JPS6318533A - 光デイスクピツクアツプ用レンズ - Google Patents
光デイスクピツクアツプ用レンズInfo
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- JPS6318533A JPS6318533A JP61161707A JP16170786A JPS6318533A JP S6318533 A JPS6318533 A JP S6318533A JP 61161707 A JP61161707 A JP 61161707A JP 16170786 A JP16170786 A JP 16170786A JP S6318533 A JPS6318533 A JP S6318533A
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- Japan
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- lens
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- optical disc
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
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- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
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- LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N tellurium dioxide Chemical compound O=[Te]=O LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、コンパクトディスク等光ディスクに用いられ
る光ディスクピックアップ用レンズに関する。
る光ディスクピックアップ用レンズに関する。
近年、高密度情報記憶手段として、光ディスクが様々な
分野で用いられている。
分野で用いられている。
第7図は、このような光ディ′スク装置の概略図で、1
はディスク、2はヘッド送り装置、3はモータ、4はピ
ンクアップ部、5は再生回路、6はサーボ回路である。
はディスク、2はヘッド送り装置、3はモータ、4はピ
ンクアップ部、5は再生回路、6はサーボ回路である。
図において、ディスク1はモータ3により回転駆動され
、ピンクアップ部4はヘッド送り装置2に組み込まれて
、ディスク1の半径方向に移動する。この移動の制御や
、フォーカシング、トラッキングの制御はサーボ回路6
により行われ、またピックアップ部4からの信号は再生
回路5により画像信号や音声信号に変換されて図示しな
いオーディオ装置やビデオ装置等に送られる。
、ピンクアップ部4はヘッド送り装置2に組み込まれて
、ディスク1の半径方向に移動する。この移動の制御や
、フォーカシング、トラッキングの制御はサーボ回路6
により行われ、またピックアップ部4からの信号は再生
回路5により画像信号や音声信号に変換されて図示しな
いオーディオ装置やビデオ装置等に送られる。
ところで、このような光デイスク装置のピックアンプ装
置として、レーザピックアップ装置が用いられている。
置として、レーザピックアップ装置が用いられている。
第8図はこのような従来のレーザピックアップ装置の一
例を示す図で、7は半導体レーザ、8はカップリングレ
ンズ、9はビームスプリフタ−1lOはλ/4板、11
はプリズム、12は対物レンズ、13は集光レンズ、1
4は四分割ホトダイオード、15は遮光板である。
例を示す図で、7は半導体レーザ、8はカップリングレ
ンズ、9はビームスプリフタ−1lOはλ/4板、11
はプリズム、12は対物レンズ、13は集光レンズ、1
4は四分割ホトダイオード、15は遮光板である。
図において、半導体レーザ7からのレーザビームを、カ
ンプリングレンズ8、ビームスプリンタ9、λ/4板l
O、プリズム11.対物レンズ12を介してディスクl
に照射し、その反射光を集光レンズ13で四分割ホトダ
イオード上に結像さセて検出している。この反射光束の
一部を遮光板15で遮光し、遮光板を含む面の像を集光
レンズ13で四分割ホトダイオード上に結像させると、
上側と下側のホトダイオードの入射光量をフォーカス状
態に応じて変化させることができ、その差出力でフォー
カシングエラーを検出できる。また左右のホトダイオー
ド入射光量の差でトラッキングエラーを検出でき、これ
ら検出出力によりフォーカシング或いはトラッキングの
制御を行うことができる。なお、ビームスプリッタ9と
λ/4板10は、光源側に光を戻さないためのアイソレ
ータを構成している。また、レーザピックアップ部4を
構成している上記各要素は、アルミケース中に一体化さ
れ、それがディスク半径方向に設けられたガイド(ヘッ
ド送り装置)に沿って動くように構成されており、この
動きにより情報のアクセスを行っている。
ンプリングレンズ8、ビームスプリンタ9、λ/4板l
O、プリズム11.対物レンズ12を介してディスクl
に照射し、その反射光を集光レンズ13で四分割ホトダ
イオード上に結像さセて検出している。この反射光束の
一部を遮光板15で遮光し、遮光板を含む面の像を集光
レンズ13で四分割ホトダイオード上に結像させると、
上側と下側のホトダイオードの入射光量をフォーカス状
態に応じて変化させることができ、その差出力でフォー
カシングエラーを検出できる。また左右のホトダイオー
ド入射光量の差でトラッキングエラーを検出でき、これ
ら検出出力によりフォーカシング或いはトラッキングの
制御を行うことができる。なお、ビームスプリッタ9と
λ/4板10は、光源側に光を戻さないためのアイソレ
ータを構成している。また、レーザピックアップ部4を
構成している上記各要素は、アルミケース中に一体化さ
れ、それがディスク半径方向に設けられたガイド(ヘッ
ド送り装置)に沿って動くように構成されており、この
動きにより情報のアクセスを行っている。
またこの外にも、ピンクアップ装置のフォーカシング或
いはトラッキング制御には、対物レンズをコイルと磁石
から構成される1ft磁了クチユエータで移動するよう
にするもの、或いは電磁アクチュエータとガルバノミラ
−の組み合わせによるもの等が用いられていた。
いはトラッキング制御には、対物レンズをコイルと磁石
から構成される1ft磁了クチユエータで移動するよう
にするもの、或いは電磁アクチュエータとガルバノミラ
−の組み合わせによるもの等が用いられていた。
しかしながら、従来のピンクアップ装置におけるフォー
カシングあるいはトラッキング制御は、前述したアルミ
ケースを移動させる方式のもの、対物レンズをコイルと
磁石から構成される電磁アクチェエータで移動するもの
、t!lViアクチュエータとガルバノミラ−の組み合
わせによるもの等信れもピンクアンプ可動部の構成が複
雑で大きくなり、そのためピックアップ可動部が重くな
って慣性力が大きくなうしまい、速いwi御が不可能と
なり、速いアクセス時間の達成は困難であった。
カシングあるいはトラッキング制御は、前述したアルミ
ケースを移動させる方式のもの、対物レンズをコイルと
磁石から構成される電磁アクチェエータで移動するもの
、t!lViアクチュエータとガルバノミラ−の組み合
わせによるもの等信れもピンクアンプ可動部の構成が複
雑で大きくなり、そのためピックアップ可動部が重くな
って慣性力が大きくなうしまい、速いwi御が不可能と
なり、速いアクセス時間の達成は困難であった。
本発明は上記問題点を解決するためのものであって、ピ
ックアンプ可動部の構成を簡単化して軽量化し、速いア
クセス時間の達成を可能にすると共に、光学的な調整部
分を極力少なくし、熟練を要する調整を不要にした光デ
ィスクピックアップ用レンズを提供することを目的とす
る。
ックアンプ可動部の構成を簡単化して軽量化し、速いア
クセス時間の達成を可能にすると共に、光学的な調整部
分を極力少なくし、熟練を要する調整を不要にした光デ
ィスクピックアップ用レンズを提供することを目的とす
る。
そのために本発明の光ディスクピックアップ用レンズは
、半導体レーザに接続され、ディスクに対向したレンズ
部であって、該レンズ部は、外部からの信号により屈折
率の変化或いは機械的な変形を生ずる物質から形成され
る部材を有するレンズを備えたことを特徴とする。
、半導体レーザに接続され、ディスクに対向したレンズ
部であって、該レンズ部は、外部からの信号により屈折
率の変化或いは機械的な変形を生ずる物質から形成され
る部材を有するレンズを備えたことを特徴とする。
本発明の光ディスクピックアップ用レンズは、半導体レ
ーザに接続されたレンズ部を、外部がらの信号により屈
折率の変化あるいはavi的な変形を生ずる物質から形
成される部材を有するレンズにより構成して可動部を軽
量化し、速いアクセスを可能にすると共に、光学的な調
整部分を極力少なくし、!8練を要する調整を不要にし
ている。
ーザに接続されたレンズ部を、外部がらの信号により屈
折率の変化あるいはavi的な変形を生ずる物質から形
成される部材を有するレンズにより構成して可動部を軽
量化し、速いアクセスを可能にすると共に、光学的な調
整部分を極力少なくし、!8練を要する調整を不要にし
ている。
以下、実施例を図面を参照しつつ説明する。
第1図は、本発明のピンクアップ装置において使用する
対物レンズ部の一実施例を示す図で、図中、30は対物
レンズ、31はマイクロレンズ、32は焦点距離可変レ
ンズ、33は光ビーム偏向器である。
対物レンズ部の一実施例を示す図で、図中、30は対物
レンズ、31はマイクロレンズ、32は焦点距離可変レ
ンズ、33は光ビーム偏向器である。
図において、対物レンズ部30は、ガラス或いはプラス
チック製のマイクロレンズ31、焦点距離可変レンズ3
2、光ビーム偏向器33を組み合わせて一体化して構成
している0通常、コンパクトディスクなどのピックアッ
プ装置では、焦点距Aif−5鰭程度のレンズを用い、
フォーカス制御はl龍程度の範囲でできればよい、そこ
で、マイクロレンズ31として焦点距ar6=s1mの
ものを使用し、焦点距離可変レンズ32と組み合わせて
f=4′B、即ち焦点距離fを1fl短くするためには
、およそ焦点距離f+ −2Onにレンズ32を設定す
ればよい。
チック製のマイクロレンズ31、焦点距離可変レンズ3
2、光ビーム偏向器33を組み合わせて一体化して構成
している0通常、コンパクトディスクなどのピックアッ
プ装置では、焦点距Aif−5鰭程度のレンズを用い、
フォーカス制御はl龍程度の範囲でできればよい、そこ
で、マイクロレンズ31として焦点距ar6=s1mの
ものを使用し、焦点距離可変レンズ32と組み合わせて
f=4′B、即ち焦点距離fを1fl短くするためには
、およそ焦点距離f+ −2Onにレンズ32を設定す
ればよい。
第2図は、焦点距離可変レンズの一実施例を示す図で、
図中、34はPLZTからなる円柱体、35は透明ti
、Eは可変電圧′cj、a[、R,、Rg、R3は分圧
抵抗である。
図中、34はPLZTからなる円柱体、35は透明ti
、Eは可変電圧′cj、a[、R,、Rg、R3は分圧
抵抗である。
第2図の焦点距離可変レンズでは、PLZTの電気光学
効果を利用して屈折率を変化させ、焦点距離を変えるよ
うにしている。PLZTの場合、200V/簡の電圧印
加により屈折率変化Δn−0,01程度達成可能である
。そこで、図示のように、例えば円柱体34にITOを
同心円状に蒸着して透明電極35を形成し、各電極に印
加する電圧を制御することにより、屈折率分布をrl=
no (1−1/2Ar”) Δn−−1/2Ar’ のように変化させることができる。ただし、noは円柱
体の中心における屈折率、Aは係数、rは半径である。
効果を利用して屈折率を変化させ、焦点距離を変えるよ
うにしている。PLZTの場合、200V/簡の電圧印
加により屈折率変化Δn−0,01程度達成可能である
。そこで、図示のように、例えば円柱体34にITOを
同心円状に蒸着して透明電極35を形成し、各電極に印
加する電圧を制御することにより、屈折率分布をrl=
no (1−1/2Ar”) Δn−−1/2Ar’ のように変化させることができる。ただし、noは円柱
体の中心における屈折率、Aは係数、rは半径である。
このようにしたとき、厚みをlとすると、レンズの焦点
距at r + はで与えられる。
距at r + はで与えられる。
今、焦点距離可変レンズ32の厚さをl1m、半径を1
璽璽とすると、rl =2onを得るためには、Δn=
0.025が必要であり、およそ500vの電圧印加で
達成することができる。このようにして、レンズ31と
32の組み合わせで焦点距離fを5fi〜4fiの範囲
で変えることができる。
璽璽とすると、rl =2onを得るためには、Δn=
0.025が必要であり、およそ500vの電圧印加で
達成することができる。このようにして、レンズ31と
32の組み合わせで焦点距離fを5fi〜4fiの範囲
で変えることができる。
第3図は焦点距離可変レンズの他の実施例を示す図で、
図中36はTtO,からなる円柱体、37は抵抗体であ
る。
図中36はTtO,からなる円柱体、37は抵抗体であ
る。
図において、円柱体36の側面に抵抗体37を形成し、
可変電源Eにより電流を流して発熱させて円柱体36を
加熱し、熱光学効果により円柱体36の半径方向に屈折
率分布を生じさせる。TtO糞では、100℃の温度変
化に対して屈折率変化Δn”0.01が得られるので、
抵抗加熱制御を行うことにより、第2図の場合と同様な
効果が得られる。
可変電源Eにより電流を流して発熱させて円柱体36を
加熱し、熱光学効果により円柱体36の半径方向に屈折
率分布を生じさせる。TtO糞では、100℃の温度変
化に対して屈折率変化Δn”0.01が得られるので、
抵抗加熱制御を行うことにより、第2図の場合と同様な
効果が得られる。
第4図は本発明による光ビーム偏向器の一実施例を示す
図で、図中、38はTeO□結晶、39はトランスジュ
ーサー、40はRF信号発生器である。
図で、図中、38はTeO□結晶、39はトランスジュ
ーサー、40はRF信号発生器である。
図において、T e Oz結晶38にLiNbO5から
なるトランスジューサー39を接着し、RF信号発生器
40から高周波を与えて励振し、Teo2結晶体中に生
ずる音響波の作るグレーティングにより光ビームを偏向
する。この場合、RF信号を50〜100MHzに変化
させて格子間隙を変えることにより、偏向角を7°位変
化させることができ、必要とされている400μ謬程度
のトラッキングコントロールを充分達成することができ
る。
なるトランスジューサー39を接着し、RF信号発生器
40から高周波を与えて励振し、Teo2結晶体中に生
ずる音響波の作るグレーティングにより光ビームを偏向
する。この場合、RF信号を50〜100MHzに変化
させて格子間隙を変えることにより、偏向角を7°位変
化させることができ、必要とされている400μ謬程度
のトラッキングコントロールを充分達成することができ
る。
第511は、圧電素子を用いた本発明による対物レンズ
部の他の実施例を示す図で、図中、41は圧電素子、4
2は支持枠である。
部の他の実施例を示す図で、図中、41は圧電素子、4
2は支持枠である。
図において、レンズ31は、例えば円周部の4カ所で圧
電素子41を介して支持枠42に固定されている。そこ
で、これら圧電素子41の各々に可変電圧1tmEによ
り電圧を印加し、これらの電圧をそれぞれ変えることに
よりレンズ31の上下位置、傾きを制御することができ
るので、フォーカシングとトラッキングの制御を行うこ
とができる。
電素子41を介して支持枠42に固定されている。そこ
で、これら圧電素子41の各々に可変電圧1tmEによ
り電圧を印加し、これらの電圧をそれぞれ変えることに
よりレンズ31の上下位置、傾きを制御することができ
るので、フォーカシングとトラッキングの制御を行うこ
とができる。
第6図は、本発明による対物レンズ部の他の実施例を示
す図で、図中、43はレンズ、44は透明同心円電極、
45は退明共i!!!電極、46は平面電極である。
す図で、図中、43はレンズ、44は透明同心円電極、
45は退明共i!!!電極、46は平面電極である。
図におイテ、I/7ズ43は、LiNb0iやPLZT
等の電気光学効果を持つ物質で構成し、その光学軸を適
当に選択する。そして、同心円電極44に印加する電圧
を変えることにより、第2図の場合と同様に、屈折率分
布が変わり、その結果焦点距離を可変にすることができ
る。また、同心円t1M44により生ずる電界方向と交
叉する方向に平面電極46により電圧を印加することに
より、光偏向作用を持たせることができる。したがって
、同心円電極44、平面電極46への印加電圧を制御す
ることによりフォーカシングとトラッキングの制御が可
能となる。なお同心円電極に電圧を印加したとき、多少
光の偏向が生ずる可能性があるが、その場合は平面電極
への印加電圧で補正するようにすればよい。
等の電気光学効果を持つ物質で構成し、その光学軸を適
当に選択する。そして、同心円電極44に印加する電圧
を変えることにより、第2図の場合と同様に、屈折率分
布が変わり、その結果焦点距離を可変にすることができ
る。また、同心円t1M44により生ずる電界方向と交
叉する方向に平面電極46により電圧を印加することに
より、光偏向作用を持たせることができる。したがって
、同心円電極44、平面電極46への印加電圧を制御す
ることによりフォーカシングとトラッキングの制御が可
能となる。なお同心円電極に電圧を印加したとき、多少
光の偏向が生ずる可能性があるが、その場合は平面電極
への印加電圧で補正するようにすればよい。
以上のように本発明によれば、コイル、磁石、ガルバノ
ミラ−等が不要になるので、ピックアンプ可動部が軽く
なり、速いアクセス時間を達成することができると共に
、光学的な調整部分が少なくなり、熟練を要する調整が
不要になる。
ミラ−等が不要になるので、ピックアンプ可動部が軽く
なり、速いアクセス時間を達成することができると共に
、光学的な調整部分が少なくなり、熟練を要する調整が
不要になる。
第1図は本発明の光ディスクピックアップ用レンズにお
ける対物レンズ部の一実施例を示す図、第2図は焦点距
離可変レンズの一実施例を示す図、第3図は焦点距離可
変レンズの他の実施例を示す図、第4図は本発明による
光ビーム偏向器の一実施例を示す図、第5図は圧電素子
を用いた対物レンズ部の他の実施例を示す図、第6図は
本発明による対物レンズ部の他の実施例を示す図、第7
図は光デイスク装置の概略構成図、第8図は従来のレー
ザピックアップ装置の構成を示す図である。 l・・・ディスク、2・・・ヘッド送り装置、3・・・
モータ、4・・・ピックアップ部、5・・・再生回路、
6・・・サーボ回路、30・・・対物レンズ部、31川
マイクロレンズ、32・・・焦点距離可変レンズ、33
・・・光ビーム偏向器、34・・・PLZT円柱体、3
5・・・透明電極、E・・・可変電圧電源、R+ 、R
t 、Rs・・・分圧抵抗、36・・・TiO□円柱体
、37・・・抵抗体、38・・・Tea!結晶、39・
・・トランスジューサー、40・・・RF信号発生器、
41・・・圧電素子、42・・・支持枠、43・・・レ
ンズ、44・・・同心円電極、45・・・共通電極、4
6・・・平面電極 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図
ける対物レンズ部の一実施例を示す図、第2図は焦点距
離可変レンズの一実施例を示す図、第3図は焦点距離可
変レンズの他の実施例を示す図、第4図は本発明による
光ビーム偏向器の一実施例を示す図、第5図は圧電素子
を用いた対物レンズ部の他の実施例を示す図、第6図は
本発明による対物レンズ部の他の実施例を示す図、第7
図は光デイスク装置の概略構成図、第8図は従来のレー
ザピックアップ装置の構成を示す図である。 l・・・ディスク、2・・・ヘッド送り装置、3・・・
モータ、4・・・ピックアップ部、5・・・再生回路、
6・・・サーボ回路、30・・・対物レンズ部、31川
マイクロレンズ、32・・・焦点距離可変レンズ、33
・・・光ビーム偏向器、34・・・PLZT円柱体、3
5・・・透明電極、E・・・可変電圧電源、R+ 、R
t 、Rs・・・分圧抵抗、36・・・TiO□円柱体
、37・・・抵抗体、38・・・Tea!結晶、39・
・・トランスジューサー、40・・・RF信号発生器、
41・・・圧電素子、42・・・支持枠、43・・・レ
ンズ、44・・・同心円電極、45・・・共通電極、4
6・・・平面電極 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図
Claims (7)
- (1)半導体レーザに接続され、ディスクに対向した対
物レンズ部であって、該対物レンズ部は、外部からの信
号により屈折率の変化或いは機械的な変形を生ずる物質
から形成される部材を有するレンズを備えたことを特徴
とする光ディスクピックアップ用レンズ。 - (2)前記レンズは、焦点距離可変レンズと光偏向器か
らなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光
ディスクピックアップ用レンズ。 - (3)前記焦点距離可変レンズは、空間的に電界強度が
異なるように電圧を印加することにより電気光学効果素
子の屈折率分布を変化させて焦点距離を変えるようにし
たことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の光ディ
スクピックアップ用レンズ。 - (4)前記焦点距離可変レンズは、加熱により熱光学効
果素子の屈折率分布を変化させて焦点距離を変えるよう
にしたことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の光
ディスクピックアップ用レンズ。 - (5)前記光偏向器は、音響光学効果素子の励振周波数
を変えることにより格子間隙を変化させて偏向角を変え
るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第2項記
載の光ディスクピックアップ用レンズ。 - (6)前記レンズは、圧電素子に固定支持され、該圧電
素子への印加電圧を変えることにより上下位置及び傾き
を制御されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の光ディスクピックアップ用レンズ。 - (7)前記レンズは、互いに交叉する方向に電圧が印加
される電気光学効果素子より構成され、一方の方向に電
圧を印加することによる屈折率分布変化により焦点距離
を変え、他方の方向に電圧を印加することにより偏向角
を変えることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
光ディスクピックアップ用レンズ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61161707A JPS6318533A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 光デイスクピツクアツプ用レンズ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61161707A JPS6318533A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 光デイスクピツクアツプ用レンズ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6318533A true JPS6318533A (ja) | 1988-01-26 |
Family
ID=15740348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61161707A Pending JPS6318533A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 光デイスクピツクアツプ用レンズ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6318533A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02103745A (ja) * | 1988-10-12 | 1990-04-16 | Sanyo Electric Co Ltd | 光学ヘッド装置 |
JPH03256236A (ja) * | 1990-03-07 | 1991-11-14 | Hitachi Ltd | 光ピックアップ |
JPH03283024A (ja) * | 1990-03-30 | 1991-12-13 | Hitachi Ltd | 光ピックアップ |
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