JPS63173395A - 透明電磁波シ−ルド材 - Google Patents
透明電磁波シ−ルド材Info
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- JPS63173395A JPS63173395A JP62005566A JP556687A JPS63173395A JP S63173395 A JPS63173395 A JP S63173395A JP 62005566 A JP62005566 A JP 62005566A JP 556687 A JP556687 A JP 556687A JP S63173395 A JPS63173395 A JP S63173395A
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Landscapes
- Laminated Bodies (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は可視光を透過し、工C回路などに障害を持たら
す電磁波を反射する透明電磁波シールド材に関するもの
である。
す電磁波を反射する透明電磁波シールド材に関するもの
である。
電磁波シールド材は、XCやLSI回路の保護材として
利用されてお)、種々のものが提案されて−る。
利用されてお)、種々のものが提案されて−る。
しかし、これらは通常、透明でないものが多い。透明な
ものは、例えば、魚群探知機の表示画面といったところ
で要求されるが、従来、提案されてbるものは利用でき
ない。最近、透明な電磁波シールド材として、例えば、
透明な合成樹脂フィルム上に金を積層したフィルム状の
ものが提案されている。
ものは、例えば、魚群探知機の表示画面といったところ
で要求されるが、従来、提案されてbるものは利用でき
ない。最近、透明な電磁波シールド材として、例えば、
透明な合成樹脂フィルム上に金を積層したフィルム状の
ものが提案されている。
しかし、このシールド材はシールド効果が不十分であシ
、シールド効果を高めるためには、金の膜厚をかなシ厚
くする必要があるが、その場途は、透過嘉が下がシ、フ
ィルムを通して反対側の物が見えにくくなるという問題
点があった。
、シールド効果を高めるためには、金の膜厚をかなシ厚
くする必要があるが、その場途は、透過嘉が下がシ、フ
ィルムを通して反対側の物が見えにくくなるという問題
点があった。
そこで、シールド効果が十分で、しかも透明性の良いも
の、特に可視光領域の透過寵が7j%以上のものが要求
されていた。
の、特に可視光領域の透過寵が7j%以上のものが要求
されていた。
c問題点を解決するための手段〕
本発明の透明電磁波シールド材は、図7及び図2に示す
ようにフィルム/貴金属層/誘電体層あるいは、フィル
ム/誘電体層/貴金属層/誘電体層といった積層構造を
有する膜である。
ようにフィルム/貴金属層/誘電体層あるいは、フィル
ム/誘電体層/貴金属層/誘電体層といった積層構造を
有する膜である。
貴金属層は、電磁波を反射し、通過させな−、シールド
効果を発揮する役割を荷う。ここでシールド効果(S、
E、) (sealed effect)は次式で定義
される。
効果を発揮する役割を荷う。ここでシールド効果(S、
E、) (sealed effect)は次式で定義
される。
S、E、(dB) = 、2θ×10g5o (EO/
Bs )S、E、はaE (デシベル)という単位を有
す。
Bs )S、E、はaE (デシベル)という単位を有
す。
EOは入射電磁場であ)、Elは通過した電磁場である
。
。
表面に設けた誘電体層は、貴金属層の保護層としての役
割のみならず、反射防止膜としての役割を果たしている
。ここで−う反射防止とは、可視光の反射を防止する事
により、可視光の透過藁を増加させることをAう。
割のみならず、反射防止膜としての役割を果たしている
。ここで−う反射防止とは、可視光の反射を防止する事
により、可視光の透過藁を増加させることをAう。
この反射防止効果は、膜厚と屈折尤によって、最小反射
波長が規定され、次式によって示される。
波長が規定され、次式によって示される。
na==(m十%)λ/、2
(n:屈折藁、d:膜厚、λ:波長、m = o 、八
λ・・・)すなわち、nけ物質によって定まるので、膜
厚の調節によって、反射兎最小(透過元最大)の波長を
選択する事ができる。
λ・・・)すなわち、nけ物質によって定まるので、膜
厚の調節によって、反射兎最小(透過元最大)の波長を
選択する事ができる。
誘電体層は貴金属層を検数するため、貴金属層の表面側
に図7のように形成されるが、さらに図2のようにフィ
ルム側にも下地層を形成すると、可視光透過x2さらに
高める効果、及びの 貴金属層?酸化による劣化を防ぐ効果が加わる。
に図7のように形成されるが、さらに図2のようにフィ
ルム側にも下地層を形成すると、可視光透過x2さらに
高める効果、及びの 貴金属層?酸化による劣化を防ぐ効果が加わる。
劣化とはすなわち、フィルムを通して侵入してくる水分
と貴金属層が接触し、酸化反応が生じる事を指す。誘電
体層を貴金属層の下地層として設けるとこの水分の侵入
を阻止することができ、該フィルムの耐久性が向上する
。
と貴金属層が接触し、酸化反応が生じる事を指す。誘電
体層を貴金属層の下地層として設けるとこの水分の侵入
を阻止することができ、該フィルムの耐久性が向上する
。
フィルムの種類としては、通常、ポリエチレンテレフタ
レート、ポリサルフオン、ボυエーテルサルフオンなど
の透明フィルムであるが、好ましくはポリエチレンテレ
フタレートが良い。
レート、ポリサルフオン、ボυエーテルサルフオンなど
の透明フィルムであるが、好ましくはポリエチレンテレ
フタレートが良い。
厚みは30μm −、! 00μmが好ましい。
貴金属の種類としては、Au、 Ag、 、Ru、 R
h。
h。
p(1,os、工r%pt などが挙げられるが、好
ましくは、AgおよびAgとAuの合金である。合金の
場合銀の含有出はto重量%以上が好ましい。
ましくは、AgおよびAgとAuの合金である。合金の
場合銀の含有出はto重量%以上が好ましい。
貴金属層の膜厚は、jθ〜300λが好ましい。!Oλ
以下の場合シールド効果が著しく悪いため、実用性に乏
しい。30oA以上の場合、透過栗が著しく低下し、誘
電体層の厚さを、込くら微妙に変化させても、70%以
下のものしか得られない。
以下の場合シールド効果が著しく悪いため、実用性に乏
しい。30oA以上の場合、透過栗が著しく低下し、誘
電体層の厚さを、込くら微妙に変化させても、70%以
下のものしか得られない。
誘電体の種類としては、例えば、2−&価金属の酸化物
、窒化物、硫化物であシ、酸化物が好ましい。これら金
属の具体例としては、工n%Sn%Zn%S1、Ti又
はこれらの混合物であ〕、特に好ましくは、In、o、
、smo、及びこれらの複合酸化物(工To)である
。
、窒化物、硫化物であシ、酸化物が好ましい。これら金
属の具体例としては、工n%Sn%Zn%S1、Ti又
はこれらの混合物であ〕、特に好ましくは、In、o、
、smo、及びこれらの複合酸化物(工To)である
。
誘電体層を貴金属層の表面側及び基板側の両方に設ける
場合、両者は同じ物質でもよく、異なっていても構わな
い。貴金属の表面側に設ける誘電体の膜厚は20θ〜l
θθθAが望ましい。λθθλよシ薄いと可視光特にj
、! Onm付近での反射防止効果が小さく、高い透
過性は得られない。また、1000λよシ厚くなると、
低反射波長が可視光領域から外れ、近赤外領域に移る。
場合、両者は同じ物質でもよく、異なっていても構わな
い。貴金属の表面側に設ける誘電体の膜厚は20θ〜l
θθθAが望ましい。λθθλよシ薄いと可視光特にj
、! Onm付近での反射防止効果が小さく、高い透
過性は得られない。また、1000λよシ厚くなると、
低反射波長が可視光領域から外れ、近赤外領域に移る。
また、基板側に設ける誘電体層の膜厚もコOθ〜100
θ^が望ましい。、20OA未満の場合、防水効果が低
減する。/1)00^をこえると今度は低反射波長に変
化をもたらす。すなわちj ! Onmにおける透過嘉
の減少を引き起こす。
θ^が望ましい。、20OA未満の場合、防水効果が低
減する。/1)00^をこえると今度は低反射波長に変
化をもたらす。すなわちj ! Onmにおける透過嘉
の減少を引き起こす。
金属層及び誘電体層の形成方法としては、スパッタリン
グ法あるいは、真空蒸着法が好ましい。
グ法あるいは、真空蒸着法が好ましい。
スパッタリング法とは減圧槽中に窒素、アルゴン等の不
活性ガスを封入し、該不活性ガスをイオン化してターゲ
ットに照射し、ターゲットを原子または分子状態で飛散
させ、該蒸発したターゲット物質を基飯衣面に沈着させ
る方法でアリ、グロー放!スパッタリング法、マグネト
ロンスパッタリング法、イオンビームスパッタリング法
等の方式がある。
活性ガスを封入し、該不活性ガスをイオン化してターゲ
ットに照射し、ターゲットを原子または分子状態で飛散
させ、該蒸発したターゲット物質を基飯衣面に沈着させ
る方法でアリ、グロー放!スパッタリング法、マグネト
ロンスパッタリング法、イオンビームスパッタリング法
等の方式がある。
また、真空蒸着法とは高真空中で蒸着材料を加熱蒸発さ
せ、この蒸発粒子を基板上に沈着させる方法であり、加
熱方式によって、抵抗加熱法、アーク蒸発法、レーザー
加熱法、高周波加熱法、電子ビーム加熱法等がある。
せ、この蒸発粒子を基板上に沈着させる方法であり、加
熱方式によって、抵抗加熱法、アーク蒸発法、レーザー
加熱法、高周波加熱法、電子ビーム加熱法等がある。
本発明のシールド材は透明である事がポイントであシ、
j ! Onmにおける透過基は75%以上にする必要
がある。
j ! Onmにおける透過基は75%以上にする必要
がある。
用途としては、可視光領域で透明で、しかも、電磁波シ
ールド効果の必要な分野に適用される。
ールド効果の必要な分野に適用される。
実施例1
厚さが100μmで!j(:)nmに於ける透過基がり
0%のポリエチレンテレフタレートフィルムなる基板の
片面に、下記のスパッタリング条件で、Ag層、工To
(工”OIf : 8 HQ、 ==り!wt%:j
wt%)層の順に厚さが各々λOθλ、乙θOAになる
よう、直流マグネトロンスパッタリング装置を用いて形
成した。
0%のポリエチレンテレフタレートフィルムなる基板の
片面に、下記のスパッタリング条件で、Ag層、工To
(工”OIf : 8 HQ、 ==り!wt%:j
wt%)層の順に厚さが各々λOθλ、乙θOAになる
よう、直流マグネトロンスパッタリング装置を用いて形
成した。
「ル(ツタリング条件J CAg層) (
170層)雰囲気ガス: アルゴンガス 酸素/vo
lX含有のアルゴンガス圧力 : fX#)−”Tor
r どX/ 0−” Torrパワー :
、20W tjW得られた試
料の!!Onmに於ける透過出は20%であった。
170層)雰囲気ガス: アルゴンガス 酸素/vo
lX含有のアルゴンガス圧力 : fX#)−”Tor
r どX/ 0−” Torrパワー :
、20W tjW得られた試
料の!!Onmに於ける透過出は20%であった。
また、電磁波シールド効果をスペクトラムアナライザー
(タケダ理研社TR4(/7λ)を用いて測定したとこ
ろ、!OOMH2においてλJdBであった。
(タケダ理研社TR4(/7λ)を用いて測定したとこ
ろ、!OOMH2においてλJdBであった。
実施側御
実施例/と同様な方法で、ポリエチレンテレフタレート
基板上にAu層、110層を厚みが各々itoλ、4o
oiになるよう順に形成したところ、透過’J−11%
、シールド効果20dBであった。
基板上にAu層、110層を厚みが各々itoλ、4o
oiになるよう順に形成したところ、透過’J−11%
、シールド効果20dBであった。
実施例3
実施例1と同様な方法で、ポリエチレンテレフタレート
基板上に、110層、Ag層、170層を厚みが60θ
λ、2ooλ、4ooAになるように順に形成したとこ
ろ、透過&I3%、シールド効果、2jdEであった。
基板上に、110層、Ag層、170層を厚みが60θ
λ、2ooλ、4ooAになるように順に形成したとこ
ろ、透過&I3%、シールド効果、2jdEであった。
実施例μ
実施例/と同様な方法で、ポリエチレンテレフタレート
基板上に、sno、層、Ag層、sHo。
基板上に、sno、層、Ag層、sHo。
層を厚みがAooλ、コO0λ%toOAになるように
順に形成したところ、透過813%、シールド効果uJ
aEであった。
順に形成したところ、透過813%、シールド効果uJ
aEであった。
比較例1
8 一
実施例/と同様な方法で、ポリエチレンテレフタレート
基板上に、Ag層を厚みが、2ooiになるよう形成し
たところ、透過蹴3!N、電磁波シールド効果23dB
であった。
基板上に、Ag層を厚みが、2ooiになるよう形成し
たところ、透過蹴3!N、電磁波シールド効果23dB
であった。
比較例λ
実M 例/と同様な方法でポリエチレンテレフタレート
基板上に、Au層を厚みが/ざO^になるよう形成した
ところ、透過率to%電磁波シールド効米−〇dBであ
った。
基板上に、Au層を厚みが/ざO^になるよう形成した
ところ、透過率to%電磁波シールド効米−〇dBであ
った。
(発明の効果)
本発明により、透明性が良く、シかも耐久性の向上した
、電磁波シールド材を得ることができる。
、電磁波シールド材を得ることができる。
図/及び図2は本発明の電磁波シールド材の断面を示す
説明図である。 l 誘電体層 λ 貴金属層 3 合成樹脂フィルム
説明図である。 l 誘電体層 λ 貴金属層 3 合成樹脂フィルム
Claims (5)
- (1)透明な合成樹脂フィルム上に、50〜300Åの
厚さの貴金属層を有し、その表面又はその表面及び合成
樹脂フィルム側に200〜 1000Åの厚さの無機誘電体層を有する積層フィルム
であり、かつ該積層フィルムの 550nmにおける光透過率が75%以上であることを
特徴とする透明電磁波シールド材。 - (2)合成樹脂フィルムがポリエチレンテレフタレート
フィルムである特許請求の範囲第1項記載の透明電磁波
シールド材。 - (3)貴金属層が銀を主体とするものである特許請求の
範囲第1項記載の透明電磁波シールド材。 - (4)無機誘電体層が金属酸化物よりなる特許請求の範
囲第1項記載の透明電磁波シールド材。 - (5)貴金属層及び無機誘電体層がスパッタリング法又
は真空蒸着法により形成されたものである特許請求の範
囲第1項記載の透明電磁波シールド材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62005566A JPS63173395A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 透明電磁波シ−ルド材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62005566A JPS63173395A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 透明電磁波シ−ルド材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63173395A true JPS63173395A (ja) | 1988-07-16 |
Family
ID=11614759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62005566A Pending JPS63173395A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 透明電磁波シ−ルド材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63173395A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08264991A (ja) * | 1995-03-22 | 1996-10-11 | Toppan Printing Co Ltd | 透明電磁波シールド基板 |
JPH1164603A (ja) * | 1997-08-18 | 1999-03-05 | Dainippon Printing Co Ltd | 反射防止膜と反射防止膜付き基材、および該反射防止膜付き基材を用いたプラズマディスプレイパネル前面板 |
JPH11337702A (ja) * | 1998-05-21 | 1999-12-10 | Kyodo Printing Co Ltd | 電磁波シールド付き光学フィルタ |
US6456342B1 (en) | 1998-02-27 | 2002-09-24 | Nec Corporation | LCD device having a noise-shield layer directly between LCD and EL panel |
-
1987
- 1987-01-13 JP JP62005566A patent/JPS63173395A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08264991A (ja) * | 1995-03-22 | 1996-10-11 | Toppan Printing Co Ltd | 透明電磁波シールド基板 |
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