JPS63175466A - 光電変換装置 - Google Patents

光電変換装置

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JPS63175466A
JPS63175466A JP62006252A JP625287A JPS63175466A JP S63175466 A JPS63175466 A JP S63175466A JP 62006252 A JP62006252 A JP 62006252A JP 625287 A JP625287 A JP 625287A JP S63175466 A JPS63175466 A JP S63175466A
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    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
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    • H01L27/14681Bipolar transistor imagers

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は開口部と遮光部とに分けられた複数個の光セン
サを有する光電変換装置に関する。
[従来技術] 第6図は、暗出力補償機部を有する従来の光電変換装置
の概略的構成図である。
同図において、センサ部工は光電変換を行う開口部のセ
ル81〜Snと暗基準出力を得るための遮光部のセルS
dとから構成されている。
各セルの信号は走査部2によって順次出力され、暗出力
補償部3に入力する。暗出力補償部3では、セル51〜
Snの各信号からセルSdの暗基準信号分を差し引いて
出力する。
遮光部のセンサセルSdの出力はセンサセルの暗電流に
相当するために、セル51〜Snの各信号からセルSd
の暗基準信号分を差し引くことで、暗電流くよる雑音成
分が除去され、入射光に正確に対応した光電変換信号を
得ることができる。
なお、暗出力補償部3としては、クランプ回路を用いて
もよいし、セルSdの暗基準信号を保持するサンプルホ
ールド回路と、その暗基準信号とセルs1〜Snの信号
との差をとる差分回路を用いることもできる。
第7図は、上記従来例におけるセンサ部lの概略的断面
図である。
同図において、n一層701にセンサセルset、si
〜Snが素子分離領域702を挟んでライン状に形成さ
れている。
各セルは光励起によって発生したキャリアを蓄積するた
めのp領域703を有し、セルSd上には遮光膜704
が形成され遮光部を構成している。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記従来の光電変換装置では。
開口部に強い光が入射すると、開口部から遮光部へキャ
リアが漏れ込み、暗基準出力に影響を与えるという問題
点を有していた。
すなわち、第7図に示すように、強い光が入射して開口
部のセルS1のP領域703に過剰なキャリア(ここで
はホール)が蓄積されると、過剰キャリア705がn一
層701側へ流出し、隣接する遮光部のセルSdのp領
域703に流入する。このために、セルSdの暗基準出
力が変化し、上述したように正確な暗出力補償ができな
くなる。
[問題点を解決するための手段] 本発明による光電変換装置は、 開口部と遮光部とに分けられた複数個の光センサを有す
る光電変換装置において、 開口部からの光信号の流入を阻止するキャリア除去手段
を前記遮光部の光センサと開口部の光センサとの間に設
けたことを特徴とする。
[作用] このようにキャリア除去手段を開口部と遮光部との間に
設けたことによって、開口部からの光信号の漏れ込みが
阻止され、遮光部のセンサから光に影響されない出力を
得ることができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら詳細に説明
する。
81図は、本発明による光電変換装置の一実施例の概略
的断面図、第2図は、そのA−A線断面図である。
第1図および第2図において、n型基板101上にエピ
タキシャル成長によってn一層が形成され、n一層に素
子分離領域116によって相互に分離されたセル5d、
31.32 ・・・SnとセルSdおよびSlの間に位
置する過剰キャリア除去セルSfとがライン状に形成さ
れている。各セルにおいてn一層はコレクタ領域102
となる。
さらに、各セル内にpベース領域103、Pベース領域
103内にn十エミッタ領域104が形成され、npn
型バイポーラトランジスタが構成されている。
また、Pベース領域゛103にp十領域105が形成さ
れ、一定距離をおいてn一層102にp+領域106が
形成されている。更に、酸化膜107を介してゲート電
極108が形成され、リセット用のpチャネルMOSト
ランジスタ(以下、「リセッ)TrJとする。)が構成
されている。勿論、リセットTrをnチャネルMO3)
ランジスタとしてもよい。
バイポーラトランジスタおよびリセットT r 」二に
は絶縁膜109が形成され、p十領域106に接合した
電極110とn十エミッタ領域104に接合したエミッ
タ電極111とが各々形成されている。更に、その上に
絶縁膜112が形成され、開口部を除く部分は遮光膜1
13に覆われている。セルSdおよびSf上には遮光膜
113が形成されて遮光部を構成し、その他のセル81
〜Snは開口部を構成している。
また、基板101の裏面にはコレクタ電極114が形成
されている。
ここでは、セル51〜Snによって入射光が電気信号に
変換され、セルSdによって暗出力補償用の暗基準信号
が得られる。そして、開口部と暗基準セルSdとの間に
形成されたセルSfによって、暗基準セルSdへの過剰
キャリアの流入が阻止される。
本実施例における過剰キャリア除去セルSfのpベース
領域103は、コレクタ電位Vcc以下の電位Vfxに
固定されている。このために、セルsl〜Snのpベー
ス領域103にN桔された過剰なホールがあふれて流出
しても、セルSfのpベース領域103に吸引されて暗
基準セルSdまで到達しない。すなわち、開口部の光電
変換セルに強い光が入射してPベース領域103から過
剰なキャリアがコレクタ側へ流出しても、暗基準セルS
dからは常に正しい暗基準出力を得ることができる。
さらに本実施例では、過剰キャリア除去セルSfが、他
のセルと同一の構成を有しているために、何ら特別の製
造工程を必要とせず、また同一構成のセルが配列されて
いるために、ノイズに関しても有利である。
なお本実施例では、npn型バイポーラトランジスタを
用いた光電変換セルの場合を説明したが、勿論、電界効
果トランジスタや静電誘導トランジスタを用いたもので
あっても、またその他の方式のものであっても、キャリ
アを蓄積するための領域を有するトランジスタを用いた
ものであれば、本発明が容易に適用可能であることは明
らかである。
次に、本実施例における光電変換セルの動作を説明する
第3図(A)は、上記光電変換セルの基本動作を説明す
るための等価回路図、第3図(B)は、その動作を示す
電圧波形図である。
第3図(A)において、上記光電変換セルは、npn型
バイポーラトランジスタlのpベース領域103がリセ
ッ)Tr5のドレインに接続された回路と等価である。
リセッ)Tr5のゲート電極108にはパルスφres
が入力し、そのソース電極110には一定電圧Vbg 
(たとえば2V)が適時印加される。また、エミッタ電
極111はnチャネルMOSトランジスタ8を介して端
子115に接続され、そのゲート電極にはパルスφvr
sが入力し、端子115には電圧Vbgより十分に低い
電圧又は接地電圧が適時印加される。
まず、蓄積動作において、pベース領域103の電位v
bは初期の正電位で浮遊状態に、エミッタ領域104は
ゼロ電位の浮遊状態に、各々設定されている。なお、コ
レクタ電極114には正電圧Vccが印加されている。
また、リセットTr5のゲート電極108は正電位にあ
り、リセットTr5はOFF状態となっている。
この状態で受光部に光が入射し、光量に対応したキャリ
ア(ここでは正孔)がpベース領域103に蓄積される
その際、pベース領域103は初期の正電位に設定され
ているために、光励起によってキャリアがHaされると
、その蓄積キャリアに応じた信号が同時に浮遊状態のエ
ミッタ側へ読出され、光電変検出力が得られる。すなわ
ち、本実施例では蓄積動作と同時に読出し動作が進行す
る。
次に、Pベース領域103に蓄積されたキャリアを消滅
させる動作について説明する。
第3図(B)に示すように、まず、リセットTr5のゲ
ート電極108に負電圧のパルスφresが印加される
ことで、リセッ)Tr5はON状態となる(期間T1)
、これによって、pベース領域103の電位vbは、そ
れまでの蓄積電圧、に関係なく、すなわち入射光の照度
に関係なく、一定電圧Vbgとなる。
一定電圧Vbgは、キャリア消滅動作終了後のベース残
留電位Vkよりも十分の高くなるように設定されている
。たとえば、Vbg=2Vである。
次に、正電圧のパルスφvrsによってトランジスタ8
をON状態とし、端子115の接地電圧又はVbgより
十分低い電圧をトランジスタ8を介してエミッタ電極1
11に印加する(期間T2’)、勿論、正電圧のφvr
sをパルスφresの立上がりから継続して印加しても
よい(期間T2)。
これによって、pベース領域103に蓄積されたホール
は、n十エミッタ領域104からpペース領域103に
注入される電子と再結合し消滅する。すでに述べたよう
に、期間T1においてPベース領域103の電位vbは
、蓄積電位に関係なく、前記残留電位Vkより十分高い
電位Vbgに設定されているために、期間T2又はT2
  ’が経過゛した時点で、pベース領域103の電位
vbは、照度の高低に関係なく一定電位Vkとなる。
また、期間T2又はT2  ’が経過した時点で、パル
スφvrsは立下がり、トランジスタ8がOFF状態と
なって、エミッタ電極111は浮遊状態となる。そして
、上述した蓄積動作および読出し動作へ移行する。
このようにpベース領域103の電位を一定電位とする
期間T1を設けることによって、期間T2又はT2  
’での消滅動作を終了した時点で。
pベース領域103の電位vbを一定にすることができ
、低照度状態での光電変換特性の非直線性および残像現
象を完全に防止することができる。
また、Pベース領域103の電位制御をキャパシタによ
って行わないために、キャパシタに起因する出力の低下
、バラツキの発生がない。
第4図は、上記光電変換セルを用いた本実施例の概略的
回路図である。
本実施例におけるセルSd、Sf、si〜Snは、第1
図に示すようにライン状に配列されている。
第4図において、各セルのリセットTr5のゲート電極
108は端子70に共通接続されパルスφresが入力
する。またソース電極11Oは端子72に共通接続され
電圧Vbgが印加される。
ただし、過剰キャリア除去セルSfのpベース領域10
3の電位はVfxに固定されている。これは、リセ−2
)Tr5を常にON状態にしておき、そのソース電極1
10に電圧Vfxを印加してもよいし、pベース領域1
03に直接電極を設けて電圧Vfxを印加してもよい。
また、各セルのエミッタ電極111はトランジスタ8を
介して接地されている。トランジスタ8のゲート電極は
端子71に共通接続され、端子71にはパルスφvrs
が入力する。
さらに、各セルのエミッタ電極111はトランジスタ1
1を介して蓄積用キャパシタCtに各々接続され、各キ
ャパシタCtは各々トランジスタ12を介して出力ライ
ン20に共通接続されている。
トランジスタ11のゲート電極は端子73に共通接続さ
れ、端子73にはパルスφtが入力する。
トランジスタ12のゲート電極はシフトレジスタ13の
出力端子に接続され、シフトレジスタ13によってトラ
ンジスタ12は順次ONされる。またシフトレジスタ1
3は、端子79から入力するシフトパルスφshによっ
て動作し、ハイレベルの位置が順次シフトしていくよう
に構成されている。
出力ライン20は出力アンプ15を通して出力端子76
に接続されている。また、出力アンプ15の入力はトラ
ンジスタ14を介して端子74に接続され、端子74に
は一定電圧vbhが印加されている。また、トランジス
タ14のゲート電極75にはパルスφhrsが入力する
なお、上記各パルスφおよび定電圧Vbg、Vfxおよ
びvbhはドライバ77から供給され、ドライバ77は
発振器78からのクロック信号に応じたタイミングで各
パルスを出力する。
以下、第5図を参照しながら、本実施例の動作を説明す
る。
第5図は、上記ドライバ77から出力される各パルスの
タイミング例を示すタイミングチャートである。
なお、第5図におけるφt (A) 、 φt (B)
は夫々異なる読出し方法のタイミングを示すものである
先ず、φt (A)の場合を説明する。
時刻t1でφtおよびφvrsをハイレベルとることに
よって、全てのりセラ)Tr5 (この場P 合量チャネルMO3)ランジスタである。)をONにし
て各セルのpベース領域103の電位を一定電位Vbg
とする。
また、φtがハイレベルであるから、トランジスター1
はONであり、キャパシタCt内の電荷はトランジスタ
ー1および8を通して除去される。
次に、時刻t3でφresが立下がると。
φvrsが未だハイレベルであるから、既に述べたよう
にベースに蓄積されたキャリアが徐々に再結合して消滅
していく。そして時刻t2以前にベースに残留していた
キャリアの多少に関係なく、時刻t4でベースに残留す
るキャリアは、セルSfを除いて、どのセルについても
常に等しくなる。
時刻t4でφvrsが立下がると、各セルのエミッタ電
極111はトランジスター1を介してキャパシタCtに
接続された状態となる。そして時刻t6でφtが立下が
るまで、既に述べたように蓄積および読出し動作を行う
、すなわち、セル31〜Snにおいて光励起されたキャ
リアがベースに8積されるに従って、その量に応じた本
ヤリアがキャパシタCLに各々蓄積されていく。その際
、強い光によって過剰キャリアがベースからコレクタ側
へ流出しても、過剰キャリア除去セルSfのpベース領
域に吸引され、暗基準セルSdには到達しない。
こうして時刻計〇でφtが立下がると、トランジスタ1
1がOFFとなり、各セル31〜Snで光電変換された
信号および暗基準セルSdの暗基準信号が各々キャパシ
タCtに蓄積され記憶されたことになる。なお、過剰キ
ャリア除去セルSfからの出力も当該キャパシタCtに
蓄積されるが、本実施例ではこの出力を後段で無視する
次に、キャパシタCtに各々蓄積された情報を順次取り
出し、シリアルに出力する動作を行う。
まず、時刻t7でφhrsを1パルス与えることでトラ
ンジスタ14をONにして出力ライン20の浮遊容量←
残留していた電荷を除去する。
続いて、時刻計8でφshを1パルス与えることにより
シフトレジスタ13による各トランジスタ12の走査を
開始する。
1つのトランジスタ12がONすると該当するキャパシ
タCtに蓄積された電荷は出力ライン20に取り出され
アンプ15を介して出力端子76から外部へ出力される
。そして、その直後にΦhrsによりトランジスタ14
がONとなり出力ライン20がクリアされる。
以上の信号取り出し動作がシフトパルスφshのタイミ
ングでセル5d−3nまで順次行われ、時刻t4〜七〇
の間に光電変換された信号および暗基準信号を順次出力
することができる。
こうしてキャパシタCtに蓄積された信号を全て取り出
すと、再びt1〜t4のキャリア消滅動作、t4〜七〇
の蓄積および読出し動作、t7以降の信号取り出し動作
をこの順番に繰り返す。
なお、φt (B)の場合の読出し動作はφt (A)
の場合を更に改良したものである。
すなわち、時刻t4〜t5にかけてφtをローレベルに
しておく、これにより各セルのヘーステ光励起により発
生したキャリアはキャパシタCtに蓄積されず、各セル
に蓄積される。そして、時刻t5〜t6のφtにより各
セルに蓄積された信号がキャパシタCtに各々転送され
る。この方法であると、φt (A)の場合よりも、出
力が20〜30%向上し、感度のバラツキも大幅に軽減
することが実験的に確かめられた。
また、φvrsは時刻t1〜t3の間ハイレベルとして
いるが、ローレベルであってもよく、その方が時刻t 
1〜t3にかけてセルのベース拳エミッタ間に流れる電
流を遮断でき、電源のロスを防ぐ効果を有する。
こうしてセルSd、Sf、Sl〜Snの各信号はアンプ
15の端子76から出力信号Voutとしてシリアルに
外部へ出力される。そして、第6図において説明した暗
出力補償部3によって、暗電流による雑音成分が除去さ
れる。ただし、暗出力補償部3において、セルSfの出
力は無視される。
なお、上記実施例ではラインセンサの場合を説明したが
、勿論エリアセンサであっても同様であり、上記ライン
センサ部を複数配列した構成にすればよい。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明による光電変換装置
は、キャリア除去手段を開口部と遮光部との間に設けた
ことによって、開口部からの光信号の漏れ込みが阻止さ
れ、遮光部のセンサから光 ゛に影響されない出力を得
ることができる。
このために、たとえば遮光部のセンサから正確の暗基準
信号を得ることができ、光電変換出力やピーク検出出力
等の正確な暗出力補償を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による光電変換装置の一実施例の概略
的断面図、 第2図は、第1図に示す本実施例のA−A線断面図、 第3図(A)は、上記光電変換セルの基本動作を説明す
るための等価回路図、第3図(B)は、その動作を示す
電圧波形図、 第4図は、上記光電変換セルを用いた本実施例の概略的
回路図、 第5図は、上記ドライバ77から出力される各パルスの
タイミング例を示すタイミングチャート、 第6図は、暗出力補償機能を有する従来の光電変換装置
の概略的構成図、 第7図は、上記従来例におけるセンサ部1の概略的断面
図である。 101・番・n基板 102−・・コレクタ領域 103・Φ・Pベース領域 104・”n+エミッタ領域 itt争・・エミッタ電極 113・Φ・遮光膜 116・O・素子分離領域 S1〜Sn・Φ・開口部のセンサセル Sf・・拳キャリア除去用セル Sd・・・暗基準セル 代理人  弁理士 山 下 積 子 箱1図 第2図 vb9 (B) k 第4図 第6図 第7図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)開口部と遮光部とに分けられた複数個の光センサ
    を有する光電変換装置において、開口部からの光信号の
    流入を阻止する キャリア除去手段を前記遮光部の光センサと開口部の光
    センサとの間に設けたことを特徴とする光電変換装置。
  2. (2)上記光センサは、光励起により発生したキャリア
    を蓄積する制御電極領域を有する光電変換トランジスタ
    からなり、 かつ、上記キャリア除去手段は、該光センサと同一構成
    を有し、その制御電極領域の電位を上記開口部からのキ
    ャリアを吸引する方向の一定電位に固定したことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の光電変換装置。
JP62006252A 1987-01-16 1987-01-16 光電変換装置 Expired - Lifetime JPH0682819B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62006252A JPH0682819B2 (ja) 1987-01-16 1987-01-16 光電変換装置
US07/143,186 US4879470A (en) 1987-01-16 1988-01-13 Photoelectric converting apparatus having carrier eliminating means
DE3856221T DE3856221T2 (de) 1987-01-16 1988-01-15 Photovoltaischer Wandler
EP88300346A EP0275217B1 (en) 1987-01-16 1988-01-15 Photoelectric converting apparatus

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JP62006252A JPH0682819B2 (ja) 1987-01-16 1987-01-16 光電変換装置

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