JPS63187440A - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
- Publication number
- JPS63187440A JPS63187440A JP62019855A JP1985587A JPS63187440A JP S63187440 A JPS63187440 A JP S63187440A JP 62019855 A JP62019855 A JP 62019855A JP 1985587 A JP1985587 A JP 1985587A JP S63187440 A JPS63187440 A JP S63187440A
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- JP
- Japan
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- light
- intensity
- recording medium
- change
- beams
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
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- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産莱上のオニ」用分野〕
本発明は磁気光学的に情報を記録再生する光磁気ティス
ク装置に関し、特に光学ヘッドに関する。
ク装置に関し、特に光学ヘッドに関する。
従来この種の光学ヘッドは第３図に示す様に、サーボエ
ラー検出光学と読み取り信号検出光学系の両方の検出光
学系を必要としていた。
ラー検出光学と読み取り信号検出光学系の両方の検出光
学系を必要としていた。
半纏体レーザ１から射出した元はコリメートレンズ２に
て平行光となり、第一のビームスシリツタ１０を通過後
、第二のビームスプリッタ２ｏを通過した一部の光は対
物レンズ３にて記録媒体１００に集光される。記録媒体
１００にて反射された光は対物レンズ３を逆行し、第二
ビームノブリッタ２０にて一部反射された光は集光レン
ズ２１通過危λ／２板２２に入射し、偏光方向を回動し
ウオーラストンプリズム２３に入射する。ウオーラスト
ンプリズム２３にて偏光状態に応じて分離された２つの
ビームを光検出センサ２４に入射して、読み取シ信号検
出を行う光学系が形成される。
て平行光となり、第一のビームスシリツタ１０を通過後
、第二のビームスプリッタ２ｏを通過した一部の光は対
物レンズ３にて記録媒体１００に集光される。記録媒体
１００にて反射された光は対物レンズ３を逆行し、第二
ビームノブリッタ２０にて一部反射された光は集光レン
ズ２１通過危λ／２板２２に入射し、偏光方向を回動し
ウオーラストンプリズム２３に入射する。ウオーラスト
ンプリズム２３にて偏光状態に応じて分離された２つの
ビームを光検出センサ２４に入射して、読み取シ信号検
出を行う光学系が形成される。
一方、第二のビームスプリッタ２０にて通過した光は、
第一のビームスプリッタ１０にて一部反射され集光レン
ズ１１に入射する。集光レンズ１１にて集光されながら
ナイフ１２によって一部の光が遮光され、検出上ンサ１
３に入射しナイフェツジ法により、フォーカスエラー信
号等のサーボエラー検出を行う光学系も形成される。こ
のように、従来の光ヘッドは２つの検出光学系を必要と
していた。
第一のビームスプリッタ１０にて一部反射され集光レン
ズ１１に入射する。集光レンズ１１にて集光されながら
ナイフ１２によって一部の光が遮光され、検出上ンサ１
３に入射しナイフェツジ法により、フォーカスエラー信
号等のサーボエラー検出を行う光学系も形成される。こ
のように、従来の光ヘッドは２つの検出光学系を必要と
していた。
上述した従来の光学ヘッドは２つの検出光学系を有して
いる為、形成が大きく小型化がむずかしいという欠点が
あった。
いる為、形成が大きく小型化がむずかしいという欠点が
あった。
本発明の光学ヘッドは、記録媒体にての反射光または透
過光の光路に配置され前記反射光または透過光をその偏
光状態に応じて強度の変化する２つのビームと偏光によ
る光強度の変化のない１つのビームとに分離するウオー
ラストンプリズムと、前記ウオーラストンプリズムを通
過した３つのビームをそれぞれ分離して受光する素子を
同一面上に配置した光検出器とを備え、前記偏光状態に
より強度変化を生ずる２つのビームの強度差によシ記録
媒体の磁気光学的変化を検出し偏光による強度変化のな
いビームより記録媒体の反射率変化及びサーボ制御のた
めの誤差信号を検出するように構成したことを特徴とし
ている。
過光の光路に配置され前記反射光または透過光をその偏
光状態に応じて強度の変化する２つのビームと偏光によ
る光強度の変化のない１つのビームとに分離するウオー
ラストンプリズムと、前記ウオーラストンプリズムを通
過した３つのビームをそれぞれ分離して受光する素子を
同一面上に配置した光検出器とを備え、前記偏光状態に
より強度変化を生ずる２つのビームの強度差によシ記録
媒体の磁気光学的変化を検出し偏光による強度変化のな
いビームより記録媒体の反射率変化及びサーボ制御のた
めの誤差信号を検出するように構成したことを特徴とし
ている。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図である。
第２図は第１図の部分斜視説明図である。
第１図で半導体レーザ１から出射した光束はコリメート
レンズ２にて平行光束となシ、透過率７゜チ、反射率３
０チのビームスプリッタ３ｏを透過し、対物レンズ３に
よシ記録媒体１ｏｏに集光される。記録媒体１００にて
反射された光束は、対物レンズを逆行して再びビームス
プリッタ３ｏに入射する。ビームスプリッタ３０にて反
射された光束は、集光レンズ３１及びシリンドリカルレ
ンズ３２を透過してウオーラストンプリズム３３に入射
する。ウオーラストンプリズム３８は、第２図に示すシ
リンドリカルレンズ３２を透過層の光束中心軸２００に
直交し、光束中のＰ偏光３００１Ｓ偏光４００に対し略
４５°の傾きを持つ水晶等の一一結晶物の光学軸５００
を持つプリズムと、Ｓ偏光４００に平行な光学軸６００
とを持つプリズムにて構成されたプリズムである。ウオ
ーラストンプリズム３３によって、第２図に示す様に、
入射偏光状態に応じて強度変化をするビーム７００及び
ビーム９００人射光偏光による強度変化のないビーム８
００に分離される。
レンズ２にて平行光束となシ、透過率７゜チ、反射率３
０チのビームスプリッタ３ｏを透過し、対物レンズ３に
よシ記録媒体１ｏｏに集光される。記録媒体１００にて
反射された光束は、対物レンズを逆行して再びビームス
プリッタ３ｏに入射する。ビームスプリッタ３０にて反
射された光束は、集光レンズ３１及びシリンドリカルレ
ンズ３２を透過してウオーラストンプリズム３３に入射
する。ウオーラストンプリズム３８は、第２図に示すシ
リンドリカルレンズ３２を透過層の光束中心軸２００に
直交し、光束中のＰ偏光３００１Ｓ偏光４００に対し略
４５°の傾きを持つ水晶等の一一結晶物の光学軸５００
を持つプリズムと、Ｓ偏光４００に平行な光学軸６００
とを持つプリズムにて構成されたプリズムである。ウオ
ーラストンプリズム３３によって、第２図に示す様に、
入射偏光状態に応じて強度変化をするビーム７００及び
ビーム９００人射光偏光による強度変化のないビーム８
００に分離される。
強度変化のないビーム８００は光検出センサ３４のｂ部
４分割検出センサ部に入射し、非点収差法によるフォー
カスエラーの検出信号を得る。又強度変化をするビーム
７００及びビーム９００は記録媒体１００に記録された
情報ピット部にてわずかに偏光方向を変化された光束が
入射する事によシ生ずる強度変化を光検出センサ３４の
ａ部及び０部にて検出し、ａ部出力とＣ部出力の差動信
号により記録情報の読み取りを行なう。
４分割検出センサ部に入射し、非点収差法によるフォー
カスエラーの検出信号を得る。又強度変化をするビーム
７００及びビーム９００は記録媒体１００に記録された
情報ピット部にてわずかに偏光方向を変化された光束が
入射する事によシ生ずる強度変化を光検出センサ３４の
ａ部及び０部にて検出し、ａ部出力とＣ部出力の差動信
号により記録情報の読み取りを行なう。
以上説明した様に本発明によれば、聞キな構成で但気元
学的に情報を記録及び再生可能な光学ヘッドが得られる
。なお本実施例中のビームスプリッタ透過率及び非点収
差法によるフォーカス検出手段は本構成に限定されるも
のではなく、シリンドリカルレンズに変わって平行平面
ガラス板等を光束に傾斜させて挿入する事も可能である
。又、コリメートレンズ２を対物レンズ３と一体で構成
し、集光レンズ３１をＦ２Ｏ除する事も可能である。
学的に情報を記録及び再生可能な光学ヘッドが得られる
。なお本実施例中のビームスプリッタ透過率及び非点収
差法によるフォーカス検出手段は本構成に限定されるも
のではなく、シリンドリカルレンズに変わって平行平面
ガラス板等を光束に傾斜させて挿入する事も可能である
。又、コリメートレンズ２を対物レンズ３と一体で構成
し、集光レンズ３１をＦ２Ｏ除する事も可能である。
又、ウオーラストンプリズムの光学＠全本発明と直交さ
せたものも使用可能である。
せたものも使用可能である。
第１図は本発明の一実施例の光学ヘッドを示す図、第２
図は第１図の部分斜視図、第３図は従来の光学ヘッドを
示す図である。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・対物レンズ、１１，２１．３
１・・・・・・集光レンズ、１０・・・・・・Ａビーム
スプリッタ、２０・・・・・・Ｂビームスプリッタ、３
０・・・・・・ビームスプリッタ、１２・・・・・・ナ
イフェツジ、１３，２４．３４・・・・・・光検出セ／
す、２２・・・・・・λ／２板、２３・・・・・・ウオ
ーラストンプリズム、３２・・・・・・シリンドリカル
レンズ、３３・・・・・・ウオーラストンプリズム、２
００・・・・・・光束中心軸、３００・・・・・・Ｓ偏
光、４００・・・・・・Ｐ偏光、５００．６００・・・
・・・光学軸、７００ 、８００ 、９００・・・・・
・ビーム。 代理人 弁理士 内 原 音 第１図 篇２図
図は第１図の部分斜視図、第３図は従来の光学ヘッドを
示す図である。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・対物レンズ、１１，２１．３
１・・・・・・集光レンズ、１０・・・・・・Ａビーム
スプリッタ、２０・・・・・・Ｂビームスプリッタ、３
０・・・・・・ビームスプリッタ、１２・・・・・・ナ
イフェツジ、１３，２４．３４・・・・・・光検出セ／
す、２２・・・・・・λ／２板、２３・・・・・・ウオ
ーラストンプリズム、３２・・・・・・シリンドリカル
レンズ、３３・・・・・・ウオーラストンプリズム、２
００・・・・・・光束中心軸、３００・・・・・・Ｓ偏
光、４００・・・・・・Ｐ偏光、５００．６００・・・
・・・光学軸、７００ 、８００ 、９００・・・・・
・ビーム。 代理人 弁理士 内 原 音 第１図 篇２図
Claims (1)
- 磁気光学的に情報が記録される記録媒体に対し集束光
を照射し記録媒体からの反射光または透過光の偏光状態
の変化により磁気光学的に記録された情報を検出する光
ヘッドにおいて、前記反射光または透過光の光路に配置
され前記反射光または透過光をその偏光状態に応じて強
度の変化する２つのビームと偏光による光強度の変化の
ない１つのビームとに分離するウォーラストンプリズム
と、前記ウォーラストンプリズムを通過した３つのビー
ムをそれぞれ分離して受光する素子を同一面上に配置し
た光検出器とを備え、前記偏光状態により強度変化を生
ずる２つのビームの強度差により記録媒体の磁気光学的
変化を検出し、前記偏光による強度変化のないビームに
よって記録媒体の反射率変化及びサーボ制御のための誤
差信号を検出するように構成したことを特徴とする光学
ヘッド。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62019855A JPS63187440A (ja) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | 光学ヘツド |
| US07/148,310 US4951274A (en) | 1987-01-23 | 1988-01-25 | Magneto-optical head capable of separating beams for reading recorded information and servo information by use of one optical element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62019855A JPS63187440A (ja) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | 光学ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63187440A true JPS63187440A (ja) | 1988-08-03 |
Family
ID=12010846
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62019855A Pending JPS63187440A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-29 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63187440A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0329137A (ja) * | 1989-06-26 | 1991-02-07 | Nec Corp | 光磁気ヘッド装置 |
| JPH03102647A (ja) * | 1989-09-14 | 1991-04-30 | Sharp Corp | 光学ヘッド |
-
1987
- 1987-01-29 JP JP62019855A patent/JPS63187440A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0329137A (ja) * | 1989-06-26 | 1991-02-07 | Nec Corp | 光磁気ヘッド装置 |
| JPH03102647A (ja) * | 1989-09-14 | 1991-04-30 | Sharp Corp | 光学ヘッド |
| US5189655A (en) * | 1989-09-14 | 1993-02-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head for optical disk recording/reproducing apparatus including modified wollaston prism |
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