JPS63199729A - 芳香族ポリカ−ボネ−ト三元共重合体 - Google Patents
芳香族ポリカ−ボネ−ト三元共重合体Info
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Landscapes
- Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明はレーザー光線により信号を記録し、あるいは
レーザー光線の反射又は透過により記録された信号の読
み出しを行なう光学式情報記録用ディスクに用いられる
ポリカーボネート三元共重合体に関するものであり主と
して光学式ディスクに使用されるものに関する。
レーザー光線の反射又は透過により記録された信号の読
み出しを行なう光学式情報記録用ディスクに用いられる
ポリカーボネート三元共重合体に関するものであり主と
して光学式ディスクに使用されるものに関する。
(従来の技術)
レーザー光線のスポットビームをディスクにあて、ディ
スクに微細なビットで信号を記録あるいはこのようなピ
ットによって記録された信号をレーザー光線の反射又は
透過光量を検出することによって読み出すDRAW(ダ
イレクト・リード・アフター・ライト)、Erasab
le−DRAW(イレーザブル、ダイレクト・リード・
アフター・ライト)型光学式情報記録・再生方式は著し
く記録密度を上げることができ、特にErasable
−DRAW”3では記録の消去・書き込みも可能であり
、且つそれらから再生される画像や音質が優れた時性な
有することから画像や音質の記録又は記録再生、多量の
情報記録再生等に広く実用される二とが期待されている
。この記録再生方式に利用されるディスクにはディスク
本体をレーザー光線が透過するために透明であることは
勿論のこと、読み取り誤差を少なくするために光学的均
質性が強く求められる。ディスク本体形成時の樹脂の冷
却及び流動過程において生じた熱応力2分子配向、ガラ
ス転移点付近の容積変化による残留応力が主な原因とな
り、レーザー光線がディスク本体を通過する際に複屈折
が生ずる。この複屈折に起因する光学的不均一性が大き
いこと:;光学式ディスクとしては致命的欠陥である。
スクに微細なビットで信号を記録あるいはこのようなピ
ットによって記録された信号をレーザー光線の反射又は
透過光量を検出することによって読み出すDRAW(ダ
イレクト・リード・アフター・ライト)、Erasab
le−DRAW(イレーザブル、ダイレクト・リード・
アフター・ライト)型光学式情報記録・再生方式は著し
く記録密度を上げることができ、特にErasable
−DRAW”3では記録の消去・書き込みも可能であり
、且つそれらから再生される画像や音質が優れた時性な
有することから画像や音質の記録又は記録再生、多量の
情報記録再生等に広く実用される二とが期待されている
。この記録再生方式に利用されるディスクにはディスク
本体をレーザー光線が透過するために透明であることは
勿論のこと、読み取り誤差を少なくするために光学的均
質性が強く求められる。ディスク本体形成時の樹脂の冷
却及び流動過程において生じた熱応力2分子配向、ガラ
ス転移点付近の容積変化による残留応力が主な原因とな
り、レーザー光線がディスク本体を通過する際に複屈折
が生ずる。この複屈折に起因する光学的不均一性が大き
いこと:;光学式ディスクとしては致命的欠陥である。
(発明が解決しようとする問題点)
このようにディスク成形時の樹脂の:fr却及び流動過
程において生じた熱応力9分子配向、残留応力が主原因
で生ずる複屈折は形成条件を選ぶことによって、得られ
るディスクの複屈折:=かなり小さくすることができる
が、成形吉脂吉身のもつ固有の複屈折、即ち光弾性定数
に大きく依存している。
程において生じた熱応力9分子配向、残留応力が主原因
で生ずる複屈折は形成条件を選ぶことによって、得られ
るディスクの複屈折:=かなり小さくすることができる
が、成形吉脂吉身のもつ固有の複屈折、即ち光弾性定数
に大きく依存している。
(問題点を解決するための手段)
複屈折は光弾性定数と残留応力の積として下記(1)式
で表すことができる。
で表すことができる。
n、−n2=C(a□−a2) (1)
nx−n2:複屈折 σ、−02:残留応力 C:光弾性定数 式(1)の光弾性定数を小さくすれば成形条件が同じで
も得られるディスクの複屈折が小さくなることは明らか
である。そこで発明者らは2,2.ビス−(4−ヒドロ
キシ−3−ターシャリーブチルフニニル)プロパンと1
,1tビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−ジイ
ソプロピルベンゼンと更に2,2−ビス−r4゜ヒドロ
キシフェニル)プロパンをカーボネート結合によって共
重合させることによって、芳香族ポリカーボネートの機
械的特性を損ねることなく光弾性定数の小さな樹脂が得
られる事実を見出し、本発明に至ったものである。
nx−n2:複屈折 σ、−02:残留応力 C:光弾性定数 式(1)の光弾性定数を小さくすれば成形条件が同じで
も得られるディスクの複屈折が小さくなることは明らか
である。そこで発明者らは2,2.ビス−(4−ヒドロ
キシ−3−ターシャリーブチルフニニル)プロパンと1
,1tビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−ジイ
ソプロピルベンゼンと更に2,2−ビス−r4゜ヒドロ
キシフェニル)プロパンをカーボネート結合によって共
重合させることによって、芳香族ポリカーボネートの機
械的特性を損ねることなく光弾性定数の小さな樹脂が得
られる事実を見出し、本発明に至ったものである。
(発明の構成)
本発明は、2,2−ビス−(4,ヒドロキシ、3−ター
シャリーブチルフェニル)プロパン(1)15〜85モ
ル%と、1,1−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)、
パラ−ジイソプロピルベンゼン(II )3〜85モル
%と更に、2.2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)
プロパン(III)3〜75モル%を各々の合計が10
0モル%になるようにカーボネート結合により結合して
得られる芳香族ポリカーボネート共重合体であって、そ
のガラス転移温度が125℃以上であり、且つ、光弾性
定数が60ブリユースターズ(Brewsters、1
0−12m”/N)以下である芳香族ポリカーボネート
共重合体から成る光学式ディスクに関する。
シャリーブチルフェニル)プロパン(1)15〜85モ
ル%と、1,1−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)、
パラ−ジイソプロピルベンゼン(II )3〜85モル
%と更に、2.2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)
プロパン(III)3〜75モル%を各々の合計が10
0モル%になるようにカーボネート結合により結合して
得られる芳香族ポリカーボネート共重合体であって、そ
のガラス転移温度が125℃以上であり、且つ、光弾性
定数が60ブリユースターズ(Brewsters、1
0−12m”/N)以下である芳香族ポリカーボネート
共重合体から成る光学式ディスクに関する。
(?13 CH3(11)
この芳香族ポリカーボネート共重合体において式(I)
の構成単位は20〜70モル%の範囲が好ましい。この
構成単位が70モル%超えると得られる芳香族ポリカー
ボネート共重合体のガラス転移温度が125℃以下にな
り、また、20モル%より低いと共電体の光弾性定数が
60ブリユースターズ(Brewsters、10−1
2m2/N)以上になり光学式ディスクとして好ましく
ない。式(II)の構成単位は、3〜80モル%の範囲
が好ましい。式(II)の構成単位は、得られる芳香族
ポリカーボネートの長期熱安定性を向上させ熱による変
色を防止するが、80モル%を超えると光弾性定数が6
0ブリユースターズ(Brewsters、10−12
m2/N)以上になり、また、3モル%より少ないと構
成単位(工i)の導入による長期熱安定性の向上が全黙
認められない。式(III)の構成単位は、3〜70モ
ル%の範囲が好ましい。構成単位(II)も得られる芳
香族ポリカーボネートの長期熱安定性、特に熱により重
量損失を防止するが70モル%を超えると共重合体の機
械的性質、特に耐衝撃性が低下し実質上不適↑各となり
、また、3モル%より低いと構成単位(III)の効果
が現れない。尚、本発明の共重合体のビスフェノールA
−ポリカーボネート換算の粘度平均分子量は13,00
0〜50,000が好ましい。13,000未満では共
重合体が脆くなり、50゜000を越えると溶融流動性
が悪くなり成形性が劣る。本発明のポリカーボネート共
電合本の製造法としては、次の二つの方法がある。
の構成単位は20〜70モル%の範囲が好ましい。この
構成単位が70モル%超えると得られる芳香族ポリカー
ボネート共重合体のガラス転移温度が125℃以下にな
り、また、20モル%より低いと共電体の光弾性定数が
60ブリユースターズ(Brewsters、10−1
2m2/N)以上になり光学式ディスクとして好ましく
ない。式(II)の構成単位は、3〜80モル%の範囲
が好ましい。式(II)の構成単位は、得られる芳香族
ポリカーボネートの長期熱安定性を向上させ熱による変
色を防止するが、80モル%を超えると光弾性定数が6
0ブリユースターズ(Brewsters、10−12
m2/N)以上になり、また、3モル%より少ないと構
成単位(工i)の導入による長期熱安定性の向上が全黙
認められない。式(III)の構成単位は、3〜70モ
ル%の範囲が好ましい。構成単位(II)も得られる芳
香族ポリカーボネートの長期熱安定性、特に熱により重
量損失を防止するが70モル%を超えると共重合体の機
械的性質、特に耐衝撃性が低下し実質上不適↑各となり
、また、3モル%より低いと構成単位(III)の効果
が現れない。尚、本発明の共重合体のビスフェノールA
−ポリカーボネート換算の粘度平均分子量は13,00
0〜50,000が好ましい。13,000未満では共
重合体が脆くなり、50゜000を越えると溶融流動性
が悪くなり成形性が劣る。本発明のポリカーボネート共
電合本の製造法としては、次の二つの方法がある。
■エステル交換法
2.2.ビス−(4−ヒドロキシ−3−ターシャリーブ
チルフェニル)プロパン、1,11ビス、(4−ヒドロ
キシフェニル)−パラ−ジイソプロピルベンゼン、2,
2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパンの混合
物に対し化学量論的に当量よりやや過剰のジフェニルカ
ーボネートに、通常のカーボネート化触媒の存在下、約
160〜180℃の温度下で常圧下、不活性ガスを導入
した条件で約30分反応させ、2時間かけて徐々に減圧
しながら約180〜220℃の温度下で最終的に10T
orr、220℃で前縮合を終了する。 その後、10
Torr、270℃で30分、5Torr。
チルフェニル)プロパン、1,11ビス、(4−ヒドロ
キシフェニル)−パラ−ジイソプロピルベンゼン、2,
2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパンの混合
物に対し化学量論的に当量よりやや過剰のジフェニルカ
ーボネートに、通常のカーボネート化触媒の存在下、約
160〜180℃の温度下で常圧下、不活性ガスを導入
した条件で約30分反応させ、2時間かけて徐々に減圧
しながら約180〜220℃の温度下で最終的に10T
orr、220℃で前縮合を終了する。 その後、10
Torr、270℃で30分、5Torr。
270℃で20分反応し、次いで0.5Torr以下、
好ましくは0.3Torr〜0.ITorrの減圧下で
270’Cで1.5時間〜2.0時間後縮合を進める。
好ましくは0.3Torr〜0.ITorrの減圧下で
270’Cで1.5時間〜2.0時間後縮合を進める。
尚、カーボネート結合のためカーボネート化触媒として
は、リチウム系触媒、カリウム系触媒、ナトリウム系触
媒、カルシウム系触媒、錫系触媒等のアルカリ金属、ア
ルカリ土類金属触媒が適しており、例えば、水酸化リチ
ウム、炭酸リチウム、水素化ホウ素カリウム、リン酸水
素カリウム、水酸化ナトリウム、水素化ホウ素ナトリウ
ム、水素化カルシウム、ジブチル錫オキシド、酸化第1
錫が挙げられる。これらのうち、カリウム系触媒を用い
ることが好ましい。
は、リチウム系触媒、カリウム系触媒、ナトリウム系触
媒、カルシウム系触媒、錫系触媒等のアルカリ金属、ア
ルカリ土類金属触媒が適しており、例えば、水酸化リチ
ウム、炭酸リチウム、水素化ホウ素カリウム、リン酸水
素カリウム、水酸化ナトリウム、水素化ホウ素ナトリウ
ム、水素化カルシウム、ジブチル錫オキシド、酸化第1
錫が挙げられる。これらのうち、カリウム系触媒を用い
ることが好ましい。
■ホスゲン法
三つロフラスコにかき混ぜ機、温度計、ガス導入管、排
気管を付けこれに、2,2−ビス−(4−ヒドロキシ−
3−ターシャリーブチルフェニル)プロパン、1゜1′
−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)、パラ、ジイソプ
ロピルベンゼンおよび2,2−ビス−(4−ヒドロキシ
フェニル)プロパンの混合物のピリジン溶液を入れ、こ
れを激しくかき混ぜながらホスゲンガスを導入する。ホ
スゲンは猛毒であるから強力なドラフト中で操作する。
気管を付けこれに、2,2−ビス−(4−ヒドロキシ−
3−ターシャリーブチルフェニル)プロパン、1゜1′
−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)、パラ、ジイソプ
ロピルベンゼンおよび2,2−ビス−(4−ヒドロキシ
フェニル)プロパンの混合物のピリジン溶液を入れ、こ
れを激しくかき混ぜながらホスゲンガスを導入する。ホ
スゲンは猛毒であるから強力なドラフト中で操作する。
また排気末端には水酸化ナトリウム10%水溶液で余剰
ホスゲンを分#無毒化するユニットをつける。ホスゲン
はボンベ空の洗気びん、パラフィンを入れた洗気びん(
部数を数える)、空の洗気びんを通してフラスコに導入
する。ガラス導入管はかき混ぜ機の上に差し込むように
し、析出するピリジン塩によって詰まらないようにする
ため先端を漏斗状に広げておく。ガス導入に伴いピリジ
ンの塩酸塩が析出して内容は濁ってくる。反応温度は3
0℃以下になるように水冷する。縮合の進行と共に粘ち
ょうになってくる。ホスゲン−塩化水素錯体の買色が消
えなくなるまでホスゲンを通じる。反応終了後、メタノ
ールを加えて重合体を沈殿せしめ、ろ別乾燥する。生成
するポリカーボネートは塩化メチレン、ピリジン、クロ
ロホルム、テトラヒドロフランなどに溶けるから、これ
らの溶液からメタノールで再沈殿して精製する。このよ
うにして得られるポリカーボネート共重合体は、レーザ
ー光線により信号を記録し、或いは、レーザー光線の反
射又は透過により記録された信号の読み出しをおこなう
DRAW。
ホスゲンを分#無毒化するユニットをつける。ホスゲン
はボンベ空の洗気びん、パラフィンを入れた洗気びん(
部数を数える)、空の洗気びんを通してフラスコに導入
する。ガラス導入管はかき混ぜ機の上に差し込むように
し、析出するピリジン塩によって詰まらないようにする
ため先端を漏斗状に広げておく。ガス導入に伴いピリジ
ンの塩酸塩が析出して内容は濁ってくる。反応温度は3
0℃以下になるように水冷する。縮合の進行と共に粘ち
ょうになってくる。ホスゲン−塩化水素錯体の買色が消
えなくなるまでホスゲンを通じる。反応終了後、メタノ
ールを加えて重合体を沈殿せしめ、ろ別乾燥する。生成
するポリカーボネートは塩化メチレン、ピリジン、クロ
ロホルム、テトラヒドロフランなどに溶けるから、これ
らの溶液からメタノールで再沈殿して精製する。このよ
うにして得られるポリカーボネート共重合体は、レーザ
ー光線により信号を記録し、或いは、レーザー光線の反
射又は透過により記録された信号の読み出しをおこなう
DRAW。
Erasabie−DRAW型光学式情報記録用ディス
クに有用である。以下に本発明を実施例について説明す
るが、本発明は、これらの実施例によって限定されるも
のではない。尚、以下の実施例に示した粘度平均分子量
とは、ビスフェノールA・ポリカーボネートの20℃に
おける塩化メチレン溶液を用いて測定して固有粘度[r
1]と分子量Mの関係式として得られた [rll= 1.11 X 104M0−92[E、M
ii11er&O,Bayer;USP2,999,8
44(1961)]の式を用い固有粘度から計算したビ
スフェノールA・ポリカーボネート換算の分子量である
。
クに有用である。以下に本発明を実施例について説明す
るが、本発明は、これらの実施例によって限定されるも
のではない。尚、以下の実施例に示した粘度平均分子量
とは、ビスフェノールA・ポリカーボネートの20℃に
おける塩化メチレン溶液を用いて測定して固有粘度[r
1]と分子量Mの関係式として得られた [rll= 1.11 X 104M0−92[E、M
ii11er&O,Bayer;USP2,999,8
44(1961)]の式を用い固有粘度から計算したビ
スフェノールA・ポリカーボネート換算の分子量である
。
(実施例)
実施例1
2.2−ビス−(4−ヒドロキシ−3−ターシャリーブ
チルフェニル)プロパン204重量部(50mo1%)
と1,11ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−
ジイソプロピルベンゼン125重量部(30mo1%)
と2,2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン
55重量部(20mo1%)とジフェニルカーボネート
264重量部を31三つロフラスコに入れ、脱気、N2
パージを5回繰り返した後、シリコンバス160℃で窒
素を導入しながら溶融させた。溶融したら、カーボネー
ト化触媒である水素化ホウ素カリウムを予めフェノール
に溶かした溶液(仕込んだビスフェノール全量に対して
10−3mo1%量)を加え、160℃,N2下、30
分攪はん醸成した。次に、同温度下IQQTorrに減
圧にし、30分攪はんした後、同温度下でさらに5QT
orrに減圧し、60分反応させた。次に徐々に温度を
220℃まで上げ60分反応させ、ここまでの反応でフ
ェノール留出理論量の80%を留出させた。しかる後、
同温度下で1QTorrに減圧し30分反応させ温度を
徐々に270℃に上げ、30分反応させた。さらに同温
度下で5Torrに減圧し30分反応させ、フェノール
留出理論量のほぼ全量を留出させ前縮合を終えた。次に
同温度下で0.1〜Q、3Torrで2時間径縮合させ
た。窒素下にて生成物のポリマーを取り出し冷却した後
、ジクロルメタンを溶媒に用いて20℃にて溶液粘度を
測定した。この値から算出した粘度平均分子量Mv=2
3,000であった。また、DSC(ディファレンシャ
ル・スキャニング・カロリメーター;Perkin−E
lmer 2C型)からガラス転移点はTg=134℃
であることがわかった。更に光弾性定数を測定するとC
=44ブリュースターズ(Brewsters、10”
m2/N)であることがわかった。測定に使用した機器
は、DSC;ディファレンシャル・スキャンニング。
チルフェニル)プロパン204重量部(50mo1%)
と1,11ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−
ジイソプロピルベンゼン125重量部(30mo1%)
と2,2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン
55重量部(20mo1%)とジフェニルカーボネート
264重量部を31三つロフラスコに入れ、脱気、N2
パージを5回繰り返した後、シリコンバス160℃で窒
素を導入しながら溶融させた。溶融したら、カーボネー
ト化触媒である水素化ホウ素カリウムを予めフェノール
に溶かした溶液(仕込んだビスフェノール全量に対して
10−3mo1%量)を加え、160℃,N2下、30
分攪はん醸成した。次に、同温度下IQQTorrに減
圧にし、30分攪はんした後、同温度下でさらに5QT
orrに減圧し、60分反応させた。次に徐々に温度を
220℃まで上げ60分反応させ、ここまでの反応でフ
ェノール留出理論量の80%を留出させた。しかる後、
同温度下で1QTorrに減圧し30分反応させ温度を
徐々に270℃に上げ、30分反応させた。さらに同温
度下で5Torrに減圧し30分反応させ、フェノール
留出理論量のほぼ全量を留出させ前縮合を終えた。次に
同温度下で0.1〜Q、3Torrで2時間径縮合させ
た。窒素下にて生成物のポリマーを取り出し冷却した後
、ジクロルメタンを溶媒に用いて20℃にて溶液粘度を
測定した。この値から算出した粘度平均分子量Mv=2
3,000であった。また、DSC(ディファレンシャ
ル・スキャニング・カロリメーター;Perkin−E
lmer 2C型)からガラス転移点はTg=134℃
であることがわかった。更に光弾性定数を測定するとC
=44ブリュースターズ(Brewsters、10”
m2/N)であることがわかった。測定に使用した機器
は、DSC;ディファレンシャル・スキャンニング。
カロリメーターPerkin−E1mer 2C型、光
弾性定数は自作のものを用いて測定したが、光弾性定数
の算出方法は試験片(50mmX 10mmX 1mm
)に異なる大きさの引張応力を長さ方向に追加し、前記
式(1)に各々の値を代入してその傾きから光弾性定数
を求めた。因に2,2−ビス−(4−ヒドロキシフェニ
ル)プロパンのポリカーボネートの光弾性定数はc:8
2ブリユースターズ(Brewsters、IQ−12
m2/N)であった。
弾性定数は自作のものを用いて測定したが、光弾性定数
の算出方法は試験片(50mmX 10mmX 1mm
)に異なる大きさの引張応力を長さ方向に追加し、前記
式(1)に各々の値を代入してその傾きから光弾性定数
を求めた。因に2,2−ビス−(4−ヒドロキシフェニ
ル)プロパンのポリカーボネートの光弾性定数はc:8
2ブリユースターズ(Brewsters、IQ−12
m2/N)であった。
実施例2
三つロフラスコに攪はん機、温麿計、ガス導入管、排気
管をつける。水酸化ナトリウム10重量%水溶液に2,
2−ビス−(4−ヒドロキシ−3,ターシャリ−ブチル
フェニル)プロパン204重量部(50mo1%)と1
,1−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−ジイ
ソプロピルベンゼン125重量部(30mo1%)と2
,2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン55
重量部(20mo1%)を溶かし、ジクロルメタンを加
え、これを激しく攪はんしながらホスゲンガスを導入し
た。ホスゲンはボンベから空の洗気びん、水を入れた洗
気びん、空の洗気びんを通してフラスコに導入した。ホ
スゲンガスを導入中の反応温度は25℃以下になるよう
に水冷した。縮合の進行と共に溶液は粘ちょうになって
くる。
管をつける。水酸化ナトリウム10重量%水溶液に2,
2−ビス−(4−ヒドロキシ−3,ターシャリ−ブチル
フェニル)プロパン204重量部(50mo1%)と1
,1−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−ジイ
ソプロピルベンゼン125重量部(30mo1%)と2
,2−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン55
重量部(20mo1%)を溶かし、ジクロルメタンを加
え、これを激しく攪はんしながらホスゲンガスを導入し
た。ホスゲンはボンベから空の洗気びん、水を入れた洗
気びん、空の洗気びんを通してフラスコに導入した。ホ
スゲンガスを導入中の反応温度は25℃以下になるよう
に水冷した。縮合の進行と共に溶液は粘ちょうになって
くる。
さらにホスゲン、塩化水素錯体の黄色が消えな(なる迄
ホスゲンを通じた。反応終了後、メタノールに反応溶液
を注ぎ込み、ろ別し、水洗を繰り返した。さらに生成し
たポリカーボネートはジクロルメタンの溶液からメタノ
ールで再沈して精製した。精製後よ(乾燥したのち、ジ
クロルメタンを溶媒に用いて20℃にて溶液粘度を測定
した。この値から算出した粘度平均分子量はMv=25
,600であった。さらに、実施例1と同様の測定を行
ったところ、実施例1と同じガラス転移点及び光弾性定
数であることが、わかった。
ホスゲンを通じた。反応終了後、メタノールに反応溶液
を注ぎ込み、ろ別し、水洗を繰り返した。さらに生成し
たポリカーボネートはジクロルメタンの溶液からメタノ
ールで再沈して精製した。精製後よ(乾燥したのち、ジ
クロルメタンを溶媒に用いて20℃にて溶液粘度を測定
した。この値から算出した粘度平均分子量はMv=25
,600であった。さらに、実施例1と同様の測定を行
ったところ、実施例1と同じガラス転移点及び光弾性定
数であることが、わかった。
(記録特性の評価)
上記のようにして製造したポリカーボネート共重合体に
記録膜を付けて、光記録特性評価した。即ち、実施例1
,2に記載のポリカーボネート共重合体を射出成形機(
多機製作所製、ダイナメルター)を用いて直径130m
m、厚さ1.2mmの円盤状基板に成形し、この基板上
にTb23.5Fe64゜2CO12,3(原子%)の
合金ターゲットを用いてスパッタリング装置(RFスパ
ッタリング装置、日本真空(株)製)中で光磁気記録膜
を1,000人形成した。この記録膜上に本出願人によ
る特開昭60−177449号に記載の無機ガラスの保
護膜1,000人を上記と同じスパッタリング装置を用
いて形成した。得られた光磁気ディスクの性能をCN比
、BERおよび60℃90RH%の条件下でのON比変
化率で評価した。結果は表1の通りであった。
記録膜を付けて、光記録特性評価した。即ち、実施例1
,2に記載のポリカーボネート共重合体を射出成形機(
多機製作所製、ダイナメルター)を用いて直径130m
m、厚さ1.2mmの円盤状基板に成形し、この基板上
にTb23.5Fe64゜2CO12,3(原子%)の
合金ターゲットを用いてスパッタリング装置(RFスパ
ッタリング装置、日本真空(株)製)中で光磁気記録膜
を1,000人形成した。この記録膜上に本出願人によ
る特開昭60−177449号に記載の無機ガラスの保
護膜1,000人を上記と同じスパッタリング装置を用
いて形成した。得られた光磁気ディスクの性能をCN比
、BERおよび60℃90RH%の条件下でのON比変
化率で評価した。結果は表1の通りであった。
表1
(注1)CN比=書き込みパワー7mW(ミリワット)
。
。
読み取りパワー1mW、キャリア周波数IMHz、分解
能帯域中30KHzで測定 (注2) CN変化率(%)=初期CN比に対する60
℃290RH%条件下で30日経過後のCN比の低下度
(注3)比較例=従来公知のポリカーボネート(音大化
成(株)AD−5503)基板を用いて上記と同じ手順
で光磁気ディスクを作ったものである。
能帯域中30KHzで測定 (注2) CN変化率(%)=初期CN比に対する60
℃290RH%条件下で30日経過後のCN比の低下度
(注3)比較例=従来公知のポリカーボネート(音大化
成(株)AD−5503)基板を用いて上記と同じ手順
で光磁気ディスクを作ったものである。
表1の結果から明らかなように、本発明によるポリカー
ボネート共重合体は複屈折値の低下によりCN比が大幅
に向上しており、耐久性にも優れていることがわかる。
ボネート共重合体は複屈折値の低下によりCN比が大幅
に向上しており、耐久性にも優れていることがわかる。
Claims (1)
- 2、2−ビス−(4−ヒドロキシ−3−ターシャリーブ
チルフェニル)プロパン15〜85モル%、1、1′−
ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−パラ−ジイソプロ
ピルベンゼン3〜85モル%と2、2、ビス−(4−ヒ
ドロキシフエニル)プロパン3〜75モル%を各々の合
計が100モル%になるようにカーボネート結合により
、結合して得られる芳香族ポリカーボネート共重合体で
あって、そのがラス転移温度が125℃以上であり、且
つ、光弾性定数が60ブリュースターズ(Brewst
ers、10^−^1^2m^2/N)以下である芳香
族ポリカーボネート三元共重合体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62031499A JPS63199729A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 芳香族ポリカ−ボネ−ト三元共重合体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62031499A JPS63199729A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 芳香族ポリカ−ボネ−ト三元共重合体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63199729A true JPS63199729A (ja) | 1988-08-18 |
Family
ID=12332927
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62031499A Pending JPS63199729A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 芳香族ポリカ−ボネ−ト三元共重合体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63199729A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0299521A (ja) * | 1988-10-05 | 1990-04-11 | Daicel Chem Ind Ltd | 芳香族ポリカーボネート共重合体 |
JPH02128336A (ja) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Daicel Chem Ind Ltd | 光学式ディクス基板用芳香族ポリカーボネート共重合体 |
-
1987
- 1987-02-16 JP JP62031499A patent/JPS63199729A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0299521A (ja) * | 1988-10-05 | 1990-04-11 | Daicel Chem Ind Ltd | 芳香族ポリカーボネート共重合体 |
JPH02128336A (ja) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Daicel Chem Ind Ltd | 光学式ディクス基板用芳香族ポリカーボネート共重合体 |
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