JPH03208460A - イメージセンサ - Google Patents
イメージセンサInfo
- Publication number
- JPH03208460A JPH03208460A JP2003241A JP324190A JPH03208460A JP H03208460 A JPH03208460 A JP H03208460A JP 2003241 A JP2003241 A JP 2003241A JP 324190 A JP324190 A JP 324190A JP H03208460 A JPH03208460 A JP H03208460A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bipolar transistor
- bipolar
- base
- output
- image sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 abstract description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14681—Bipolar transistor imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
- H04N25/633—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current by using optical black pixels
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/701—Line sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
光信号を電気信号に変換するイメージセンサに関する。
メージセンサにおいて、このバイポーラトランジスタア
レイの近くに、遮光されたバイポーラトランジスタアレ
イを設け、それぞれのバイポーラトランジスタのベース
にリセット用のスイッチを接続することにより、暗出力
のばらつきが小さく、出力の直線性が良好で残像の少な
いイメージセンサを提供するものである。
蓄積し、エミッタから信号を取り出す方式のイメージセ
ンサが知られている。第5図にその一例であるイメージ
センサの構成図を示すnpn型バイポーラトランジスタ
lのコレクタ2は一定電位VCCである。バイポーラト
ランジスタ1のエミッタ3は画素選択スイッチ4を通じ
て共通信号wA5につながっている。バイポーラトラン
ジスタlのベース6はフローティングである0画素選択
スイッチ4を順次オンすることにより、各バイポーラト
ランジスタ1に蓄えられた光キャリアを読み出す構成に
なっている。読み出し時には、トランジスタの増幅作用
により、蓄えられた光キャリアの数十〜数百倍の電荷が
出力される。
ランジスタ1のベース6がフローティングのため、前回
の出力後、ベースに電荷が残り、次回の出力に影響し、
残像現象が発生する。またトランジスタ動作のためには
エミッタ接合が順バイアスされる必要があるため、光キ
ャリアの一部がエミッタ接合の順バイアス化に使われる
。そのため、第4図の光電変換特性図に示すように、低
露光領域において出力が線形に増加しないという問題が
ある。
ランジスタアレイを用いるイメージセンサにおいて、こ
のバイポーラトランジスタアレイの近くに遮光されたバ
イポーラトランジスタアレイを設け、それぞれのバイポ
ーラトランジスタのベースにリセット用のスイッチを接
続することにより、残像現象と出力特性を改善した。
画素の出力後にベースに接続されたリセット用のスイッ
チにより、ベースを定電位にリセットすることにより、
バイポーラトランジスタを常に一定状態に初期化するこ
とができる。従ってベースに電荷が残ることによる残像
現象は起こらない、また、ベースのリセット電位を高め
にすることにより、エミッタ接合を順バイアスするに充
分な電荷を初期的にベースに与えることができ、露光量
が低い範囲でも出力が露光量に比例する。
n型バイポーラトランジスタ7のコレクタはVCCに固
定されており、そのベース上は開孔されており、光キャ
リアはベースに蓄積される。このベースはリセットスイ
ッチ8に接続されており、リセットスイッチ8を通じて
、ベースリセット電位V、が与えられる。バイポーラト
ランジスタのエミッタは、画素選択スイッチ9を通じて
共通信号線10に接続される。バイポーラトランジスタ
7は複数並んでおり、それぞれに対応してダミーのバイ
ポーラトランジスタ11が設けられている。ダミーのバ
イポーラトランジスタ11は、そのベース上がAI等の
遮光膜によって遮光されている点を除けば、バイポーラ
トランジスタ7と全く同じ構造を持っている。ダミーの
バイポーラトランジスタ11のコレクタは■。に接続さ
れており、ベースはリセットスイッチ12を通じてリセ
ット電位v1が与えられるようになっており、エミッタ
は西素選沢スイッチ13を通じて共通ダミー信号M14
に接続されている0以上のような構成を持つイメージセ
ンサのベース領域と遮光膜の配置図を第2図に示す、半
導体チップ15上にパイボーラト−ランジスタの受光領
域であるベース16が直線状に配置されており、それに
隣接してダミーのバイポーラトランジスタのベース17
が直線状に配置されている。ダミーのバイポーラトラン
ジスタのベース17はAJ等の遮光膜1Bによって覆わ
れているが、バイポーラトランジスタのベース16の上
は遮光膜が取り除かれている。
イポーラトランジスタ7とダミーのバイポーラトランジ
スタ11の画素選択スイッチ9,13は同時にオンして
両トランジスタ7.11から電荷が共通信号線10.1
4にそれぞれ出力される。順次画素選択スイッチ9,1
3がオンすることにより、時系列的に画像信号とダミー
信号が共通信号wA10.14に出力されていく、出力
後、画素選択スイッチ9.13を通じてバイポーラトラ
ンジスタ7.11のエミッタは一定電位となるが、ベー
スにはまだ電荷が残っている0次にベースリセットスイ
ッチ8゜12をオンすることにより、バイポーラトラン
ジスタ7.11のベース電位はV、となる0次にベース
リセットスイッチ8.12と画素選択スイッチ9゜13
がオフされると入射光量に応じて、バイポーラトランジ
スタ7のベースに光キャリアが蓄積される。ダミーのバ
イポーラトランジスタ11のベースは遮光されているた
め光キャリアは蓄積されず、バイポーラトランジスタ7
の暗出力と等しい出力が常に出力される。■、は画素選
択スイッチ9゜13がオンしたとき、エミッタ接合を充
分順バイアスできる程度に高い値に設定するので、バイ
ポーラトランジスタ7の出力は、低露光領域から直線的
に増加する。
リセ7)されるので、前回の出力の影響が残ることはな
く、残像現象は起こらない。
り、直vAaはバイポーラトランジスタ7の光電変換特
性、直線すはダミーのバイポーラトランジスタ11の光
電変換特性である。暗出力のオフセット電位VDは画素
の位置によってばらつくが対になっているバイポーラト
ランジスタ7と11は充分近くに配置されているので、
両者の暗出力のオフセントTl圧■。はほとんど差がな
い。従って共通信号線10と共通ダミー信号線14を差
動増幅アンプに入力すれば、差動増幅アンプの出力信号
は露光量に比例した光電変換特性が得られ、暗出力のば
らつきも小さくなる。
とができ、走査回路は同一半導体チップ内に作ってもよ
い、差動増幅アンプも同一半導体チップ内に作ってもよ
い。
らつきが小さく、出力の直線性が良好で残像の少ないイ
メージセンサを提供することができる。
成図、第2図は本発明のイメージセンサのベース領域と
遮光膜の配置図、第3図は本発明のイメージセンサの光
電変換特性図、第4図は従来のイメージセンサの光電変
換特性図、第5図は従来のイメージセンサの構成図であ
る。 1.7・・・バイポーラトランジスタ 2・・・・・バイポーラトランジスタのコレクタ3・・
・・・バイポーラトランジスタのエミッタ4.9.13
・・・画素選択スイッチ 5.10・・・共通信号線 6・・・・・バイポーラトランジスタのベース8.12
・・・リセットスイッチ 11・・・・・ダミーのバイポーラトランジスタ14・
・・・・共通ダミー信号線 15・・・・・半導体子ノブ 16・・・・・バイポーラトランジスタのベース17・
・・・・ダミーのバイポーラトランジスタのベース 18・・・・・遮光膜 以上
Claims (1)
- バイポーラトランジスタアレイを用いたイメージセンサ
において、前記バイポーラトランジスタアレイの近くに
、遮光されたバイポーラトランジスタアレイを持ち、そ
れぞれのバイポーラトランジスタのベースにリセット用
のスイッチが接続されていることを特徴とするイメージ
センサ。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02003241A JP3120237B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | イメージセンサ |
US07/637,489 US5151587A (en) | 1990-01-10 | 1991-01-04 | Image sensor having an array of operative and dummy bipolar transistors and pairs of pixel selecting switches connected thereto |
EP19910300117 EP0437340A3 (en) | 1990-01-10 | 1991-01-08 | Image sensor |
CN91100218A CN1026377C (zh) | 1990-01-10 | 1991-01-09 | 图象传感器 |
KR1019910000296A KR920000188A (ko) | 1990-01-10 | 1991-01-10 | 영상 감지기 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02003241A JP3120237B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | イメージセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03208460A true JPH03208460A (ja) | 1991-09-11 |
JP3120237B2 JP3120237B2 (ja) | 2000-12-25 |
Family
ID=11551962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02003241A Expired - Lifetime JP3120237B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | イメージセンサ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5151587A (ja) |
EP (1) | EP0437340A3 (ja) |
JP (1) | JP3120237B2 (ja) |
KR (1) | KR920000188A (ja) |
CN (1) | CN1026377C (ja) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5153421A (en) * | 1991-11-04 | 1992-10-06 | Xerox Corporation | Architecture for analog and digital image sensor arrays |
JP2768453B2 (ja) * | 1992-03-03 | 1998-06-25 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及びそれを用いた装置 |
JP2991039B2 (ja) * | 1994-06-16 | 1999-12-20 | 三菱電機株式会社 | 密着型イメージセンサ |
KR100332221B1 (ko) * | 1994-06-22 | 2002-08-08 | 에스케이 주식회사 | 에틸렌중합체제조용촉매의제조방법과이를이용한에틸렌중합체의제조방법 |
JPH0982978A (ja) * | 1995-09-20 | 1997-03-28 | Hitachi Ltd | 半導体装置及びこれを用いた液晶表示装置 |
GB2318448B (en) * | 1996-10-18 | 2002-01-16 | Simage Oy | Imaging detector and method of production |
CN1057886C (zh) * | 1996-11-21 | 2000-10-25 | 明碁电脑股份有限公司 | 一种图像撷取装置及其控制方法 |
US8262900B2 (en) | 2006-12-14 | 2012-09-11 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays |
GB2457851B (en) | 2006-12-14 | 2011-01-05 | Ion Torrent Systems Inc | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale fet arrays |
US8349167B2 (en) | 2006-12-14 | 2013-01-08 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for detecting molecular interactions using FET arrays |
US11339430B2 (en) | 2007-07-10 | 2022-05-24 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays |
US20100301398A1 (en) | 2009-05-29 | 2010-12-02 | Ion Torrent Systems Incorporated | Methods and apparatus for measuring analytes |
US20100137143A1 (en) | 2008-10-22 | 2010-06-03 | Ion Torrent Systems Incorporated | Methods and apparatus for measuring analytes |
US8776573B2 (en) | 2009-05-29 | 2014-07-15 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes |
US20120261274A1 (en) | 2009-05-29 | 2012-10-18 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes |
CN106932456B (zh) | 2010-06-30 | 2020-02-21 | 生命科技公司 | 用于测试isfet阵列的方法和装置 |
US8455927B2 (en) | 2010-06-30 | 2013-06-04 | Life Technologies Corporation | One-transistor pixel array with cascoded column circuit |
TWI580955B (zh) | 2010-06-30 | 2017-05-01 | 生命技術公司 | 離子感測電荷累積電路及方法 |
US11307166B2 (en) | 2010-07-01 | 2022-04-19 | Life Technologies Corporation | Column ADC |
CN103168341B (zh) | 2010-07-03 | 2016-10-05 | 生命科技公司 | 具有轻度掺杂的排出装置的化学敏感的传感器 |
WO2012036679A1 (en) | 2010-09-15 | 2012-03-22 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes |
CN105911126B (zh) * | 2010-09-24 | 2018-12-18 | 生命科技公司 | 匹配的晶体管对电路 |
US9970984B2 (en) | 2011-12-01 | 2018-05-15 | Life Technologies Corporation | Method and apparatus for identifying defects in a chemical sensor array |
US8786331B2 (en) | 2012-05-29 | 2014-07-22 | Life Technologies Corporation | System for reducing noise in a chemical sensor array |
US9080968B2 (en) | 2013-01-04 | 2015-07-14 | Life Technologies Corporation | Methods and systems for point of use removal of sacrificial material |
US9841398B2 (en) | 2013-01-08 | 2017-12-12 | Life Technologies Corporation | Methods for manufacturing well structures for low-noise chemical sensors |
US8963216B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-02-24 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with sidewall spacer sensor surface |
JP6671274B2 (ja) | 2013-03-15 | 2020-03-25 | ライフ テクノロジーズ コーポレーション | 薄伝導性素子を有する化学装置 |
US9835585B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-12-05 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with protruded sensor surface |
WO2014149780A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with consistent sensor surface areas |
US20140336063A1 (en) | 2013-05-09 | 2014-11-13 | Life Technologies Corporation | Windowed Sequencing |
US10458942B2 (en) | 2013-06-10 | 2019-10-29 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor array having multiple sensors per well |
US10379079B2 (en) | 2014-12-18 | 2019-08-13 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays |
TWI832669B (zh) | 2014-12-18 | 2024-02-11 | 美商生命技術公司 | 具有傳輸器組態的高資料速率積體電路 |
US10077472B2 (en) | 2014-12-18 | 2018-09-18 | Life Technologies Corporation | High data rate integrated circuit with power management |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4567529A (en) * | 1983-10-26 | 1986-01-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image sensor |
JPH07120767B2 (ja) * | 1986-09-19 | 1995-12-20 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
JP2564133B2 (ja) * | 1987-04-17 | 1996-12-18 | オリンパス光学工業株式会社 | 固体撮像装置 |
US4916307A (en) * | 1987-12-15 | 1990-04-10 | Fuji Electric Co., Ltd. | Light intensity detecting circuit with dark current compensation |
-
1990
- 1990-01-10 JP JP02003241A patent/JP3120237B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-01-04 US US07/637,489 patent/US5151587A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-01-08 EP EP19910300117 patent/EP0437340A3/en not_active Withdrawn
- 1991-01-09 CN CN91100218A patent/CN1026377C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1991-01-10 KR KR1019910000296A patent/KR920000188A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3120237B2 (ja) | 2000-12-25 |
US5151587A (en) | 1992-09-29 |
KR920000188A (ko) | 1992-01-10 |
CN1053340A (zh) | 1991-07-24 |
EP0437340A3 (en) | 1992-01-02 |
CN1026377C (zh) | 1994-10-26 |
EP0437340A2 (en) | 1991-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03208460A (ja) | イメージセンサ | |
US4274113A (en) | Solid-state imaging device | |
KR100660193B1 (ko) | 자기-보상 상관 이중 샘플링 회로 | |
US6650369B2 (en) | Image sensing apparatus, signal detection apparatus, and signal accumulation apparatus | |
US6903768B1 (en) | Solid state image sensor device free of influence on optical black level by signal potential change of optical black pixels | |
US7626620B2 (en) | Photoelectric conversion unit stacked structure | |
CN100391241C (zh) | 用于去除水平噪声的图像传感器 | |
US4233632A (en) | Solid state image pickup device with suppressed so-called blooming phenomenon | |
JP5230726B2 (ja) | ゲイン制御を備える画像センサ画素 | |
US7154548B2 (en) | Multiplexed and pipelined column buffer for use with an array of photo sensors | |
US20010010551A1 (en) | Circuit, pixel, device and method for reducing fixed pattern noise in solid state imaging devices | |
JP3278243B2 (ja) | 光電変換装置 | |
CA1146265A (en) | Solid-state imaging device | |
US4223330A (en) | Solid-state imaging device | |
CN111277774A (zh) | 像素、图像传感器及电子装置 | |
KR20010070481A (ko) | 능동 픽셀 센서 회로 및 aps 회로 동작 방법 | |
US5724094A (en) | Contact image sensor utilizing differential voltage pickoff | |
JPS5846068B2 (ja) | 電荷結合型装置 | |
KR20040047901A (ko) | 광전 센서 | |
US7199828B2 (en) | Active pixel sensor cell array | |
US20020097446A1 (en) | Apparatus and method for dark calibration of a linear CMOS sensor | |
JPH10267752A (ja) | 熱型赤外線センサ | |
JPS61157179A (ja) | 撮像装置 | |
CN114649354A (zh) | 电子装置及其控制方法 | |
JPH04880A (ja) | 固体撮像素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071020 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081020 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091020 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091020 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020 Year of fee payment: 10 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020 Year of fee payment: 10 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03 |