KR940006743B1 - Tdx-10 isdn 가입자 시험 환경 시스팀 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

TDX-10 ISDN 가입자 시험 환경 시스팀

제1도는 본 발명의 구성도.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

1 : 가입자 백보드 2 : 주변 프로세서부

3 : 시험장치

본 발명은 TDX-10 ISDN 가입자의 시험 환경시스팀에 관한 것이다.

본 발명은 TDX-10 전전자 교환기의 디지틀 가입자 정합장치의 시험환경 구조로써 기본속도(2B+D),일차군 속도(23B+D, 30B+D) 가입자 및 단말기를 포함한 시스팀을 시험하기 위한 타임스위치 기능을 구현하고 이 기능은 교환기에 정합되는 디지틀 가입자에 필요한 시스팀적인 시험을 효과적으로 수행하기 위한시험 환경시스팀을 제공하는데 그 목적이 있다.

본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해 가입자 백보드수단과 주변 프로세서부를 포함하고 있는 전전자 교환기의 시험 환경시스팀에 있어서, TD-버스 접속부, 및 발진기에 연결되어 프레임 동기신호(FS), 마스터클럭신호(MCLK)와 제어신호를 발생시키기 위한 로직부에 연결되어 상기 로직부로부터의 제어신호 및 주변 프로세서부로부터 상기 TD-버스 접속부를 통하여 들어오는 제어신호에 따라 B채널을 스위치하기 위한MT8980 스위치부를 구비하고 있는 시험장치, 상기 시험장치로부터 프레임 동기신호(FS)와 마스터 클럭(MCLK)을 공급받아 스위칭될 B채널의 데이타를 상기 시험장치와 송수신하고 가입자로부터 들어온 D채널은 D채널 프로트콜에 따라 분리적으로 처리하기 위한 가입자 백보드 수단, 및 상기 시험장치에서 스위칭기능을 수행하는데 필요한 제어신호를 TD-버스를 통해 제공하기 위한 주변 프로세서부를 구비하고 있는것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.

제1도는 본 발명의 구성도로서, 1은 ISDN 가입자 백보드를, 2는 주변 프로세서 보드(PP)를, 3은 시험장치를, 4는 MT8980 스위치부를, 5는 신호 로직부를, 6은 TD-버스 접속부를 각각 나타낸다.

도면에서 FS 신호는 프레임 동기신호를 나타내며, MCLK는 마스터 클럭신호를, foi^*는 8KHz 제어신호를 나타낸다,

본 발명에서 시험장치와 타블럭(주변 프로세서, 가입자 백보드)과의 연결은 신뢰도가 높은 RS-422 방식(Differential Line Driver, Receiver)으로 송/수신한다.

본 발명은 가입자 선로와 디지틀 통신을 비롯한 계층 1을 처리하고 D채널 프로트콜과 관련한 계층 2 처리등 다른 블럭간의 상호 작용을 위한 가입자 보드(1), 본 발명의 시험환경 시스팀에서 타임 스위치 역할을대행할 수 있는 시험장치(ISTA)(3), 및 시험장치(3)를 제어하기 위한 주변 프로세서 보드(2)로 구성되어있다.

가입자 백브드(1)는 회선 코드에 따라 2B1Q 회선 코드용과 4B3T 회선 코드용이 있으며, 이상의 두가지방식에 무관하게 시스팀을 시험할 수 있도륵 시험장치(3)를 구현하였다.

가입자 백보드(1)에서는 가입자에서 들어오는 데이타중 B/D채널을 분리하고 D채널은 LAPD 처리를 위해 해당 보드로 보내며 B채널은 시스팀 시험에서 스위칭 되기 위하여 서브하이웨이 케이블을 거쳐 시험장치와 접속된다.

가입자로부터의 2B 데이타는 4개의 서브하이웨이로 연결되어 데이타를 주고 받으며, 이에 필요한 클럭(FS, MCLK)을 TSL(타임 스위치 링크)역할을 수행하는 시험장치(3)가 제공할 수 있도록 하였다.

FS, MCLK 발생 로직부(5)는 타임 스위치 역할을 대행하는 것으로, TTL 로직으로 구현되었으며, 각각 8KHz, 4KHZ의 클럭을 가입자 백보드(1)로 제공하여 인터페이스 역할을 수행한다.

시험장치(3)는 B채널(송신 데이타 tx0-tx3, 수신데이타 rx0-rx3)을 스위칭 하기 위하여 MT8980 칩(4)을 사용하여 동일 가입자 보드내 또는 가입자 보드간 데이타 전송에 필요한 회선 교환이 이루어지도록 구성하였다.

MT8980 스위치부(4) 를 동작시키기 위하여 mtcs*, DTACK*, MCLK, foi*의 신호가 필요하며, 스위칭동작을 위하여 필요한 데이타는 MT8980 스위치(4)내의 바이폴라 LSI 스위치의 레지스터에 가입되도록 하였으며, 레지스터의 해당된 어드레스를 지정하고 데이타를 읽고 쓸수 있도록 주변 프로세서(PP)에서 TD버스를 통하여 제어될 수 있도록 구성하였다.

로직부(5)는 발진기(OSC)를 분주하여 MCLK, FS, foi*를 만들어 가입자 백보드(1)와 MT8980 스위치에 제공하며, DTACK*신호를 입력하여 TD-버스와 정합하여 주변 프로세서(2)의 제어를 받을 수 있도록 구성하였다.

주변 프로세서부(2)는 D채널을 처리하는 계층 3 역할을 담당하는 동시에 시험장치를 제어한다.

B채널을 스위칭 하기 위하여 필요한 정보는 시험장치에서는 수행할 소자가 없으므로 주변 프로세서(PP)(2)에서 TD-버스를 통하여 제어할 수 있도록 하였으며, 이는 PP의 제어를 받아 시험장치(3)의 MT8980스위치부(4)의 레지스터에 기록되며, 레지스터에 기록된 내용대로 가입자 보드간에 송수신 되는 데이타(rx, tx)신호가 시스팀 시험에서 의도하는바 대로 스위칭이 수행될 수 있도록 구성되었다.

본 발명은 상기와 같이 구성되어 계층 1 기능을 수행하는 가입자 정합 및 제어용 백보드와 주변 프로세서로 구성되는 TDX-10 시스팀과 lSDN 단말기를 연결하여 시스팀 레벨로 수행되는 시험을 타임 스위치 없이 용이하게 수행할 수 있어서 시스팀 시험의 편이성, 유지보수기능, 복수단말시험, 성능시험 수행에 있어서 효과적인 시험을 수행할 수 있다.

Claims (1)

1. 가입자 백보드수단(1)과 주변 프로세서부(2)를 포함하고 있는 전전자 교환기의 시험 환경시스팀에 있어서, TD-버스 접속부(6), 및 발진기에 연결되어 프레임 동기신호(FS), 마스터 클럭신호(MCLK)와 제어신호를 발생시키기 위한 로직부(5)에 연결되어 상기 로직부(5)로부터의 제어신호 및 주변 프로세서부(2)로부터 상기 TD-버스 접속부(6)를 통하여 들어오는 제어신호에 따라 B채널을 스위치하기 위한 MT8980스위치부(4)를 구비하고 있는 시험장치(3), 상기 시험장치로부터 프레임 동기신호(FS)와 마스터 클럭(MCLK)을 공급받아 스위칭 될 B채널의 데이타를 상기 시험장치(3)와 송수신하고 가입자로부터 들어온 D채널은 D채널 프로로콜에 따라 분리적으로 처리하기 위한 가입자 백보드수단(1), 및 상기 시험장치(3)에서스위칭 기능을 수행하는데 필요한 제어신호를 TD-버스를 통해 제공하기 위한 주변 프로세서부(2)를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 시험 환경시스팀.