JPS63196846A - イオンセンサ - Google Patents
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- JPS63196846A JPS63196846A JP62028330A JP2833087A JPS63196846A JP S63196846 A JPS63196846 A JP S63196846A JP 62028330 A JP62028330 A JP 62028330A JP 2833087 A JP2833087 A JP 2833087A JP S63196846 A JPS63196846 A JP S63196846A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/28—Electrolytic cell components
- G01N27/30—Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
- G01N27/333—Ion-selective electrodes or membranes
- G01N27/3335—Ion-selective electrodes or membranes the membrane containing at least one organic component
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はイオンセンサ、特にイオン感応部を形成した基
盤を用いたイオンセンサに関するものである。
盤を用いたイオンセンサに関するものである。
[従来の技術]
イオンセンサに関して、本発明者等は炭素電極(特に導
電性炭素材料として、ベーサルブレー・ンピロリティッ
クグラファイトカーボン: BPGカーボン、グラッシ
ーカーボン等)を基体とし、その上に酸化還元機能層、
及びさらにこの上にイオン選択性層を被覆したイオンセ
ンサに関して出願してきた。
電性炭素材料として、ベーサルブレー・ンピロリティッ
クグラファイトカーボン: BPGカーボン、グラッシ
ーカーボン等)を基体とし、その上に酸化還元機能層、
及びさらにこの上にイオン選択性層を被覆したイオンセ
ンサに関して出願してきた。
ところが、この形態では基盤の形に限定され、特に微小
化やこの技術を半導体技術等・の回路技術へ利用するこ
とは難しかった。
化やこの技術を半導体技術等・の回路技術へ利用するこ
とは難しかった。
今後イオンセンサを初めとするセンサ技術は、隼にセン
サで測定するというシステムではなく、電子、電気、生
物工学9発酵分野、医用分野(臨床1診断、検査1通信
等)におけるソフトの開発が要求されているため、基盤
技術を高度に組み合わせたセンサ技術開発が望まれる。
サで測定するというシステムではなく、電子、電気、生
物工学9発酵分野、医用分野(臨床1診断、検査1通信
等)におけるソフトの開発が要求されているため、基盤
技術を高度に組み合わせたセンサ技術開発が望まれる。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明は、回路基盤技術にも利用可能なるイオン感応部
を形成した基盤を用いたイオンセンサを提供する。
を形成した基盤を用いたイオンセンサを提供する。
[問題点を解決するための手段]
この問題点を解決するための一手段として、本発明のイ
オンセンサは、イオン感応部が形成された基盤と、該イ
オン感応部を被覆する炭素を含む炭素層と、該炭素層を
被覆する酸化還元機能を発現する酸化還元機能層とを備
える。
オンセンサは、イオン感応部が形成された基盤と、該イ
オン感応部を被覆する炭素を含む炭素層と、該炭素層を
被覆する酸化還元機能を発現する酸化還元機能層とを備
える。
又、イオン感応部が形成された基盤と、該イオン感応部
を被覆する炭素を含む炭素層と、該炭素層を被覆する酸
化還元機能を発現する酸化還元機能層と、該酸化還元機
能層を被覆するイオン選択性を発現するイオン選択性層
とを備える。
を被覆する炭素を含む炭素層と、該炭素層を被覆する酸
化還元機能を発現する酸化還元機能層と、該酸化還元機
能層を被覆するイオン選択性を発現するイオン選択性層
とを備える。
[作用コ
かかる構成において、基盤に形成されたイオン感応部に
イオン濃度に対応した電位を発生する。・[実施例] 以下、添付図面に従って、本発明の一実施例を詳細に説
明する。
イオン濃度に対応した電位を発生する。・[実施例] 以下、添付図面に従って、本発明の一実施例を詳細に説
明する。
実施例1
(1)341図に示す、ポリイミドフィルム上に銅線を
プリント配線した基盤(三井金属工業(株)社製:細い
ところで0.1mm線幅)上の一部Aにカーボンペース
ト(粘度150〜300p、:日本アチソン(株)社製
JEF−010)をへヶにて1回塗布(膜厚約0.5m
m)して、焼成温度150℃で30分間焼成して基盤1
を作成した。次に、基盤1とウレタンコートの銅線2(
リード線)とをハンダ3で接合し、ハンダ3の部分をシ
リコーン樹脂4で絶縁して、第2図(a)に示す導電性
カーボン電極1oを作成した。
プリント配線した基盤(三井金属工業(株)社製:細い
ところで0.1mm線幅)上の一部Aにカーボンペース
ト(粘度150〜300p、:日本アチソン(株)社製
JEF−010)をへヶにて1回塗布(膜厚約0.5m
m)して、焼成温度150℃で30分間焼成して基盤1
を作成した。次に、基盤1とウレタンコートの銅線2(
リード線)とをハンダ3で接合し、ハンダ3の部分をシ
リコーン樹脂4で絶縁して、第2図(a)に示す導電性
カーボン電極1oを作成した。
(2)第2図(b)に示すフィルム基盤電極2゜を、(
1)の方法で作成した導電性カーボン電極10のカーボ
ン被覆プリント配線部分10aを、次の条件で電解酸化
反応して酸化還元機能層11で被覆し、さらに水素イオ
ンキャリヤ膜12を被覆して作成した。
1)の方法で作成した導電性カーボン電極10のカーボ
ン被覆プリント配線部分10aを、次の条件で電解酸化
反応して酸化還元機能層11で被覆し、さらに水素イオ
ンキャリヤ膜12を被覆して作成した。
電解酸化反応条件は、上記導電性カーボン電極10を作
用極とし、基準極に5SCE、対極に白金網の3電極セ
ルを用いた。
用極とし、基準極に5SCE、対極に白金網の3電極セ
ルを用いた。
(電解酸化反応条件)
電解液 0.5M 2.[5キシレノール0.2
M 過塩素酸ナトリウム アセトニトリル溶媒 電解温度 −20,0℃ 電解条件 0〜+1.5ボルト(対飽和塩化ナトリウム
カロメル電極)掃引速度 50 mV/秒で2回掃引後、+1.5ボルトで10分
間定電位電解反応を 行った。
M 過塩素酸ナトリウム アセトニトリル溶媒 電解温度 −20,0℃ 電解条件 0〜+1.5ボルト(対飽和塩化ナトリウム
カロメル電極)掃引速度 50 mV/秒で2回掃引後、+1.5ボルトで10分
間定電位電解反応を 行った。
次いで、この電極表面に水素イオンキャリア膜12とし
てプロトンキャリヤ膜を次゛の条件でディッピングした
。
てプロトンキャリヤ膜を次゛の条件でディッピングした
。
(プロトンキャリヤ膜組成)
TDDA 313 mg
B 胃を零K T p CI P
8 31.3 mg 0.6
WT零D OS 3255
m8B2.3 胃t96P V CIH5mg
31.1 wt%FTHF溶液 実験例1 以上の様にして作成したフィルム基盤電極20と5SC
E電極21とを用いて、第3図に示す回路により、標準
&1衝液PH5〜9の範囲内でPHと該フィルム基盤電
極20の起電力応答の関係は第4図に示すように直線関
係を示し、その時の直線の傾きは56.05mV/PH
(37℃)である。
B 胃を零K T p CI P
8 31.3 mg 0.6
WT零D OS 3255
m8B2.3 胃t96P V CIH5mg
31.1 wt%FTHF溶液 実験例1 以上の様にして作成したフィルム基盤電極20と5SC
E電極21とを用いて、第3図に示す回路により、標準
&1衝液PH5〜9の範囲内でPHと該フィルム基盤電
極20の起電力応答の関係は第4図に示すように直線関
係を示し、その時の直線の傾きは56.05mV/PH
(37℃)である。
以上のことから、プリント配線フィルム(薄膜)でPH
測測定可能なるセンサとして実用に供する可能性の高い
センサである。
測測定可能なるセンサとして実用に供する可能性の高い
センサである。
実施例2
第5図にハンディタイプのイオンセンサ50を示す。
イオンセンサ50は、前記フィルム基盤電極20の様な
イオンセンサ電極51aと、基準電極51bと、コモン
電極51cと、サーミスタ51dとから成るセンサ入力
部51から種々のアナログデータが入力され、A/D変
換器52でデジタルデータに変換される。これらのデー
タに基づいて、CPU53がROM54に格納されたプ
ログラムに従って、RAM55を補助記憶としながら、
イオン濃度を算出して、出力部56に出力する。
イオンセンサ電極51aと、基準電極51bと、コモン
電極51cと、サーミスタ51dとから成るセンサ入力
部51から種々のアナログデータが入力され、A/D変
換器52でデジタルデータに変換される。これらのデー
タに基づいて、CPU53がROM54に格納されたプ
ログラムに従って、RAM55を補助記憶としながら、
イオン濃度を算出して、出力部56に出力する。
尚、−例としてハンディタイプのイオンセンサを説明し
たが、本発明の技術思想によりイオンセンサを含む種々
の装置を基盤上で容易に作成でき、複数のイオン種を同
時に測定できる装置が得られる。又、集積回路への適応
、更には集積回路をイオン選択性層で覆った装置等への
道も開いた。
たが、本発明の技術思想によりイオンセンサを含む種々
の装置を基盤上で容易に作成でき、複数のイオン種を同
時に測定できる装置が得られる。又、集積回路への適応
、更には集積回路をイオン選択性層で覆った装置等への
道も開いた。
又、本実施例ではイオンキャリア膜として、水素イオン
キャリア膜を代表させて説明したが、カルシウム、カリ
ウム、ナトリウム、マグネシウム、アンモニウム等の陽
イオン、炭酸イオン、塩素イオン、リン酸イオン、酢酸
イオン、硫酸イオン等の他のイオンキャリア膜において
も同様の効果があるし、更に酸素、炭酸ガス等のガスセ
ンサ、酵素センサ等のバイオセンサにおいても同様であ
る。
キャリア膜を代表させて説明したが、カルシウム、カリ
ウム、ナトリウム、マグネシウム、アンモニウム等の陽
イオン、炭酸イオン、塩素イオン、リン酸イオン、酢酸
イオン、硫酸イオン等の他のイオンキャリア膜において
も同様の効果があるし、更に酸素、炭酸ガス等のガスセ
ンサ、酵素センサ等のバイオセンサにおいても同様であ
る。
更に、炭素材料として、実施例ではカーボンペーストを
用いたが、炭素含有のトナー、炭素含有のエマルジョン
、炭素含有の導電性接着剤でもよい。
用いたが、炭素含有のトナー、炭素含有のエマルジョン
、炭素含有の導電性接着剤でもよい。
[発明の効果]
本発明により、回路基盤技術にも利用可能なるイオン感
応部を形成した基盤を用いたイオンセンサを提供できる
。
応部を形成した基盤を用いたイオンセンサを提供できる
。
更に詳細に言えば、本発明により、
(1)超微細配線上に簡単に導電性カーボンが被覆でき
、しかも絶縁された配線から構成された該カーボン基盤
が作成できる。
、しかも絶縁された配線から構成された該カーボン基盤
が作成できる。
(2)該カーボン基盤上に電解酸化反応により、ピンホ
ールフリーの酸化還元応答膜が被覆できる。
ールフリーの酸化還元応答膜が被覆できる。
(3)さらに、イオン選択性膜を被覆する複合膜型のイ
オンセンサである。
オンセンサである。
この技術は、スクリーン印刷基盤、半導体回路基盤とい
ったプリント回路基盤上に容・易に上記膜を被覆できる
ため、このセンサ技術を利用する応用分野、例えば電気
、電子、生物工学1発酵工学、医用分野(臨床1診断、
検査3通信等)への高度利用への適応が考えられる。
ったプリント回路基盤上に容・易に上記膜を被覆できる
ため、このセンサ技術を利用する応用分野、例えば電気
、電子、生物工学1発酵工学、医用分野(臨床1診断、
検査3通信等)への高度利用への適応が考えられる。
第1図は実施例1に使用したプリント基盤の原形図、
第2図(a)は実施例1の導電性カーボン電極、
第2図(b)は実施例1のフィルム基盤電極、第3図は
実験例1で起電力応答を測定した回路を示す図、 第4図は実験例1での実験結果を示す図、第5図は実施
例2のハンディイオンセンサの構成図である。 図中、1・・・基盤1.2・・・銅線、3・・・ハンダ
、4・・・シリコーン樹脂、10・・・導電性カーホン
電極、10a・・・カーボン被覆プリント配線部分、1
1・・・酸化還元機能層、12・・・水素イオンキャリ
ヤ膜、50・・・イオンセンサ、51・・・センサ入力
部、51a・・・イオンセンサ電極、51b・・・基準
電極、51c・・・コモン電極、51d・・・サーミス
タ、52 ・A / D変換器、53・CPU、54・
ROM、55・・・RAM、56・・・出力部である。 特許出願人 チル千株式会社 代理人 弁理士 大 塚 康 徳第 1
図 第2図(0) 第2図(b) 第5図 第3図 H 第4図
実験例1で起電力応答を測定した回路を示す図、 第4図は実験例1での実験結果を示す図、第5図は実施
例2のハンディイオンセンサの構成図である。 図中、1・・・基盤1.2・・・銅線、3・・・ハンダ
、4・・・シリコーン樹脂、10・・・導電性カーホン
電極、10a・・・カーボン被覆プリント配線部分、1
1・・・酸化還元機能層、12・・・水素イオンキャリ
ヤ膜、50・・・イオンセンサ、51・・・センサ入力
部、51a・・・イオンセンサ電極、51b・・・基準
電極、51c・・・コモン電極、51d・・・サーミス
タ、52 ・A / D変換器、53・CPU、54・
ROM、55・・・RAM、56・・・出力部である。 特許出願人 チル千株式会社 代理人 弁理士 大 塚 康 徳第 1
図 第2図(0) 第2図(b) 第5図 第3図 H 第4図
Claims (6)
- (1)イオン感応部が形成された基盤と、該イオン感応
部を被覆する炭素を含む炭素層と、該炭素層を被覆する
酸化還元機能を発現する酸化還元機能層とを備えること
を特徴とするイオンセンサ。 - (2)炭素層が炭素含有のエマルジョン、炭素含有のペ
ースト、炭素含有のトナー、炭素含有の導電性接着剤か
ら選ばれることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のイオンセンサ。 - (3)基盤、炭素層、酸化還元機能層がそれぞれ一対と
なり、複数対同一の基盤上に形成されたことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項または第2項記載のイオンセン
サ。 - (4)イオン感応部が形成された基盤と、該イオン感応
部を被覆する炭素を含む炭素層と、該炭素層を被覆する
酸化還元機能を発現する酸化還元機能層と、該酸化還元
機能層を被覆するイオン選択性を発現するイオン選択性
層とを備えることを特徴とするイオンセンサ。 - (5)炭素層が炭素含有のエマルジョン、炭素含有のペ
ースト、炭素含有のトナー、炭素含有の導電性接着剤か
ら選ばれることを特徴とする特許請求の範囲第4項記載
のイオンセンサ。 - (6)基盤、炭素層、酸化還元機能層、イオン選択性層
が、それぞれ一対となり、複数対同一の基盤上に形成さ
れたことを特徴とする特許請求の範囲第4項または第5
項記載のイオンセンサ。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62028330A JPS63196846A (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | イオンセンサ |
US07/751,581 US5156728A (en) | 1987-02-12 | 1988-02-12 | Ion sensor |
PCT/JP1988/000143 WO1988006289A1 (en) | 1987-02-12 | 1988-02-12 | Ion sensor |
DE3851834T DE3851834T2 (de) | 1987-02-12 | 1988-02-12 | Sensor für ionen. |
EP88901640A EP0347460B1 (en) | 1987-02-12 | 1988-02-12 | Ion sensor |
DK566088A DK566088D0 (da) | 1987-02-12 | 1988-10-11 | Ionsensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62028330A JPS63196846A (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | イオンセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63196846A true JPS63196846A (ja) | 1988-08-15 |
Family
ID=12245600
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62028330A Pending JPS63196846A (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | イオンセンサ |
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---|---|
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JP (1) | JPS63196846A (ja) |
DE (1) | DE3851834T2 (ja) |
WO (1) | WO1988006289A1 (ja) |
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JPS5551190U (ja) * | 1978-10-03 | 1980-04-04 | ||
JPS5757522Y2 (ja) * | 1978-02-21 | 1982-12-10 | ||
JPS60182712U (ja) * | 1984-05-16 | 1985-12-04 | ヤンマー農機株式会社 | 田植機における側条施肥の作溝装置 |
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Family Cites Families (6)
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US4454007A (en) * | 1983-01-27 | 1984-06-12 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Ion-selective layered sensor and methods of making and using the same |
JPS61251764A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Terumo Corp | ↓pHセンサ− |
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DK626986A (da) * | 1985-12-25 | 1987-06-26 | Terumo Corp | Ionsensor |
JPH06221055A (ja) * | 1993-01-22 | 1994-08-09 | Ing Tec Kk | 自動扉装置 |
-
1987
- 1987-02-12 JP JP62028330A patent/JPS63196846A/ja active Pending
-
1988
- 1988-02-12 DE DE3851834T patent/DE3851834T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-02-12 WO PCT/JP1988/000143 patent/WO1988006289A1/ja active IP Right Grant
- 1988-02-12 EP EP88901640A patent/EP0347460B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0347460A1 (en) | 1989-12-27 |
WO1988006289A1 (en) | 1988-08-25 |
EP0347460A4 (en) | 1991-04-17 |
DE3851834T2 (de) | 1995-03-16 |
DE3851834D1 (de) | 1994-11-17 |
EP0347460B1 (en) | 1994-10-12 |
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