ
メータ)11b等からなる流量測定手段が配置されてい
る。
なお、ベルマウスレデューサ7は、第2図に示すように
例えば鏡面仕上を施されたステンレス鋼板等からなり、
全長aが300vn 、内径すが10011〜400n
11程度とされ、開口端部の径Cが内径すに対して1.
6倍程度、図中符号d、e、f、gで示される領域のR
が内径すに対してそれぞれ0.2.0.33.0.2.
0.305倍とされた複数種のRを組み合わせた形状と
されており、例えば内径すに対して1.6倍程度の内径
とされた測定室1からの気体流を、排気配管8内へ乱流
等を生じさせることなく導入させるためのものである。
すなわち、ここで乱流等が生じると、塵埃の停滞、偏り
等が生じたり、新たな塵埃の発生等が生じ、被測定物か
らの発ajlを正確に測定することが困難となる。
また、サンプリング管10は、帯電防止処理を施された
ウレタンチューブ等から構成され、その先端部には、第
3図にも示すように鏡面仕上を施されたステンレス鋼等
から円筒状に形成された筒状部材10aが配置されてい
る。
筒状部材10aは、全長りが例えば50n+n程度とさ
れ、先端部の外径i、肉厚jがそれぞれ6.811.0
、1511とされているのに対して、サンプリング管1
0側端部の外径k、肉厚ぶがそれぞれ8.0nrg、0
.211とされ、先端部が小径、肉薄となるテーバ状に
形成されている。この筒状部材10aは、測定室1から
の気体流を乱すことなく、この気体の一部を採取するた
めのものであり、さらに、サンプリング管10も、約8
00nIlに渡り排気配管8内を徐々に斜め下方に伸ば
され、排気配管8壁から外部へ導出されており、基体採
取部分の乱流発生を防止する構成とされている。
なお、サンプリング管10先端の筒状部材1゜aは、第
4図および第5図に示すように、先端部が一定のRを持
って広がった形状、あるいは開口端部へ向けて徐々に広
がった形状等としても良い。
上記構成のこの実施例の発塵量測定装置で発塵量の測定
を行う場合は、測定室1内に被測定e12を配置し、ま
ず被測定物2を停止状態として、プロワ6を作動させ、
測定室1内に清浄化空気等を導入してサンプリング管1
0によって採取される清浄化空気中の塵埃数を光散乱式
粒子計数器9によって測定する。サンプリング管10は
、サンプリング管10の吸引入口で流れ方向をかえない
ように配置される。そして吸引を行うが、サンプリング
管10先端部における採取空気の流速がこの周囲の排気
配管8内を流通する空気の流速とほぼ等しく保たれるよ
う、ブロワ6による送風量、サンプリング管10先端部
の筒状部材10aの内径および吸引量等を調節すること
が好ましい。この状態でまず被測定物2に付着した塵埃
を除去し、光散乱式粒子計数器9によって測定される塵
埃数がほとんどゼロあるいは変動しなくなった状態で、
次に、被測定物2を作動させて同様な測定を行う。
この測定は、サンプリング管10先端部の筒状部材10
aの位置を排気配管内の断面方向に移動させて複数個所
において測定することが好ましい。
なお、これらの測定結果は、コンピュータ20によって
任意のデータ処理を行い、プリンタ21によって所望の
データの形にプリントアウトするよう構成することがで
きる。
被測定物2の作動は、モータ等の駆動部を含めた発塵量
を測定する場合あるいはヒータ等の通電状態における発
塵量を測定する場合等は、駆動部、ヒータ等を測定室1
内に収容し、測定室1の側壁に設けられた透孔1bから
電源ケーブル、コントロールケーブル等を引き出して行
う、また、電源ケーブル、コントロールケーブル等と透
孔1bとの間隙は、シリコーン等でシールし、外気の混
入を防止する。
また、モータ等の駆動部は除き、稼動部分のみの発!!
3i量を測定する場合は、第1図に示すようにモータ2
a等の駆動部を測定室1外に配置し、透孔1bに遊挿さ
れたシャフト部2cによってモータ2aと被測定物2の
可動部分とを接続する。このような場合は、シャフト部
2Cの周囲と透孔1bとの間に生じる間隙は、磁性流体
等によってシールする。なお、モータ2aは、コントロ
ールユニット30.CPUボード31、ディスクユニッ
ト32、CItT33等を接続して所望の制御を行うこ
とができる。
すなわち、この実施例の発塵量測定装置では、被測定物
2を測定室1内に収容して他の発塵体と隔離しているの
で、他の:Qa体から発生した塵埃の影響を受けること
がなく、また、サンプリング管10は、測定室1下部に
ベルマウスレデューサ7を介して接続された排気配管8
内に配置されており、気体流れを乱すことなく効率良く
塵埃を採取することができ、クリーンルーム外の通常雰
囲気下等でも、所望の測定部位からの発m星を正確に測
定することができる。さらに、測定室1を帯電防止処理
を施された透明な硬質塩化ビニル板から構成したので、
測定室1内部を目視することができ、被測定物2の動作
状態を確認することもできる。
[発明の効果コ 上述のように、本発明の発塵量測定装置では、被測定物
以外の塵埃の測定誤差を全くなくし発塵量等を正確に測
定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の発塵量測定装置を示す構成
図、第2図および第3図は第1図の要部を示す一部拡大
断面図、第4図および第5図は第3図の変形例を示す一
部拡大断面図である。 1・・・・・・測定室、2・・・・・・被測定物、3・
・・・・・フィルタ収容室、4・・・・・・導入配管、
6・・・・・・ブロワ、7・・・・・・ベルマウスレデ
ューサ、8・旧・・排気配管、9・・・・・・光散乱式
粒子計数器、10・・・・・・サンプリング管。 出願人  東京エレクトロン株式会社 出願人  大 成 建 設 株式会社 代理人 弁理士  須 山 佐 − 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物を格納する測定室と、この測定室内に上
    流側からフィルタによつて清浄化された気体を導入する
    導入配管と、前記測定室下部にベルマウスレデューサを
    介して接続された排気配管と、この排気配管内に一方の
    開口端を配置したサンプリング管と、このサンプリング
    管の他方の開口端を接続され採取された気体の塵埃数を
    測定する測定装置とを備えたことを特徴とする発塵量測
    定装置。
  2. (2)前記測定室は、少なくとも一部が帯電防止処理を
    施された透明な樹脂板から構成されたことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の発塵量測定装置。
  3. (3)前記サンプリング管の排気配管内開口端部には、
    鏡面仕上を施されたステンレス鋼からなり、テーパ状に
    先端部を肉薄とされた筒状体が配置されたことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の発塵量測定装置。
  4. (4)前記測定室は、側壁部に透孔を有し、この透孔に
    は周囲の間隙を磁性流体によってシールを施されたシャ
    フト部が配置されることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の発塵量測定装置。
  5. (5)前記フィルタの少なくとも一つは、超清浄な気体
    を気体の流れ方向に対して供給できるフィルタであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の発塵量測定
    装置。
JP62042388A 1987-02-25 1987-02-25 発塵量測定装置 Expired - Fee Related JPH0721448B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62042388A JPH0721448B2 (ja) 1987-02-25 1987-02-25 発塵量測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62042388A JPH0721448B2 (ja) 1987-02-25 1987-02-25 発塵量測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63208741A true JPS63208741A (ja) 1988-08-30
JPH0721448B2 JPH0721448B2 (ja) 1995-03-08

Family

ID=12634687

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62042388A Expired - Fee Related JPH0721448B2 (ja) 1987-02-25 1987-02-25 発塵量測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0721448B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994022940A1 (en) * 1993-03-29 1994-10-13 The Dow Chemical Company Absorbent polymer having reduced dusting tendencies
JP2008298657A (ja) * 2007-06-01 2008-12-11 Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology 粉粒体回収装置
CN107478556A (zh) * 2017-09-15 2017-12-15 中天道成(苏州)洁净技术有限公司 基于无尘排气设计的在线尘埃粒子计数监测系统
CN118150411A (zh) * 2024-05-06 2024-06-07 深圳市研成工业技术有限公司 一种大粒径粉尘计量装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6191152U (ja) * 1984-11-20 1986-06-13
JPS61137043A (ja) * 1984-12-06 1986-06-24 Kanebo Ltd 発塵性測定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6191152U (ja) * 1984-11-20 1986-06-13
JPS61137043A (ja) * 1984-12-06 1986-06-24 Kanebo Ltd 発塵性測定方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994022940A1 (en) * 1993-03-29 1994-10-13 The Dow Chemical Company Absorbent polymer having reduced dusting tendencies
JP2008298657A (ja) * 2007-06-01 2008-12-11 Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology 粉粒体回収装置
CN107478556A (zh) * 2017-09-15 2017-12-15 中天道成(苏州)洁净技术有限公司 基于无尘排气设计的在线尘埃粒子计数监测系统
CN107478556B (zh) * 2017-09-15 2024-03-05 中天道成(苏州)洁净技术有限公司 基于无尘排气设计的在线尘埃粒子计数监测系统
CN118150411A (zh) * 2024-05-06 2024-06-07 深圳市研成工业技术有限公司 一种大粒径粉尘计量装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0721448B2 (ja) 1995-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3156408U (ja) クリーンユニット
US6890080B2 (en) Air purge system for optical sensor
US20050185156A1 (en) Exposure apparatus and air-conditioning apparatus for use with exposure apparatus
US10525458B2 (en) Clean air device and air cleaning unit inspecting method
EP0269673A1 (en) Particle counter air inlet assembly
JPH11166699A (ja) シリンダキャビネットにおける排気ダクトの流量調節装置
JP2000508757A (ja) 換気層流フード用繊維シース
CN106546524A (zh) 防雾霾口罩过滤性能的测试方法
JPS63208741A (ja) 発塵量測定装置
JP3658126B2 (ja) エアフィルタテスト方法及びそれに使用するテスト装置
JP2929390B2 (ja) エアフィルタ漏洩試験方法およびその装置
JPWO2008139777A1 (ja) 高清浄度環境測定装置および測定方法
JPH0363544A (ja) 放出粒子計測装置
US10874572B2 (en) Particle deflection pad and method of use
JP2004148447A (ja) 産業用ロボット
JPS63208737A (ja) 発塵量測定方法
JPH09153530A (ja) クリーン度の高い検査装置
KR102144973B1 (ko) 모니터링 장치 및 방법
JPH04157335A (ja) 気密度測定装置及びその測定方法
JPH0348166A (ja) 気流センサー
JP7486462B2 (ja) 微粒子計測装置
JP3138535B2 (ja) フィルタ試験における微粒子の発生方法
CN112997287A (zh) 利用对称气体喷射的颗粒去除装置
JP2021034386A (ja) 気体浮上式搬送装置
JP2006046972A (ja) 放射線測定装置およびイオン検出器

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees