JPS63187651A - 集積回路用パツケ−ジ - Google Patents

集積回路用パツケ−ジ

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JPS63187651A
JPS63187651A JP1981187A JP1981187A JPS63187651A JP S63187651 A JPS63187651 A JP S63187651A JP 1981187 A JP1981187 A JP 1981187A JP 1981187 A JP1981187 A JP 1981187A JP S63187651 A JPS63187651 A JP S63187651A
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metallized
ground
power
ceramic plate
opening
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JP1981187A
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Kensaku Motoki
健作 元木
Nobuo Ogasa
小笠 伸夫
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
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    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ■技術分野 この発明は、数100Mb/sez以上の高速ディジク
ル信号或は数G)12以上のアナログ信号を処理する集
積回路に好適な集積回路用パッケージに関する。
集積回路のパッケージは、半導体チップを固定し、外界
から保護する、という機能がある。
これに加えて、電力を集積回路に供給し、信号を入力し
出力するリードフレームを支持するという機能もある。
0)従来技術 さらに集積回路のパッケージは、半導体チップを外界か
ら絶縁するという作用がある。またチップから生じた熱
を放散する、という作用がある。
シリコン半導体集積回路の場合、プラスチックモールド
タイプのパッケージが頻用される。これの例を第4図に
示す。
リードフレームが両側に並んだプラスチックパッケージ
である。チップの電極部とリードフレームとを金線でワ
イヤボンディングした後、プラスチック材料によってモ
ールドしたものである。
これは安価であり、ICチップのマウントも容易である
、という利点がある。現在、パッケージ生産量の約80
%はこのタイプのパッケージである。
しかし、プラスチックパッケージは放熱性に劣る。この
ため、電力消費の低いICチップにしか使えない。
電力消費が小さいという事は、集積度が低いとか、動作
速度が遅いということである。
電力消費の大きいICチップのパッケージとしては、よ
り熱伝導率の大きい材料が望まれる。ICチップとパッ
ケージ材料の熱膨張率が近似している、という事も必要
である。
そこで、アルミナ板を2枚組合わせたCERD I P
サーディツプといわれるパッケージも用いられる。
第5図に断面図を示す。
細長い下セラミック板に、リードフレームが多数封止し
である。Si半導体ICチップを下セラミック板にダイ
ボンドし、ICチップの電極部とリードフレームとをA
Iワイヤでワイヤボンディングする。
さらに上セラミック板を貼りつけて蓋をする。
CERD I Pは、セラミック製であるので、プラス
チックパッケージよりも、使用温度領域が広い。放熱性
がよいことと、熱膨張率がICチップに近い事などによ
る。
サーディツプは、全パッケージ生産量の約15%程度を
占める。
CERD I P構造のものは、材料がアルミナに変っ
ただけで、構造はプラスチックパッケージとほぼ同じで
ある。ICチップとリードフレームを直接ワイヤで接続
している。リードフレームの本数が多くなると、ワイヤ
が長くなる。
高速動作をするICの場合、ワイヤが長いという事は望
ましくないことである。ワイヤは自己誘導りを持つ。ワ
イヤが細く、長いほどLが大きい。
゛高周波信号に対して、Lは大きいインピーダンスとし
て働くから、ワイヤのしによって信号のパワーが減衰し
てしまう。
そこで、ワイヤを短かくするために、第6図に示すよう
なセラミックパッケージが作られる。薄いセラミック板
を何枚も精層したものである。最TM箇侑ン1士官にプ
東リプし面?、すh9品・71” J Mニノズ面が形
成されている。グランドメタライズ面の上にICチップ
をグイボンドする。
2層以上のセラミック板は中央に矩形開口がある。これ
らのセラミック板の1枚、又は2枚にメタライズ配線が
放射状に設けられる。メタライズ配線の内端に於て、I
Cチップの電極部とワイヤによって接続される。メタラ
イズ配線の外端に於て、リードフレームとメタライズ配
線が接続される。
メタライズ配線によって仲介されることになるから、ワ
イヤは短かくてよい。ワイヤが短いので、Lが小さくな
る。高速信号をよく通すようになる。
このパッケージはセラミック板を重ねて作っであるから
、Multi−Laminate Ceramic P
ackage MLCPという事もある。
リードフレームは、2方向だけでなく、4方向に設けら
れるものもある。
(つ)特願昭60−253074 以上説明したものは、せいぜい百MH2程度の信号を扱
うICに適するだけである。
数百Mb/secの高凍信号を掲−]ICのバツテ−づ
〉しては未だに足りない点がある。
ひとつは、特性インピーダンスの問題である。
高い周波数成分を持つ信号を通す伝送線の場合は、単位
長さあたりのLとCで決まる特性インピーダンスJし面
が一定でなければならない。
もうひとつは、終端の問題である。
入力信号線は、その特性インピーダンスに等しい抵抗に
よって終端しなければならない。そうでなければ、信号
が終端部で反射してしまう。
このような点を改善したものとして、特願昭60−25
3074 (560,11,12出願)がある。
これを第7図に示す。
中央に矩形の開口を有する第1セラミック板1、第2セ
ラミック板2、第3セラミック板18、第4セラミック
板7が積層されている。
第1セラミック板1の下面には、上面にグランドメタラ
イズ面が形成された底板14が貼りつけである。
第1セラミック板1の上面には開口縁から、外縁に至る
数多くの信号メタライズ配線3.3、・・・が放射状に
設けである。この他に、中間部から外縁に至る電源用メ
タライズ配線26、グランド用メクライズ配線27もあ
る。
メクライズというのは、アルミナなどのセラミック板の
上にタングステンWを厚膜印刷したものである。外部に
露出する場合は、金メッキをして、化学的性質を強化す
る。メタライズ線、面の厚さは10μmへ・30μm程
度である。
信号用メクライズ配線3、電源用メタライズ配線26、
グランド用メクライズ配線27の終端には、信号用リー
ドフレーム10、電源用リードフレーム12、グランド
用リードフレーム13がろう付けされる。
第2セラミック板2の上面には、4周に電極メタライズ
面5が印刷しである。これは全面にではなく、外周部に
だけ設けであるのである。内周部には、数多くのメタラ
イズ電極8.9と、抵抗4が設けられる。
抵抗4はR1とR2よりなる。抵抗R1はメタライズ電
極8と電源メタライズ面5とを接続している。
抵抗R2は、メタライズ電極8.9を接続している。
R1とR2の並列抵抗値が入力信号線の特性インピーダ
ンス50Ωにほぼ等しくなるようにしである。たとえば
R1が110ΩR2が90Ωとする。
第3セラミック板18の上面全体にグランドメタライズ
面6が形成されている。
電源メタライズ面5と第1セラミック板上の電源メタラ
イズ配線26とはスルーホール(図示せず)によって接
続される。
グランドメタライズ面6と底板14のグランドメタライ
ズ面は、第1セラミック板上のグランドメタライズ面線
27と、スルーホール(図示せず)によって接続される
第4セラミック板7の上には、メタライズ面などがない
。この上にセラミックの蓋板が(図示せず)貼付けられ
る。
信号用メクライズ配線は幅が一定である。また、上、下
にグランドメタライズ面がある。これらのことから、信
号用メタライズ配線の単位長さ当りのLl Cは一定に
なる。つまり、特性インピーダンスが一定なのである。
また、入力信号線は、ワイヤでメタライズ電極8と接続
する。メタライズ電極9とグランドメタライズ面6とを
ワイヤで接続する。
このようにすると、入力信号線が約500の抵抗で終端
されることになる。
さらに、グランドメタライズ面6、電源メタライズ面5
がパッケージの4周にある。このため、ICチップの電
源電極、グランド電極がどのように分布していてもワイ
ヤボンディングが容易である。
(r、)発明が解決すべき問題点 前記の特願昭60−253074は優れたパッケージで
ある。
しかし、電源、グランドごとに1枚のセラミック板を必
要としている。集積回路によっては、多電源を要するも
のもある。二定源、あるいは三重源を必要とする集積回
路もある。
一般にn個の電源を必要とする場合、グランドを加えて
、(n+1)の電源・グランドが必要だという事になる
。前記のパッケージでは、そのために(n+1)板のセ
ラミック板が要求される。電源数がたとえば3以上の場
合は、セラミック多層構造が複雑になる。それだけ高価
なパッケージになるわけである。
GO目     的 本発明は、電源の数が増えても、セラミック板の数が増
えない構造の集積回路パッケージを提供することを目的
とする。
C;tJ)構 成 本発明のパッケージは、前述のパッケージとほぼ同じ構
造を有するが、電源面、グランド面を1枚ずつのセラミ
ック板に配分せず、1枚の七ラミック板の上にまとめて
、同心方形状に設けることを特徴とする。
第1図は本発明のパッケージの斜視図である。
第2図は縦断面図である。第3図は抵抗、メタライズ電
極の近傍のみの平面図である。
中央に開口21.22′、22を有する第1セラミック
板1と第2セラミック板15及び第3セラミック板2と
が積層されている。さらに開口23を有する第3セラミ
ック板18も積層される。開口21は最も小さく 、2
2.22’は同じ大きさで、23は最も広い開口である
開口を有しない盲板である底板14が第1セラミック板
1の下面に貼りつけられている。
底板14は少なくとも上面が導体で、これはグランド面
となる。この例では金属板の例を示している。セラミッ
ク板の上にメタライズ面を形成した底板であってもよい
のはもちろんである。
第1セラミック板1には、開口21から外縁に至る信号
用メタライズ配線3.3、・・・が形成されている。こ
の配、線はタングステンWの上にAuメッキをしたもの
である。
また、第1セラミック板1の上には、中間部から外縁に
至る電源用メタライズ配線26.26′グランド用メタ
ライズ配線27が形成されている。
L、Cを一定にするため信号用メタライズ配線3.3、
・・・は一定幅であることが要求される。
電源用メタライズ配Fd26.26’、グランド用メタ
ライズ配線27は一定幅であってもよいし、一定幅でな
くてもよい。
第2セラミック板15は開口22′を有する薄板で、四
辺全面にグランドメタライズ面16が形成されている。
第3セラミック板2の上面に特徴がある。方形の板であ
るが、最も内方の開口22に近い領域には、適数の抵抗
4、メタライズ電極8.9の組が形成されている。この
抵抗は、既に説明したように、入力信号用メタライズ配
線を、その特性インピーダンスに等しい抵抗によって終
端するためのものである。
第3セラミック板2の、それより外側の領域には、矩形
状の電源・グランドメタライズ面5.6.7が同心状に
形成されている。同一の面上に、電源vTT1”SSs
グランドGNDが形成されているのである。3つのメタ
ライズ面5.6.7のうちどれがグランドであってもよ
い。
さらに、電源がいくつでもよいn個の電源があれば(n
+1)重の電源・グランドメタライズ面が設けちれる、 り、!= t は、3個の電源”TTN ”SS% ”
DD カ必要であれば、4重の矩形状メタライズ面が設
けられる。
第3図に抵抗4の部分を説明する。
電源メタライズ面5と電極8とが抵抗R1で接続されて
いる。入力信号用のメタライズ配線3と電極8とがワイ
ヤ35で接続される。
電極9と電源メタライズ面6とをワイヤ36で接続する
そうすると、入力信号線はR1とR2の並列抵抗で終端
されることになる。
となるように選べばよい。
また電源・グランドメタライズ面5.6の電位を■1、
v2とすると、信号線3の直流レベルは、となる。必要
な直流レベルvsとZから、R1、R2が決まる。
メタライズ面5.6.7、・・・ のうち、グランドメ
タライズ面とグランドメタライズ配線27、電源メタラ
イズ面と電源メタライズ配線26’、26  とは、ス
ルーホール32′、32.31で接続される。グランド
メタライズ面16とグランドメタライズ配線27はスル
ーホール32′によって接続される。
底板14とグランドメタライズ配線27とは、スルーホ
ール33によって接続される。
さらに、中央に開口23を有する第4セラミック板18
が、第3セラミック板2の上に積層される。
第4セラミック板18はこの上に蓋板を貼りつけるべき
枠を形成する。第4セラミック板18の上面にはメタラ
イズ面を設けても、設けなくてもよい。この例ではメタ
ライズ面がない。
グランドメタライズ面を設けることはできる。
もしも、そうしたとしても、これは蓋が接するので、ワ
イヤボンディングする事はできない。しかし、電源メタ
ライズ面との間にコンデンサを形成し、電源ノイズをカ
ットする上で効果がある。
(1)作 用 ICチップは、中央開口21と底板14で囲まれるキャ
ビティ11にグイポンドされる。ICチップの入力信号
用の電極は、パッケージの信号用メクライズ配線3のい
ずれかとワイヤボンドされる。
信号用メクライズ配線3は第3図に示すような抵抗、電
極構造によって、特性インピーダンスZで終端される。
ICチップの出力信号用の電極も、パッケージの信号用
メクライズ配線3のいずれかとワイヤボンドされる。し
かし、これは特性インピーダンスZによって終端する必
要がない。
ICチップの電源、グランド用の電極は、第3セラミッ
ク仮2の上に形成された電源・グランドメタライズ面5
.6.7とワイヤによって接続される電源・グランドメ
タライズ面は第3セラミック板2の全周にあるから、ワ
イヤボンディングは容易である。
さらに、信号線の特性インピーダンスの問題がある。信
号メタライズ配線3は直上及び直下にグランド面16.
14がある。
したがって特性インピーダンスJしでは一定であること
ができる。また、ノイズをカットする上で有効である。
さらに、特性インピーダンスに等しい抵抗Zで入力信号
線が終端されているから、信号の反射がない。
特願昭60−253074よりも劣った点は、電源・グ
ランドメタライズ面が同一面上にあるから、電源・グラ
ンド間、電源・電源間に大きい容量のコンデンサが形成
されない、ということである。このため、電源からノイ
ズが入るのをカットできないという事がある。
しかし、底板14のグランド面との間にはがなり大きい
容量のコンデンサを形成できるのであるから、電源の安
定性は、これでも十分であると考えられる。これは収容
すべき集積回路の要求水準によることである。
(り)効 果 (1)特願昭60−253074のパッケージに比べて
、電源・グランドメタライズ面のためのセラミック板が
数多くいらない。1枚でよい。このためパッケージの構
造が単純化される。したがってより安価なパッケージと
なる。本質的には、信号線用のセラミック板1と、電源
・グランド用のセラミック板2が、底板14とともに必
要なだけである。
(2)  スルーホールの構造が単純化される。スルー
ホールが、2枚のセラミック板を貫くだけであ−る。多
数のセラミック板を貫くものであれば、中間のメタライ
ズ面を絶縁する必要があり、複雑な構造となる。
(3)  信号線の特性インピーダンスをほぼ一様にす
る事ができる。単位長さあたりのり、Cをほぼ一様にで
きるからである。
(4)  入力′信号用メタライズ配線を、特性インピ
ーダンスZに等しい抵抗によって終端することができる
。入力信号の反射が殆ど起こらない。
(5)配線数が増えてもボンディングワイー・が長くな
らない。電源と信号とを分けたからである。
信号用メタライズ配線とICチップの信号用の電極を結
ぶワイヤは長さがl MW以下であることが望ましい。
これが可能となる。
(6)電源メタライズ面・グランドメタライズ面が全周
にあるので、ICデツプの任意の箇所に多数の電源・グ
ランド電極があっても、最短のワイヤで接続できる。ワ
イヤボンディングも容易である。
(7)  数100Mb/sの高速信号を扱うディジタ
ル集積回路、数GH2の高周波信号を扱うアナログ集積
回路のパッケージとして最適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の集積回路用パッケージの斜視図。 第2図は同じものの縦断面図。 第3図は抵抗、メタライズ面の部分の拡大平面図。 第4図は公知のプラスチックパッケージの縦断面図。 第5図は公知のサーディツプの縦断面図。 第6図は公知のセラミック(MLCP)パッケージの縦
断面図。 第7図は特願昭60−253074のパッケージの斜視
図。 1・・・・・・・・・・第1セラミック板2・・・・・
・・・・・・・第3セラミック板3・・・・・・・・・
・・ 信号用メタライズ電極4・・・・・・・・・・・
・抵 抗 5.6.7・・・・・・電源・グランドメタライズ面8
.9・・・・・・・・・メタライズ電極10・・・・・
・・・・ 信号用リードフレーム11・・・・・・・・
・・・・キャビティ12・・・・・・・・・・・・電源
用リードフレーム13・・・・・・・・・・・・ グラ
ンド用リードフレーム14・・・・・・・・・・・・底
 板 15・・・・・・・・・・・・第2セラミック板16・
・・・・・・・・・・・グランドメタライズ面18・・
・・・・・・・・・・第4セラミック板21・・・・・
・・・・・・第 1 開 口22・・・・・・・・・第
3 開口 22’・・・・・・・・・第2開口 26・・・・・・・・・ 電源用メタライズ配線27・
・・・・・・・・ グランド用メタライズ配線31〜3
3・・・・・・スルーホー、し発  明  者    
 元  木  健  作小笠伸夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  中央に第1開口21を有し前記第1開口21から外縁
    に至る複数本の信号用メタライズ配線3と外縁から中間
    部に至る電源用メタライズ配線26、グランド用メタラ
    イズ配線27とを上面に設けた第1セラミック板1と、
    第1開口21より大きい第2開口22’を中央に有し、
    上面の4辺にわたつてグランドメタライズ面16を設け
    た第2セラミック板15と、第2開口22’と同じ開口
    22を有し上面の4辺にわたつて同心矩形状に全ての電
    源・グランドについて電源・グランドメタライズ面5、
    6、7、・・・を備え、より内側にはメタライズ電極と
    抵抗体4とを有し該メタライズ電極を入力信号線とワイ
    ヤで接続することにより入力信号線を特性インピーダン
    スZ_0で終端できるようにした第3セラミック板2と
    、第2開口22、22’よりも大きい開口23を有し該
    第2セラミック板3の上に積層され蓋板を支持すべき第
    4セラミック板18と、少なくとも上面にグランド面と
    なるべき導体を有し前記第1セラミック板1の底面に貼
    りつけられる底板14と、第1セラミック板1の外縁に
    於て、信号用メタライズ配線3の外端に固定される信号
    用リードフレーム10と、電源用メタライズ配線26の
    外端に固定される電源用リードフレーム12と、グラン
    ド用メタライズ配線27の外端に固定されるグランド用
    リードフレーム13と、電源用メタライズ配線26、グ
    ランド用メタライズ配線27と前記電源・グランドメタ
    ライズ面5、6、7、16を接続するスルーホール31
    、32、32’と、グランド用メタライズ配線27と底
    板上面の導体とを接続するスルーホール33とよりなり
    、信号用メタライズ配線3は上下のグランド・電源面と
    の間に生ずるL、Cによつて決まる特性インピーダンス
    Z_0を一定にしてある事を特徴とする集積回路用パッ
    ケージ。
JP1981187A 1987-01-30 1987-01-30 集積回路用パツケ−ジ Pending JPS63187651A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020009953A (ja) * 2018-07-10 2020-01-16 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020009953A (ja) * 2018-07-10 2020-01-16 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体装置
US11508672B2 (en) 2018-07-10 2022-11-22 Sumitomo Electric Device Innovations, Inc. Semiconductor device

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