JPS63129660A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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Publication number
JPS63129660A
JPS63129660A JP61277490A JP27749086A JPS63129660A JP S63129660 A JPS63129660 A JP S63129660A JP 61277490 A JP61277490 A JP 61277490A JP 27749086 A JP27749086 A JP 27749086A JP S63129660 A JPS63129660 A JP S63129660A
Authority
JP
Japan
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solid
layer
diffusion layer
depth
concentration
Prior art date
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Pending
Application number
JP61277490A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Takenaka
竹中 計廣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Publication of JPS63129660A publication Critical patent/JPS63129660A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14645Colour imagers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は固体撮像素子、いわゆるイメージセンサの素子
構造に関する。
〔発明の概要〕
本発明は固体撮像素子において受光部の拡散層の濃度又
は深さと、Mo5Mトランジスタを構成する拡散層の濃
度又は深さを変えることによりへ分光感度を向上させた
ものである。
〔従来の技術〕
固体撮像素子は大きくわけて、CCD型とMOS型があ
るが以下の説明においては説明の都合上00 Dfiに
つ−て説明する(MO!3fiにおいても本発明が適用
可能なことはいうまでもない、)。
従来のOOD型固体撮像素子の素子構造を第2図に示す
、1はP型S1基板であり、3,8は1上に作られたN
型拡散層で4のMOS)ランジスタのソース及びドレイ
ンとなる。7は1上に作られたN型拡散層であり、1と
7で作られるダイオードがフォトダイオードとなり90
入射光を11Li信号に変える。5は移送1g極であり
、1及び7かうなるフォトダイオードからの電気信号を
4の出力トランジスタに移送する役目をはたす。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、前出の従来技術では、フォトダイオードを構成
する7ON型拡散層と、MC)3)ランジスタを構成す
る3、8ONM拡散層とは同時に形成される。この[M
拡散層は、通常、表面濃度としては102°cr114
と高く、拡散深さも、1.0〜1.5μ扉と深い、その
ために、N型拡散層内の少数キャリアのライフタイムは
短く、結果として、感度、特にこのN型拡散層で強く吸
収される青色成分(波長として400〜450nm前後
)の感度が低下するという問題点を有する。そこで、本
発明は、このような問題点を解決するもので、その目的
とするところは、青色感度が改善され、尚かつ、MOS
トランジスタの特性としては変らない固体撮像素子を提
供するところにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の半導体装置は、フォトダイオードを構成するN
型拡散層と、MOS)ランジスタを構成するN型拡散層
との、濃度、又は深さを変えたOとを特徴とする。
〔作用〕
本発明の上記の構成によれば、フォトダイオード部のN
型拡散層の濃度をうすくすることによりN型拡散層内の
小数キャリアのライフタイムが大きくなり、青色感度が
改善される。又拡散深さを浅くすることにより、青色成
分がN型拡散層内で吸収される量が減り、青色感度が改
善される。濃度なうすくすることと、深さを浅くするこ
とは、同時になされてもよいことはいうまでもない、ま
たMOS)ランジスタ側については従来例と何ら変わる
ことがないため、従来例と同様の特性が得られる。
〔害施例〕
第1図は本発明の実施例における主要断面図であって、
6が本発明によるところのフォトダイオードを構成する
N型拡散層である1以上の説明においては、Pm基板に
Nを拡散層が形成される、−わゆるにチャンネル型素子
について説明したがPチャンネル型素子についても本発
明が適用されることはいうまでもない、iたNチャンネ
ル蛮素子においてもP型基板に形成したものばかりでな
く、N型基板にP型ウェルを形成した、いわゆるウェル
構造のNチャンネル型素子においても同様である。
°第3図はMO9Mの固体撮像素子に本発明を適用した
場合の実施例である0M0B型固体撮像素子は12のM
OS)ランジスタが1の例えばP型基板内に縦横にマト
リックス状に配置される。
10はMOSトランジスタからの出力をとりだす垂直信
号線であり、11のwljll拡散層と1のP型基板と
でフォトダイオードが構成される。11が本発明の主旨
によるN型拡散層である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、受光部の拡散層の濃
度又は深さと、MOS型トランジスタを構成する拡散層
の濃度又は深さとを変えることにより、分光感度、特に
青色(400wm〜4505m前後)感度が改善される
という効果を有する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の固体撮像素子の一実施例を示す主要断
面図。 第2図は従来の固体撮像素子を示す主要断面図第3図は
本発明のMOS型固体撮像素子の一実施例を示す主要断
面図。 1・・・・・・P型S1基板 2・・・・・・酸化膜 3.7.13・・・・・・N型拡散層 4.12・・・・・・MOS)ランジスタ5:・・・・
・移送電極 6.11・・・・・・本発明の主旨によるN型拡散層9
・・・・・・入射光 10・・・信号線 以上 箋 1 図 箋2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)1導電型の半導体基板と、該半導体基板の主表面
    に形成された、少なくとも2つ以上の第2導電形の拡散
    層からなるフォトダイオードと、該フォトダイオードか
    らの出力を読み出すための読み出し回路からなる固体撮
    像素子において、前記フォトダイオードを構成する第2
    導電形の拡散層の濃度か又は深さが、他の部分の第2導
    電形の拡散層の濃度又は深さと異なることを特徴とする
    固体撮像素子。
  2. (2)前記、読み出し回路が電荷結合素子(CCD)で
    構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の固体撮像素子。
  3. (3)前記、読み出し回路がMOS型トランジスタから
    なるMOSスイッチ素子と走査回路とからなることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮像素子。
JP61277490A 1986-11-20 1986-11-20 固体撮像素子 Pending JPS63129660A (ja)

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JPS63129660A true JPS63129660A (ja) 1988-06-02

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