JPS63178340A - 制御用集積回路 - Google Patents

制御用集積回路

Info

Publication number
JPS63178340A
JPS63178340A JP62009094A JP909487A JPS63178340A JP S63178340 A JPS63178340 A JP S63178340A JP 62009094 A JP62009094 A JP 62009094A JP 909487 A JP909487 A JP 909487A JP S63178340 A JPS63178340 A JP S63178340A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
pseudo
access request
request source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62009094A
Other languages
English (en)
Inventor
Susumu Yoshino
進 吉野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP62009094A priority Critical patent/JPS63178340A/ja
Publication of JPS63178340A publication Critical patent/JPS63178340A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置などで使用される制御用集積回路
に係わり、特に擬似故障発生用信号を取り出すことがで
きる制御用集積回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、情報処理装置などにおいては、14ビンないし2
0ピン程度のD I P (Dual InlineP
ackage )に実装した小規模の集積回路をいくつ
も基板(カード)上に搭載して中央処理装置、記憶装置
、周辺制御装置を構成することが一般的であった。
しかし近年デバイス技術の進歩に伴い、大規模の集積回
路が実用化され、小型装置のプロセッサは1チツプ上に
すべて入ってしまうようになってきている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このようなデバイス技術の進歩は、情報処理装置に使用
されている記憶装置についても例外ではない。すなわち
このような記憶装置についてもメモリ素子の高集積化と
ともに1チツプ化が進み、制御部についても大規模集積
回路により1チツプ化が進んでいる。この場合、大部分
の制御部は一つの集積回路上(1チツプ内)に組み込ま
れるため、擬似故障信号としてエラーを擬似的に発生す
るための擬似故障信号発生回路等も組み込まれている。
この擬似故障信号は、エラー系回路の機能確認には是非
とも必要である。殊に開発段階においては、複数のプロ
セッサとの接続テスト時に各種エラーを擬似的に任意に
発生させることが必要であり、特に任意のプロセッサの
アクセス要求時に発生させることが必要になる。
従って、従来このような配慮が行われていない場合には
、開発段階での確認(機能51Hりや評価作業の大きな
支障になっている。
そこで、本発明の目的は、障害時のトラブル・シュート
すなわちトラブル処理や開発評価時における解析のため
の有効な擬似故障信号を任意に発生させて制御用集積回
路外に取り出すことができるようにし、開発段階での確
認や評価作業に支障がないようにした制御用集積回路を
提供することにある。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明では、(i)それぞれ異なる種類の故障を擬似故
障信号として発生させるための複数個の擬似故障信号発
生回路と、(ii )それぞれ異なるアクセス要求元を
保持する複数個のアクセス要求元保持回路と、(iii
 )入力端子からの入力信号により構成される選択信号
に基づき複数個の擬似故障信号発生回路の出力のうち、
該当する擬似故障信号発生回路の出力を選択して出力す
る第1の選択回路と、(iv )入力端子からの入力信
号により構成される選択信号に基づき複数個のアクセス
要求元保持回路の出力のうち、該当するアクセス要求元
保持回路の出力を選択して出力する第2の選択回路と、
(v)これら第1および第2の選択回路の各出力の論理
積を演算し、出力を出力端子に送出する論理積回路とを
制御用集積回路に具備させる。
従って、第2の選択回路は、人力信号により構成される
選択信号に基づき該当するアクセス要求元保持回路の出
力を選択して論理積回路へ出力し、また、第2の選択回
路は、入力信号により構成される選択信号に基づき該当
する擬似故障信号発生回路の出力を選択して論理積回路
へ出力する。そして論理積回路の出力としてアクセス要
求元と論理積のとられた擬似故障種別が、例えば“アク
セス要求元CPLIの時発生したアドレスパリティエラ
ー擬似故障信号”のように選択的に擬似故障信号を制御
用集積回路外に取り出すことができる。
この擬似故障信号を、故fim(障害)時のトラブル処
理や開発評価時の解析に用いることができ開発段階での
確認、評価作業に支障をきたさない。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例における制御用集積回路を示
したものである。記憶装置を制御するための制御用集積
回路1内には、擬似故障信号発生回路2〜5が配置され
ている。これらの擬似故障信号発生回路2〜5は、それ
ぞれ異なる種類の故障を擬似故障信号として発生するた
めのものである。
一般的に故障の種類としては、例えばアドレスパリティ
エラー、書込データパリティエラー、コマンドパリティ
エラー、読出データエラーといったようなものが存在す
る。ここでは、便宜上、エラーの種類をAエラー〜Dエ
ラーとし、擬似故障信号発生回路2〜5はそれぞれAエ
ラー1疑似故障信号〜Dエラー擬似故障信号を発生させ
るAエラー擬似故障発生回路〜Dエラー擬似故障発生回
路とも称するものとする。
また、制御用集積回路1内には、選択回路6が配置され
ている。選択回路6は制御用集積回路1上の入力端子1
2.13からの選択用信号に基づき擬似故障信号発生回
路(図面では擬障発生回路と略して表示する。)2〜5
の出力のうち、該当する1つを選択するための回路(第
1の選択回路)である。
また、制御用集積回路1内にはアクセス要求元を保持す
るアクセス要求元保持回路7.8も配置されている。こ
の実施例ではアクセス要求元が2つの場合を例にとった
ので、2つのアクセス要求元保持回路7および8が示さ
れている。すなわち、アクセス要求元の数によって、ア
クセス要求元保持回路の数が定まる。
一般的には、アクセス要求元は、例えばCPU(中央処
理装置)、l0P(入出力処理装置)といったようなも
のになる。ここでは、便宜上、例えばCPUをアクセス
要求元A、IOPをアクセス要求元Bとし、一方のアク
セス要求元保持回路7をアクセス要求元Aを保持するア
クセス要求元A保持回路、他方のアクセス要求元保持回
路8をアクセス要求元Bを保持するアクセス要求元日保
持回路として区別する。
なお、各アクセス要求元保持回路7.8は、メモリにア
クセスをかけた要求元に応じてアクセスをかけた初めの
段階(アクセスの早い時刻)にて“1″情報をセットし
、エラーが発生しなければ、すなわち擬似故障を起こさ
なければアクセス終了と同時にリセット(“0”)とな
る。また、この場合、“1”情報をセット後、擬似故障
によりエラーが発生すれば、アクセスが終了してもリセ
ットされないようになっている。
選択回路9は制御用集積回路1上の入力端子11からの
選択用信号に基づいてアクセス要求元保持回路7.8の
いずれか1つを選択して論理積回路10へ出力を送出す
るための回路(第2の選択回路)である。論理積回路(
アンド回路)1oは、選択回路6.9の各出力の論理積
を演算し、その出力を制御用集積回路l上の出力端子1
4へ送出するようになっている。制御用集積回路1を搭
載した基板(カード)上にはバッファゲート15〜18
が配置されており、基板上の入力端子19〜21はそれ
ぞれ対応するバッファゲート15〜17を介して制御用
集積回路1上の入力端子11〜13に接続されている。
また制御用集積回路1上の出力端子14は、バッファゲ
ート18を介して基板上の出力端子22に接続されてい
る。
さらに上述した選択回路6は、選択用信号の入力端子1
2および13に入力される論理値に従って、ここでは、
例えば4つの擬似故障信号発生回路2〜5のうちの1つ
を次のように選択できるように設定する。すなわち、入
力端子12と13が論理“0”、“0”の場合、“1”
、“0”の場合、“0”、“1”の場合および“1”、
“1”の場合に、それぞれAエラー擬似故障信号発生回
路2の出力、Bエラー擬似故障信号発生回路3の出力、
Cエラー擬似故障信号発生回路4の出力、Dエラー擬似
故障信号発生回路5の出力を選択する選択用信号が構成
されるものと設定する。
なお、入力端子12および13の論理値の設定について
は、入力端子20および21を論理“0”または“1”
にクランプ(固定)することによって、入力端子12お
よび13を必要な論理値(必要とする擬似故障に応じた
論理値)にすればよい。
また選択回路9についても、同様に選択用信号の入力端
子11に入力される論理値に従って、ここでは、例えば
2つのアクセス要求元保持回路7および8のうちの1つ
を次のように選択できるようにする。すなわち、入力端
子11が論理′0”の場合および“1”の場合に、それ
ぞれアクセス要求元A保持回路7の出力およびアクセス
要求元日保持回路8の出力を選択する選択用信号が構成
されるものと設定する。
なお、入・刃端子11の論理値の設定については、入力
端子19を選択したい要求元に応じて論理“0”または
論理“1”にクランプ(固定)することによって入力端
子11を必要な論理値に設定すれば必要な要求元、すな
わちアクセス要求元保持回路7および8の各出力のうち
いずれか必要な方を選択することができる。
次にこのような構成の本制御用集積回路1を使用した装
置において、評価、確認時等に擬似故障が必要な場合、
その必要とする擬似故障に応じて選択信号用の入力端子
20.21を論理“θ″または論理″1″にクランプす
ることによって、入力端子12.13を必要な論理値に
設定すると、入力端子12.13の論理値で決まる選択
用信号に基づき、選択回路6は、擬似故障信号発生回路
2〜5の出力中の該当する1つを選択して論理積回路1
0へ送出する。
また、アクセス要求元CPUがメモリにアクセスをかけ
、擬似故障(擬似障害)によりエラーが発生したのであ
れば上述したようにアクセス要求元A保持回路7は論理
“1”にセットされたままとなり、この論理“1”の出
力を選択回路9へ供給している。このときアクセス要求
元B保持回路8はセットされておらず論理“0”である
。かかる場合に入力端子11が論理“0”に設定される
ように、入力端子19を論理“1”にクランプすれば、
選択回路9は入力端子11からの選択用信号(論理“0
”)に基づき、アクセス要求元A保持回路7の出力(論
理“1”)を選択して論理積゛回路10へ供給する。
一方、上述の発生したエラーがアドレスパリティエラー
であるとするとし、ここではそれが便宜上Bエラーであ
るとし、擬似故障信号発生回路3の出力が選択回路6に
よって選択され、その擬似故障信号発生回路3の出力が
論理積回路10へ供給されると、論理積回路10は、“
要求元CPU0時発生したアドレスパリティエラー擬似
故障信号”として、選択的に擬似故障信号を出力するこ
とになる。この擬似故障信号は制御用集積回路1の出力
端子14、バッファゲート18を介して基板上の出力端
子22へ供給される。
以上から分かるように、論理積回路10の出力端子にア
クセス要求元と論理積のとられた擬似故障種別が、例え
ば上述のごとく“要求元CPU時のアドレスレパリティ
エラー擬似故障”のように選択的に出力でき、出力端子
22に必要な擬似故障信号を取り出すことができる。
制御用集積回路1においては、擬似故障信号発生回路2
〜5の他に選択回路6.9、アクセス要求元保持回路7
.8、論理積回路10を追加するだけであるので、非常
に少ないハードウェア量の追加ですむ。そして、制御用
集積回路1を使用した装置、(例えば、情報処理装置)
において、評価、確認時等に擬似故障が必要な場合に、
上述したようにしてその擬似故障信号を故障(障害)時
のトラブルシx−) ()ラブル処理)や開発評価時に
おける解析のための有効な擬似故障発生用信号として制
御用集積回路1外へ取り出して提供することができ、従
来に比して著しく効率を上げることができる。
本発明は以上説明した本実施例に限定されるものではな
く、種々の応用および変形が考えられる。
例えば、実施例においては、バッファゲート15〜18
として論理を反転させるインバー夕を用いたけれども、
インバータを用いなくてもよい。またインバータのよう
に論理を反転させないものでもよい。
更に実施例では、4個の擬似故障信号発生回路2〜5.
2個のアクセス要求元保持回路7.8を設けているが、
必要とする擬似故障の種類の数やアクセス要求元の数が
変われば、それに応じて配設される擬似故障信号発生回
路やアクセス要求元保持回路の数も変更されることはい
うまでもない。
そしてこれら擬似故障信号発生回路やアクセス要求元保
持回路を選択する選択用信号の制御用集積回路1上の入
力端子、バッファゲート、基板上の入力端子などの構成
についても第1図と同様の形で変更される。
また本実施例では、複数の入力端子12.13からの入
力信号により構成される選択用信号を用いているが、本
発明はこれに限定されるものではない。例えば基板上の
入力端子バッファゲート制御用集積回路1上の入力端子
の経路を1つにして、その代わりに制御用集積回路1内
に選択用レジスタを設けこのレジスタに制御用集積回路
1上の入力端子から入力信号を直列にシフト入力し、そ
れを並列信号として取り出し所望の選択用信号を構成し
てもよい。このことはアクセス要求元保持回路の数が増
えた場合にも同様に適用することができる′。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば制御用集積回路に財
似故陣信号発生回路等からなる非常に少ナイハードウエ
ア量を用いることで、故障(障害)時のトラブル処理ま
たは開発評価時における解析のための有効な擬似故障(
障害)発生用信号を制御用集積回路外に取り出して供給
することができ、開発段階での確認(機能確認)、評価
作業に支障がないようにすることができる。従って、従
来に比してこのような点で著しく効率を上げることがで
きる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明による制御用集積回路の一実施例を示す
構成図である。 1・・・・・・制御用集積回路、 2〜5・・・・・・擬似故障信号発生回路、6.9・・
・・・・選択回路、 7.8・・・・・・アクセス要求元保持回路、10・・
・・・・論理積回路、 11〜13・・・・・・制御用集積回路の入力端子、1
4・・・・・・制御用集積回路の出力端子。 出 願 人     日本電気株式会社代 理 人  
   弁理士 山内 梅雄第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. それぞれ異なる種類の故障に対応して擬似故障信号を発
    生させるための複数個の疑似故障信号発生回路と、それ
    ぞれ異なるアクセス要求元を保持する複数個のアクセス
    要求元保持回路と、入力端子からの入力信号により構成
    される選択信号に基づき前記複数個の擬似故障信号発生
    回路の出力のうち、該当する擬似故障信号発生回路の出
    力を選択して出力する第1の選択回路と、入力端子から
    の入力信号により構成される選択信号に基づき前記複数
    個のアクセス要求元保持回路の出力のうち、該当するア
    クセス要求元保持回路の出力を選択して出力する第2の
    選択回路と、これら第1および第2の選択回路の各出力
    の論理積を演算し、その出力を出力端子に送出する論理
    積回路とを具備することを特徴とする制御用集積回路。
JP62009094A 1987-01-20 1987-01-20 制御用集積回路 Pending JPS63178340A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62009094A JPS63178340A (ja) 1987-01-20 1987-01-20 制御用集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62009094A JPS63178340A (ja) 1987-01-20 1987-01-20 制御用集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63178340A true JPS63178340A (ja) 1988-07-22

Family

ID=11711028

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62009094A Pending JPS63178340A (ja) 1987-01-20 1987-01-20 制御用集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63178340A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0245971A (ja) * 1988-08-05 1990-02-15 Nec Corp 半導体集積論理回路
JP4763807B2 (ja) * 2006-02-22 2011-08-31 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 制御装置の故障状態をシミュレートするための方法および回路構成
WO2012066636A1 (ja) * 2010-11-16 2012-05-24 富士通株式会社 情報処理装置、送信装置及び情報処理装置の制御方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0245971A (ja) * 1988-08-05 1990-02-15 Nec Corp 半導体集積論理回路
JP4763807B2 (ja) * 2006-02-22 2011-08-31 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 制御装置の故障状態をシミュレートするための方法および回路構成
WO2012066636A1 (ja) * 2010-11-16 2012-05-24 富士通株式会社 情報処理装置、送信装置及び情報処理装置の制御方法
JP5609986B2 (ja) * 2010-11-16 2014-10-22 富士通株式会社 情報処理装置、送信装置及び情報処理装置の制御方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4191996A (en) Self-configurable computer and memory system
EP0095928A2 (en) Pipeline processing apparatus having a test function
US5416919A (en) Semiconductor integrated circuit with functional blocks capable of being individually tested externally
JPH0223891B2 (ja)
EP0227696A1 (en) On chip test system for configurable gate arrays
US5216672A (en) Parallel diagnostic mode for testing computer memory
US4333142A (en) Self-configurable computer and memory system
EP0023413B1 (en) Single chip microprocessor having means for selectively outputting instruction decoder control signals
JPS63200249A (ja) 情報処理装置
US4205301A (en) Error detecting system for integrated circuit
US4429362A (en) Data buffer operating in response to computer halt signal
JPS63178340A (ja) 制御用集積回路
JPS6361344A (ja) 制御用集積回路
JPS6361342A (ja) 制御用集積回路
JPS5827248A (ja) 集積回路
JPS6361343A (ja) 制御用集積回路
JPS62219300A (ja) 半導体集積回路
JPH02112777A (ja) 半導体集積回路
JPS61204746A (ja) 半導体装置
JPH0638239B2 (ja) 誤り訂正機構
JPS607680A (ja) メモリ・モジユ−ル・セレクト信号作成装置
JPS6321928B2 (ja)
JPS626254B2 (ja)
JPH03248441A (ja) マルチチップ実装半導体集積回路装置
JPH0599987A (ja) テスト回路