JPS63127491A - 半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置Info
- Publication number
- JPS63127491A JPS63127491A JP61274693A JP27469386A JPS63127491A JP S63127491 A JPS63127491 A JP S63127491A JP 61274693 A JP61274693 A JP 61274693A JP 27469386 A JP27469386 A JP 27469386A JP S63127491 A JPS63127491 A JP S63127491A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- column
- activation
- control signal
- row
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 11
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims abstract description 67
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 7
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体メモリ装置に関し、特に行系及び列系の
タイミング信号に従ってメモリセル・マトリクスの行線
及び列線を選択するダイナミックRAM装置等の半導体
メモリ装置に関する。
タイミング信号に従ってメモリセル・マトリクスの行線
及び列線を選択するダイナミックRAM装置等の半導体
メモリ装置に関する。
従来のこの種の半導体メモリ装置について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
第4図は従来の半導体メモリ装置の一例を示すブロック
図である。
図である。
アドレスバッファ回路1は、アドレス活性化信号AAに
従ってアドレス信号ADを列デコーダ3a及び行デコー
ダ6へ伝達する。
従ってアドレス信号ADを列デコーダ3a及び行デコー
ダ6へ伝達する。
タイミング信号発生回路2aは、行系制御信号RASと
列系制御信号CASとを入力し、行デコーダ6に対して
行デコーダ活性化信号ARと第1のプリチャージ信号P
1とを発生し、列デコーダ3aに対して列デコーダ活性
化信号Ac’と第2のプリチャージ信号P2と列線接続
制御信号Scとを発生し、アドレスバッファ回路1に対
し行及び列アドレス活性化信号AAユ、AAcからなる
アドレス活性化信号AAを発生する。
列系制御信号CASとを入力し、行デコーダ6に対して
行デコーダ活性化信号ARと第1のプリチャージ信号P
1とを発生し、列デコーダ3aに対して列デコーダ活性
化信号Ac’と第2のプリチャージ信号P2と列線接続
制御信号Scとを発生し、アドレスバッファ回路1に対
し行及び列アドレス活性化信号AAユ、AAcからなる
アドレス活性化信号AAを発生する。
列デコーダ3aは、第2のプリチャージ信号P2と列デ
コーダ活性化信号AC′とによりアドレスバッファ回路
1からの列アドレスに対応する列線を選択するための配
線選択信号を発生する複数の列線選択ゲート回路31a
と、列線接続制御信号Scにより各列線選択ゲート回路
31aの出力信号をそれぞれ列線接続ゲート回路4へ出
力する複数の選択信号ゲート回路32とを備えている。
コーダ活性化信号AC′とによりアドレスバッファ回路
1からの列アドレスに対応する列線を選択するための配
線選択信号を発生する複数の列線選択ゲート回路31a
と、列線接続制御信号Scにより各列線選択ゲート回路
31aの出力信号をそれぞれ列線接続ゲート回路4へ出
力する複数の選択信号ゲート回路32とを備えている。
列線接続ゲート回路4は、各選択信号ゲート回路32の
出力信号により選択されたメモリセル・マトリクス5の
列線をデータ入出力線に接続し、データDTの伝達を行
う。
出力信号により選択されたメモリセル・マトリクス5の
列線をデータ入出力線に接続し、データDTの伝達を行
う。
メモリセル・71−リクス5は、行線と列線との交差部
にそれぞれメモリセルを持ち、選択された行線と列線と
の交差部のメモリセルに対しデータDTの書込み読出し
を行う。
にそれぞれメモリセルを持ち、選択された行線と列線と
の交差部のメモリセルに対しデータDTの書込み読出し
を行う。
行デコーダ6は、行デコーダ活性化信号ARと第1のプ
リチャージ信号P1とによりアドレスバッファ回路1か
らの行アドレスに対応する行線を選択する。
リチャージ信号P1とによりアドレスバッファ回路1か
らの行アドレスに対応する行線を選択する。
第5図は列デコーダ3aのうちの列線一本に対応する回
路の一例を示す回路図である。
路の一例を示す回路図である。
この回路は、トランジスタQl〜Q6を含む列線選択ゲ
ート回路31aとトランジスタQ7゜Q8を含む選択信
号ゲート回路32とで構成され、各部信号のタイミング
関係は第6図に示すとおりである。
ート回路31aとトランジスタQ7゜Q8を含む選択信
号ゲート回路32とで構成され、各部信号のタイミング
関係は第6図に示すとおりである。
列アドレス活性化信号AAC及び列デコーダ活性化信号
Ac′は列系制御信号CAS活性化直後に活性化し、列
アドレス活性化信号A A cが活性化するもでに第2
のプリチャージ信号P2は非活性状態となっている。従
って、トランジスタQt。
Ac′は列系制御信号CAS活性化直後に活性化し、列
アドレス活性化信号A A cが活性化するもでに第2
のプリチャージ信号P2は非活性状態となっている。従
って、トランジスタQt。
Q3によりそれぞれ電源電圧■cc近くまでプリチャー
ジされていたトランジスタQ4〜Q6がら成るNORゲ
ートの節点N、、N2は、第2のプリチャージ信号P2
が非活性状態となりトランジスタQl、Q3により電源
から隔離された後、列デコーダ活性信号Ac’により節
点N2の電荷が放電され、またアドレス信号ADにトラ
ンジスタQ4〜Q6を導通させる信号があれば節点Nl
の電荷も放電される。即ち、節点N、、N2の電荷が同
時に放電される。
ジされていたトランジスタQ4〜Q6がら成るNORゲ
ートの節点N、、N2は、第2のプリチャージ信号P2
が非活性状態となりトランジスタQl、Q3により電源
から隔離された後、列デコーダ活性信号Ac’により節
点N2の電荷が放電され、またアドレス信号ADにトラ
ンジスタQ4〜Q6を導通させる信号があれば節点Nl
の電荷も放電される。即ち、節点N、、N2の電荷が同
時に放電される。
この後、この放電がほぼ完了[また時点で列線接続制御
信号Scが活性化して列線選択ゲート回路31aの出力
信号を1−ランジスタQ7.Q8を介して列線接続ゲー
ト回路4へ伝達する構成となっている。
信号Scが活性化して列線選択ゲート回路31aの出力
信号を1−ランジスタQ7.Q8を介して列線接続ゲー
ト回路4へ伝達する構成となっている。
上述した従来の半導体メモリ装置は、列線選択ゲート回
路を構成するOR回路の節点N、、N2の電荷を同時に
放電する構成となっているので、放電時間が長くなり列
線接続制御信号Scの活性化を遅らせ、動作速度の高速
化が妨げられるという欠点があった。
路を構成するOR回路の節点N、、N2の電荷を同時に
放電する構成となっているので、放電時間が長くなり列
線接続制御信号Scの活性化を遅らせ、動作速度の高速
化が妨げられるという欠点があった。
また、放電時間を短かくするためにトランジスタのゲー
ト幅を広くし放電系の抵抗を小さくしようとすると、チ
ップ寸法が大きくなったり節点N、、N2の容量が増加
したりして容易に放電時間を短縮することができないと
いう欠点があった。
ト幅を広くし放電系の抵抗を小さくしようとすると、チ
ップ寸法が大きくなったり節点N、、N2の容量が増加
したりして容易に放電時間を短縮することができないと
いう欠点があった。
本発明の目的は、チップ寸法を大きくすることなく動作
速度の高速化をはかることができる半導体メモリ装置を
提供することにある。
速度の高速化をはかることができる半導体メモリ装置を
提供することにある。
本発明の半導体メモリ装置は、行系制御信号とこの行系
制御信号から所定の時間遅延して活性状態となる列系制
御信号とを入力し、前記行系制御信号の活性化直後に非
活性状態となる第1のプリチャージ信号と、前記行系制
御信号の活性化後、前記列系制御信号が活性化するまで
の所定のタイミングで活性状態となる列デコーダ活性化
信号と、前記列系制御信号の活性直後に活性状態となる
列アトし・ス活性化信号と、前記列デコーダ活性化信号
の活性化後、前記列アドレス活性化信号が活性化するま
での所定のタイミングで非活性状態となる第2のプリチ
ャージ信号と、前記列アドレス活性化信号の活性化後、
所定のタイミングで活性状態となる列線接続制御信号と
を含む信号を発生するタイミング信号発生回路と、前記
第1及び第2のプリチャージ信号と前記列デコーダ活性
化信号とによりアドレスバッファ回路からの列アドレス
に対応する列線を選択するための列線選択信号を出力す
る複数の列線選択ゲート回路とこれら各列線選択グー1
〜回路からの出力信号を前記列線接続制御信号によりそ
れぞれ出力する複数の選択信号ゲート回路とを備えた列
デコーダと、前記各選択信号ゲート回路の出力信号によ
り選択されたメモリセル・71−リクスの列線をデータ
入出力線に接続する列線接続ゲート回路とを有している
。
制御信号から所定の時間遅延して活性状態となる列系制
御信号とを入力し、前記行系制御信号の活性化直後に非
活性状態となる第1のプリチャージ信号と、前記行系制
御信号の活性化後、前記列系制御信号が活性化するまで
の所定のタイミングで活性状態となる列デコーダ活性化
信号と、前記列系制御信号の活性直後に活性状態となる
列アトし・ス活性化信号と、前記列デコーダ活性化信号
の活性化後、前記列アドレス活性化信号が活性化するま
での所定のタイミングで非活性状態となる第2のプリチ
ャージ信号と、前記列アドレス活性化信号の活性化後、
所定のタイミングで活性状態となる列線接続制御信号と
を含む信号を発生するタイミング信号発生回路と、前記
第1及び第2のプリチャージ信号と前記列デコーダ活性
化信号とによりアドレスバッファ回路からの列アドレス
に対応する列線を選択するための列線選択信号を出力す
る複数の列線選択ゲート回路とこれら各列線選択グー1
〜回路からの出力信号を前記列線接続制御信号によりそ
れぞれ出力する複数の選択信号ゲート回路とを備えた列
デコーダと、前記各選択信号ゲート回路の出力信号によ
り選択されたメモリセル・71−リクスの列線をデータ
入出力線に接続する列線接続ゲート回路とを有している
。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
アドレスバッファ回路1は、行及び列アドレス活性化信
号A A R、A A cから成るアドレス活性化信号
AAに従ってアドレス信号ADを列デコーダ3及び行デ
コーダ6へ伝達する。
号A A R、A A cから成るアドレス活性化信号
AAに従ってアドレス信号ADを列デコーダ3及び行デ
コーダ6へ伝達する。
タイミング信号発生回路2は、行系制御信号RASと、
この行系制御信号RASがら所定の時間遅延して活性化
状態となる列系制御信号CASとを入力し、行系制御信
号RASの活性化直後に活性状態となる行アドレス活性
化信号A A R及び行デコーダ活性化信号ARと、非
活性状態となる第1のプリチャージ信号P1と、行系制
御信号R,ASの活性後、列系制御信号CASが活性化
するまでの所定のタイミングで活性状態となる列デコー
ダ活性化信号Acと、列系制御信号CASの活性化直後
に活性状態となる列アドレス活性化信号AACと、列デ
コーダ活性化信号Acの活性化後、列アドレス活性化信
号AACが活性化するまでの所定とタイミングで非活性
状態となる第2のプリチャージ信号P2と、列アドレス
活性化信号AACの活性化後、所定のタイミングで活性
状態となる列線接続制御信号Scとを発生する。
この行系制御信号RASがら所定の時間遅延して活性化
状態となる列系制御信号CASとを入力し、行系制御信
号RASの活性化直後に活性状態となる行アドレス活性
化信号A A R及び行デコーダ活性化信号ARと、非
活性状態となる第1のプリチャージ信号P1と、行系制
御信号R,ASの活性後、列系制御信号CASが活性化
するまでの所定のタイミングで活性状態となる列デコー
ダ活性化信号Acと、列系制御信号CASの活性化直後
に活性状態となる列アドレス活性化信号AACと、列デ
コーダ活性化信号Acの活性化後、列アドレス活性化信
号AACが活性化するまでの所定とタイミングで非活性
状態となる第2のプリチャージ信号P2と、列アドレス
活性化信号AACの活性化後、所定のタイミングで活性
状態となる列線接続制御信号Scとを発生する。
列デコーダ3は、第1及び第2のビリチャージ信号P、
、P2と列デコーダ活性化信号ACとにより、アドレス
バッファ回路1からの列アドレスに対応する列線を選択
するための列線選択信号を出力する複数の列線選択ゲー
ト回路31と、各列線選択ゲート回路31の出力信号を
列線接続制御信号Scによりそれぞれ列線接続ゲート回
路へ伝達する複数の選択信号ゲート回路32とを備えて
いる。
、P2と列デコーダ活性化信号ACとにより、アドレス
バッファ回路1からの列アドレスに対応する列線を選択
するための列線選択信号を出力する複数の列線選択ゲー
ト回路31と、各列線選択ゲート回路31の出力信号を
列線接続制御信号Scによりそれぞれ列線接続ゲート回
路へ伝達する複数の選択信号ゲート回路32とを備えて
いる。
列線接続ゲート回路4は、各選択信号ゲート回路32の
出力信号により選択されたメモリセル・マトリクス5の
列線をデータ入出力線に接続しデータDTの伝達を行う
。
出力信号により選択されたメモリセル・マトリクス5の
列線をデータ入出力線に接続しデータDTの伝達を行う
。
メモリセル・マトリクス5は、行線と列線との交差部に
それぞれメモリセルを持ち、選択された行線と列線との
交差部のメモリセルに対しデータDTの書込み読出しを
行う。
それぞれメモリセルを持ち、選択された行線と列線との
交差部のメモリセルに対しデータDTの書込み読出しを
行う。
行デコーダ6は、行デコーダ活性化信号ARと第1のプ
リチャージ信号P1とによりアドレスバ・ンファ回路1
からの行アドレスに対応する行線を選択する。
リチャージ信号P1とによりアドレスバ・ンファ回路1
からの行アドレスに対応する行線を選択する。
第2図は列デコーダ3のうちの列線一本に対応する回路
の一例を示す回路図である。
の一例を示す回路図である。
第2図に示す列デコーダ3の回路が第5図に示す従来の
列デコーダ3aの回路と相違する点は、トランジスタQ
1のオン・オフを第1のプリチャージ信号P、で行う点
と、トランジスタQ2をオン・オフする列デコーダ活性
化信号ACのタイミング関係が相違している点にある。
列デコーダ3aの回路と相違する点は、トランジスタQ
1のオン・オフを第1のプリチャージ信号P、で行う点
と、トランジスタQ2をオン・オフする列デコーダ活性
化信号ACのタイミング関係が相違している点にある。
第3図はこの実施例を動作させたときの各部信号の波形
図である。
図である。
まず、第1のプリチャージ信号P1は行系制御信号RA
Sの活性化直後に非活性状態となり、トランジスタQ4
〜Q6がら成るNORゲートの接地端子側の節点N2が
トランジスタQ1により電源から隔離される。
Sの活性化直後に非活性状態となり、トランジスタQ4
〜Q6がら成るNORゲートの接地端子側の節点N2が
トランジスタQ1により電源から隔離される。
次に、行系制御信号RASが活性化してから列系制御信
号CASが活性化するまでの間で、かつ行アドレス活性
化信号AARが非活性となった後のタイミングで活性化
する列デコーダ活性化信号ACによりトランジスタQ2
が導通になり接点N2の電荷が放電される。
号CASが活性化するまでの間で、かつ行アドレス活性
化信号AARが非活性となった後のタイミングで活性化
する列デコーダ活性化信号ACによりトランジスタQ2
が導通になり接点N2の電荷が放電される。
続いて第2のプリチャージ信号P2によりN。
Rゲートの出力端の節点N1が電源がら隔離され、NO
RゲートのトランジスタQ4〜Q6を導通させるアドレ
ス信号ADが入力されると接点N1の電荷も放電される
。
RゲートのトランジスタQ4〜Q6を導通させるアドレ
ス信号ADが入力されると接点N1の電荷も放電される
。
即ち、節点N2の電荷があらかじめ放電されてから節点
N1の電荷が放電されるので節点N1の放電時間が短か
くなり、列アドレス活性信号AAcの活性時点から列線
接点制御信号S。の活性化時点までの時間T、を短縮す
ることができる。
N1の電荷が放電されるので節点N1の放電時間が短か
くなり、列アドレス活性信号AAcの活性時点から列線
接点制御信号S。の活性化時点までの時間T、を短縮す
ることができる。
以上説明したように本発明は、列線選択ゲート回路を構
成するNORゲートの接地端子側の節点の電荷を放電し
てからこのNORゲートの出力端の節点の電荷を放電す
る構成とすることにより、NORゲートの出力端の節点
の放電時間を短縮することができ、チップ寸法を変える
ことなく動作速度を高速化することができる効果がある
。
成するNORゲートの接地端子側の節点の電荷を放電し
てからこのNORゲートの出力端の節点の電荷を放電す
る構成とすることにより、NORゲートの出力端の節点
の放電時間を短縮することができ、チップ寸法を変える
ことなく動作速度を高速化することができる効果がある
。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図に示された列デコーダの列線一本に対応する回路
の一例を示す回路図、第3図は第1図に示す実施例を動
作させたときの各部信号の波形図、第4図は従来の半導
体メモリ装置の一例を示すブロック図、第5図は第4図
に示された列デコーダの列線一本に対応する回路の一例
を示す回路図、第6図は第4図に示す半導体メモリ装置
を動作させたときの各部信号の波形図である。 1・・・アドレスバッファ回路、2,2a・・・タイミ
ング信号発生回路、3,3a・・・列デコーダ、4・・
・列線接続ゲーI・回路、5・・・メモリセル・マトリ
クス、6・・・行デコーダ、31.31a・・・列線選
択ゲート回路、32・・・選択信号ゲート回路、Q+〜
Q8・・・トランジスタ。
第1図に示された列デコーダの列線一本に対応する回路
の一例を示す回路図、第3図は第1図に示す実施例を動
作させたときの各部信号の波形図、第4図は従来の半導
体メモリ装置の一例を示すブロック図、第5図は第4図
に示された列デコーダの列線一本に対応する回路の一例
を示す回路図、第6図は第4図に示す半導体メモリ装置
を動作させたときの各部信号の波形図である。 1・・・アドレスバッファ回路、2,2a・・・タイミ
ング信号発生回路、3,3a・・・列デコーダ、4・・
・列線接続ゲーI・回路、5・・・メモリセル・マトリ
クス、6・・・行デコーダ、31.31a・・・列線選
択ゲート回路、32・・・選択信号ゲート回路、Q+〜
Q8・・・トランジスタ。
Claims (1)
- 行系制御信号とこの行系制御信号から所定の時間遅延し
て活性状態となる列系制御信号とを入力し、前記行系制
御信号の活性化直後に非活性状態となる第1のプリチャ
ージ信号と、前記行系制御信号の活性化後、前記列系制
御信号が活性化するまでの所定のタイミングで活性状態
となる列デコーダ活性化信号と、前記列系制御信号の活
性直後に活性状態となる列アドレス活性化信号と、前記
列デコーダ活性化信号の活性化後、前記列アドレス活性
化信号が活性化するまでの所定のタイミングで非活性状
態となる第2のプリチャージ信号と、前記列アドレス活
性化信号の活性化後、所定のタイミングで活性状態とな
る列線接続制御信号とを含む信号を発生するタイミング
信号発生回路と、前記第1及び第2のプリチャージ信号
と前記列デコーダ活性化信号とによりアドレスバッファ
回路からの列アドレスに対応する列線を選択するための
列線選択信号を出力する複数の列線選択ゲート回路とこ
れら各列線選択ゲート回路からの出力信号を前記列線接
続制御信号によりそれぞれ出力する複数の選択信号ゲー
ト回路とを備えた列デコーダと、前記各選択信号ゲート
回路の出力信号により選択されたメモリセル・マトリク
スの列線をデータ入出力線に接続する列線接続ゲート回
路とを有することを特徴とする半導体メモリ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61274693A JPS63127491A (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61274693A JPS63127491A (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 半導体メモリ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63127491A true JPS63127491A (ja) | 1988-05-31 |
Family
ID=17545252
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61274693A Pending JPS63127491A (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63127491A (ja) |
-
1986
- 1986-11-17 JP JP61274693A patent/JPS63127491A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6314044B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
US4768171A (en) | Memory circuit having a plurality of cell arrays | |
KR0135085B1 (ko) | 메모리장치 | |
US5550784A (en) | Semiconductor memory device with synchronous dram whose speed grade is not limited | |
US4322825A (en) | Flexible hidden refresh memory circuit | |
JP2000156079A (ja) | マルチバンク構造を有する半導体メモリ装置 | |
US4905201A (en) | Semiconductor memory device capable of selective operation of memory cell blocks | |
JPS5927999B2 (ja) | デコ−ダ回路 | |
US5373470A (en) | Method and circuit for configuring I/O devices | |
US6486722B2 (en) | Semiconductor device including a control signal generation circuit allowing reduction in size | |
JPS62291788A (ja) | メモリ回路 | |
JPS6376193A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH03160699A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US6307410B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPH0628846A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPS63127491A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
JP2623460B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH06162765A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPS6378394A (ja) | プリチヤ−ジクロツク発生回路 | |
JPH02154393A (ja) | 半導体記憶回路 | |
JPS63133391A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2623461B2 (ja) | ダイナミック型ram | |
JP2003242780A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH01144293A (ja) | 半導体メモリ | |
JPH09180439A (ja) | 半導体記憶装置 |