JPH05119114A - Ｌｓｉソケツト - Google Patents
ＬｓｉソケツトInfo
- Publication number
- JPH05119114A JPH05119114A JP3305664A JP30566491A JPH05119114A JP H05119114 A JPH05119114 A JP H05119114A JP 3305664 A JP3305664 A JP 3305664A JP 30566491 A JP30566491 A JP 30566491A JP H05119114 A JPH05119114 A JP H05119114A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lsi
- terminal
- socket
- base
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＬＳＩが実装された装置の評価作業を容易に
かつ確実に行う。 【構成】 ＬＳＩソケット１１には、基台１２の上面に
ＬＳＩの端子ピンが挿入される挿入孔１３設けられ、下
面にカード挿入ピン１４が植設されている。挿入孔１３
と一対一に対応するカード挿入ピン１４とは、基台１２
中の図示しない中継部によって電気的に接続されてい
る。そして、基台１２の側面には測定端子孔１６が設け
られ、測定端子孔１６は中継部から電気的に分岐してい
る。したがって、測定端子孔１６は、対応する挿入孔１
３とカード挿入ピン１４と一対一に対応して電気的に接
続されている。
かつ確実に行う。 【構成】 ＬＳＩソケット１１には、基台１２の上面に
ＬＳＩの端子ピンが挿入される挿入孔１３設けられ、下
面にカード挿入ピン１４が植設されている。挿入孔１３
と一対一に対応するカード挿入ピン１４とは、基台１２
中の図示しない中継部によって電気的に接続されてい
る。そして、基台１２の側面には測定端子孔１６が設け
られ、測定端子孔１６は中継部から電気的に分岐してい
る。したがって、測定端子孔１６は、対応する挿入孔１
３とカード挿入ピン１４と一対一に対応して電気的に接
続されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＳＩソケットに関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術】従来この種のＬＳＩソケットは、基盤か
らＬＳＩを交換する必要があるときに使用していた。
らＬＳＩを交換する必要があるときに使用していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来のＬＳＩソケット
は、単にＬＳＩの交換に使用されるだけであり、ＬＳＩ
が実装された装置の評価を行うために、波形を観測する
場合には、例えばＰＧＡ型（ピングリッドアレイ型）の
ＬＳＩの場合には、基盤の裏側から測定しなければなら
なく、このためピン番号の照合作業が煩雑となる欠点が
ある。また、表面実装型のＱＦＰ型（クォードフラット
パッケージ型）のＬＳＩの場合には、リードのピッチ間
隔が細かくて測定できないため、基盤にプローブ用の端
子を設けておかねばならないといった欠点がある。本発
明は上記した従来の欠点に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、ＬＳＩが実装された装置の評
価作業が容易でかつ確実に行うことができるＬＳＩソケ
ットを提供することにある。
は、単にＬＳＩの交換に使用されるだけであり、ＬＳＩ
が実装された装置の評価を行うために、波形を観測する
場合には、例えばＰＧＡ型（ピングリッドアレイ型）の
ＬＳＩの場合には、基盤の裏側から測定しなければなら
なく、このためピン番号の照合作業が煩雑となる欠点が
ある。また、表面実装型のＱＦＰ型（クォードフラット
パッケージ型）のＬＳＩの場合には、リードのピッチ間
隔が細かくて測定できないため、基盤にプローブ用の端
子を設けておかねばならないといった欠点がある。本発
明は上記した従来の欠点に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、ＬＳＩが実装された装置の評
価作業が容易でかつ確実に行うことができるＬＳＩソケ
ットを提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係るＬＳＩソケットは、ＬＳＩの端子が接
続されるＬＳＩ端子接続部と、基盤に取り付ける基盤取
付部と、この基盤取付部と前記ＬＳＩ端子接続部とを電
気的に接続する中継部と、この中継部から分岐した測定
端子部とを備えたものである。また、本発明に係るＬＳ
Ｉソケットは、各測定端子部に対応するＬＳＩのピン番
号を表示するＬＳＩピン番号表示部を設けたものであ
る。
に、本発明に係るＬＳＩソケットは、ＬＳＩの端子が接
続されるＬＳＩ端子接続部と、基盤に取り付ける基盤取
付部と、この基盤取付部と前記ＬＳＩ端子接続部とを電
気的に接続する中継部と、この中継部から分岐した測定
端子部とを備えたものである。また、本発明に係るＬＳ
Ｉソケットは、各測定端子部に対応するＬＳＩのピン番
号を表示するＬＳＩピン番号表示部を設けたものであ
る。
【０００５】
【作用】ＬＳＩが実装された装置の評価時にあたって、
ＬＳＩソケットの測定端子部が利用される。
ＬＳＩソケットの測定端子部が利用される。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図に基づいて説明す
る。図１は本発明に係るＬＳＩソケットの構成図であ
る。同図において、本発明に係るＬＳＩソケット１は、
ＬＳＩの端子が装着接続されるＬＳＩ端子接続部３と、
基盤であるカードにＬＳＩソケット１を接続するための
カード取付部４と、このカード取付部４と前記ＬＳＩ端
子接続部３と電気的に接続する中継部５と、この中継部
５から分岐してＬＳＩの波形を観測するための測定端子
部６とからなる。
る。図１は本発明に係るＬＳＩソケットの構成図であ
る。同図において、本発明に係るＬＳＩソケット１は、
ＬＳＩの端子が装着接続されるＬＳＩ端子接続部３と、
基盤であるカードにＬＳＩソケット１を接続するための
カード取付部４と、このカード取付部４と前記ＬＳＩ端
子接続部３と電気的に接続する中継部５と、この中継部
５から分岐してＬＳＩの波形を観測するための測定端子
部６とからなる。
【０００７】図２は、図１の構成に基づいた本発明に係
るＬＳＩソケットの一実施例を示す図で、（ａ）は全体
斜視図、（ｂ）は同じく側面図である。同図に示したＬ
ＳＩソケット１１は、ＰＧＡ型のＬＳＩを装着するもの
で、ＬＳＩソケット１１には、平板上の基台１２の上面
にＬＳＩの端子ピンが挿入される挿入孔１３と、側面に
測定端子孔１６がそれぞれ設けられ、下面にカード挿入
ピン１４が植設されている。挿入孔１３と一対一に対応
するカード挿入ピン１４とは、基台１２中の図示しない
中継部によって電気的に接続されている。また、測定端
子孔１６は中継部から電気的に分岐しており、したがっ
て、対応する挿入孔１３とカード挿入ピン１４と一対一
に対応して電気的に接続されている。
るＬＳＩソケットの一実施例を示す図で、（ａ）は全体
斜視図、（ｂ）は同じく側面図である。同図に示したＬ
ＳＩソケット１１は、ＰＧＡ型のＬＳＩを装着するもの
で、ＬＳＩソケット１１には、平板上の基台１２の上面
にＬＳＩの端子ピンが挿入される挿入孔１３と、側面に
測定端子孔１６がそれぞれ設けられ、下面にカード挿入
ピン１４が植設されている。挿入孔１３と一対一に対応
するカード挿入ピン１４とは、基台１２中の図示しない
中継部によって電気的に接続されている。また、測定端
子孔１６は中継部から電気的に分岐しており、したがっ
て、対応する挿入孔１３とカード挿入ピン１４と一対一
に対応して電気的に接続されている。
【０００８】このような構成において、装置の評価時に
ＬＳＩの波形を観測する場合には、ＬＳＩソケット１１
のカード挿入ピン１４をカードの所定孔に挿入して取付
け、ＬＳＩソケット１１の挿入孔１３にＬＳＩの端子ピ
ンを挿入して取付ける。このままの状態で、検査するＬ
ＳＩの端子ピンに対応した測定端子１６を介してＬＳＩ
の波形を観測する。このようにＬＳＩソケット自体に測
定端子１６を設けているので、従来のようにカードの裏
側での面倒な評価作業は除去され、評価作業は容易に行
うことができる。
ＬＳＩの波形を観測する場合には、ＬＳＩソケット１１
のカード挿入ピン１４をカードの所定孔に挿入して取付
け、ＬＳＩソケット１１の挿入孔１３にＬＳＩの端子ピ
ンを挿入して取付ける。このままの状態で、検査するＬ
ＳＩの端子ピンに対応した測定端子１６を介してＬＳＩ
の波形を観測する。このようにＬＳＩソケット自体に測
定端子１６を設けているので、従来のようにカードの裏
側での面倒な評価作業は除去され、評価作業は容易に行
うことができる。
【０００９】図３は、図１の構成に基づいた本発明に係
るＬＳＩソケットの第２の実施例を示す全体斜視図であ
る。同図におけるＬＳＩソケット２１は、表面実装型の
ＱＦＰ型のＬＳＩを装着する型のソケットで、基台２２
の上面には、ＬＳＩの端子板と接続する矩形板状の端子
部２３が設けられており、ＬＳＩを固定するための固定
用蓋２７が設けられている。このような構成のＬＳＩソ
ケット２１においては、基台２２の端子部２３にＬＳＩ
の端子板を装着し、しかるのち固定用蓋２７でＬＳＩを
基台２２に固定し、カード挿入ピン２４をカードの挿入
孔に挿入して取り付ける。この場合も測定端子２６を用
いて評価作業を行えるように構成されており、従来のよ
うにカードにプローブ用の端子を設けておく必要はなく
なる。
るＬＳＩソケットの第２の実施例を示す全体斜視図であ
る。同図におけるＬＳＩソケット２１は、表面実装型の
ＱＦＰ型のＬＳＩを装着する型のソケットで、基台２２
の上面には、ＬＳＩの端子板と接続する矩形板状の端子
部２３が設けられており、ＬＳＩを固定するための固定
用蓋２７が設けられている。このような構成のＬＳＩソ
ケット２１においては、基台２２の端子部２３にＬＳＩ
の端子板を装着し、しかるのち固定用蓋２７でＬＳＩを
基台２２に固定し、カード挿入ピン２４をカードの挿入
孔に挿入して取り付ける。この場合も測定端子２６を用
いて評価作業を行えるように構成されており、従来のよ
うにカードにプローブ用の端子を設けておく必要はなく
なる。
【００１０】図４は本発明に係るＬＳＩソケットの第３
の実施例を示す構成図である。この第３の実施例は、前
述した第１の実施例にＬＳＩのピン端子番号に対応して
測定端子部６にＬＳＩピン番号表示部８を設けた点に特
徴を有している。
の実施例を示す構成図である。この第３の実施例は、前
述した第１の実施例にＬＳＩのピン端子番号に対応して
測定端子部６にＬＳＩピン番号表示部８を設けた点に特
徴を有している。
【００１１】図５は、図４の構成に基づいた本発明の第
３の実施例を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図で
ある。同図において、ＬＳＩソケット３１のＬＳＩのピ
ン端子が挿入される基台１２の上面は、４つの領域Ａ、
Ｂ、ＣおよびＤに分割され、それぞれの挿入孔１３に
は、ＬＳＩの挿入されるピン端子のピン端子番号に対応
した第１の番号群３８が付されている。一方、基台１２
の側面に設けられた測定端子孔１６には、ＬＳＩのピン
端子のピン端子番号に対応した第２の番号群３９が付さ
れている。
３の実施例を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図で
ある。同図において、ＬＳＩソケット３１のＬＳＩのピ
ン端子が挿入される基台１２の上面は、４つの領域Ａ、
Ｂ、ＣおよびＤに分割され、それぞれの挿入孔１３に
は、ＬＳＩの挿入されるピン端子のピン端子番号に対応
した第１の番号群３８が付されている。一方、基台１２
の側面に設けられた測定端子孔１６には、ＬＳＩのピン
端子のピン端子番号に対応した第２の番号群３９が付さ
れている。
【００１２】基台１２の側面に付された第２の番号群３
９と前述した基台１２の上面の領域Ａに付された第１の
番号群３８とは対応し、基台１２の他の各側面と上面の
領域Ｂ、ＣおよびＤにも同様な対応がなされており、Ｌ
ＳＩソケット３１の上方から必要とする第２の番号群３
９のある側面を見つけだすことができる。このように第
３の実施例においては、測定のため必要なＬＳＩのピン
端子のピン端子番号に対応した測定端子孔１６を迅速に
かつ正確に探し出すことが可能となり、作業効率が一段
と向上する。なお、本実施例では基台１２の上面にも第
１の番号群３８を付したが、測定端子を探し出すだけで
あれば特に付す必要はない。
９と前述した基台１２の上面の領域Ａに付された第１の
番号群３８とは対応し、基台１２の他の各側面と上面の
領域Ｂ、ＣおよびＤにも同様な対応がなされており、Ｌ
ＳＩソケット３１の上方から必要とする第２の番号群３
９のある側面を見つけだすことができる。このように第
３の実施例においては、測定のため必要なＬＳＩのピン
端子のピン端子番号に対応した測定端子孔１６を迅速に
かつ正確に探し出すことが可能となり、作業効率が一段
と向上する。なお、本実施例では基台１２の上面にも第
１の番号群３８を付したが、測定端子を探し出すだけで
あれば特に付す必要はない。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Ｌ
ＳＩソケットにＬＳＩの端子が接続されるＬＳＩ端子接
続部と電気的に接続する中継部から分岐した測定端子部
とを備えたので、この測定端子部を利用してＬＳＩの評
価ができ、このため評価作業が迅速かつ正確にできる。
しかも測定端子部にＬＳＩのピン端子のピン端子番号に
対応した番号が付されているので、評価作業は一段と効
率化される効果がある。
ＳＩソケットにＬＳＩの端子が接続されるＬＳＩ端子接
続部と電気的に接続する中継部から分岐した測定端子部
とを備えたので、この測定端子部を利用してＬＳＩの評
価ができ、このため評価作業が迅速かつ正確にできる。
しかも測定端子部にＬＳＩのピン端子のピン端子番号に
対応した番号が付されているので、評価作業は一段と効
率化される効果がある。
【図１】本発明に係るＬＳＩソケットの構成図である。
【図２】本発明に係るＬＳＩソケットを示し、（ａ）は
全体斜視図、（ｂ）は側面図である。
全体斜視図、（ｂ）は側面図である。
【図３】本発明に係るＬＳＩソケットの第２の実施例の
全体斜視図である。
全体斜視図である。
【図４】本発明に係るＬＳＩソケットの第３の実施例の
構成図である。
構成図である。
【図５】本発明に係るＬＳＩソケットの第３の実施例を
示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
１ ＬＳＩソケット ３ ＬＳＩ端子接続部 ４ カード取付部 ５ 中継部 ６ 測定端子部 ８ ＬＳＩピン番号表示部 １１ ＬＳＩソケット ２１ ＬＳＩソケット ３１ ＬＳＩソケット
Claims (2)
- 【請求項１】 ＬＳＩの端子が接続されるＬＳＩ端子接
続部と、基盤に取り付ける基盤取付部と、この基盤取付
部と前記ＬＳＩ端子接続部とを電気的に接続する中継部
と、この中継部から分岐した測定端子部とを備えたこと
を特徴とするＬＳＩソケット。 - 【請求項２】 請求項１記載のＬＳＩソケットにおい
て、各測定端子部に対応するＬＳＩのピン番号を表示す
るＬＳＩピン番号表示部を設けたことを特徴とするＬＳ
Ｉソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3305664A JPH05119114A (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | Ｌｓｉソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3305664A JPH05119114A (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | Ｌｓｉソケツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05119114A true JPH05119114A (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=17947866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3305664A Pending JPH05119114A (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | Ｌｓｉソケツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05119114A (ja) |
-
1991
- 1991-10-25 JP JP3305664A patent/JPH05119114A/ja active Pending
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