JPS62147643A - イオン源引出し電極系 - Google Patents
イオン源引出し電極系Info
- Publication number
- JPS62147643A JPS62147643A JP28772885A JP28772885A JPS62147643A JP S62147643 A JPS62147643 A JP S62147643A JP 28772885 A JP28772885 A JP 28772885A JP 28772885 A JP28772885 A JP 28772885A JP S62147643 A JPS62147643 A JP S62147643A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- extraction
- ion source
- deceleration
- given
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はイオン源引出し電極系に係り、特に広範囲のイ
オン源引出し電圧変化に対し、効率良く安定にビームを
引出すイオン源引出し電極系に関する。
オン源引出し電圧変化に対し、効率良く安定にビームを
引出すイオン源引出し電極系に関する。
第2図は従来技術に基づく引出し電極系を説明する図で
ある。(例えば特開昭55−161341号参照)。
ある。(例えば特開昭55−161341号参照)。
図においてイオンビーム6は一般にはプラズマ1に接触
しイオンビームのエネルギーを決める加速電極2(一般
には正の高電圧に保たれる)、加速電極電圧より低い正
の電圧が印加された中間電極3、負の電圧が印加された
減速電極4、中間電極と減速型°極の中間の電位に保た
れ、図中ではアース電位とした第3電極4を使い、引出
される。加速電極電位としたは、通常、40〜160k
Vであり、中間電極は20〜160kV減速電極の負電
圧としては、−2〜−10kV位が印加されている。負
電圧は引出し電極系を通過後、装置内の残留ガス分子や
装置内壁とのイオン衝突で生成した二次電子がイオン源
内、即ちプラズマ1の方向に逆流しない障壁を作るため
に印加され、一般に−2〜−10kVに設定される。第
2図に示した従来例で40keV以下の比較的低エネル
ギーのビームを引出すと、加速電極2と中間電極3の空
間に形成される電界強度が小さいため、40kV以上の
高電圧を加速極2に印加して高エネルギビームを得る場
合に比ベビームが発散し、効率良い続出しが困難になる
。上記空間での引出し電界強度を高めるため、特に低エ
ネルギー引出しの場合には、次の様な電圧配分の印加を
行っている。すなわち、加速電極2に+20〜+40k
Vを印加し、中間電極3に負の高電圧(−10〜−30
kV)を印加し、さらに減速電極4と第3電極5を共に
アース電位に保ってビームを引出している。
しイオンビームのエネルギーを決める加速電極2(一般
には正の高電圧に保たれる)、加速電極電圧より低い正
の電圧が印加された中間電極3、負の電圧が印加された
減速電極4、中間電極と減速型°極の中間の電位に保た
れ、図中ではアース電位とした第3電極4を使い、引出
される。加速電極電位としたは、通常、40〜160k
Vであり、中間電極は20〜160kV減速電極の負電
圧としては、−2〜−10kV位が印加されている。負
電圧は引出し電極系を通過後、装置内の残留ガス分子や
装置内壁とのイオン衝突で生成した二次電子がイオン源
内、即ちプラズマ1の方向に逆流しない障壁を作るため
に印加され、一般に−2〜−10kVに設定される。第
2図に示した従来例で40keV以下の比較的低エネル
ギーのビームを引出すと、加速電極2と中間電極3の空
間に形成される電界強度が小さいため、40kV以上の
高電圧を加速極2に印加して高エネルギビームを得る場
合に比ベビームが発散し、効率良い続出しが困難になる
。上記空間での引出し電界強度を高めるため、特に低エ
ネルギー引出しの場合には、次の様な電圧配分の印加を
行っている。すなわち、加速電極2に+20〜+40k
Vを印加し、中間電極3に負の高電圧(−10〜−30
kV)を印加し、さらに減速電極4と第3電極5を共に
アース電位に保ってビームを引出している。
しかし、この方法では、中間電極3とアース電位の減速
電極4の間に、強いビーム減速効果が働らくため、この
領域でのビーム発散が着しくなる。
電極4の間に、強いビーム減速効果が働らくため、この
領域でのビーム発散が着しくなる。
このため、電極へのビーム衝突に起因する電極間での絶
縁破壊が起き、安定なビーム出しが困難であった。第3
図は、強い減速電界が働く領域でのビーム発散を抑える
方法として提案されている電極系を説明する図である。
縁破壊が起き、安定なビーム出しが困難であった。第3
図は、強い減速電界が働く領域でのビーム発散を抑える
方法として提案されている電極系を説明する図である。
図中、中間電極3′は、第2図の中間電極3と異なり、
減速電極4の方向に凸の部分を持つ形状となっている。
減速電極4の方向に凸の部分を持つ形状となっている。
この様な形状の電極を使用すると、中間電極3′と減速
電極4の減速空間で形成される等電位線は下に凸になり
、電界の向きは中心軸方向の成分を持つ。従って、イオ
ンは減速されながらも、中心軸に向う力を受ける。この
ためイオンビームは、第2図に比べ、発散が抑えられ、
安定なビーム引出しが可能となった。しかし第3図に示
したもので第2図の様な電圧配分、すなわち電極1に1
20kV、中間電極3′に60kV、減速電極に一2k
V、第3電極をアース電位とするような高エネルギービ
ーム引出しを行うと、ビーム形状は発散気味となり・効
率良いビーム引出しが出来ない。この引出し電極系を内
蔵したイオン源から出るビームを磁場形の質量分離塁に
通すと、質量分離後の電流として第2図の使用例の7〜
8割の値しか取得できない、この原因は、中間電極3′
と減速電極4の空間での加速電界の向きが中心軸と反対
外側に向くためである。
電極4の減速空間で形成される等電位線は下に凸になり
、電界の向きは中心軸方向の成分を持つ。従って、イオ
ンは減速されながらも、中心軸に向う力を受ける。この
ためイオンビームは、第2図に比べ、発散が抑えられ、
安定なビーム引出しが可能となった。しかし第3図に示
したもので第2図の様な電圧配分、すなわち電極1に1
20kV、中間電極3′に60kV、減速電極に一2k
V、第3電極をアース電位とするような高エネルギービ
ーム引出しを行うと、ビーム形状は発散気味となり・効
率良いビーム引出しが出来ない。この引出し電極系を内
蔵したイオン源から出るビームを磁場形の質量分離塁に
通すと、質量分離後の電流として第2図の使用例の7〜
8割の値しか取得できない、この原因は、中間電極3′
と減速電極4の空間での加速電界の向きが中心軸と反対
外側に向くためである。
以上述べたように、中間電極に正の高電圧を印加して高
エネルギービーム(≧40keV)を得る場合には第2
図の電極構成を使用し、中間電極に負の高電圧を印加し
て低エネルギービーム(≦40keV)を得る場合には
第3図の構成例を使用していた。このため、イオンエネ
ルギーを任意に変えることが要求されるイオン打込みな
どでは、電極交換をひんばんに行わなければならず、そ
の都度、イオン源部を大気圧にして交換していた。
エネルギービーム(≧40keV)を得る場合には第2
図の電極構成を使用し、中間電極に負の高電圧を印加し
て低エネルギービーム(≦40keV)を得る場合には
第3図の構成例を使用していた。このため、イオンエネ
ルギーを任意に変えることが要求されるイオン打込みな
どでは、電極交換をひんばんに行わなければならず、そ
の都度、イオン源部を大気圧にして交換していた。
したがって、イオン打込みの中断時間が多く、打込み稼
動率の著しい低下があった。
動率の著しい低下があった。
本発明の目的は、一つの中間電極を使い、高エネルギー
および低エネルギー両用のイオン源引出し電極系を提供
することにある。
および低エネルギー両用のイオン源引出し電極系を提供
することにある。
本発明では、その中間的な形状の種々の電極を使ってビ
ーム砂引出しを行い、高エネルギー、低エネルギー共用
可能な形状を実験的に求めた6イオン源でのビーム軌道
は電極形状、汚れ具合、放電イオン種により微妙に依存
しており、実験的に決定する方法が一般的で、かつ現実
的である。
ーム砂引出しを行い、高エネルギー、低エネルギー共用
可能な形状を実験的に求めた6イオン源でのビーム軌道
は電極形状、汚れ具合、放電イオン種により微妙に依存
しており、実験的に決定する方法が一般的で、かつ現実
的である。
本発明は中間N、t4の減速電極に面した電極面を平担
にして低エネルギービーム引出しの性能を確保すると共
に、そのエッヂ部に曲率を設け、その曲率半径rの大き
さを適当に選び高エネルギー側の引出し性能を確保しよ
うとするものである。実際の実験から、高エネルギー、
低エネルギーの引出し性能が共に確保できる構造として
次のような関係とすることが重要となる。
にして低エネルギービーム引出しの性能を確保すると共
に、そのエッヂ部に曲率を設け、その曲率半径rの大き
さを適当に選び高エネルギー側の引出し性能を確保しよ
うとするものである。実際の実験から、高エネルギー、
低エネルギーの引出し性能が共に確保できる構造として
次のような関係とすることが重要となる。
r≦2・d
ここで、rは曲率半径、dはスリット幅である。
以下、本発明の実施例を第1図により説明する。
イオン源としては磁場中のマイクロ波放電(周波数:2
.45GHz)で高密度プラズマを生成するマイクロ波
イオン源を使用した。引出し電極としては第1図に示し
た形状でステンレス製のものを使用した。スリットの幅
dとして8〜101Ifflを選び、曲率半径r=5m
mとした。この組み合わせに対し、高エネルギー引出し
では加速電極2に120kV、中間電極3’に60kV
、減速電極4に一2kV、第3電極5をアースとしてビ
ームを引出した。放電ガスにBFaガス導入したところ
、50mAの安定なビーム電流が得られた。このビーム
を磁場形質量分煎器に導入したところ、B+イオンで6
m A以上の大電流ビームが得られ、イオン打込み等
の実用に充分供することができた。
.45GHz)で高密度プラズマを生成するマイクロ波
イオン源を使用した。引出し電極としては第1図に示し
た形状でステンレス製のものを使用した。スリットの幅
dとして8〜101Ifflを選び、曲率半径r=5m
mとした。この組み合わせに対し、高エネルギー引出し
では加速電極2に120kV、中間電極3’に60kV
、減速電極4に一2kV、第3電極5をアースとしてビ
ームを引出した。放電ガスにBFaガス導入したところ
、50mAの安定なビーム電流が得られた。このビーム
を磁場形質量分煎器に導入したところ、B+イオンで6
m A以上の大電流ビームが得られ、イオン打込み等
の実用に充分供することができた。
一方、低エネルギー引出しでは、加速W1極2に30k
V、中間電極3#に一30kV、減速電極4と第3ft
!極5をアース電位とした。質量分離器を通した後のB
+イオンビームとして、30keVで4mA以上の電流
値が安定に得られた。
V、中間電極3#に一30kV、減速電極4と第3ft
!極5をアース電位とした。質量分離器を通した後のB
+イオンビームとして、30keVで4mA以上の電流
値が安定に得られた。
これらの値は、現在利用されているイオン打込み装置で
取得できるB小電流として最高レベルの値である。この
他、スリットの幅dを一定にして曲率半径rを変化させ
ると、一般に1曲率半径rが大なる程、高エネルギーで
の引出し性能が改善され、曲率半径rが小なる程、低エ
ネルギー側での引出し性能が改善される傾向があった。
取得できるB小電流として最高レベルの値である。この
他、スリットの幅dを一定にして曲率半径rを変化させ
ると、一般に1曲率半径rが大なる程、高エネルギーで
の引出し性能が改善され、曲率半径rが小なる程、低エ
ネルギー側での引出し性能が改善される傾向があった。
例えばd = 8〜10 m 、 r = 2 mでは
、高エネルギー引出しモードでのビーム電流等の性能は
。
、高エネルギー引出しモードでのビーム電流等の性能は
。
第2図の場合のそれに比べ90〜95%の性能に対し、
低エネルギー引出しモードの性能は、第3図とほぼ同じ
であった。この他の実験からは電圧範囲として30〜1
20kVの変化に対し、電圧の大小にかかわらず、それ
ぞれ最高レベルのB+ビーム電流が得られた。
低エネルギー引出しモードの性能は、第3図とほぼ同じ
であった。この他の実験からは電圧範囲として30〜1
20kVの変化に対し、電圧の大小にかかわらず、それ
ぞれ最高レベルのB+ビーム電流が得られた。
また、放電ガスとしてP Ha * A s Ha等を
導入し、質量分離の後にP +、 A s+ビーム等を
取得した実施例でも、30〜120kVの広範囲な電圧
に対し安定なビーム出しが達成できた。
導入し、質量分離の後にP +、 A s+ビーム等を
取得した実施例でも、30〜120kVの広範囲な電圧
に対し安定なビーム出しが達成できた。
本発明によれば、一つの取出し電極構成を使うことで種
々のエネルギーのイオンビーム引出しを印加電圧調整だ
けで操作することが可能となり。
々のエネルギーのイオンビーム引出しを印加電圧調整だ
けで操作することが可能となり。
かつ大電流のイオンビームを長時間、安定に、効率良く
引出せる。したがって、質量分離機の結合により半導体
基板へのイオン打込み等に応用すれば、電極交換等の無
駄時間がなくなり、イオン源稼動率の向上、打込みプロ
セスの世情りに寄与するところが大である。
引出せる。したがって、質量分離機の結合により半導体
基板へのイオン打込み等に応用すれば、電極交換等の無
駄時間がなくなり、イオン源稼動率の向上、打込みプロ
セスの世情りに寄与するところが大である。
第1図は、本発明のイオン源引出しWI電極系示す概略
断面図、第2図は従来のイオン源引出し電極系を示す概
略断面図、第3図は提案されているイオン源引出し電極
系の概略断面図である。 1・・・放電プラズマ、2・・・加速電極、3.3’
、3’・・・中間電極、4・・・減速電極、5・・・第
3電極、6・・・イオンビーム。 TZ図 第 3 図
断面図、第2図は従来のイオン源引出し電極系を示す概
略断面図、第3図は提案されているイオン源引出し電極
系の概略断面図である。 1・・・放電プラズマ、2・・・加速電極、3.3’
、3’・・・中間電極、4・・・減速電極、5・・・第
3電極、6・・・イオンビーム。 TZ図 第 3 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、プラズマから引出し電極系を用いてイオンビームを
引出すイオン源において、プラズマに正電位を与えるた
めの加速電極、高エネルギービーム引出し時には加速電
極より低い正の電圧を印加し、低エネルギービーム引出
し時には負の高電圧を印加する中間電極、高エネルギー
ビーム引出し時に負電圧が印加され、低エネルギービー
ム引出し時には加速電極と中間電極の中間の電位に保た
れる減速電極、高エネルギービーム引出し時には中間電
極と減速電極の中間の電位が印加され、低エネルギービ
ーム引出し時には、減速電極と同電位に保たれる第3電
極で構成される引出し電極系のうち、減速電極に対向し
た中間電極面を平坦にすると共に、中間電極に設けられ
たスリットの減速電極に面したエッジ部分に曲率を持た
せたことを特徴とするイオン源引出し電極系。 2、特許請求の範囲第一項記載のイオン源引出し電極系
において、中間電極の減速電極に面したエッヂ部の曲率
半径がスリット幅の2倍以下であることを特徴とするイ
オン源引出し電極系。 3、特許請求の範囲第一項又は第二項記載のイオン源引
出し電極系において、プラズマ生成手段が磁場中のマイ
クロ波放電であることを特徴としたイオン源引出し電極
系。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28772885A JPH0760655B2 (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | イオン源引出し電極系 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28772885A JPH0760655B2 (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | イオン源引出し電極系 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62147643A true JPS62147643A (ja) | 1987-07-01 |
JPH0760655B2 JPH0760655B2 (ja) | 1995-06-28 |
Family
ID=17720978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28772885A Expired - Lifetime JPH0760655B2 (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | イオン源引出し電極系 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0760655B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009541965A (ja) * | 2006-06-30 | 2009-11-26 | ノルディコ テクニカル サーヴィシズ リミテッド | 装置 |
JP2012500454A (ja) * | 2008-08-11 | 2012-01-05 | イオンビーム アプリケーションズ, エス.エー. | 大電流直流陽子加速器 |
-
1985
- 1985-12-23 JP JP28772885A patent/JPH0760655B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009541965A (ja) * | 2006-06-30 | 2009-11-26 | ノルディコ テクニカル サーヴィシズ リミテッド | 装置 |
JP2012500454A (ja) * | 2008-08-11 | 2012-01-05 | イオンビーム アプリケーションズ, エス.エー. | 大電流直流陽子加速器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0760655B2 (ja) | 1995-06-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4684848A (en) | Broad-beam electron source | |
US6501081B1 (en) | Electron flood apparatus for neutralizing charge build up on a substrate during ion implantation | |
US4749910A (en) | Electron beam-excited ion beam source | |
Tsai et al. | Plasma studies on a duoPIGatron ion source | |
Kistemaker | On ion sources with high efficiency and intensity | |
JPS62147643A (ja) | イオン源引出し電極系 | |
JPH07169425A (ja) | イオン源 | |
JPH07169436A (ja) | イオン注入システムに用いられる低エネルギによる大電流ビームの発生 | |
US20020033446A1 (en) | Neutral beam processing apparatus and method | |
JPS62108428A (ja) | イオン源 | |
JPH0353402Y2 (ja) | ||
JPH10275566A (ja) | イオン源 | |
Keller et al. | Versatile Source For Intense Multiply Charged Ion Beams | |
US2933630A (en) | High voltage ion source | |
JP3213135B2 (ja) | 高速原子線源 | |
JPS6347226B2 (ja) | ||
JPH0877960A (ja) | イオン打込み装置 | |
JPS617542A (ja) | マイクロ波イオン源 | |
Bennett | Ion sources for multiply charged heavy ions | |
JPH05205682A (ja) | イオン源装置 | |
JPS59128750A (ja) | 荷電粒子加速器 | |
JPH02234338A (ja) | イオン源 | |
JPS5987738A (ja) | イオン発生装置 | |
JPH02172138A (ja) | イオン源 | |
JPS63168945A (ja) | イオン打込装置用イオン源 |