JPS63160014A - 磁気デイスク用基板の製造方法 - Google Patents
磁気デイスク用基板の製造方法Info
- Publication number
- JPS63160014A JPS63160014A JP30552986A JP30552986A JPS63160014A JP S63160014 A JPS63160014 A JP S63160014A JP 30552986 A JP30552986 A JP 30552986A JP 30552986 A JP30552986 A JP 30552986A JP S63160014 A JPS63160014 A JP S63160014A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- soln
- magnetic disk
- film
- head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 44
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims abstract description 4
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 3
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 4
- HUAUNKAZQWMVFY-UHFFFAOYSA-M sodium;oxocalcium;hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+].[Ca]=O HUAUNKAZQWMVFY-UHFFFAOYSA-M 0.000 abstract description 3
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract 2
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 abstract 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 16
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 239000002585 base Substances 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000005345 chemically strengthened glass Substances 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 2
- 239000006058 strengthened glass Substances 0.000 description 2
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910001413 alkali metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- -1 silica compound Chemical class 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は耐久性にすぐれた、磁気記録媒体に適した磁気
ディスク用基板の製造方法に関するものである。
ディスク用基板の製造方法に関するものである。
[従来の技術]
磁気ディスク用基板と、その上にスパッタ、メッキ、蒸
着等の方法により形成した磁性膜及び保護膜からなる構
成体は磁気記録媒体(以下メディアと略称する)と呼ば
れる。
着等の方法により形成した磁性膜及び保護膜からなる構
成体は磁気記録媒体(以下メディアと略称する)と呼ば
れる。
磁気記憶装置はこのメディアと記録再生磁気ヘッド(以
下ヘッドと略称する)を主構成部とし、操作開始時には
ヘッドとメディアは接触状態でセットしたあと前記のメ
ディアに所要の回転を与えることにより、前記ヘッドと
メディア面との間に空気層上の空間を作り、この状態で
記録再生動作を行う。又操作終了時にはメディアの回転
が止まり、この時ヘッドとメディアは操作開始時と同様
に接触状態に戻る。
下ヘッドと略称する)を主構成部とし、操作開始時には
ヘッドとメディアは接触状態でセットしたあと前記のメ
ディアに所要の回転を与えることにより、前記ヘッドと
メディア面との間に空気層上の空間を作り、この状態で
記録再生動作を行う。又操作終了時にはメディアの回転
が止まり、この時ヘッドとメディアは操作開始時と同様
に接触状態に戻る。
この様に装置の起動時及び停止時にヘッドとメディア間
に生ずる接触摩擦力はヘッド及びメディアを消耗させ磁
気特性の劣化原因となる(この方式をコンタクト、スタ
ート、ストップ、C5Sと通称している)、又多湿雰囲
気中でメディアを放置しメディア表面に水分が付着して
いる状態ではヘッドとメディアの間に水分が入り込み、
吸着現象を惹き起こす。
に生ずる接触摩擦力はヘッド及びメディアを消耗させ磁
気特性の劣化原因となる(この方式をコンタクト、スタ
ート、ストップ、C5Sと通称している)、又多湿雰囲
気中でメディアを放置しメディア表面に水分が付着して
いる状態ではヘッドとメディアの間に水分が入り込み、
吸着現象を惹き起こす。
従ってこの状態で起動するとヘッド及びメディアに大き
な抵抗力を生じヘッドの損傷やメディアの破壊を招くこ
とがある(これをヘッドヌティッキングあるいはヘッド
クラッシュと通称している)。
な抵抗力を生じヘッドの損傷やメディアの破壊を招くこ
とがある(これをヘッドヌティッキングあるいはヘッド
クラッシュと通称している)。
一般にガラスは表面の平滑性に優れ、硬く、変形抵抗が
大きくかつ表面欠陥が少ない等の理由から高密度化に適
した磁気ディスク用基板として注目されている(特開昭
49−122707号、特開昭52−18002号)。
大きくかつ表面欠陥が少ない等の理由から高密度化に適
した磁気ディスク用基板として注目されている(特開昭
49−122707号、特開昭52−18002号)。
しかしながら上述した耐C5S性およびヘッドスティッ
ク性に対してはガラスは鏡面性が優れているが故に他の
平滑性の劣る基板に比べ、ヘッドとメディアの接触面積
が増大するため摩擦抵抗の増加や吸着力の増大を招くこ
とから問題があった。
ク性に対してはガラスは鏡面性が優れているが故に他の
平滑性の劣る基板に比べ、ヘッドとメディアの接触面積
が増大するため摩擦抵抗の増加や吸着力の増大を招くこ
とから問題があった。
この様な欠点を解消するために基板表面に機械的手段に
より微少な凹凸を形成させることによりヘッドとメディ
ア間に生ずる摩擦力及び吸着力を低減する方法が提案さ
れている。
より微少な凹凸を形成させることによりヘッドとメディ
ア間に生ずる摩擦力及び吸着力を低減する方法が提案さ
れている。
又化学エツチングによりセラミックス基板表面に凹凸を
形成させる方法が特開昭[10−38720号、及び特
開昭60−136035号に提案されている。
形成させる方法が特開昭[10−38720号、及び特
開昭60−136035号に提案されている。
[発明の解決しようとする問題点]
本発明は上記した#css特性およびヘッドスティック
性の改善された磁気ディスク用基板特に磁気ディスク用
ガラス基板の製造方法を提供することを目的とするもの
である。
性の改善された磁気ディスク用基板特に磁気ディスク用
ガラス基板の製造方法を提供することを目的とするもの
である。
[問題点を解決するための手段]
本発明は前記した問題点を解決すべくなされたものであ
り、スパッター、メッキ、蒸着等の方法により磁性膜が
形成される磁気ディスク用基板であり、該基板として平
坦性を損なわず、表面に異方性がなく、均一で微小な凹
凸が形成されており、その表面凹凸の形状が触針式の粗
さ計を用い半径2.5μmの触針で基板表面を走査させ
て粗さを測定したとき、高さが50〜700人の範囲に
ある山が0.1〜10gmの範囲のピッチで形成されて
いる磁気ディスク用基板の製造方法であって、前記磁気
ディスク用基板の表面の凹凸を有機金属化合物からなる
被膜形成用溶液の微小な液滴を表面に噴霧し、キュアー
することにより形成することを特徴とする磁気ディスク
用基板の製造方法を提供するものである。
り、スパッター、メッキ、蒸着等の方法により磁性膜が
形成される磁気ディスク用基板であり、該基板として平
坦性を損なわず、表面に異方性がなく、均一で微小な凹
凸が形成されており、その表面凹凸の形状が触針式の粗
さ計を用い半径2.5μmの触針で基板表面を走査させ
て粗さを測定したとき、高さが50〜700人の範囲に
ある山が0.1〜10gmの範囲のピッチで形成されて
いる磁気ディスク用基板の製造方法であって、前記磁気
ディスク用基板の表面の凹凸を有機金属化合物からなる
被膜形成用溶液の微小な液滴を表面に噴霧し、キュアー
することにより形成することを特徴とする磁気ディスク
用基板の製造方法を提供するものである。
第1図は本発明により製造された磁気ディスク用基板の
平面図であり、基板円板を形成する円の中心を原点とし
て極座標(r、θ)をとる、該基板としては通常のソー
ダライムシリケートガラス、無アルカリガラス、ホウケ
イ酸ガラス、石英ガラス、風冷または液冷等による物理
強化ガラス、化学強化ガラス、結晶性ガラス、あるいは
結晶化ガラス等を用いることができる。第2図(a)、
(b)は本発明の一実施例として得られた基板の主面に
垂直なr方向断面とθ方向断面の表面凹凸の形状を示し
た説明図である。基板の表面の凹凸はrおよびθ方向で
同様のプロフィールを有し異方性が認められない。
平面図であり、基板円板を形成する円の中心を原点とし
て極座標(r、θ)をとる、該基板としては通常のソー
ダライムシリケートガラス、無アルカリガラス、ホウケ
イ酸ガラス、石英ガラス、風冷または液冷等による物理
強化ガラス、化学強化ガラス、結晶性ガラス、あるいは
結晶化ガラス等を用いることができる。第2図(a)、
(b)は本発明の一実施例として得られた基板の主面に
垂直なr方向断面とθ方向断面の表面凹凸の形状を示し
た説明図である。基板の表面の凹凸はrおよびθ方向で
同様のプロフィールを有し異方性が認められない。
第3図は凹凸を形成した基板表面の拡大説明図である。
以下「山の高さ」とは山の谷の落差H゛を示し「山のピ
ッチ」とは隣り合う山の先端の間隔Wを表わすものとす
る。
ッチ」とは隣り合う山の先端の間隔Wを表わすものとす
る。
凹凸の適正形状は再生ノイズに影響を与えることなくヘ
ッドとメディアの摩擦軽減効果によりC5S特性を改善
できる理由から山の高さは50〜700人の範囲が適切
であるが特に200〜400人の範囲とすることが望ま
しい。山のピッチは0.1〜10gmの範囲にあること
が望ましい。
ッドとメディアの摩擦軽減効果によりC5S特性を改善
できる理由から山の高さは50〜700人の範囲が適切
であるが特に200〜400人の範囲とすることが望ま
しい。山のピッチは0.1〜10gmの範囲にあること
が望ましい。
なお、前記山の高さは基板の全面にわたって全ての山が
700A以下であることが望ましいが、前記した耐C5
s特性およびヘー、トスティック性改善を達成するのに
支障のない範囲において700人を超える高さの山が存
在していてもかまわない。
700A以下であることが望ましいが、前記した耐C5
s特性およびヘー、トスティック性改善を達成するのに
支障のない範囲において700人を超える高さの山が存
在していてもかまわない。
なお、凹凸の形状は半径2.5μの触針を有する表面粗
さ計で針荷重25mg、走査速度50牌a+/分で測定
するものとする。
さ計で針荷重25mg、走査速度50牌a+/分で測定
するものとする。
ここで表面凹凸を形成する以前のガラス板を、ガラス素
板あるいは素板と記すこととする。素板としては、通常
のソーダライムシリケートガラス、無アルカリガラス、
硼珪酸ガラス、石英ガラス、風冷または液冷等による物
理強化ガラス、化学強化ガラスあるいは結晶性ガラス等
を用いることができる。
板あるいは素板と記すこととする。素板としては、通常
のソーダライムシリケートガラス、無アルカリガラス、
硼珪酸ガラス、石英ガラス、風冷または液冷等による物
理強化ガラス、化学強化ガラスあるいは結晶性ガラス等
を用いることができる。
上記の如き凹凸の形成に用いられる有機金属化合物の被
膜形成用溶液としては有機シリカ化合物の溶液が最も良
好な結果を与える。
膜形成用溶液としては有機シリカ化合物の溶液が最も良
好な結果を与える。
有機シリカ化合物としてはエチルシリケートを用いメタ
ノール、エタノール、水等の溶媒に塩酸、酢酸等の酸を
添加した溶液とし4〜7日間放置後基板表面へ噴霧し、
500℃、30分以上加熱することが望ましい。
ノール、エタノール、水等の溶媒に塩酸、酢酸等の酸を
添加した溶液とし4〜7日間放置後基板表面へ噴霧し、
500℃、30分以上加熱することが望ましい。
[作用]
本発明により基板表面に形成される適度の凹凸は、メデ
ィアとして記録密度の低下を招かず、磁気記録/再生に
あたり信号のノイズを増大させることなくヘッドとメデ
ィア間の接触面積を減少させることによりヘッドとメデ
ィア間の摩擦を低減させることによって#C8S性やヘ
ッドスティック性を改善できるものと考えられる。
ィアとして記録密度の低下を招かず、磁気記録/再生に
あたり信号のノイズを増大させることなくヘッドとメデ
ィア間の接触面積を減少させることによりヘッドとメデ
ィア間の摩擦を低減させることによって#C8S性やヘ
ッドスティック性を改善できるものと考えられる。
[実施例]
実施例1
ソーダライムガラス素板を中性洗剤で洗浄し、蒸留水で
水洗後乾燥する。この素板にエチルシリケート18重量
%、酢酸18重量%、メタノール64%の溶液を7日間
放置後噴霧・吹付けし500℃、30分間加熱した。
水洗後乾燥する。この素板にエチルシリケート18重量
%、酢酸18重量%、メタノール64%の溶液を7日間
放置後噴霧・吹付けし500℃、30分間加熱した。
ガラス基板上に形成された凹凸の形状特性を表1に示す
、この基板上にスパッタ法によりC。
、この基板上にスパッタ法によりC。
系磁性膜を形成し、さらにその上にカーボン保護膜を形
成した後C5S特性、ヘッドスティック性、S/N比お
よびミッシングパルスを評価した。その結果を表1に比
較例とともに示す。
成した後C5S特性、ヘッドスティック性、S/N比お
よびミッシングパルスを評価した。その結果を表1に比
較例とともに示す。
実施例2
ソーダライムガラス素板を中性洗剤で洗浄し蒸留水で水
洗後乾燥する。この素板にエチルシリケー)18重量%
、酢酸18重量%、エタノール40重量%、インプロパ
ツール24重量%の溶液を7日間放置後噴霧し500℃
、30分間加熱した。
洗後乾燥する。この素板にエチルシリケー)18重量%
、酢酸18重量%、エタノール40重量%、インプロパ
ツール24重量%の溶液を7日間放置後噴霧し500℃
、30分間加熱した。
ガラス基板上に形成された凹凸の形状特性を表1に示す
。この基板上にスパッタ法によりGo系磁性膜を形成し
、さらにその上にカーボン保護膜を形成した後、CSS
特性、ヘッドスティック性、S/N比およびミッシング
パルスを評価した。その結果を表1に比較例とともに示
す。
。この基板上にスパッタ法によりGo系磁性膜を形成し
、さらにその上にカーボン保護膜を形成した後、CSS
特性、ヘッドスティック性、S/N比およびミッシング
パルスを評価した。その結果を表1に比較例とともに示
す。
注1)エチルシリケートは多摩化学工業社製のエチルシ
リケート40(商品名)を使用した。
リケート40(商品名)を使用した。
[発明の効果]
l)本発明は磁気ディスク用ガラス基板の表面に適度の
凹凸を形成させる該基板の製造方法であって、これによ
りメディアとヘッドの間に働く摩擦力が軽減され、#C
SS性やヘッドスティック性が改善される効果を有する
。
凹凸を形成させる該基板の製造方法であって、これによ
りメディアとヘッドの間に働く摩擦力が軽減され、#C
SS性やヘッドスティック性が改善される効果を有する
。
さらに本発明の方法によれば形成される凹凸が微細なた
め磁気特性に悪い影響を与えない。
め磁気特性に悪い影響を与えない。
2)本発明はガラス表面に微小な液滴を噴霧し、キュア
ーすることにより凹凸を形成する方法であるため基板の
平坦性を茗しく損なったり強度低下を招くことがない。
ーすることにより凹凸を形成する方法であるため基板の
平坦性を茗しく損なったり強度低下を招くことがない。
3)本発明によれば、凹凸が異方性なく微細に形成され
るため1ビット当りの面積を縮小し高密度化を図る際に
有利である。
るため1ビット当りの面積を縮小し高密度化を図る際に
有利である。
4)本発明によれば基板表面に酸化物の層が形成され、
該層によりガラスからのアルカリ金属イオンの磁性膜中
への拡散が抑止され、膜に発生する微少な欠陥の発生が
防止され効果がある。
該層によりガラスからのアルカリ金属イオンの磁性膜中
への拡散が抑止され、膜に発生する微少な欠陥の発生が
防止され効果がある。
第1図は磁気ディスク用基板の平面図、第2図(a)は
基板表面のr方向断面の説明図、(b)は0方向断面の
説明図、また第3図は第2図(a)、(b)の拡大図で
ある。
基板表面のr方向断面の説明図、(b)は0方向断面の
説明図、また第3図は第2図(a)、(b)の拡大図で
ある。
Claims (1)
- (1)スパッター、メッキ、蒸着等の方法により磁性膜
が形成される磁気ディスク用基板であり、該基板として
平坦性を損なわず、表面に異方性がなく、均一で微小な
凹凸が形成されており、その表面凹凸の形成が触針式の
粗さ計を用い半径2.5μmの触針で基板表面を走査さ
せて粗さを測定したとき、高さが50〜700Åの範囲
にある山が0.1〜10μmの範囲のピッチで形成され
ている磁気ディスク用基板の製造方法であって、前記磁
気ディスク用基板の表面の凹凸を有機金属化合物からな
る被膜形成用溶液の微小な液滴を表面に噴霧し、キュア
ーすることにより形成すること を特徴とする磁気ディスク用基板の製造方 法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30552986A JPS63160014A (ja) | 1986-12-23 | 1986-12-23 | 磁気デイスク用基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30552986A JPS63160014A (ja) | 1986-12-23 | 1986-12-23 | 磁気デイスク用基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63160014A true JPS63160014A (ja) | 1988-07-02 |
Family
ID=17946246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30552986A Pending JPS63160014A (ja) | 1986-12-23 | 1986-12-23 | 磁気デイスク用基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63160014A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0399747A2 (en) * | 1989-05-22 | 1990-11-28 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Substrate used for magnetic disk and magnetic recording medium using the substrate |
US5427867A (en) * | 1989-05-22 | 1995-06-27 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Substrate used for magnetic disk and magnetic recording medium using the substrate |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60111339A (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-17 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
JPS60117414A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜型磁気記録媒体 |
JPS61240429A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Sony Corp | 磁気記録媒体 |
-
1986
- 1986-12-23 JP JP30552986A patent/JPS63160014A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60111339A (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-17 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
JPS60117414A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜型磁気記録媒体 |
JPS61240429A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Sony Corp | 磁気記録媒体 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0399747A2 (en) * | 1989-05-22 | 1990-11-28 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Substrate used for magnetic disk and magnetic recording medium using the substrate |
US5427867A (en) * | 1989-05-22 | 1995-06-27 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Substrate used for magnetic disk and magnetic recording medium using the substrate |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63225919A (ja) | 磁気デイスク用基板と製造法 | |
JPS63160014A (ja) | 磁気デイスク用基板の製造方法 | |
JP2000207733A (ja) | 磁気ディスク、その製造方法およびそれを用いた磁気記録装置 | |
JPS60136035A (ja) | 磁気デイスクの製造方法 | |
JP2588898B2 (ja) | ガラス製磁気ディスク基板の製造方法 | |
JPS63160013A (ja) | 磁気デイスク用基板の製造法 | |
JPH031324A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造法 | |
JP2737901B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JPH04275950A (ja) | 基板面への微細凹凸形成法 | |
JP2002123932A (ja) | 薄膜磁気デバイスの製造方法 | |
JPH07105536A (ja) | 磁気ディスク用基板の製造法 | |
JP2741380B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS63316314A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板 | |
WO2002095083A1 (en) | Composite glassy carbon disk substrate | |
JP2001176056A (ja) | 磁気ディスクおよび磁気記録装置 | |
JP2547994B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
JP3302410B2 (ja) | 磁気デイスク用基板およびその製造方法ならびに前記基板を用いた磁気デイスク、磁気デイスク装置 | |
JP2000030245A (ja) | 磁気記録媒体及び磁気記録装置 | |
JPH10198941A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JP3022680B2 (ja) | 磁気ディスク媒体およびその製造方法 | |
JPS63316315A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JPH0729207A (ja) | 記録媒体及びその製造方法 | |
JP2002123929A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板とその製造方法および磁気ディスク | |
JP2001209926A (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板ならびにそれを用いた情報記録媒体および情報記録装置 | |
JPS62219330A (ja) | 薄膜メデイアの製造方法 |