JPH0795781B2 - 試験回線選択制御方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 試験系端末装置から入力した選択制御情報に対応して、
スイッチングネットワークを介した任意数の試験装置と
試験系端末装置との間の試験回線を、試験系端末インタ
フェース装置に於いてディジタル的に選択接続するもの
である。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、試験系端末装置からの選択制御情報に従っ
て、試験回線を選択して試験を行なう試験回線選択制御
方式に関するものである。

ディジタル交換機に収容された加入者回路，加入者線，
宅内機器、中継回線等を試験系端末装置から試験を行う
場合に、各種の試験装置を選択接続するものであり、そ
の場合の試験回線の選択を簡単な構成で実現することが
要望されている。

〔従来の技術〕

試験回線を選択する従来例は、例えば、第５図に示すよ
うに、試験系端末装置51が試験系端末インタフェース装
置52を介してスイッチングネットワーク53に接続され、
加入者回路55等を試験する試験装置54がスイッチングネ
ットワーク53に接続されている。

試験系端末インタフェース装置52は、スイッチングネッ
トワーク53と試験系端末装置51との間を、メタリック回
線で選択接続する機能を有するものであり、複数の試験
装置54対応のスイッチ等を備えている。

試験系端末装置51のキースイッチ等を操作して選択制御
情報を入力すると、その選択制御情報に対応して試験系
端末インタフェース装置52のスイッチが動作して、所望
の試験装置54と試験系端末装置51との間にメタリック回
線が形成される。そして、試験系端末装置51から試験制
御情報を送出すると、その試験制御情報に対応して試験
装置54が動作し、加入者回路55等の試験を行い、その試
験結果等は試験系端末装置51に転送される。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来例に於ける試験系端末インタフェース装置52に於い
ては、メタリック回線を形成して試験装置54と試験系端
末装置51との間を選択接続する為に、リレー接点等のス
イッチにより構成されている。従って、機械的に動作す
る部分を含むので、寿命が短く且つ信頼性が低い欠点が
ある。

又スイッチングネットワーク53と試験系端末装置51との
間は、全試験回線数に相当する布線が必要となり、試験
系端末インタフェース装置を含めて構成が複雑となる欠
点がある。

本発明は、簡単な構成により信頼性の高い試験回線の選
択を行わせることを目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の試験回線選択制御方式は、ディジタル的に選択
制御を行う試験系端末インタフェース装置を設けたもの
であり、第１図を参照して説明する。

試験系端末装置１を試験系端末インタフェース装置２を
介してディジタル交換機のスイッチングネットワーク３
に収容し、加入者回路５等に接続された試験装置４をス
イッチングネットワーク３に収容し、試験系端末インタ
フェース装置２に、試験系端末装置１からの選択制御情
報によって試験装置４対応のタイムスロットを選択する
手段と、この手段により選択されたタイムスロットによ
り試験装置４に対する試験制御情報を送出する手段とを
設け、試験系端末装置１からの選択制御情報により、試
験系端末インタフェース装置２に於いて選択されたスイ
ッチングネットワーク３のハイウェイ上のタイムスロッ
トによって、試験系端末装置１と試験装置４との間の試
験回線を選択接続するものである。

〔作用〕

スイッチングネットワーク３と試験系端末インタフェー
ス装置２との間は、ハイウェイで接続されており、試験
系端末装置１から選択制御情報を入力すると、その選択
制御情報に従って試験系端末インタフェース装置２は、
所定のタイムスロットを選択し、それによって、試験系
端末装置１と所定の試験装置４との間の試験回線をディ
ジタル的に接続するものである。

〔実施例〕

以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。

第２図は本発明の実施例をブロック図であり、10は交換
機本体、11は試験系端末装置、12は試験系端末インタフ
ェース装置、13はスイッチングネットワーク、14は試験
装置、15は加入者回路、16はインタフェースアダプタ、
17は中央制御装置、18はハイウェイ、19,20は制御線で
ある。

試験系端末インタフェース装置12は、ハイウェイ端子Ａ
と、データ端子Ｂと、制御端子Ｃとを有し、スイッチン
グネットワーク13との間はハイウェイ18により接続され
ている。又試験系端末装置11と試験系端末インタフェー
ス装置12との間は、インタフェースアダプタ16を介して
制御線19,20により接続されている。

インタフェースアダプタ16は、信号レベルの変換等を行
う機能を有し、交換機本体10に各種の構成の試験系端末
装置11を接続できるようにして、汎用性を持たせる為の
ものであり、このインタフェースアダプタ16と試験系端
末インタフェース装置12との間のスイッチングネットワ
ーク13は、例えば、固定的パスにより接続されている。

試験系端末装置11から選択制御情報を入力すると、イン
タフェースアダプタ16を介して選択制御情報が試験系端
末インタフェース装置12の制御端子Ｃに加えられ、その
選択制御情報に従ってハイウェイ端子Ａに接続されたハ
イウェイ18上のタムスロットの選択が行われる。それに
よって、指定された試験装置14と試験系端末装置11との
間の試験回線が選択接続される。そして、試験系端末装
置11から試験制御情報を送出すると、インタフェースア
ダプタ16を介して試験制御情報が試験系端末インタフェ
ース装置12のデータ端子Ｂに加えられ、選択されたタイ
ムスロットに乗せられて試験装置14に転送される。

試験装置14は、その試験制御情報に従って試験動作を行
い、その結果を試験系端末インタフェース装置12からイ
ンタフェースアダプタ16を介して試験系端末装置11に転
送する。

第３図は試験系端末シンタフェース装置の一実施例のブ
ロック図であり、21は多重化部、22,24はセレクタ、23
は制御部、25はトーン発生部、A,B,Cは第２図に於ける
ハイウェイ端子，データ端子，制御端子にそれぞれ対応
する端子である。

この実施例は、試験系端末装置11又はトーン発生部25か
らトーン信号等を試験装置14側へ送出する場合の構成を
示すものであり、制御端子Ｃに、試験系端末装置11（第
２図参照）から制御線20,インタフェースアダプタ16、
スイッチングネットワーク13,制御線19を介して選択制
御情報が加えられると、制御端子Ｃから制御部23に加え
られ、この制御部23からセレクタ22に選択信号ａが加え
られる。又トーン発生部25からトーン信号を発生させる
場合は、トーン制御信号ｂがトーン発生部25に加えら
れ、且つ選択信号ｂがセレクタ24に加えられて、セレク
タ24はトーン発生部25の出力を選択出力することにな
る。

セレクタ22は、選択信号ａに対応して多重化部21で多重
化するタイムスロットを選択することになり、従って、
ハイウェイ端子Ａを介してタイムスロット対応の試験装
置14（第２図参照）と接続されることになる。トーン発
生部25からトーン信号を送出する場合は、前述のよう
に、セレクタ24を介してセレクタ22に加えられ、セレク
タ22によって所定のタイムスロットが選択されて多重化
部21により多重化されて、ハイウェイ端子Ａからスイッ
チングネットワーク13（第２図参照）を介してタイムス
ロット対応の試験装置14に転送され、試験装置14から加
入者回路15等に送出される。即ち、試験系端末インタフ
ェース装置に於いてディジタル的に試験回線が選択接続
されることになる。

又試験系端末装置11からデータ端子Ｂに試験制御信号等
を加える場合は、セレクタ24によりデータ端子Ｂ側が選
択され、試験系端末装置11からの試験制御信号等がセレ
クタ22に加えられ、選択信号ａに従って選択されたタイ
ムスロットに多重化される。従って、タイムスロット対
応の試験装置14にその試験制御信号が転送される。

又試験装置14からの情報は、多重化部21に相当する多重
分離部により分離されたタイムスロットを、セレクタ22
に相当するセレクタで選択し、データ端子Ｂに相当する
端子から試験系端末装置11へ転送することになる。

第４図は試験系端末インタフェース装置の他の実施例の
ブロック図であり、31はメモリスイッチ、32はトーン発
生部、33は制御部、A,B,Cはハイウェイ端子、データ端
子及び制御端子である。メモリスイッチ31は、時間スイ
ッチと同様に動作するものであり、制御部33により書込
み，読出しが制御され、データ端子Ｂからの試験制御情
報又はトーン発生部32からのトーン信号が所定のアドレ
スに書込まれ、制御端子Ｃからの選択制御信号に対応し
たタイムスロットに読出されて、ハイウェイ端子Ａから
送出されるものである。

従って、タイムスロット対応の試験装置14に試験制御情
報又はトーン信号が送出されることになり、ディジタル
的に試験回線が選択接続されたことになる。この実施例
は、メモリスイッチ31を用いて試験回線の選択接続を行
うものであるから、アドレス制御により汎用性を持たせ
ることができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、試験系端末装置１から
の選択制御情報に従って試験系端末インタフェース２に
より、スイッチングネットワーク３を介して試験装置４
をディジタル的に選択接続するものであり、機械的接点
等を用いて選択接続するものではないから、信頼性を向
上することができる。又ディジタル的に選択接続するこ
とにより、汎用性を持たせることも容易となる利点があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、第２図は本発明の実施例
のブロック図、第３図は試験系端末インタフェース装置
の一実施例のブロック図、第４図は試験系端末インタフ
ェース装置の他の実施例のブロック図、第５図は従来例
の要部ブロック図である。 1,11は試験系端末装置、2,12は試験系端末インタフェー
ス装置、3,13はスイッチングネットワーク、4,14は試験
装置、5,15は加入者回路、16はインタフェースアダプ
タ、17は中央制御装置、18はハイウェイ、19,20は制御
線、Ａはハイウェイ端子、Ｂはディジタル端子、Ｃは制
御端子である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試験系端末装置（１）を試験系端末インタ
   フェース装置（２）を介してディジタル交換機のスイッ
   チングネットワーク（３）に収容し、 且つ複数の各種の試験装置（４）を前記スイッチングネ
   ットワーク（３）に収容し、 前記試験系端末インタフェース装置（２）に、前記試験
   系端末装置（１）からの選択制御情報によって前記試験
   装置（４）対応のタイムスロットを選択する手段と、該
   手段により選択されたタイムスロットにより前記試験装
   置（４）に対する試験制御情報を送出する手段とを設
   け、 前記試験系端末装置（１）からの前記選択制御情報によ
   り、前記試験系端末インタフェース装置（２）に於いて
   選択された前記スイッチングネットワーク（３）のハイ
   ウェイ上のタイムスロットによって、前記試験系端末装
   置（１）と前記試験装置（４）との間の試験回線をディ
   ジタル的に接続する ことを特徴とする試験回線選択制御方式。