JPS63193539A - Ｉｃリ−ドフレ−ムの外観検査方法 - Google Patents
Ｉｃリ−ドフレ−ムの外観検査方法Info
- Publication number
- JPS63193539A JPS63193539A JP2484587A JP2484587A JPS63193539A JP S63193539 A JPS63193539 A JP S63193539A JP 2484587 A JP2484587 A JP 2484587A JP 2484587 A JP2484587 A JP 2484587A JP S63193539 A JPS63193539 A JP S63193539A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead frame
- individual
- brightness curve
- curve
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 title description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈発明の利用分野〉
この発明は、モデルメッキ状態のＩＣリードフレームよ
り予め設定した基準輝度曲線に対し検査対象たる個々の
ｒＣリードフレームよりの個別輝度曲線を、ＩＣリード
フレーム中の検査対象エリアの複雑な形状、メッキ状態
等に対応して各輝度曲線中に形成される複雑な凹凸信号
を以て比較することによりＩＣリードフレームのメッキ
処理状態を検査するＩＣリードフレームの外観検査方法
に関する。
り予め設定した基準輝度曲線に対し検査対象たる個々の
ｒＣリードフレームよりの個別輝度曲線を、ＩＣリード
フレーム中の検査対象エリアの複雑な形状、メッキ状態
等に対応して各輝度曲線中に形成される複雑な凹凸信号
を以て比較することによりＩＣリードフレームのメッキ
処理状態を検査するＩＣリードフレームの外観検査方法
に関する。
〈従来の技術〉
従来、この種のＩＣリードフレームの外ｔｉ検査方法と
しては、種々のものが知られているが、その基本的原理
を説明すると以下の如くである。
しては、種々のものが知られているが、その基本的原理
を説明すると以下の如くである。
即ち、先ず、モデルメッキ状態のＩＣリードフレーム１
より基準輝度曲線Ｓを設定する。そして、この基準輝度
曲線Ｓを記憶させておき、検査対象たる個々のＩＣリー
ドフレーム１より個別輝度曲線Ｐ０を取り入れ、この個
別輝度曲線Ｐ０と基準輝度曲線Ｓとを、Ｉ ＣＵ−ドフ
レーム１中の検査対象エリア、具体的にはメッキエリア
２の複雑な形状、メッキ状態等に対応して各輝度曲線Ｓ
、 Ｐ。中に形成される複雑な凹凸信号３を以て比較す
る、即ち基準輝度曲線Ｓの凹凸信号３に対し異なる凹凸
信号３ａ、３ｂの部分がメツキネ良状態として検出され
る−・−・・というものである（第２図及び第３図参照
）。
より基準輝度曲線Ｓを設定する。そして、この基準輝度
曲線Ｓを記憶させておき、検査対象たる個々のＩＣリー
ドフレーム１より個別輝度曲線Ｐ０を取り入れ、この個
別輝度曲線Ｐ０と基準輝度曲線Ｓとを、Ｉ ＣＵ−ドフ
レーム１中の検査対象エリア、具体的にはメッキエリア
２の複雑な形状、メッキ状態等に対応して各輝度曲線Ｓ
、 Ｐ。中に形成される複雑な凹凸信号３を以て比較す
る、即ち基準輝度曲線Ｓの凹凸信号３に対し異なる凹凸
信号３ａ、３ｂの部分がメツキネ良状態として検出され
る−・−・・というものである（第２図及び第３図参照
）。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、個々のＩＣリードフレーム１の光沢状態
がメッキ液中の添加剤等によって微妙に異なる場合には
、トータルの反射光量が増大したり減少したりするので
、個別輝度曲線Ｐ。が全体的且つ相似的に大きくなった
り小さくなったりする。それ故、このままの状態でこの
個別輝度曲線Ｐ０と基準輝度曲線Ｓとを比較すると、こ
の全体的且つ相似的な相違自体がメッキ状態の不良の如
く検出され、その結果本来なされるべき複雑な凹凸信号
３の比較を行えず、必ずしも常に正確な検査をなし得る
とは限らないことになってしまう。
がメッキ液中の添加剤等によって微妙に異なる場合には
、トータルの反射光量が増大したり減少したりするので
、個別輝度曲線Ｐ。が全体的且つ相似的に大きくなった
り小さくなったりする。それ故、このままの状態でこの
個別輝度曲線Ｐ０と基準輝度曲線Ｓとを比較すると、こ
の全体的且つ相似的な相違自体がメッキ状態の不良の如
く検出され、その結果本来なされるべき複雑な凹凸信号
３の比較を行えず、必ずしも常に正確な検査をなし得る
とは限らないことになってしまう。
そこで、この発明では、このような本来はメッキ状態の
不良ではない光沢状態に起因する基準輝度曲線と個別輝
度曲線との全体的且つ相似的な相違を除いてやることに
より、常に正確な検査を行なえるＩＣリードフレームの
外観検査方法を提供することを目的とする。
不良ではない光沢状態に起因する基準輝度曲線と個別輝
度曲線との全体的且つ相似的な相違を除いてやることに
より、常に正確な検査を行なえるＩＣリードフレームの
外観検査方法を提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
その具体的手段として、この発明では、先ず、基準輝度
曲線と個別輝度曲線との間に、個々のＩＣリードフレー
ムのメッキ光沢状態によりて生じる全体的且つ相似的相
違を、基準乃至個別の何れか一方の輝度曲線を電気的に
処理して他方の輝度曲線に一致せしめるこにより取り除
き、その後この全体的一致状態において各輝度曲線が有
する複雑な凹凸信号の比較を行うことを要旨としている
。
曲線と個別輝度曲線との間に、個々のＩＣリードフレー
ムのメッキ光沢状態によりて生じる全体的且つ相似的相
違を、基準乃至個別の何れか一方の輝度曲線を電気的に
処理して他方の輝度曲線に一致せしめるこにより取り除
き、その後この全体的一致状態において各輝度曲線が有
する複雑な凹凸信号の比較を行うことを要旨としている
。
く作 用〉
即ち、基準輝度曲線と個別輝度曲線との間に生じる個々
のＩ Ｃ’Ｊ−ドフレームのメッキ光沢状態による全体
的且つ相似的相違を、電気的に取り除くこととしている
ので、このような本来はメッキ状態の不良ではないもの
を比較・検査対象から排除でき、本来比較・検査すべき
複雑な凹凸信号のみを対象とすることができることにな
り、その結果、常に正確な検査を行なえることになる。
のＩ Ｃ’Ｊ−ドフレームのメッキ光沢状態による全体
的且つ相似的相違を、電気的に取り除くこととしている
ので、このような本来はメッキ状態の不良ではないもの
を比較・検査対象から排除でき、本来比較・検査すべき
複雑な凹凸信号のみを対象とすることができることにな
り、その結果、常に正確な検査を行なえることになる。
〈実 施 例〉
以下、この発明の実施例を第１図を参照して説明する。
尚、以下の説明においては、前記従来技術において説明
した部分と共通する部分は各々同一符号を以て示し、重
複する説明は省略するものとする。
した部分と共通する部分は各々同一符号を以て示し、重
複する説明は省略するものとする。
このＩＣリードフレームの外観検査方法では、基準輝度
曲線Ｓと個別輝度曲線Ｐ０との間に、個々のＩＣリード
フレーム１のメッキ光沢状態によって全体的且つ相似的
な相違が生じた場合には、先ず、個別輝度曲線Ｐ０を電
気的に処理して個別輝度曲線Ｐ、とし基準輝度曲線Ｓに
一致せしめるこによりこの相違を取り除くこととしてい
る。そして、この全体的一致状態において各輝度曲線Ｓ
、Ｐｌが有する複雑な凹凸信号３の比較を行うことによ
りメッキ状態を検査することとしている。尚、両輝度曲
線Ｓ、ＰＯを一致させるための電気的処理は、基準輝度
曲線Ｓに施すことも可能であることは勿論である。
曲線Ｓと個別輝度曲線Ｐ０との間に、個々のＩＣリード
フレーム１のメッキ光沢状態によって全体的且つ相似的
な相違が生じた場合には、先ず、個別輝度曲線Ｐ０を電
気的に処理して個別輝度曲線Ｐ、とし基準輝度曲線Ｓに
一致せしめるこによりこの相違を取り除くこととしてい
る。そして、この全体的一致状態において各輝度曲線Ｓ
、Ｐｌが有する複雑な凹凸信号３の比較を行うことによ
りメッキ状態を検査することとしている。尚、両輝度曲
線Ｓ、ＰＯを一致させるための電気的処理は、基準輝度
曲線Ｓに施すことも可能であることは勿論である。
従って、個々のＩＣリードフレーム１のメッキ光沢状態
に起因する本来はメッキ状態の不良ではないものを比較
・検査対象から排除でき、本来比較・検査すべき複雑な
凹凸信号３のみを対象とすることができることになり、
その結果、常に正確な検査を行なえることになる。
に起因する本来はメッキ状態の不良ではないものを比較
・検査対象から排除でき、本来比較・検査すべき複雑な
凹凸信号３のみを対象とすることができることになり、
その結果、常に正確な検査を行なえることになる。
〈発明の効果〉
この発明に係るＩＣリードフレームの外観検査方法は、
以上説明してきた如く、基準輝度曲線と個別輝度曲線と
の間に生じる個々のＩＣリードフレームのメッキ光沢状
態による全体的且つ相似的相違を、電気的に取り除くこ
ととしているので、このような本来はメッキ状態の不良
ではないものを比較・検査対象から排除でき、本来比較
・検査すべき複雑な凹凸信号のみを対象とすることがで
きることになり、その結果、常に正確な検査を行なえる
ことになるという秀れた効果を有するものである。
以上説明してきた如く、基準輝度曲線と個別輝度曲線と
の間に生じる個々のＩＣリードフレームのメッキ光沢状
態による全体的且つ相似的相違を、電気的に取り除くこ
ととしているので、このような本来はメッキ状態の不良
ではないものを比較・検査対象から排除でき、本来比較
・検査すべき複雑な凹凸信号のみを対象とすることがで
きることになり、その結果、常に正確な検査を行なえる
ことになるという秀れた効果を有するものである。
第１図は、この発明に係るＩ ＣＵ−ドフレームの外観
検査方法における基準輝度曲線と個別輝度曲線との関係
を示す説明図、 第２図は、ＩＣリードフレームの部分概略平面図、そし
て 第３図は、従来のＩＣリードフレームの外観検査方法に
おける基準輝度曲線と個別輝度曲線との関係を示す説明
図である。 １・−・・−・−ＩＣリードフレーム ３−・−凹凸信号 Ｓ・−−−〜−・基準輝度曲線
検査方法における基準輝度曲線と個別輝度曲線との関係
を示す説明図、 第２図は、ＩＣリードフレームの部分概略平面図、そし
て 第３図は、従来のＩＣリードフレームの外観検査方法に
おける基準輝度曲線と個別輝度曲線との関係を示す説明
図である。 １・−・・−・−ＩＣリードフレーム ３−・−凹凸信号 Ｓ・−−−〜−・基準輝度曲線
Claims (1)
- モデルメッキ状態のＩＣリードフレームより予め設定し
た基準輝度曲線に対し検査対象たる個々のＩＣリードフ
レームよりの個別輝度曲線を、ＩＣリードフレーム中の
検査対象エリアの複雑な形状、メッキ状態等に対応して
各輝度曲線中に形成される複雑な凹凸信号を以て比較す
ることによりＩＣリードフレームのメッキ処理状態を検
査するＩＣリードフレームの外観検査方法であって、上
記基準輝度曲線と上記個別輝度曲線との間に、個々のＩ
Ｃリードフレームのメッキ光沢状態によって生じる全体
的且つ相似的相違を、基準乃至個別の何れか一方の輝度
曲線を電気的に処理して他方の輝度曲線に一致せしめる
こにより取り除いた後、この全体的一致状態において上
記複雑な凹凸信号の比較を行うことを特徴とするＩＣリ
ードフレームの外観検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2484587A JPS63193539A (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 | Ｉｃリ−ドフレ−ムの外観検査方法 |
| US07/082,097 US4851902A (en) | 1986-10-29 | 1987-08-05 | Auatomatic inspection system for IC lead frames and visual inspection method thereof |
| GB8722303A GB2197948B (en) | 1986-10-29 | 1987-09-22 | Automatic inspection system for and electro-optic methods of inspection of ic lead frames |
| SG313/93A SG31393G (en) | 1986-10-29 | 1993-03-22 | Automatic inspection system for an electro-optic methods of inspection of ic lead frames |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2484587A JPS63193539A (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 | Ｉｃリ−ドフレ−ムの外観検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63193539A true JPS63193539A (ja) | 1988-08-10 |
Family
ID=12149553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2484587A Pending JPS63193539A (ja) | 1986-10-29 | 1987-02-06 | Ｉｃリ−ドフレ−ムの外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63193539A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107824480A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-23 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于单相电能表窄带电力载波模块的自动化检测方法 |
| CN107843598A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-27 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种基于周转箱的集中器窄带电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN107843869A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-27 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种基于周转箱的三相电能表宽带电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN107860992A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-30 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于拆回电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN107861090A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-30 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种基于周转箱的单相电能表宽带电力载波模块自动化检测方法及系统 |
| CN107866387A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-04-03 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于采集终端窄带电力载波模块的自动化检测方法 |
| CN107876438A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-04-06 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于三相电能表窄带电力载波模块的自动化检测方法 |
| CN107876436A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-04-06 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于窄带电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN112802787A (zh) * | 2021-04-13 | 2021-05-14 | 四川旭茂微科技有限公司 | 一种用于引线框架组装的送料装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5132539A (ja) * | 1974-09-06 | 1976-03-19 | Susumu Ito |
-
1987
- 1987-02-06 JP JP2484587A patent/JPS63193539A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5132539A (ja) * | 1974-09-06 | 1976-03-19 | Susumu Ito |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107824480A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-23 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于单相电能表窄带电力载波模块的自动化检测方法 |
| CN107843598A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-27 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种基于周转箱的集中器窄带电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN107843869A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-27 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种基于周转箱的三相电能表宽带电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN107860992A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-30 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于拆回电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN107861090A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-30 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种基于周转箱的单相电能表宽带电力载波模块自动化检测方法及系统 |
| CN107866387A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-04-03 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于采集终端窄带电力载波模块的自动化检测方法 |
| CN107876438A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-04-06 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于三相电能表窄带电力载波模块的自动化检测方法 |
| CN107876436A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-04-06 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种用于窄带电力载波模块的自动化检测方法及系统 |
| CN112802787A (zh) * | 2021-04-13 | 2021-05-14 | 四川旭茂微科技有限公司 | 一种用于引线框架组装的送料装置 |
| CN112802787B (zh) * | 2021-04-13 | 2021-06-22 | 四川旭茂微科技有限公司 | 一种用于引线框架组装的送料装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4876457A (en) | Method and apparatus for differentiating a planar textured surface from a surrounding background | |
| JPS62163953A (ja) | 製品を検査する方法と装置 | |
| TW201724017A (zh) | 物品缺陷檢測方法、影像處理系統與電腦可讀取記錄媒體 | |
| JPS63193539A (ja) | Ｉｃリ−ドフレ−ムの外観検査方法 | |
| CN110044931A (zh) | 一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测装置 | |
| JPH07159337A (ja) | 半導体素子の欠陥検査方法 | |
| CN109870463A (zh) | 一种电子芯片故障检测装置 | |
| US4543602A (en) | Surface inspection method | |
| JP3090776B2 (ja) | 発光ダイオードの外観検査方法 | |
| JPH0431974A (ja) | 矩形部材の不良検査装置 | |
| CA1126855A (en) | Defect inspection system | |
| JPS61189406A (ja) | パタ−ン２値化方法とその装置 | |
| JP2807599B2 (ja) | 半導体チップ外観検査装置 | |
| JPH03108638A (ja) | 粒子凝集パターン判定方法 | |
| JPH0217433A (ja) | Ｌｅｄランプの外観検査方法 | |
| JPS59663A (ja) | 波形テスト方法 | |
| JP2000121495A (ja) | 画面検査方法 | |
| JPS6165444A (ja) | 被検査チツプの回路パタ−ン外観検査方法並びにその装置 | |
| CN106123782A (zh) | 扎带基座装配系统和方法以及扎带基座装配检测系统 | |
| JPS6070334A (ja) | レンズの欠点検査装置 | |
| JPH0273142A (ja) | 表面欠陥検査方法 | |
| JPH02278105A (ja) | 半田付検査装置 | |
| JPS63247649A (ja) | メツキ物の外観検査方法 | |
| JPS60210745A (ja) | 視覚センサシステム | |
| JPS62123339A (ja) | はんだ付け外観検査方法 |