JPS63140906A - 透視画像による測寸方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は成形物などをＸ線又は軟Ｘ線などの放射線を用
いて透視し、その透視画像によって寸法測定をおこなう
方法に関する。

〔従来の技術〕

従来複雑な内部構造を有する加工物、又は成形物の内部
状況の確認、観察をおこなうには、これら被測定物を破
壊することなく、Ｘ線などの放射線を用いる透視観察が
一般的に行なわれている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところでこの放射線による透視観察によって寸法計測を
行なう場合には、次のような問題点があった。

（ａ）　　放射線源と被測定物、ならびに被測定物と撮
像管との位置関係により、撮像管上には必ずしも被測定
物の実長が投射されず、撮像管への透視像長さは一般に
長くなる。

（ｂ）　　放射線源が点源ではなく、通常数隨角程度の
面積を有するために、透視像の輪郭が不明確、即ちほや
けが生ずる。

（ｃ）　　撮像管以降にアナログ系の電気処理が必要に
なるために、経時変化、変動が生ずる。

従って透視画像よυ得られた像から正確な測寸をおこな
うことが困難であった。

本発明は上記のうちの（ａ）の問題点を解決するために
なされたもので、基準ブロックから寸法を割出して正確
に被測定物の長さを求めることができる測寸方法を提供
する。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決するだめの技術的手段としての本発明
は、放射線源と撮像管との間に被測定物を保持し、被測
定物を透視して撮像管に受像された透視画像によシ被測
定物の長さを測定する測寸方法において、被測定物の測
定をおこなう部位に相当する位置に基準ブロックを併置
し、基準ブロックと該基準ブロックの透視画像の長さを
比較し、この比較値によって前記被測定物の長さを較正
して被測定物の長さを算出することを特徴とするもので
ある。

〔作　用〕

放射線源と撮像管との間に被測定物を保持して透視した
場合には、撮像管上の透視画像は被測定物の実長よりも
拡大されて撮像される。この場合被測定物が撮像管から
離れるにしたがって拡大の度合は大きくなる。従って被
測定物が立体構造である場合には、測定をおこなう部位
によってこの拡大の度合が異なシ、画一的に被測定物の
実長を撮像管上の透視画像から求めることは困難である
。

そこで被測定物の測定部位に相当する位置に既知寸法の
基準ブロックを併置し、この基準ブロックを撮像管上に
透視してその透視画像から測定部位における画像の拡大
度合を求める。ついでこの比較値によって被測定物の長
さを較正して被測定物の実長を算出する。

〔実施例〕

本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は測寸方法を説明する斜視図であり、上方にＸ線
装置１が設けられ、ターゲット２から下方向に放射状に
Ｘ線が放射される。撮像管３はＸ線装置１の下方向に所
定の距離をおき、放射されるＸ線に撮像面４が直角にな
るように設置されている。

５は被測定物であり、Ｘ線装置１と撮像管３との間にお
いて測定部位６がＸ線の視野内に位置するように保持さ
れる。さらにこの測定部位６と同じ高さに既知寸法の基
準ブロック７を併置する。

通常被測定物５は、工業製品などがその主体となる場合
が多く、従ってその測定部位６の位置、犬きはほぼ判っ
ているので、基準ブロック７の大きさは測定部位６の大
きさに近いものが好ましく、また併置する高さも被測定
物５との関係位置から推定するのは容易である。このよ
うにして撮像面４上に測定部位６および基準ブロック７
の透視画像６ａおよび７ａが撮像され、第２図に示す如
く測定部位６と基準ブロック７の測定用合成画像６ｂ。

７ｂを得る。

撮像に際して、被測定物５が撮像の視野に対して小さい
場合は被測定物５と基準ブロック７とは同時に撮像が可
能であるが、被測定物５が大きくて同時撮像が困難な場
合は、移動装置などによって移動してごく短い時間内に
得た原画像を撮像面４上に合成させることも可能である
。

つぎに第２図に示すそれぞれ得られた測定用合成画像６
ｂ、７ｂから、先ず基準ブロック７の画像７ｂの長さｔ
を測定し、これを基準ブロック７の長さＬと比較してそ
の較正値Ｌ　／　ｔを算出し、ついで測定部位６の画像
６ｂから例えばｒ、　ｓ、　ｔの値を測定し、それぞれ
の実長をＲ，Ｓ、　Ｔ　　とすれば、実長は次式により
算出することができる。

なお測定用合成画像６ｂ、７ｂから実長を計算機などに
よって算出する場合は、それぞれの目的とする画像６ｂ
を必要に応じて拡大又は縮小してメモリーに割り当てて
画像記憶させ、濃淡の境界部分の割シ当てアＰレスの値
を基準ブロック７の目的部位間のアドレス値よシ計算機
で実長を換算して算出することもできる。

〔発明の効果〕

以上説明した如く本発明は、被測定物の測定部位に基準
ブロックを併置し、基準ブロックの透視画像から較正値
を求めてこの較正値により測定部位の実長を求めるよう
にしているので、被測定物を破壊することなくその内部
寸法を正確に測定することが可能となり、特に従来困難
であった加工物、成形物などの内部構造の観察、測定が
容易となる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第２図は本発明の実施例であり、第１図は測寸
方法を説明する斜視図、第２図は撮像面上の画像を模写
した図面である。 １−Ｘ〜装置、２・・・ターゲット、３・・・撮像管、
４・・・撮像面、５・・・被測定物、６・・・測定部位
、７・・・基準ブロック、６ａ、７ａ−透視画像、６ｂ
。 ７　ｂ　・・・測定用合成画像。 代理人　弁理士　秋　沢　政　光 他１名 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 放射線源と撮像管との間に被測定物を保持し、被測定物
   を透視して撮像管に受像された透視画像により被測定物
   の長さを測定する測寸方法において、被測定物の測定を
   おこなう部位に相当する位置に基準ブロックを併置し、
   基準ブロックと該基準ブロックの透視画像の長さを比較
   し、この比較値によつて前記被測定物の長さを較正して
   被測定物の長さを算出することを特徴とする透視画像に
   よる測寸方法。