JPS63193650A - 試験回線選択制御方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 試験系端末装置から入力した選択制御情報に対応して、
スイッチングネットワークを介した任意数の試験装置と
試験系端末装置との間の試験回線を、試験系端末インタ
フェース装置に於いてディジタル的に選択接続するもの
である。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、試験系端末装置からの選択制御情報に従って
、試験回線を選択して試験を行う試験回線選択制御方式
に関するものである。

ディジタル交換機に収容された加入者回路、加入者線、
宅内機器、中継回線等を試験系端末装置から試験を行う
場合に、各種の試験装置を選択接続するものであり、そ
の場合の試験回線の選択を簡単な構成で実現することが
要望されている。

〔従来の技術〕

試験回線を選択する従来例は、例えば、第５図に示すよ
うに、試験系端末装置５１が試験系端末インタフェース
装置ｉ５２を介してスイッチングネットワーク５３に接
続され、加入者回路５５等を試験する試験装置５４がス
イッチングネットワーク５３に接続されている。

試験系端末インタフェース装置５２は、スインチングネ
ソトヮーク５３と試験系端末装置５１との間を、メタリ
ック回線で選択接続する機能を有するものであり、複数
の試験装置５４対応のスイッチ等を備えている。

試験系端末装置５１のキースイッチ等を操作して選択制
御情報を入力すると、その選択制御情報に対応して試験
系端末インタフェース装置５２のスイッチが動作して、
所望の試験装置５４と試験系端末装置５１との間にメタ
リック回線が形成される。そして、試験系端末装置５１
がら試験制御情報を送出すると、その試験制御情報に対
応して試験装置５４が動作し、加入者回路５５等の試験
を行い、その試験結果等は試験系端末装置５１に転送さ
れる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来例に於ける試験系端末インタフェース装置５２に於
いては、メタリック回線を形成して試験装置５４と試験
系端末袋ｆｉｆ５１との間を選択接続する為に、リレー
接点等のスイッチにより構成されている。従って、機械
的に動作する部分を含むので、寿命が短（且つ信顧性が
低い欠点がある。

又スイッチングネットワーク５３と試験系端末装置５１
との間は、全試験回線数に相当する布線が必要となり、
試験系端末インタフェース装置を含めて構成が複雑とな
る欠点がある。

本発明は、簡単な構成により信顛性の高い試験回線の選
択を行わせることを目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の試験回線選択制御方式は、ディジタル的に選択
制御を行う試験系端末インタフェース装置を設けたもの
であり、第１図を参照して説明する。

試験系端末装置１を試験系端末インタフェース装置２を
介してディジタル交換機のスイッチングネットワーク３
に収容し、加入者回路５等に接続された試験装置４をス
イッチングネットワーク３に収容し、試験系端末装置１
から選択制御情報を入力し、その選択制御情報に従って
試験系端末インタフェース装置２に於いてディジタル的
に試験装置４と試験系端末装置１との間の試験回線を選
択接続するものである。

〔作用〕

スイッチングネットワーク３と試験系端末インタフェー
ス装置２との間は、ハイウェイで接続されており、試験
系端末装置１から選択制御情報を入力すると、その選択
制御情報に従って試験系端末インタフェース装置２は、
所定のタイムスロットを選択し、それによって、試験系
端末装置１と所定の試験装置４との間の試験回線をディ
ジタル的に接続するものである。

〔実施例〕

以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。

第２図は本発明の実施例のブロック図であり、１０は交
換機本体、１１は試験系端末装置、１２は試験系端末イ
ンタフェース装置、１３はスイッチングネットワーク、
１４は試験装置、１５は加入者回路、１６はインタフェ
ースアダプタ、１７は中央制御装置、１８はハイウェイ
、１９．２０は制御線である。

試験系端末インタフェース装置１２は、ハイウェイ端子
Ａと、データ端子Ｂと、制御端子Ｃとを有し、スイッチ
ングネットワーク１３との間はハイウェイ１８により接
続されている。又試験系端末装置１１と試験系端末イン
タフェース装置１２との間は、インタフェースアダプタ
１６を介して制御線１９．２０により接続されている。

インタフェースアダプタ１６は、信号レベルの変換等を
行う機能を有し、交換機本体１０に各種の構成の試験系
端末装置１１を接続できるようにして、汎用性を持たせ
る為のものであり、このインタフェースアダプタ１６と
試験系端末インタフェース装置ｆ１２との間のスイッチ
ングネットワーク１３は、例えば、固定的パスにより接
続されている。

試験系端末装置１１から選択制御情報を入力すると、イ
ンタフェースアダプタ１６を介して選択制御情報が試験
系端末インタフェース装置１２の制御端子Ｃに加えられ
、その選択制御情報に従ってハイウェイ端子Ａに接続さ
れたハイうエイ１８上のタイムスロットの選択が行われ
る。それによって、指定された試験装置１４と試験系端
末装置１１との間の試験回線が選択接続される。そして
、試験系端末装置１１から試験制御情報を送出すると、
インタフェースアダプタ１６を介して試験制御情報が試
験系端末インタフェース装置１２のデータ端子Ｂに加え
られ、選択されたタイムスロットに乗せられて試験装置
１４に転送される。

試験装置１４は、その試験制御情報に従って試験動作を
行い、その結果を試験系端末インタフェース装置１２か
らインタフェースアダプタ１６を介して試験系端末装置
ｆｆ１ｌｌに転送する。

第３図は試験系端末インタフェース装置の一実施例のブ
ロック図であり、２１は多重化部、２２．２４はセレク
タ、２３は制御部、２５はトーン発生部、Ａ、Ｂ、Ｃは
第２図に於けるハイウェイ端子、データ端子、制御端子
にそれぞれ対応する端子である。

この実施例は、試験系端末装置１１又はトーン発生部２
５からトーン信号等を試験装置１４側へ送出する場合の
構成を示すものであり、制御端子Ｃに、試験系端末装置
１１　（第２図参照）から制御線２０．インタフェース
アダプタ１６．スイッチングネットワーク１３．制御線
１９を介して選択制御情報が加えられると、制御端子Ｃ
から制御部２３に加えられ、この制御部２３からセレク
タ２２に選択信号ａが加えられる。又トーン発生部２５
からトーン信号を発生させる場合は、トーン制御信号す
がトーン発生部２５に加えられ、且つ選択信号すがセレ
クタ２４に加えられて、セレクタ２４はトーン発生部２
５の出力を選択出力することになる。

セレクタ２２は、選択信号ａに対応して多重化部２１で
多重化するタイムスロットを選択することになり、従っ
て、ハイウェイ端子Ａを介してタイムスロット対応の試
験装置１４（第２図参照）と接続されることになる。ト
ーン発生部２５からトーン信号を送出する場合は、前述
のように、セレクタ２４を介してセレクタ２２に加えら
れ、セレクタ２２によって所定のタイムスロットが選択
されて多重化部２１により多重化されて、ハイウェイ端
子Ａからスイッチングネットワーク１３　（第２図参照
）を介してタイムスロット対応の試験装置１４に転送さ
れ、試験装置１４から加入者回路１５等に送出される。

即ち、試験系端末インタフェース装置に於いてディジタ
ル的に試験回線が選択接続されることになる。

又試験系端末装置１１からデータ端子Ｂに試験制御信号
等を加える場合は、セレクタ２４によりデータ端子Ｂ側
が選択され、試験系端末装置１１からの試験制御信号等
がセレクタ２２に加えられ、選択信号ａに従って選択さ
れたタイムスロットに多重化される。従って、タイムス
ロット対応の試験装置１４にその試験制御信号が転送さ
れる。

又試験装置１４からの情報は、多重化部２１に相当する
多重分離部により分離されたタイムスロットを、セレク
タ２２に相当するセレクタで選択し、データ端子Ｂに相
当する端子から試験系端末装置１１へ転送することにな
る。

第４図は試験系端末インタフェース装置の他の実施例の
ブロック図であり、３１はメモリスイッチ、３２はトー
ン発生部、３３は制御部、Ａ、　Ｂ、Ｃはハイウェイ端
子、データ端子及び制御端子である。メモリスイッチ３
１は、時間スイッチと同様に動作するものであり、制御
部３３により書込み、読出しが制御され、データ端子Ｂ
からの試験制御情報又はトーン発生部３２からのトーン
信号が所定のアドレスに書込まれ、制御端子Ｃからの選
択制御信号に対応したタイムスロットに続出されて、ハ
イウェイ端子Ａから送出されるものである。

従って、タイムスロット対応の試験装置１４に試験制御
情報又はトーン信号が送出されることになり、ディジタ
ル的に試験回線が選択接続されたことになる。この実施
例は、メモリスイッチ３１を用いて試験回線の選択接続
を行うものであるから、アドレス制御により汎用性を持
たせることができる。

書 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明は、試験系端末装置ｌから
の選択制御情報に従って試験系端末インタフェース２に
より、スイッチングネットワーク３を介して試験装置４
をディジタル的に選択接続するものであり、機械的接点
等を用いて選択接続するものではないから、信顛性を向
上することができる。又ディジタル的に選択接続するこ
とにより、汎用性を持たせることも容易となる利点があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、第２図は本発明の実施例
のブロック図、第３図は試験系端末インタフェース装置
の一実施例のブロック図、第４図は試験系端末インタフ
ェース装置の他の実施例のブロック図、第５図は従来例
の要部ブロック図である。 １．１１は試験系端末装置、２，１２は試験系端末イン
タフェース装置、３，１３はスイッチングネットワーク
、４．１４は試験装置、５．１５は加入者回路、１６は
インタフェースアダプタ、１７は中央制御装置、１８は
ハイウェイ、１９゜２０は制御線、Ａはハイウェイ端子
、Ｂはディジタル端子、Ｃは制御端子である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 試験系端末装置（１）を試験系端末インタフェース装置
   （２）を介してディジタル交換機のスイッチングネット
   ワーク（３）に収容し、 各種の試験装置（４）を前記スイッチングネットワーク
   （３）に収容し、 前記試験系端末装置（１）からの選択制御情報の入力に
   より、前記試験系端末インタフェース装置（２）に於い
   て前記スイッチングネットワーク（３）を介して前記試
   験装置（４）を選択し、該試験装置（４）と前記試験系
   端末装置（１）との間の試験回線をディジタル的に接続
   する ことを特徴とする試験回線選択制御方式。