JPS63139204A - 磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法 - Google Patents

磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法

Info

Publication number
JPS63139204A
JPS63139204A JP17942186A JP17942186A JPS63139204A JP S63139204 A JPS63139204 A JP S63139204A JP 17942186 A JP17942186 A JP 17942186A JP 17942186 A JP17942186 A JP 17942186A JP S63139204 A JPS63139204 A JP S63139204A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gap
image
value
area
head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17942186A
Other languages
English (en)
Inventor
Motoyuki Suzuki
基之 鈴木
Hideyuki Inukai
犬飼 英之
Kengo Nishigaki
西垣 賢吾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP17942186A priority Critical patent/JPS63139204A/ja
Publication of JPS63139204A publication Critical patent/JPS63139204A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、磁気ヘッドのギャップ位置計測方法に関し、
ビデオテープレコーダ(VTR)の製造工程で利用され
る。
(従来の技術) VTRの製造段階では、回転シリンダーに対するヘッド
位置の調整をする必要がある。
従来、このために工業用顕微−の拡大像をITVカメラ
によって邊像したモニタテレビの画面を用いて、磁気ヘ
ッドのギャップ部分であるトランク位置を確認し、回転
シリンダーに対するヘッド位置を調整することによって
ギャップ部分をモニタテレビの定位置に導く作業を行っ
ている。
(発明が解決しようとする問題点) しかるに、モニタテレビ上に表示されるギャップ像は非
常に薄く、かつミクロンオーダの調整作業を要するので
W!練を要し、作業者の疲労が大きいため、かかる作業
の自動化が望まれている。
また、いわゆるホームVTRでは、ヘッドギャ7プ幅は
約0.3μmであるが、8ミリVTRでは約0.1μm
となるので、今後増々この分野の自動化の要請が高い。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、磁気ヘッドのテープ摺動面側を逼影したヘッ
ド入力画像において、テープ摺動方向に直交する座標軸
上に各画素を投影して投影値を求め、これら投影値を一
定の閾値で区分してトランク領域を求め、該トランク領
域の全域若しくはギャップ部分を含む一部領域であるウ
ィンドウ領域内における前記テープ摺動方向の投影値を
連続した投影波形を一次微分して微分波形を求め、この
微分波形の最大値と最小値に対して一定の閾値を求め、
この閾値について微分値の正値及び負値に対して2値化
処理を行って得られる2値情報系列の中で最も長く正値
若しくは負債が連続する連続パターン相互の中央をギャ
ップ位置となす方法である。
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は、本発明に係る磁気ヘッドのギャップ位置計測
方法に供される計測装置を示すブロック図である。
第1図において、VTRシリンダーヘッド回転部品1に
対してヘッドベース2を介してヘッドを構成するフェラ
イトコア3が仮付けられ、本発明のギャップ位置計測方
法はこのフェライトコア3の前記ヘッド回転部品1に対
する位WiN整を画像処理計測によって行うものである
工業用1m鏡の対物レンズ4を介して拡大された磁気ヘ
ッドのテープ摺動面側の画像はハーフミラ−5を透過し
て撮像管7によって結像される。
この撮像管7からはアナログ信号である画像信号がアナ
ログ/デジタル(A/D)変換器8でデジタル信号に変
換された後、画像メモリ9に格納される。この画像メモ
リ9に書込まれる画像は例えば512X512画素の平
面内に256階調の濃淡レベルで書込まれる。なお、符
号6はハーフミラ−5に対する照り用の光源を示してい
る。
画像演算処理装置10は、前記画像メモリ9に格納され
たデジタル信号を予め決めた手順によって情報処理する
もので、CPU等を含むマイクロコンピュータによって
構成され、CRTI 1に前記磁気ヘッドのテープ摺動
面側を表示させるとともに、信号ライン12から演算処
理結果等のデータを他の周辺装置へ出力する。
第2図(a)は磁気ヘッドのテープ摺動面側を逼影した
ヘッド入力画像を示し、符号13がギャップ部分で符号
14a、14bは補強ガラスを示している。
前記画像演算処理装置W10では、画像メモリ9に格納
された画像データから、まず磁気ヘッドのギャップ位置
計測に適う微小領域としてギャップウィンドウ領域15
(第4図(a)参照〕を決定した後に、該ギャップウィ
ンドウ領域15内の画素の濃淡をテープ摺動方向〔第2
図(a)に示す画面ではX軸〕に投影して形成される投
影波形を微分処理および2値化処理してギャップ位置を
求めている。
かかる処理手順を第2図〜第4図を参照して詳細に説明
する。
■ ギャップウィンドウ領域15のY方向位置の決定手
順について、 前記画像メモリ9から読込まれる入力画像データをI 
 (x、  y)とし、I (x、  y)における画
素の濃淡レベルをC(x、y)とする。ここで、x、y
はCRTIIの互いに直交する座標系の横方向(X軸)
、縦方向(Y軸)とし、CRTIIの左上隅を原点とし
た場合の座標値を示している。I(x、y)のY軸投影
値Rv(y。
はX軸方向の画素を512とすると、 データ系列PY(+)〜P’f(Slt、を得る。そし
て、このデータ系列の最大値をPlとする。
Y軸方向で前記ギャップ部分13に相当する領域は、Y
軸投影値RV(y)の値が比較的大きい領域に存在する
ので、今、閾値係数TI  (0<TI<1)を用いて
下式(1)によって区分して決定する(この領域をトラ
ック領域Ytと称す)。
P□1≧Tl  ×PYa     ・・・(1)なお
、閾値係数は、例えば0.8(PY、の80%)程度が
好ましい。
このトラック領域Y、の中で最大投影値をとるY座標を
Y ? H%最小投影値をとるY座標をYtNとして、
これら2つのY座標の中央位置をYtc [=!4 (
Yt14+YtN) ]とする〔第2図(bl参照〕。
一方、フェライトコア3の幅に相当する領域を、ここで
はヘッド領域Y)lと称し、このヘッド領域Y、lは前
記Y軸投影値R1(ylの値が比較的小さい領域に存在
するので、今、閾値係数T!(0< 72 < TI 
< 1 )を用いて下式(2)によってヘッド領域Y、
を決定する。
P v (y)≧T z X P Vs    t++
 (21なお、閾値係数は、例えば0.3(P□の30
%)程度が好ましい。
■ ギャップウィンドウ領域15のX方向位置の決定手
順について、 入力画像のシェーディングの影響を避けるために、前記
ヘッド領域YN内のY方向長の120%を長さとして幅
を1画素分として、ヘッドと直交するウィンドウ16を
決定する。該ウィンドウ16内の各画素の最大値をCH
MAX、最小値をCHMINとして、下式(3)で決定
される閾値HTHOLDを用いて、Y方向領域内を2値
化する〔第3図(a)参照〕。
HTHOLD=(CHMAX−C)IMIN)XT、+
CHMIN   −(31なお、上式(3)でT、はQ
<73<1内の定数で0.8程度が好ましい。
2値化されたデータをX軸上に投影し、投影波形の最大
値と最小値の差に閾値係数74(例えば’r、−0,3
)を乗じたものを最小値に加えた値を閾として、X方向
のトラック長をLTとするトラック領域を決定する〔第
3図(b)参照〕。
このトラック長LTは後述するギャップ位置の探索時の
探索領域であるので、本例では、この探索処理の高速化
を図るために、X方向トラック領域に対して、さらにト
ランク領域の中央部分ニドラック長Ltの50%の長さ
を有するウィンドウ領域X7を設定している。
そして上述した■で求めたトラック領域Y7と、■で求
めたウィンドウ領域X、とによって決定される領域を前
記ギャップウィンドウ領域15としている。
■ ギャップ位置探索について、 ギャップ位置の探索にあたり、まずギャップウィンド’
y ’pM域1域内5内軸投影波形を求める。
これは、ギャップ撮像のコントラストが極めて低いため
に、これを増幅しかつノイズの影響を小さくするためで
ある。投影波形は、シェーディングの影響を受けて、例
えば第4図(b)に示す如く全体的に右上りの波形とな
る。そして、ギヤツブウィンドウ領域15内の投影波形
を微分して〔第4図(e)参照〕、シェーディングの影
響を避ける。該微分波形の最大値をPMAX (>O)
とし、最小値をNMIN (<0)として、PMAX、
PMINに閾値係数T、(例えばT。
=0.5)を乗じた値をTPMAX、TPMINとして
、微分波形の正値、負値それぞれに対して2値化処理を
施す〔第4図(d)、 (e)参照〕。第4図(d)は
正値のパターンD、を示し、第4図(Q)は負値のパタ
ーンD7を示している。これら正値、負値の各2値情報
のパターンのうち最も長いパターン16.17を各1個
ずつ選択し、これらパターン16.17の位置をギャッ
プ中央のX座標とする。このようにして求まったギャッ
プ位置のX座標の値は、前記信号ライン12から位置合
わせ装置(図示省略)に入力され、フェライトコア3の
位置調整が自動的に行われる。
なお、上述した実施例ではギャップウィンドウ領域15
を求めるのに■、■での手順で、X方向位置及びY方向
位置の双方について求めたが、■の手順を実行せずにC
RTllの視野内のトラック領域全域にわたって横長の
ウィンドウ18を設定し、該ウィンドウ18内の投影値
を求めて、ギャップ位置を求めることもできる(第5図
参照)。
(発明の効果) 以上述べたように、本発明によれば、ヘッド入力画像の
微小領域内で画素の濃淡レベルを投影して形成される投
影波形を微分処理および2値化処理して、ギャップ部分
を強調してギャップ位置を計測するのでギャップ位置を
正確に自動計測できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる磁気ヘッドのギャップ位置計測
方法に用いられる測定装置を示すブロック図、第2図(
a)はヘッド入力画像を示す画面図、第2図(′b)は
ヘッド領域およびトランク領域の決定する画面図、X軸
投影波形図、投影値の2値化処理図、第4図(a)、 
(b)、 (C)はギャップ探索手順を説明する画面図
、X軸投影波形図、正値の2値化波形図、負値の2値化
波形図、第5図はギャップウィンドウ領域の他の設定例
を示す画面図である。 3・・・フェライトコア   4・・・対物レンズ7・
・・撮像管       9・・・画像メモリlO・・
・画像演算処理装置 15・・・ギャップウィンドウ領域 YN・・・ヘッド領域    Y、・・・トラック領域
1g2 (b) 第3図 n域Xt 第5図 手 続 (甫 正 書(方式)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)磁気ヘッドのテープ摺動面側を撮影したヘッド入力
    画像において、テープ摺動方向に直交する座標軸上に各
    画素を投影して投影値を求め、これら投影値を一定の閾
    値で区分してトラック領域を求め、該トラック領域の全
    域若しくはギャップ部分を含む一部領域であるウィンド
    ウ領域内における前記テープ摺動方向の投影値を連続し
    た投影波形を一次微分して微分波形を求め、この微分波
    形の最大値と最小値に対して一定の閾値を求め、この閾
    値について微分値の正値及び負値に対して2値化処理を
    行って得られる2値情報系列の中で最も長く正値若しく
    は負値が連続する連続パターン相互の中央をギャップ位
    置となすことを特徴とする磁気ヘッドのギャップ位置計
    測方法。
JP17942186A 1986-07-30 1986-07-30 磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法 Pending JPS63139204A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17942186A JPS63139204A (ja) 1986-07-30 1986-07-30 磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17942186A JPS63139204A (ja) 1986-07-30 1986-07-30 磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63139204A true JPS63139204A (ja) 1988-06-11

Family

ID=16065572

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17942186A Pending JPS63139204A (ja) 1986-07-30 1986-07-30 磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63139204A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02264808A (ja) 3次元曲面形状の測定装置
JPH02143309A (ja) 操縦方法及び装置
JPH0355764B2 (ja)
CN113538399A (zh) 一种用于获取工件精准轮廓的方法、机床及存储介质
JPS63139204A (ja) 磁気ヘツドのギヤツプ位置計測方法
JPS63196358A (ja) 工作線追従方法
JP4401126B2 (ja) 寸法測定装置の所定部位登録方法
KR940003791B1 (ko) 폭측정장치
JP2594715B2 (ja) 自動焦点合わせ方法
JPH06118062A (ja) 非破壊検査用欠陥記録・再生方法
JPH0377533A (ja) 注視姿勢及び注視点絶対位置の計測装置
JPH01282405A (ja) 幅測定装置
CN114581507B (zh) 基于图像考种的种子尺寸标定方法、系统、装置及存储介质
JP3013254B2 (ja) 形状測定方法
RU2082084C1 (ru) Способ ориентирования видеокамер при измерении геометрических параметров крупногабаритных объектов
JPS6325871B2 (ja)
JPH0493703A (ja) 動作解析装置
JP3006838B2 (ja) レチクル検査装置
JPS62169004A (ja) Vtrシリンダ−ヘツドの概略位置測定装置
JP2600027B2 (ja) 画像位置合わせ方法およびその装置
JPS62222417A (ja) 磁気ヘツドギヤツプ位置検出方法
JPH03100424A (ja) 指示計自動読み取り装置
JPS6252242B2 (ja)
JP3853500B2 (ja) エッジ検出方法及び画像測定装置
JP2888368B2 (ja) 位置測定装置