JPS6319807A - 半導体基板の接合方法 - Google Patents

半導体基板の接合方法

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Publication number
JPS6319807A
JPS6319807A JP16370786A JP16370786A JPS6319807A JP S6319807 A JPS6319807 A JP S6319807A JP 16370786 A JP16370786 A JP 16370786A JP 16370786 A JP16370786 A JP 16370786A JP S6319807 A JPS6319807 A JP S6319807A
Authority
JP
Japan
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substrates
substrate
junction
chuck
susceptor
Prior art date
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Pending
Application number
JP16370786A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Fukuda
潔 福田
Masaru Shinpo
新保 優
Kazuyoshi Furukawa
和由 古川
Katsujiro Tanzawa
丹沢 勝二郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPS6319807A publication Critical patent/JPS6319807A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は2枚の半導体基板の接合方法に関する。
(従来の技術) 表面が十分に鏡面でかつ平滑に形成された2枚の半導体
基板の鏡面同士゛を異物の介在しないクリーンな雰囲気
中で接触させるとこの接合体は熱処理をしなくてもかな
りの接合強度が得られる。更にこの接合体を800〜1
000℃で熱処理する事によりシリコン単体に匹敵する
ほど充分強固に接合し、一体化された半導体基板が得ら
れる。この直接接合技術を応用すると従来のエピタキシ
ャルウェーハや拡散ウェーハと電気的、機械的にも同等
の優れた接合部を有する半導体基板が簡単に得られる。
この直接接合技術を用いて一体化した接合体つ工−ハを
形成する場合、ウェーハ全面lこわたって接合されかつ
気@(以トポイドと呼ぶ)を界面に含まない事が必要で
ある。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明はシリコン直接接合技術lこおいて、ボイドを発
生させない接合方法を提供する寥を目的とする。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 本発明は接看すべき基板の両方を凸に反らせる事によっ
てボイドの発生を防止する事を骨子とし、異物の介在し
ない清浄な雰囲気下で2枚の鏡面研磨された半導体基板
を真空吸引し半導体基板の接全面を凸型に反らす機構を
備えた基台と、半導体基板を載せるための弾性体からな
るチャックとによって、真空吸引により接合面を凸型に
反らせる載物台からなり、各々に装着された2枚の基板
同士の凸型部を接触させ、真空を解除することにより2
枚の半導体基板を全面にわたって密着しボイドレス接合
する半導体基板の接合方法である。
(作 用) 本発明の方法によれば、基板を凸型に反らせて二枚の基
板の接合部にボイドを残す事なく接合し、強固に一体化
された接合体を得ることができる。
特に大口径半導体基板の接合には有効的な手段と考えら
れる。
(実施例) 本発明に係る治具は、半導体基板の接合面の中央部を凸
型に反らせて保持するものである。
第1図(a) 、 (b)は金属基台で第1図(a)は
基台の平面図で、第1図(b)は第1図(a)のA−A
’の断面図である。第1図(b)の断面図によりて説明
すると、半導体基板が真空吸引によって凸型に反るよう
に曲面成型q3され、外周部1こ段差OJを設けその段
差部に複数個の排気孔(5)を有する金属基台q1であ
る。
αυは排気管である。この金属基台l?:、装着される
チャックを説明すると、第2図(a)の外周部ζこ溝C
1lを形成されかつその溝(こ沿1て複数個の排気孔)
2+1が形成された弾性体からなるチャック5である。
第2図Φ)は第2図(a)の断面図である。
前記金属基台Qtlにチャック(ハ)を狭溝した図が第
3図である。清浄化を終了した半導体基板■をチャック
上に載せ、チャックの排気孔(支)および基台の排気孔
(5)を介して排気管0より真空吸引することにより、
基板(1)の外周部が引張られてチャックと共に半導体
基板を基台の表面形状α3通りに接合面中央部が凸型と
なる状態で保持した後に1800回転し、基板(1)の
接合面が下向きになるように1呆持する。次に相接する
他方の基板(40)を前記と同型の金、萬基台に装着し
たチャック上に載せ真空吸引Iこよ−て接合面を凸型に
反らして保持し、2枚の基板の凸型面同士を軽く接触(
第4図)させた後に下側のチャックに吸着された基板(
40)の真空を解除し次に上側の基板■を同様に真空を
解除する(第5図)。真空を解除すると同時に基板の反
りは回復し、元の平面状態に戻り2枚の半導体基板の焼
面ば全面にわた。て密着し、ボイドレス接合する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、ボイドの発生を有効に防止した半導体
基板の接合方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は金属基台の平面図及び断面図、第2図は金属基
台に装着されるラバーチャックの平面図及び断面図、第
3図は基台にチャックを装着した図、第4図は2枚の半
導体基板を真空吸引した状態で凸型部を接触させた図、
第5図は2枚の半導体基板の真空を解除し、基板の全面
が接合した図である。 5・・排気孔、10・・・金属基台、11・・・排気管
、12・・・曲面形成部、13・・・段差、20・・排
気孔、21・・・溝、25・・・ラバーチャック、30
.40・・・半導体基板。 第  1  図 第  3 図 第4図 第  5 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 表面が十分に鏡面でかつ平滑に形成された2枚の半導体
    基板の鏡面同士を異物の介在しない清浄な雰囲気下で接
    合させる半導体基板の接合方法において、2枚の基板を
    真空吸引によって凸型に反らせてその凸型部同士を接触
    させ真空を解除することで基板同士を密着させ、全面接
    合させることを特徴とする半導体基板の接合方法。
JP16370786A 1986-07-14 1986-07-14 半導体基板の接合方法 Pending JPS6319807A (ja)

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JPS6319807A true JPS6319807A (ja) 1988-01-27

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JP (1) JPS6319807A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008224431A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Konica Minolta Opto Inc マイクロチップの製造方法、及びマイクロチップ
JP2008232885A (ja) * 2007-03-22 2008-10-02 Konica Minolta Opto Inc マイクロチップの製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008224431A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Konica Minolta Opto Inc マイクロチップの製造方法、及びマイクロチップ
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