JPH0273142A - 表面欠陥検査方法 - Google Patents
表面欠陥検査方法Info
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- JPH0273142A JPH0273142A JP22527488A JP22527488A JPH0273142A JP H0273142 A JPH0273142 A JP H0273142A JP 22527488 A JP22527488 A JP 22527488A JP 22527488 A JP22527488 A JP 22527488A JP H0273142 A JPH0273142 A JP H0273142A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は圧延鋼板等の被検材の表面欠陥を効率良く、
且つ、高精度で検査することができるようにした表面欠
陥検査方法に関する。
且つ、高精度で検査することができるようにした表面欠
陥検査方法に関する。
従来の表面欠陥検査方法、例えばレーザータイプの表面
疵検査方法にあっては、被検材表面に照射したレーザー
光の反射光から、第５図に示されるように、重欠陥、重
欠陥、重欠陥の閾値との開部から、欠陥のグレード判定
を行う簡易方式がある。 又、特公昭５４−３６８７６号に開示されるように、疵
信号を量子化し、疵の長さ、幅、面積等の情報により疵
種を判定し、疵Ｗ！毎の閾値との関係からグレード判定
を行う方法等がある。
疵検査方法にあっては、被検材表面に照射したレーザー
光の反射光から、第５図に示されるように、重欠陥、重
欠陥、重欠陥の閾値との開部から、欠陥のグレード判定
を行う簡易方式がある。 又、特公昭５４−３６８７６号に開示されるように、疵
信号を量子化し、疵の長さ、幅、面積等の情報により疵
種を判定し、疵Ｗ！毎の閾値との関係からグレード判定
を行う方法等がある。
前記従来の簡易方式は、欠陥部の輝度レベルと正常部の
輝度レベルの比、即ちＳ／Ｎに基づく判定であるために
、人間の目視による判定とｍｅが多いという問題点があ
った。 又、前記特公昭５４−３６８７６号の場合は、量子化さ
れた疵信号から疵の特徴を抽出し、その情報から種々の
判断基準に基づいて疵種を推定しているが、この疵種と
実際の疵種とが合致しない場合がある。この場合でも、
推定された疵種の閾値に基づいて疵のグレード判定をす
ることになるので、誤判定が生じることが多いという問
題点がある。
輝度レベルの比、即ちＳ／Ｎに基づく判定であるために
、人間の目視による判定とｍｅが多いという問題点があ
った。 又、前記特公昭５４−３６８７６号の場合は、量子化さ
れた疵信号から疵の特徴を抽出し、その情報から種々の
判断基準に基づいて疵種を推定しているが、この疵種と
実際の疵種とが合致しない場合がある。この場合でも、
推定された疵種の閾値に基づいて疵のグレード判定をす
ることになるので、誤判定が生じることが多いという問
題点がある。
この発明は上記従来の問題点に孟みてなされたものであ
って、高精度に表面欠陥のグｌノード判定を行うことが
できるように１７た表面欠陥検査方法を提供することを
目的とする。
って、高精度に表面欠陥のグｌノード判定を行うことが
できるように１７た表面欠陥検査方法を提供することを
目的とする。
この発明は、被検材に照明光を照射し、被照射部をカメ
ラにより撮像し、静止画として捕え、該静止画に基づき
欠陥判定する表面欠陥検査方法において、前記静止画に
より捕えられた表面欠陥の面積とＳＮ比を検出し、該検
出された面積及びＳＮ比から欠陥グレー・ドを判定する
表面欠陥検査方法により上記目的を達成するものである
。
ラにより撮像し、静止画として捕え、該静止画に基づき
欠陥判定する表面欠陥検査方法において、前記静止画に
より捕えられた表面欠陥の面積とＳＮ比を検出し、該検
出された面積及びＳＮ比から欠陥グレー・ドを判定する
表面欠陥検査方法により上記目的を達成するものである
。
この発明においては、静止画として捕えられた欠陥画像
から、表面欠陥の面積とＳＮ比を検出して、これら検出
された面積及びＳＮ比の両方から欠陥グレードを判定す
るようにしているので、高精度に表面欠陥を判定するこ
とができる。
から、表面欠陥の面積とＳＮ比を検出して、これら検出
された面積及びＳＮ比の両方から欠陥グレードを判定す
るようにしているので、高精度に表面欠陥を判定するこ
とができる。
この発明は、本発明者が、多種類の欠陥サンプルを用い
、多くの実験を重ねた結果によるものであり、静止画と
して捕えた欠陥画像における表面欠陥の面積と、欠陥部
の輝度レベルと正常部の輝度１ノベルの比、即ちＳＮ比
と、の２つの要素に基づいて欠陥サンプルを分層すると
、人間の目視判定による欠陥グレードの判定結果と一致
する、−とが判明した。 具体的には、次の第１表に示される各種欠陥を、第１図
に示されるように２．」１−の表面をストロボ２によっ
て照射１７、被照射部を高精細度カメラ３で撮像し、両
像視野（４７，５ｃｎ）内の欠陥面積と、該欠陥のＳ
／ Ｎ （Ｓは欠陥部の輝度１／ベル、Ｎは正常部の輝
度レベル）と、の関係は第２図に第 １゜ 表 前記第１表の各種欠陥を、人間の目視判定によりＡ、Ｂ
、Ｃの３つのグレードに分類すると、第２図に示される
３つの領域に分けちれる６即ち、第２図において右上側
はど欠陥グ１／−ドが悪化することが判明した。 ここでグレードＡは、表面品質の最も厳Ｉ７い用途の鋼
帯においては不可となる欠陥であり、グＩ／−ドＣは表
面品質要求があまり１１ｉＬ、＜ない鋼帯でも不可とな
る領域であり、グレードＢは前２＠の中間である。 上記第２図に示されるように、本発明者の実験により、
欠陥グレードの判定は単純に欠陥のＳＮ比のみでは行う
ことができず、欠陥の面積をも考慮して初めて正確に判
定できることが判明した。 従来は、欠陥のＳＮ比のみで判定ｌ−ていたので、例え
ばＳＮ比が小さく、欠陥の面積が大きい場合は目視では
Ｃグレードの欠陥であるにも拘らず、Ｂグレードとして
判定されたり、反対に、欠陥のＳＮ比は高いが、面積が
小さい場合は、目視検査よりも厳しい判定となり易く不
正確であった。 次に、本発明方法により実際に鋼帯の表面欠陥を検査す
る過程について説明する。 第１図に示されるようになストロボ２及び高精細度カメ
ラ３により得られた画＠Ｙ（第３図参照）における欠陥
Ｄ１、Ｄ２を走査する場合は、任意に決められた輝度レ
ベル（ＬＯＷ ＬＥＶＥＬ）以上をその連続性を見な
がら走査し、当該欠陥の面積を算出すると同時に、該欠
陥における最も高％ＪＱ［度レベル（ＳＩＧＮＡＬ
ＬＥＶＥＬ）を検出する。 シグナルレベルが求められたら、ノイズレベル（ＮＯＩ
ＳＥ ＬＥＶＥＬ）とから、Ｓ／Ｎを求める。この求
められた欠陥面積とＳ／Ｎから、予め作成された第４図
に示される判定基準に当てはめて、ここから、欠陥グレ
ード判定する。 即ち、第３図における欠陥Ｄ１はその欠陥面積及びＳＮ
比からＣグレード、欠陥Ｄ２はＢグレードと各々判定さ
れる。 なお上記実施例は鋼帯における表面欠陥を検査する場合
のものであるが、本発明はこれに限定されるものでなく
、ステンレス等の銅帯以外の被検材にも当然適用され得
るものである。 その場合は、被検材の種類に応じて、予め第２図に示さ
れるようなグレード判定をするための基準を設けておく
。
、多くの実験を重ねた結果によるものであり、静止画と
して捕えた欠陥画像における表面欠陥の面積と、欠陥部
の輝度レベルと正常部の輝度１ノベルの比、即ちＳＮ比
と、の２つの要素に基づいて欠陥サンプルを分層すると
、人間の目視判定による欠陥グレードの判定結果と一致
する、−とが判明した。 具体的には、次の第１表に示される各種欠陥を、第１図
に示されるように２．」１−の表面をストロボ２によっ
て照射１７、被照射部を高精細度カメラ３で撮像し、両
像視野（４７，５ｃｎ）内の欠陥面積と、該欠陥のＳ
／ Ｎ （Ｓは欠陥部の輝度１／ベル、Ｎは正常部の輝
度レベル）と、の関係は第２図に第 １゜ 表 前記第１表の各種欠陥を、人間の目視判定によりＡ、Ｂ
、Ｃの３つのグレードに分類すると、第２図に示される
３つの領域に分けちれる６即ち、第２図において右上側
はど欠陥グ１／−ドが悪化することが判明した。 ここでグレードＡは、表面品質の最も厳Ｉ７い用途の鋼
帯においては不可となる欠陥であり、グＩ／−ドＣは表
面品質要求があまり１１ｉＬ、＜ない鋼帯でも不可とな
る領域であり、グレードＢは前２＠の中間である。 上記第２図に示されるように、本発明者の実験により、
欠陥グレードの判定は単純に欠陥のＳＮ比のみでは行う
ことができず、欠陥の面積をも考慮して初めて正確に判
定できることが判明した。 従来は、欠陥のＳＮ比のみで判定ｌ−ていたので、例え
ばＳＮ比が小さく、欠陥の面積が大きい場合は目視では
Ｃグレードの欠陥であるにも拘らず、Ｂグレードとして
判定されたり、反対に、欠陥のＳＮ比は高いが、面積が
小さい場合は、目視検査よりも厳しい判定となり易く不
正確であった。 次に、本発明方法により実際に鋼帯の表面欠陥を検査す
る過程について説明する。 第１図に示されるようになストロボ２及び高精細度カメ
ラ３により得られた画＠Ｙ（第３図参照）における欠陥
Ｄ１、Ｄ２を走査する場合は、任意に決められた輝度レ
ベル（ＬＯＷ ＬＥＶＥＬ）以上をその連続性を見な
がら走査し、当該欠陥の面積を算出すると同時に、該欠
陥における最も高％ＪＱ［度レベル（ＳＩＧＮＡＬ
ＬＥＶＥＬ）を検出する。 シグナルレベルが求められたら、ノイズレベル（ＮＯＩ
ＳＥ ＬＥＶＥＬ）とから、Ｓ／Ｎを求める。この求
められた欠陥面積とＳ／Ｎから、予め作成された第４図
に示される判定基準に当てはめて、ここから、欠陥グレ
ード判定する。 即ち、第３図における欠陥Ｄ１はその欠陥面積及びＳＮ
比からＣグレード、欠陥Ｄ２はＢグレードと各々判定さ
れる。 なお上記実施例は鋼帯における表面欠陥を検査する場合
のものであるが、本発明はこれに限定されるものでなく
、ステンレス等の銅帯以外の被検材にも当然適用され得
るものである。 その場合は、被検材の種類に応じて、予め第２図に示さ
れるようなグレード判定をするための基準を設けておく
。
本発明は上記のように構成したので、被検材の表面欠陥
のグレード判定を、人間の目視による判定と略一致する
程度に正確に行うことができるという優れた効果を有す
る。
のグレード判定を、人間の目視による判定と略一致する
程度に正確に行うことができるという優れた効果を有す
る。
第１図は本発明表面欠陥検査方法に利用する静止画像を
得るための装置を示す側面図、第２図はす線図、第４図
は欠陥面積、ＳＮ比と判定グレードとの関係を示す線図
、第５図は従来の欠陥判定方法を示す線図である。 １・・・鋼帯、 ２・・・ストロボ、 ３・・・高精細度カメラ。 第１図
得るための装置を示す側面図、第２図はす線図、第４図
は欠陥面積、ＳＮ比と判定グレードとの関係を示す線図
、第５図は従来の欠陥判定方法を示す線図である。 １・・・鋼帯、 ２・・・ストロボ、 ３・・・高精細度カメラ。 第１図
Claims (1)
- （１）被検材に照明光を照射し、被照射部をカメラによ
り撮像し、静止画として捕え、該静止画に基づき欠陥判
定する表面欠陥検査方法において、前記静止画により捕
えられた表面欠陥の面積とＳＮ比を検出し、該検出され
た面積及びＳＮ比から欠陥グレードを判定することを特
徴とする表面欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63225274A JPH0629864B2 (ja) | 1988-09-08 | 1988-09-08 | 表面欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63225274A JPH0629864B2 (ja) | 1988-09-08 | 1988-09-08 | 表面欠陥検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0273142A true JPH0273142A (ja) | 1990-03-13 |
| JPH0629864B2 JPH0629864B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=16826757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63225274A Expired - Fee Related JPH0629864B2 (ja) | 1988-09-08 | 1988-09-08 | 表面欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629864B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003006969A1 (fr) * | 2001-07-10 | 2003-01-23 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Procede et dispositif de detection des defauts d'un produit |
| JP2016148520A (ja) * | 2015-02-10 | 2016-08-18 | 東レ株式会社 | キズ欠点検査装置およびキズ欠点検査方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5540978A (en) * | 1978-09-18 | 1980-03-22 | Kobe Steel Ltd | Signal processing method in surface deficiency detection of hot steel material |
| JPS61245045A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-10-31 | Nisshin Steel Co Ltd | 金属帯の表面欠陥自動検査方法 |
-
1988
- 1988-09-08 JP JP63225274A patent/JPH0629864B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5540978A (en) * | 1978-09-18 | 1980-03-22 | Kobe Steel Ltd | Signal processing method in surface deficiency detection of hot steel material |
| JPS61245045A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-10-31 | Nisshin Steel Co Ltd | 金属帯の表面欠陥自動検査方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003006969A1 (fr) * | 2001-07-10 | 2003-01-23 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Procede et dispositif de detection des defauts d'un produit |
| JP2016148520A (ja) * | 2015-02-10 | 2016-08-18 | 東レ株式会社 | キズ欠点検査装置およびキズ欠点検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0629864B2 (ja) | 1994-04-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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