JPS63168945A - イオン打込装置用イオン源 - Google Patents
イオン打込装置用イオン源Info
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- JPS63168945A JPS63168945A JP31143986A JP31143986A JPS63168945A JP S63168945 A JPS63168945 A JP S63168945A JP 31143986 A JP31143986 A JP 31143986A JP 31143986 A JP31143986 A JP 31143986A JP S63168945 A JPS63168945 A JP S63168945A
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- slit
- ion source
- beams
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- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims description 12
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract description 31
- -1 arsenic ions Chemical class 0.000 abstract description 22
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 abstract description 22
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 abstract description 21
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 12
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
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Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はイオン打込装置用イオン源に係り、特にボロン
イオンのように低質量数であるが大電流イオンビームの
引き出しが必要なイオンとヒ素イオンのような比較的高
い分解能が必要なイオンを出射するのに好適なイオン源
に関するものである。
イオンのように低質量数であるが大電流イオンビームの
引き出しが必要なイオンとヒ素イオンのような比較的高
い分解能が必要なイオンを出射するのに好適なイオン源
に関するものである。
一般にイオン打込等で使用するイオンは、ボロン、ヒ素
等である。両者は対称的な元素であって、質量はそれぞ
れ11及び75であって、すなわち、質量分離装置とし
ての分解能もそれぞれこの程度あればよい。
等である。両者は対称的な元素であって、質量はそれぞ
れ11及び75であって、すなわち、質量分離装置とし
ての分解能もそれぞれこの程度あればよい。
一方、ボロンイオンは、BFsガスをイオン化したもの
から選択されるが、電離されにくいガスであって純粋な
ボロンイオンは全イオン引出電流のうち20〜40%程
度である。ヒ素イオンは、A s HaガスまたはAs
固体をイオン化して得られるが、ヒ素イオンの割合は9
0%にもなる。このようにかなり性質の異なるイオンを
同一形状のイオン源と質量分離装置で得ようとしていた
。
から選択されるが、電離されにくいガスであって純粋な
ボロンイオンは全イオン引出電流のうち20〜40%程
度である。ヒ素イオンは、A s HaガスまたはAs
固体をイオン化して得られるが、ヒ素イオンの割合は9
0%にもなる。このようにかなり性質の異なるイオンを
同一形状のイオン源と質量分離装置で得ようとしていた
。
なお、文献としては、デイフエツ イン ブリスタリン
ソリツヅ ボリウム81′イオン インプランテーシ
ョン” CDEFECTS IN CRYSTALLI
NESol、ID5VoU8 “丁ON IMPL
ANTA丁ION” P、314FIG4 37 (b
) )がある。
ソリツヅ ボリウム81′イオン インプランテーシ
ョン” CDEFECTS IN CRYSTALLI
NESol、ID5VoU8 “丁ON IMPL
ANTA丁ION” P、314FIG4 37 (b
) )がある。
上記従来技術では、ボロンイオンとヒ素イオンとを同量
取得しようとすると、イオン源はBF21ガスをイオン
化した場合を考えて、ヒ素専用の場合の2〜3倍のスリ
ットの長さを有する必要があった。また、長さを長くし
て幅を大きくできないのは、このイオン源をヒ素用とし
ても使用しなければならないからであり、スリット幅を
大きくすると、分解能が劣化し、ヒ素イオンを十分に分
離できなくなる。このような長さのスリットのイオン源
から出たイオンビームを通過させるための質量分離磁石
は巨大なものとなってしまい、イオン源自体も大型化せ
ざるを得ないという問題がある。
取得しようとすると、イオン源はBF21ガスをイオン
化した場合を考えて、ヒ素専用の場合の2〜3倍のスリ
ットの長さを有する必要があった。また、長さを長くし
て幅を大きくできないのは、このイオン源をヒ素用とし
ても使用しなければならないからであり、スリット幅を
大きくすると、分解能が劣化し、ヒ素イオンを十分に分
離できなくなる。このような長さのスリットのイオン源
から出たイオンビームを通過させるための質量分離磁石
は巨大なものとなってしまい、イオン源自体も大型化せ
ざるを得ないという問題がある。
本発明の目的は、質量分離装置を大型化せずにボロンイ
オンを大電流化でき、ボロン、ヒ素イオン共用のイオン
打込装置用イオン源を提供することにある。
オンを大電流化でき、ボロン、ヒ素イオン共用のイオン
打込装置用イオン源を提供することにある。
上記目的は、イオン源の出射スリット部品を移動させる
ことにより、ヒ素ビーム引き出し時には幅の狭いスリッ
トからビームを引き出し、ボロンビームのように大電流
ビームを引き出す必要のあるときは、複数のスリットか
らビームを出射させるようにして達成するようにした。
ことにより、ヒ素ビーム引き出し時には幅の狭いスリッ
トからビームを引き出し、ボロンビームのように大電流
ビームを引き出す必要のあるときは、複数のスリットか
らビームを出射させるようにして達成するようにした。
なお、出射スリット部品を移動させる際に、移動を回転
動作とし、かつ、回転の中心をイオン光学軸と一致させ
ることにより、イオン源寸法を従来と同一寸法のままと
した。
動作とし、かつ、回転の中心をイオン光学軸と一致させ
ることにより、イオン源寸法を従来と同一寸法のままと
した。
イオン源の出射スリットを移動させることによりヒ素ビ
ーム引き出し時には幅の狭い1つのスリットからビーム
を引き出し、ボロンビームのように大電流ビームを引き
出す必要のあるときは、複数のスリットからビームを引
き出すようにしたので、従来のイオン打込装置の寸法を
ほとんど変えることなくボロン、ヒ素イオン共用のイオ
ン打込装置用イオン源とすることができる。
ーム引き出し時には幅の狭い1つのスリットからビーム
を引き出し、ボロンビームのように大電流ビームを引き
出す必要のあるときは、複数のスリットからビームを引
き出すようにしたので、従来のイオン打込装置の寸法を
ほとんど変えることなくボロン、ヒ素イオン共用のイオ
ン打込装置用イオン源とすることができる。
以下本発明を第1図、第2図、第4図に示した実施例お
よび第3図を用いて詳細に説明する。
よび第3図を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明のイオン打込装置用イオン源の一実施例
を示す断面図で、第1図(a)はヒ素イオンを引き出す
場合、第1図(b)はボロンイオンを引き出す場合を示
し、それぞれ(イ)は断面図、(ロ)は(イ)を電極側
から見た側面図である。
を示す断面図で、第1図(a)はヒ素イオンを引き出す
場合、第1図(b)はボロンイオンを引き出す場合を示
し、それぞれ(イ)は断面図、(ロ)は(イ)を電極側
から見た側面図である。
第1図(a)において、放電箱1内で維持されているプ
ラズマ2は、スリット部品3にあけたスリット部4から
出射する。電極5は、放電箱1やスリット部品3と同電
位となっている。電極5に対向する電極6にはより低い
電圧が印加されており、電極5,6とがレンズ効果のあ
る形状となるよう配置しであるので、スリット部4から
出射するイオンビーム7は発散せずに電極5,6に設け
た穴を通過しながら加速される。
ラズマ2は、スリット部品3にあけたスリット部4から
出射する。電極5は、放電箱1やスリット部品3と同電
位となっている。電極5に対向する電極6にはより低い
電圧が印加されており、電極5,6とがレンズ効果のあ
る形状となるよう配置しであるので、スリット部4から
出射するイオンビーム7は発散せずに電極5,6に設け
た穴を通過しながら加速される。
第1図(a)においては、スリット部4とイオンビーム
7は、イオン源と質量分離磁石とイオンビームの位置関
係を示す斜視図である第2図の実線のように分離磁石2
1のギャップ方向22の方向に延びており、ヒ素イオン
ビーム用の高分解能を示す。
7は、イオン源と質量分離磁石とイオンビームの位置関
係を示す斜視図である第2図の実線のように分離磁石2
1のギャップ方向22の方向に延びており、ヒ素イオン
ビーム用の高分解能を示す。
スリット部品3は、スリット部品保持筒8とともにモー
タ9によって90’回転する。なお、本実施例では、放
電箱1と電極5はフランジ10に図示のように固定して
あり、スリット部品保持筒8の回転軸11はシール12
によってシールされており、放電箱]、内は真空に保た
れたままスリット部品3の切り換えができるようにしで
ある。
タ9によって90’回転する。なお、本実施例では、放
電箱1と電極5はフランジ10に図示のように固定して
あり、スリット部品保持筒8の回転軸11はシール12
によってシールされており、放電箱]、内は真空に保た
れたままスリット部品3の切り換えができるようにしで
ある。
第1図(b)は、スリット部品3の90’回転後の状態
を示している。スリット部品3にあらかじめ切っである
第1図(a)のスリット部4とは異なる複数個のスリッ
ト部12が電極5の穴部に見えてくることになる。第2
図の1点鎖線がこのときの位置関係を表わしている。
を示している。スリット部品3にあらかじめ切っである
第1図(a)のスリット部4とは異なる複数個のスリッ
ト部12が電極5の穴部に見えてくることになる。第2
図の1点鎖線がこのときの位置関係を表わしている。
すなわち、第1図(b)の場合は、第1図(a)のスリ
ット部の面積の約2倍となっており、イオン源からのイ
オンビーム量も2倍となる。分解能に関係する方向のス
リット幅は約4倍となり、分解能は1/4となり、ボロ
ンを十分分離することができる。
ット部の面積の約2倍となっており、イオン源からのイ
オンビーム量も2倍となる。分解能に関係する方向のス
リット幅は約4倍となり、分解能は1/4となり、ボロ
ンを十分分離することができる。
スリット部12が大きな穴でなく、あくまでもスリット
状にした理由を第3図を用いて説明する。
状にした理由を第3図を用いて説明する。
第3図(a)、(b)のようにスリット幅が2.5mm
以下のときは、イオンビーム7は発散しないが、第3図
(c)に示すようにスリット幅が2.5mm以上になる
と、プラズマ2が外へふくれ出してくるため、発散し、
収束イオンビーム引き出しが不可能となってしまう。
以下のときは、イオンビーム7は発散しないが、第3図
(c)に示すようにスリット幅が2.5mm以上になる
と、プラズマ2が外へふくれ出してくるため、発散し、
収束イオンビーム引き出しが不可能となってしまう。
なお、スリット部品3の回転中心がイオン光学系の中心
軸と一致しているため、イオン源の寸法は全〈従来と同
じである。
軸と一致しているため、イオン源の寸法は全〈従来と同
じである。
以上のように、本実施例によれば、ボロンビームの大電
流化を従来の装置で実現することができる。
流化を従来の装置で実現することができる。
第4図は本発明の他の実施例を示す断面図である。マグ
ネトロン40で発振したマイクロ波電力41は、ジヨイ
ント型導波管42.つなぎ導波管43、真空シール44
を経て放電箱1内にプラズマ2を発生させる。放電箱1
には、スリット部品3が固定しである。電極5はイオン
源フランジ45に固定してあり、回転はしない。スリッ
ト部品3を放電箱1とつなぎ、導波管43と真空シール
44とを一緒にしてロータリジヨイント型導波管42部
分でモータ9により回転すると、電極5の穴には、第1
図と同様のスリットが表わる。
ネトロン40で発振したマイクロ波電力41は、ジヨイ
ント型導波管42.つなぎ導波管43、真空シール44
を経て放電箱1内にプラズマ2を発生させる。放電箱1
には、スリット部品3が固定しである。電極5はイオン
源フランジ45に固定してあり、回転はしない。スリッ
ト部品3を放電箱1とつなぎ、導波管43と真空シール
44とを一緒にしてロータリジヨイント型導波管42部
分でモータ9により回転すると、電極5の穴には、第1
図と同様のスリットが表わる。
本実施例によっても、ヒ素とボロンのイオン種に応じて
高分解能確保と大電流低分解能を両立させることができ
、従来の寸法の装置で、従来の2倍のボロンビームを得
ることができる。
高分解能確保と大電流低分解能を両立させることができ
、従来の寸法の装置で、従来の2倍のボロンビームを得
ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、従来のイオン打
込装置の寸法をほとんど変えることなく、ボロンイオン
の大電流化を達成でき、この場合、スリット部品へのス
リットの切り方やイオン源の構造にもよるが、従来の2
〜3倍のボロンイオンが利用できるようになり、ヒ素イ
オンは従来なみのものを確保し、分解能も劣化せず、従
来のヒ素とボロンを共用しているイオン打込装置で不足
ぎみであったボロンイオン量をヒ素なみとし、生産性の
向上をはかることができるという効果がある。
込装置の寸法をほとんど変えることなく、ボロンイオン
の大電流化を達成でき、この場合、スリット部品へのス
リットの切り方やイオン源の構造にもよるが、従来の2
〜3倍のボロンイオンが利用できるようになり、ヒ素イ
オンは従来なみのものを確保し、分解能も劣化せず、従
来のヒ素とボロンを共用しているイオン打込装置で不足
ぎみであったボロンイオン量をヒ素なみとし、生産性の
向上をはかることができるという効果がある。
第1図は本発明のイオン打込装置用イオン源の一実施例
を示す断面図、第2図は第1図のイオン源と質量分離磁
石とイオンビームの位置関係を示す斜視図、第3図はス
リット幅とイオンビームの発散の関係を示す説明図、第
4図は本発明の他の実施例を示す断面図である。 1・・・放電箱、2・・・プラズマ、3・・・スリット
部品、4.12・・・スリット部、5,6・・・電極、
7・・・イオンビーム、8・・・スリット部品保持筒、
9・・・モータ、10・・・フランジ、11・・・回転
軸、21・・・質量分離磁石、22・・・ギャップ方向
、40・・・マグネトロン、41・・・マイクロ波、4
2・・・ロータリジヨイント導波管、43・・・つなぎ
導波管、44・・・真空シール、45・・・イオン源フ
ランジ。
を示す断面図、第2図は第1図のイオン源と質量分離磁
石とイオンビームの位置関係を示す斜視図、第3図はス
リット幅とイオンビームの発散の関係を示す説明図、第
4図は本発明の他の実施例を示す断面図である。 1・・・放電箱、2・・・プラズマ、3・・・スリット
部品、4.12・・・スリット部、5,6・・・電極、
7・・・イオンビーム、8・・・スリット部品保持筒、
9・・・モータ、10・・・フランジ、11・・・回転
軸、21・・・質量分離磁石、22・・・ギャップ方向
、40・・・マグネトロン、41・・・マイクロ波、4
2・・・ロータリジヨイント導波管、43・・・つなぎ
導波管、44・・・真空シール、45・・・イオン源フ
ランジ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、質量分離機能を有するイオン打込装置に使用するイ
オン源であつて内部にプラズマを維持する放電箱と該放
電箱から前記プラズマが出射される出射口を有する部品
とを備え、前記放電箱から前記出射口を通つて出射され
た前記プラズマをイオンビームとして引出して加速する
複数の電極を有するイオン源において、前記電極のうち
出射口と同電位にある電極は前記出射口を有する部品よ
り独立しており、前記出射口を有する部品は前記出射口
として幅の狭い複数のスリットを並べてあけてあり、高
分解能が必要なときは幅の狭い単一の前記スリットから
前記電極を通つてイオンビームが引き出されて加速され
、前記他のスリットは前記出射口と同電位にある電極で
隠されており、低分解能でよいときは前記部品が回転移
動して前記複数のスリットから前記電極を通つて前記イ
オンビームが引き出されて加速される構成としてあるこ
とを特徴とするイオン打込装置用イオン源。 2、前記出射口を有する部品の回転移動の中心は、前記
イオン打込装置のイオン源からのイオンビームのイオン
光学的軌道と一致するようにしてある特許請求の範囲第
1項記載のイオン打込装置用イオン源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31143986A JPS63168945A (ja) | 1986-12-30 | 1986-12-30 | イオン打込装置用イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31143986A JPS63168945A (ja) | 1986-12-30 | 1986-12-30 | イオン打込装置用イオン源 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63168945A true JPS63168945A (ja) | 1988-07-12 |
Family
ID=18017226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31143986A Pending JPS63168945A (ja) | 1986-12-30 | 1986-12-30 | イオン打込装置用イオン源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63168945A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105529236A (zh) * | 2014-10-17 | 2016-04-27 | 住友重机械离子技术有限公司 | 射束引出狭缝结构及离子源 |
JP2016541091A (ja) * | 2013-10-22 | 2016-12-28 | ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド | デュアルモードイオン注入装置 |
-
1986
- 1986-12-30 JP JP31143986A patent/JPS63168945A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016541091A (ja) * | 2013-10-22 | 2016-12-28 | ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド | デュアルモードイオン注入装置 |
CN105529236A (zh) * | 2014-10-17 | 2016-04-27 | 住友重机械离子技术有限公司 | 射束引出狭缝结构及离子源 |
TWI673747B (zh) * | 2014-10-17 | 2019-10-01 | 日商住友重機械離子技術有限公司 | 射束引出狹縫構造及離子源 |
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