JPH1038945A - 回路素子用試験用具 - Google Patents
回路素子用試験用具Info
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- JPH1038945A JPH1038945A JP8197201A JP19720196A JPH1038945A JP H1038945 A JPH1038945 A JP H1038945A JP 8197201 A JP8197201 A JP 8197201A JP 19720196 A JP19720196 A JP 19720196A JP H1038945 A JPH1038945 A JP H1038945A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
- G01R31/2824—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits testing of oscillators or resonators
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】従来技術では、供試振動子とプリント回路基板
を一緒に試験用具に取り付けていたため、供試振動子の
交換等の操作が煩雑であった。操作性を低コストで改善
する事が本件のねらいである。 【解決手段】試験用具本体２０に、供試振動子を接続す
る測定端子とは別に、負荷容量１１を搭載したプリント
回路基板を接続する接点２１を設ける。プリント回路基
板１０に、負荷容量の接続接点１２と直結回路の接続接
点１３を設ける。プリント回路基板の裏表を変えて、試
験用具本体２０に装着して、負荷容量を接続状態にする
か、直結状態にするかを切り換える。
を一緒に試験用具に取り付けていたため、供試振動子の
交換等の操作が煩雑であった。操作性を低コストで改善
する事が本件のねらいである。 【解決手段】試験用具本体２０に、供試振動子を接続す
る測定端子とは別に、負荷容量１１を搭載したプリント
回路基板を接続する接点２１を設ける。プリント回路基
板１０に、負荷容量の接続接点１２と直結回路の接続接
点１３を設ける。プリント回路基板の裏表を変えて、試
験用具本体２０に装着して、負荷容量を接続状態にする
か、直結状態にするかを切り換える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は水晶振動子等の回路素子
の特性を測定する試験用具に関する。
の特性を測定する試験用具に関する。
【０００２】
【従来の技術】水晶振動子の測定方法は、ＪＩＳ Ｃ ６
７０１水晶振動子に規程されている。この規程を適用し
た回路構成を図４に示す。供試振動子３１は、試験用具
本体２０の測定端子２６に接続され、試験用具２０内の
π回路２４及び２５を介して測定装置本体３０に接続さ
れる。測定装置本体３０には、インピーダンス測定器あ
るいはネットワークアナライザが一般に用いられてい
る。
７０１水晶振動子に規程されている。この規程を適用し
た回路構成を図４に示す。供試振動子３１は、試験用具
本体２０の測定端子２６に接続され、試験用具２０内の
π回路２４及び２５を介して測定装置本体３０に接続さ
れる。測定装置本体３０には、インピーダンス測定器あ
るいはネットワークアナライザが一般に用いられてい
る。
【０００３】図４に示した構成において、供試振動子３
１に負荷容量を直列に接続して特性の測定をする場合
は、試験用具本体２０と供試振動子３１の間に、負荷容
量１１を搭載したプリント回路基板４０を挿入する方法
が用いられている。この方法の回路構成を図５に、実体
図の概要を図６に示した。
１に負荷容量を直列に接続して特性の測定をする場合
は、試験用具本体２０と供試振動子３１の間に、負荷容
量１１を搭載したプリント回路基板４０を挿入する方法
が用いられている。この方法の回路構成を図５に、実体
図の概要を図６に示した。
【０００４】図６では、本発明に関係のない構造の細部
を省略している。詳細はＪＩＳ Ｃ６７０１水晶振動子
の附属書２図３を参照のこと。図６の、コネクタ２７は
測定装置本体３０への接続のためのコネクタである。抑
え板２８は、ばね（図示していない）の力で、供試振動
子３１の端子３２をコネクタ２７の向きに抑える作用を
する。図６では、供試振動子３１及びプリント回路基板
４０を抑えている例を示している。プリント回路基板４
０は、負荷容量１１を搭載している。またプリント回路
基板４０は、供試振動子３１の端子３２との接触接続の
ために、プリントコンタクト４１を備えている。さらに
試験用具本体２０とプリント回路基板４０の接続のため
のプリントコンタクトをプリント回路基板の裏側（図６
では見えない面）に備えている。
を省略している。詳細はＪＩＳ Ｃ６７０１水晶振動子
の附属書２図３を参照のこと。図６の、コネクタ２７は
測定装置本体３０への接続のためのコネクタである。抑
え板２８は、ばね（図示していない）の力で、供試振動
子３１の端子３２をコネクタ２７の向きに抑える作用を
する。図６では、供試振動子３１及びプリント回路基板
４０を抑えている例を示している。プリント回路基板４
０は、負荷容量１１を搭載している。またプリント回路
基板４０は、供試振動子３１の端子３２との接触接続の
ために、プリントコンタクト４１を備えている。さらに
試験用具本体２０とプリント回路基板４０の接続のため
のプリントコンタクトをプリント回路基板の裏側（図６
では見えない面）に備えている。
【０００５】図６のように、従来技術では供試振動子３
１とプリント回路基板４０を抑え板２８で抑える構成で
ある。この方法では、供試振動子３１を取り換える毎に
プリント回路基板４０と供試振動子３１を一緒に抑える
操作が必要である。また負荷容量が不要な測定項目で
は、プリント回路基板４０を取り外し、供試振動子３１
を試験用具本体２０に直接付け直す操作も必要である。
このように従来技術では、供試振動子３１及びプリント
回路基板４０の取り付け操作が煩雑で、作業工数がかか
った。
１とプリント回路基板４０を抑え板２８で抑える構成で
ある。この方法では、供試振動子３１を取り換える毎に
プリント回路基板４０と供試振動子３１を一緒に抑える
操作が必要である。また負荷容量が不要な測定項目で
は、プリント回路基板４０を取り外し、供試振動子３１
を試験用具本体２０に直接付け直す操作も必要である。
このように従来技術では、供試振動子３１及びプリント
回路基板４０の取り付け操作が煩雑で、作業工数がかか
った。
【０００６】また測定回路に負荷容量を挿入するか、直
結かを切り換える方法に、負荷容量の両端をスイッチで
開放または短絡する方法がある。ＪＩＳ Ｃ ６７０１水
晶振動子の附属書３図１参照のこと。この方法は、切換
そのものは簡単だが、スイッチの物理的な大きさで試験
用具本体の大きさが左右される欠点がある。またスイッ
チのコストも無視できない。
結かを切り換える方法に、負荷容量の両端をスイッチで
開放または短絡する方法がある。ＪＩＳ Ｃ ６７０１水
晶振動子の附属書３図１参照のこと。この方法は、切換
そのものは簡単だが、スイッチの物理的な大きさで試験
用具本体の大きさが左右される欠点がある。またスイッ
チのコストも無視できない。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】供試振動子とプリント
回路基板の取り付け、取り外しの煩雑な操作を低コスト
で改善する事が本件のねらいである。
回路基板の取り付け、取り外しの煩雑な操作を低コスト
で改善する事が本件のねらいである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】試験用具本体には、供試
振動子を接続する測定端子とプリント回路基板を接続す
る接点を別々に設ける。プリント回路基板に、負荷容量
の接続接点と直結回路の接続接点を設ける。プリント回
路基板の裏表、方向あるいは向きを変えて、試験用具本
体に装着し、負荷容量を挿入状態にするか、直結状態に
するかを切り換える。
振動子を接続する測定端子とプリント回路基板を接続す
る接点を別々に設ける。プリント回路基板に、負荷容量
の接続接点と直結回路の接続接点を設ける。プリント回
路基板の裏表、方向あるいは向きを変えて、試験用具本
体に装着し、負荷容量を挿入状態にするか、直結状態に
するかを切り換える。
【０００９】
【実施例】図２に本発明の実施例の第１の回路構成を示
す。従来技術の図４と同じ機能の構成要素には同じ参照
記号を付してある。試験用具本体２０には、供試振動子
３１が接続される測定端子２６とは別にプリント回路基
板１０との接続用の接点２１を設けている。プリント回
路基板１０には、負荷容量１１に接続する接点１２及び
直結のための接点１３が設けられている。
す。従来技術の図４と同じ機能の構成要素には同じ参照
記号を付してある。試験用具本体２０には、供試振動子
３１が接続される測定端子２６とは別にプリント回路基
板１０との接続用の接点２１を設けている。プリント回
路基板１０には、負荷容量１１に接続する接点１２及び
直結のための接点１３が設けられている。
【００１０】図２は負荷容量１１が測定回路に挿入され
ている状態を示している。負荷容量１１を挿入しない直
結状態にするには、接点１３が接点２１に接続するよう
に、プリント回路基板１０の表裏、方向または／及び向
きを変えて試験用具本体に装着する。図２は、プリント
回路基板１０の表裏を反転して、切り換えることを模式
的に示している。この構造の概要を図１に示す。
ている状態を示している。負荷容量１１を挿入しない直
結状態にするには、接点１３が接点２１に接続するよう
に、プリント回路基板１０の表裏、方向または／及び向
きを変えて試験用具本体に装着する。図２は、プリント
回路基板１０の表裏を反転して、切り換えることを模式
的に示している。この構造の概要を図１に示す。
【００１１】図１において、プリント回路基板１０のエ
ッジ面１４には、２つの接点１２及び接点１３が設けら
れている。接点１２には負荷容量１１が導体パターンで
接続されている。接点２１は、スリーブ２２に対して軸
方向に弾性を有するように保持されている。接点２１と
スリーブ２２は一体になって、pogo-pinと称して市販さ
れている。該スリーブ２２を試験用具本体２０に固定し
ている（固定方法は図示していない）。またガイド２３
は、プリント回路基板１０を、試験用具本体に装着する
ときのガイドで、プリント回路基板の挿入方向に対して
垂直な方向の位置ずれを防ぎ、また装着状態での抜けを
防止するための手段が施されている。ガイドの構造は、
本発明の本質と関係がないので、図示していない。
ッジ面１４には、２つの接点１２及び接点１３が設けら
れている。接点１２には負荷容量１１が導体パターンで
接続されている。接点２１は、スリーブ２２に対して軸
方向に弾性を有するように保持されている。接点２１と
スリーブ２２は一体になって、pogo-pinと称して市販さ
れている。該スリーブ２２を試験用具本体２０に固定し
ている（固定方法は図示していない）。またガイド２３
は、プリント回路基板１０を、試験用具本体に装着する
ときのガイドで、プリント回路基板の挿入方向に対して
垂直な方向の位置ずれを防ぎ、また装着状態での抜けを
防止するための手段が施されている。ガイドの構造は、
本発明の本質と関係がないので、図示していない。
【００１２】図１において、該プリント回路基板１０を
ガイド２３に沿って挿入すると接点２１と接点１２が接
触して、負荷容量１１が接続状態になる。プリント回路
基板１０を裏返して挿入すると、接点２１と接点１３が
接触し、２つの接点２１間は短絡状態になる。２つの接
点１２の中心と接点１３の中心を、プリント回路基板の
挿入の中心軸に対して線対称の位置にすれば、プリント
回路基板を裏返して接点１２か接点２１かを切り換える
ことが可能になる。このように、プリント回路基板を裏
返して挿入することにより、負荷容量を接続状態にした
り、直結状態にすることが出来る。
ガイド２３に沿って挿入すると接点２１と接点１２が接
触して、負荷容量１１が接続状態になる。プリント回路
基板１０を裏返して挿入すると、接点２１と接点１３が
接触し、２つの接点２１間は短絡状態になる。２つの接
点１２の中心と接点１３の中心を、プリント回路基板の
挿入の中心軸に対して線対称の位置にすれば、プリント
回路基板を裏返して接点１２か接点２１かを切り換える
ことが可能になる。このように、プリント回路基板を裏
返して挿入することにより、負荷容量を接続状態にした
り、直結状態にすることが出来る。
【００１３】図１の実施例では、プリント回路基板の接
点を、プリント回路基板の導体パターンで形成する例を
示したが、導体パターンでない接点片を取り付けてもよ
い。また接点１３を２つに分けて、接点間を導体パター
ンで接続してもよい。また、プリント回路基板のエッジ
面１４で接触する例を示したが、パターン面で接触する
方式でもよい。
点を、プリント回路基板の導体パターンで形成する例を
示したが、導体パターンでない接点片を取り付けてもよ
い。また接点１３を２つに分けて、接点間を導体パター
ンで接続してもよい。また、プリント回路基板のエッジ
面１４で接触する例を示したが、パターン面で接触する
方式でもよい。
【００１４】さらに、接点１２と１３を搭載するエッジ
を変えて、プリント回路基板の挿入方向あるいは向きを
変える方法でも、本発明を実施出来ることは明かであ
る。しかし図１で示した同一エッジに接点を搭載する方
法が最適である。これは、挿抜操作において、手の触れ
るエッジが一定であるからである。
を変えて、プリント回路基板の挿入方向あるいは向きを
変える方法でも、本発明を実施出来ることは明かであ
る。しかし図１で示した同一エッジに接点を搭載する方
法が最適である。これは、挿抜操作において、手の触れ
るエッジが一定であるからである。
【００１５】図３に本発明の実施例の第２の回路構成を
示す。図３は、表面実装タイプの振動子の測定のため
に、負荷容量を供試振動子３１の端子の両側に挿入する
例である。２つのプリント回路基板が試験用具本体に装
着できるようにしたものである。 以上に本発明の実施
例を示したが、例示の様式、配置、その他に限定するも
のでなく、必要に応じて本発明の要旨を失うことなく構
成の変化も許容される。
示す。図３は、表面実装タイプの振動子の測定のため
に、負荷容量を供試振動子３１の端子の両側に挿入する
例である。２つのプリント回路基板が試験用具本体に装
着できるようにしたものである。 以上に本発明の実施
例を示したが、例示の様式、配置、その他に限定するも
のでなく、必要に応じて本発明の要旨を失うことなく構
成の変化も許容される。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、負荷容量を接続するか
直結状態にするかの切換が容易であり、また供試振動子
の交換も負荷容量と独立に出来るので操作性が改善され
た。また、負荷容量の挿入と直結の切換に、スイッチを
用いる方法に比べ小型、低コストで実現でき、実用に供
し有益である。
直結状態にするかの切換が容易であり、また供試振動子
の交換も負荷容量と独立に出来るので操作性が改善され
た。また、負荷容量の挿入と直結の切換に、スイッチを
用いる方法に比べ小型、低コストで実現でき、実用に供
し有益である。
【図１】本発明の実施例の構造を示す図である。
【図２】本発明の実施例の第１の回路構成を示す図であ
る。
る。
【図３】本発明の実施例の第２の回路構成を示す図であ
る。
る。
【図４】従来技術の回路構成の例を示す図である。
【図５】従来技術の回路構成の例を示す図である。
【図６】従来技術の試験用具の例を示す図である。
１０：プリント回路基板 １１：負荷容量 １２：接点 １３：接点 １４：エッジ面 ２０：試験用具本体 ２１：接点 ２２：スリーブ ２３：ガイド ２４：π回路 ２５：π回路 ２６：測定端子 ２７：コネクタ ２８：抑え板 ３０：測定装置本体 ３１：供試振動子 ３２：供試振動子の端子 ４０：プリント回路基板 ４１：プリンコンタクト
Claims (6)
- 【請求項１】被試験回路素子を接続するための回路素子
接続部と、 前記回路素子に接続される回路を備えた回路基板を接続
するための回路基板接続部と、 を備えて成り、前記回路素子を測定するための測定系に
対し、前記回路素子の脱着と前記回路基板の脱着とが互
いに独立して行えることを特徴とする回路素子用試験用
具。 - 【請求項２】前記回路基板には複数の独立の回路が備え
られ、該回路基板の向きを変えて前記試験用具に装着す
ることにより、前記被試験回路素子に接続する前記独立
回路を変更することを特徴とする請求項１記載の試験用
具。 - 【請求項３】前記被試験回路素子が、水晶振動子であ
り、前記独立回路がそれぞれ負荷容量回路および直結回
路であることを特徴とする請求項２記載の試験用具。 - 【請求項４】前記回路基板が表裏を逆にして前記試験用
具に装着されることを特徴とする請求項１、２、または
３記載の試験用具。 - 【請求項５】前記回路基板を前記試験用具本体に装着す
る方向の、前記回路基板の中心線に対して、前記複数の
独立回路を前記試験用具本体に接続するそれぞれの接点
が、互いに線対称の位置に配置されていることを特徴と
する請求項１、２、３、または４記載の試験用具。 - 【請求項６】前記回路基板表面の中心点に対して、前記
複数の独立回路を前記試験用具本体に接続するそれぞれ
の接点が、互いに点対称の位置に配置されていることを
特徴とする請求項１、２、３、または４記載の試験用
具。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8197201A JPH1038945A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 回路素子用試験用具 |
| US08/891,565 US5966015A (en) | 1996-07-26 | 1997-07-11 | Test fixture for circuit component |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8197201A JPH1038945A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 回路素子用試験用具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1038945A true JPH1038945A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16370505
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8197201A Pending JPH1038945A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 回路素子用試験用具 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5966015A (ja) |
| JP (1) | JPH1038945A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20040006636A1 (en) * | 2002-04-19 | 2004-01-08 | Oesterreicher Richard T. | Optimized digital media delivery engine |
| US7818444B2 (en) | 2004-04-30 | 2010-10-19 | Move Networks, Inc. | Apparatus, system, and method for multi-bitrate content streaming |
| CN109490586A (zh) * | 2018-11-01 | 2019-03-19 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具及测试方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3609547A (en) * | 1970-03-27 | 1971-09-28 | Eugene A Slusser | Integrated circuit test system |
| US3763430A (en) * | 1972-01-14 | 1973-10-02 | Burroughs Corp | Circuit testing method and apparatus |
| US4145620A (en) * | 1977-10-05 | 1979-03-20 | Serel Corporation | Modular dynamic burn-in apparatus |
| US4447782A (en) * | 1982-03-17 | 1984-05-08 | Transat Corp. | Apparatus for automatic measurement of equivalent circuit parameters of piezoelectric resonators |
| US4567432A (en) * | 1983-06-09 | 1986-01-28 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus for testing integrated circuits |
| US4782289A (en) * | 1986-05-30 | 1988-11-01 | Hilevel Technology, Inc. | Positioning fixture for integrated circuit chip testing board |
-
1996
- 1996-07-26 JP JP8197201A patent/JPH1038945A/ja active Pending
-
1997
- 1997-07-11 US US08/891,565 patent/US5966015A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5966015A (en) | 1999-10-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20040217 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060921 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070308 |