JPS6312968A - プロ−ブ接続治具 - Google Patents
プロ−ブ接続治具Info
- Publication number
- JPS6312968A JPS6312968A JP61158223A JP15822386A JPS6312968A JP S6312968 A JPS6312968 A JP S6312968A JP 61158223 A JP61158223 A JP 61158223A JP 15822386 A JP15822386 A JP 15822386A JP S6312968 A JPS6312968 A JP S6312968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- lead
- measuring instrument
- vacuum pump
- suction force
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子回路搭載基板上の電気信号を観測したい電
子部品のリードとオッシロスコープ等の測定器のプロー
ブとを接続するための中継をするプローブ接続治具の構
造に関するものである。
子部品のリードとオッシロスコープ等の測定器のプロー
ブとを接続するための中継をするプローブ接続治具の構
造に関するものである。
従来、第３図の従来の測定方法を示す図の様に電子回路
搭載基板の半田面においては電子部品のリードが短いた
め、このリードの信号をオッシロスコープ等の測定器で
観測したい場合、測定器のプローブではリードをはさむ
ことができず、観測中はプローブを手で支えて接触させ
ることにより観測する方法しかなかった。
搭載基板の半田面においては電子部品のリードが短いた
め、このリードの信号をオッシロスコープ等の測定器で
観測したい場合、測定器のプローブではリードをはさむ
ことができず、観測中はプローブを手で支えて接触させ
ることにより観測する方法しかなかった。
第３図に示す従来例のオッシロスコープ等の測定器のブ
ロービング方法は、電子回路搭載基板１０に実装された
測定の対象の電子部品１１のり−ド１２が測定器のプロ
ーブ２０で掴むことができないほど極端に短いと、人の
手でプローブを支えながらプロービングしなければ観測
できず、又そのために一方の手が拘束されるので作業性
が非常に低下するという欠点があった。
ロービング方法は、電子回路搭載基板１０に実装された
測定の対象の電子部品１１のり−ド１２が測定器のプロ
ーブ２０で掴むことができないほど極端に短いと、人の
手でプローブを支えながらプロービングしなければ観測
できず、又そのために一方の手が拘束されるので作業性
が非常に低下するという欠点があった。
近年、電子回路搭載基板の高密度実装化及び大を化が進
められている現状から、この傾向は増々強くなってきて
いる。
められている現状から、この傾向は増々強くなってきて
いる。
本発明の目的は、上記欠点をなくし観測中入の手でプロ
ーブを支える必要がなく、作業性を高めることのできる
プローブ接続治具を提供することにある。
ーブを支える必要がなく、作業性を高めることのできる
プローブ接続治具を提供することにある。
本発明の構成は、電子回路搭載基板上の電気信号観測点
の電子部品のリードとオッシロスコープ専の測定、器の
プローブとを中継接続するプローブ凄続治具において、
少なくとも一本の接触型スプリング内蔵プローブと、こ
のプローブを保持するｔルダと、このホルダを固定し一
方の端にフレキシブルなブッシングが取り付けられ、他
方の端にｔ−ス取付部を有する筒型のフレームとを含む
ことを特徴とする。
の電子部品のリードとオッシロスコープ専の測定、器の
プローブとを中継接続するプローブ凄続治具において、
少なくとも一本の接触型スプリング内蔵プローブと、こ
のプローブを保持するｔルダと、このホルダを固定し一
方の端にフレキシブルなブッシングが取り付けられ、他
方の端にｔ−ス取付部を有する筒型のフレームとを含む
ことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図（ａ）は本発明による電子回路の電気信号観測用
プローブ接続治具の第１の実施例を示す平面図、側面図
、第１図（ｂ）及び第１図（Ｃ）は同じく別の形のプロ
ーブ接続治具の第２及び第３の実施例を示す平面図、側
面図であり、そ−れぞれ接触形スプリング内蔵プローブ
１と、プローブ１を保持するホルダー２と、ホルダー２
を固定し、一方の端を電子回路搭載基板に密着させ空気
漏れを少なくするためのフレキシブルなブッシング３が
取り付けられ、他方の端に真空ポンプ及びその制御弁と
接続するためのホース取付部５を有する筒型のフレーム
４から構成されている。
プローブ接続治具の第１の実施例を示す平面図、側面図
、第１図（ｂ）及び第１図（Ｃ）は同じく別の形のプロ
ーブ接続治具の第２及び第３の実施例を示す平面図、側
面図であり、そ−れぞれ接触形スプリング内蔵プローブ
１と、プローブ１を保持するホルダー２と、ホルダー２
を固定し、一方の端を電子回路搭載基板に密着させ空気
漏れを少なくするためのフレキシブルなブッシング３が
取り付けられ、他方の端に真空ポンプ及びその制御弁と
接続するためのホース取付部５を有する筒型のフレーム
４から構成されている。
第２図（ａ）及び（ｂ）は、第１図（ｃ）に示す本発明
の一実施例のプローブ接続治具の具体的な実施例の説明
図で、第２図（ａ＞が使用前を、第２図（ｂ）が使用状
態を各々示しており、接触型スプリング内蔵プローブ１
．ホルダー２．ブッシング３．筒型フレーム４．ホース
取付部５はそれぞれ第１図（ａ＞、（ｂ）、（ｃ）と同
じで、この他にホース６、真空ポンプ制御弁７．真空ポ
ンプ８．電子回路搭載基板１０．電子部品１１及びその
リード１２．測定器のプローブ２０が追加されている。
の一実施例のプローブ接続治具の具体的な実施例の説明
図で、第２図（ａ＞が使用前を、第２図（ｂ）が使用状
態を各々示しており、接触型スプリング内蔵プローブ１
．ホルダー２．ブッシング３．筒型フレーム４．ホース
取付部５はそれぞれ第１図（ａ＞、（ｂ）、（ｃ）と同
じで、この他にホース６、真空ポンプ制御弁７．真空ポ
ンプ８．電子回路搭載基板１０．電子部品１１及びその
リード１２．測定器のプローブ２０が追加されている。
第２図（ａ）及び（ｂ）において、本発明の一実施例の
第１図（ｃ）のプローブ接続治具の接触型スプリング内
蔵プローブ１の先端を観測対象の電子部品１１のリード
１２に接触させ（第２図（ａ））、続いて真空ポンプ制
御弁７を開き真空ポンプ８の吸引力をホース６を経由し
てプローブ接続治具の筒型フレーム４内に導くことによ
り、ブッシング３を電子回路搭載基板１０上に吸着させ
、電子部品１１のリード１２と測定器のプローブ２０と
の接続を可能にする（第２図（ｂ））。
第１図（ｃ）のプローブ接続治具の接触型スプリング内
蔵プローブ１の先端を観測対象の電子部品１１のリード
１２に接触させ（第２図（ａ））、続いて真空ポンプ制
御弁７を開き真空ポンプ８の吸引力をホース６を経由し
てプローブ接続治具の筒型フレーム４内に導くことによ
り、ブッシング３を電子回路搭載基板１０上に吸着させ
、電子部品１１のリード１２と測定器のプローブ２０と
の接続を可能にする（第２図（ｂ））。
このように本発明のプローブ接続治具は、真空ポンプの
吸引力を利用することにより、電子部品のリードとオッ
シロスコープ等の測定器のプローブを接続できるように
するための中継の役割を果し、従来観測中ずっと必要で
あったブロービング時の人手を不要にでき、作業能率を
大幅に改善できるプローブ接続治具である。
吸引力を利用することにより、電子部品のリードとオッ
シロスコープ等の測定器のプローブを接続できるように
するための中継の役割を果し、従来観測中ずっと必要で
あったブロービング時の人手を不要にでき、作業能率を
大幅に改善できるプローブ接続治具である。
尚、以上の説明では、プローブ接続治具の接触型スプリ
ング内蔵プローブが一本の場合についてのみしか言及し
なかったが、複数の接触型スプリング内蔵プローブを設
けた場合も同様に実現できることは言うまでもない。又
、プローブ接続治具の筒型フレームの形状も円筒を基本
にしたもののみ示したが別の形の物、例えば角筒状のも
の或は多連続でも同様に実現でき、更にその材質も透明
又は半透明なものを用いれば尚一層使い易いプローブ接
続治具を実現できる。
ング内蔵プローブが一本の場合についてのみしか言及し
なかったが、複数の接触型スプリング内蔵プローブを設
けた場合も同様に実現できることは言うまでもない。又
、プローブ接続治具の筒型フレームの形状も円筒を基本
にしたもののみ示したが別の形の物、例えば角筒状のも
の或は多連続でも同様に実現でき、更にその材質も透明
又は半透明なものを用いれば尚一層使い易いプローブ接
続治具を実現できる。
以上説明したように本発明は、電子部品の電気信号観測
点のリードと測定器のプローブとを接続することができ
るように中継の役割をする真空ポンプの吸引力を利用し
たプローブ接続治具を作ることにより、従来観測中必要
であったブロービング時の人手が不要になり、作業能率
を大幅に向上できる効果がある。
点のリードと測定器のプローブとを接続することができ
るように中継の役割をする真空ポンプの吸引力を利用し
たプローブ接続治具を作ることにより、従来観測中必要
であったブロービング時の人手が不要になり、作業能率
を大幅に向上できる効果がある。
第１図（ａ）、第１図（ｂ）及び第１図（ｃ）は、本発
明による電子回路の電気信号観測用プロ−ブ接続治具の
第１〜第３の実施例の平面図、側面図、第２図（ａ＞及
び第２図（ｂ）は本発明の第１の実施例の具体的な使用
方法を示す説明図、第３図は従来例の測定器のプローブ
の使用方法を示す説明図である。
明による電子回路の電気信号観測用プロ−ブ接続治具の
第１〜第３の実施例の平面図、側面図、第２図（ａ＞及
び第２図（ｂ）は本発明の第１の実施例の具体的な使用
方法を示す説明図、第３図は従来例の測定器のプローブ
の使用方法を示す説明図である。
Claims (1)
- 電子回路搭載基板上の電気信号観測点の電子部品のリー
ドとオッシロスコープ等の測定器のプローブとを中継接
続するプローブ接続治具において、少なくとも一本の接
触型スプリング内蔵プローブと、このプローブを保持す
るホルダと、このホルダを固定し一方の端にフレキシブ
ルなブッシングが取り付けられ、他方の端にホース取付
部を有する筒型のフレームとを含むことを特徴とするプ
ローブ接続治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61158223A JPS6312968A (ja) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | プロ−ブ接続治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61158223A JPS6312968A (ja) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | プロ−ブ接続治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6312968A true JPS6312968A (ja) | 1988-01-20 |
Family
ID=15666973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61158223A Pending JPS6312968A (ja) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | プロ−ブ接続治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6312968A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005111631A1 (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-24 | Kulicke And Soffa Investments, Inc. | Probe attach tool |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6053070B2 (ja) * | 1983-03-10 | 1985-11-22 | 東洋電化工業株式会社 | 易分散性顔料の製法 |
-
1986
- 1986-07-04 JP JP61158223A patent/JPS6312968A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6053070B2 (ja) * | 1983-03-10 | 1985-11-22 | 東洋電化工業株式会社 | 易分散性顔料の製法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005111631A1 (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-24 | Kulicke And Soffa Investments, Inc. | Probe attach tool |
| US7311239B2 (en) | 2004-05-04 | 2007-12-25 | Sv Probe Pte Ltd. | Probe attach tool |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1324055A3 (en) | A multi-channel, low input capacitance signal probe and probe head | |
| KR950033507A (ko) | Ic 측정시험장치 및 이것을 사용한 ic 측정시험방법 | |
| JPS6312968A (ja) | プロ−ブ接続治具 | |
| JPS60259971A (ja) | 印刷回路基板の検査方法 | |
| JPH0599951A (ja) | 密着型プローブ | |
| JPH0485172U (ja) | ||
| JPH04102473U (ja) | 測定用接触子 | |
| JPH0445971U (ja) | ||
| JPH1038945A (ja) | 回路素子用試験用具 | |
| JP2002005956A (ja) | テスタープローブ | |
| JPH031822Y2 (ja) | ||
| JPH0530142Y2 (ja) | ||
| JPH0798331A (ja) | フラットパッケージｌｓｉ用プローブカバー | |
| JPS6336702Y2 (ja) | ||
| JPH0128466Y2 (ja) | ||
| JPS63169038A (ja) | プロ−ブカ−ド | |
| JPH0239329A (ja) | プログラム開発支援装置における先端接続装置 | |
| JPH03109180U (ja) | ||
| JPH04136584U (ja) | インサーキツトテスタ用フイクスチヤ | |
| JPS5849272U (ja) | チツプ状試料装着ヘツド | |
| JPH03110371U (ja) | ||
| JPS6265352A (ja) | 電子装置 | |
| JPH04111328A (ja) | 集積回路装置 | |
| JPH05119114A (ja) | Ｌｓｉソケツト | |
| JP2000137058A (ja) | 光源付きｌｓｉテスター |