JPS63127440A - 光デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光ディスクによって反射された傾き検出用光
を受光する一対の傾き検出用受光素子をその光ディスク
の半径方向に離間して配置し、その一対の傾き検出用受
光素子の受光量の差異に基づいて、基準面に対する光デ
ィスクの傾きを検出するラジアルスキュー検出機構を有
する光ディスク装置の改良に関する。

（従来の技術） 従来から、基準面に対する光ディスクの傾きを検出する
光ディスクのラジアルスキュー検出機構を有する光ディ
スク装置が知られている。そのラジアルスキュー検出機
構は、第８図に示すように。

光ディスク１に向かって傾き検出用光を照射する光源と
しての発光素子２と、その光ディスク１によって反射さ
れた傾き検出用光を受光する一対の受光素子３．４とを
有している。

その発光素子２と受光素子３．４とは光ディスり１に対
向して配置された搭載部５に設置されており、一対の受
光素子３．４はその発光素子２を挾んで光ディスク１の
半径方向対称位置に設けられている、 このラジアルスキュー検出機構では、光ディスク１が基
準面６に対して破線で示すように傾くと、その光ディス
ク１によって反射された傾き検出用光を受光する一対の
受光素子３．４の受光量に差異が生じ、これによって、
光ディスク１の基準面６に対する傾きが検出される。

（発明が解決しようとする問題点） ところで、その従来のラジアルスキュー検出機構では、
その発光素子２として発光ダイオードが用いられている
が、その発光ダイオードには、発光パターン、発光強度
等の個体差があるため、光源の発光パターン、発光強度
の一定化を図り難い問題点がある。また、光ディスク１
と発光素子２との間隔ｄが小さいために間隔ＺがΔ２だ
け変化すると、それに基づいて一対の傾き検出用受光素
子３．４の受光強度が大きく変化し、光ディスクのラジ
アルスキュー検出機構の検出感度がその光ディスク１と
発光素子２との間隔２の変化に基づいて大きく変化する
という問題点がある。

（発明の目的） そこで、本発明の目的は、光源の発光パターン、発光強
度の一定化を図ることができると共に、光源と光ディス
クとの間隔の変化にかかわらずその光ディスクのラジア
ルスキュー検出機構の検出感度の安定化を図ることので
きる光ディスク装置を提供するところにある。

（問題点を解決するための手段） 本発明に係る光ディスク装置の特徴は、そのラジアルス
キュー検出機構の傾き検出用光の光源として再生光学系
の半導体レーザーを用いるために、その再生光学系のビ
ームスプリッタをハーフミラ−形式とし、このビームス
プリッタによってその半導体レーザーから出射されたレ
ーザービームの一部をその搭載部に向かう方向に反射さ
せ、この搭載部にはその一対の傾き検出用受光素子の間
にそのビームスプリッタによって反射されたレーザービ
ームをその傾き検出用光としてその光ディスクに導くた
めの開口を形成したところにある。

（作用） 本発明に係る光ディスクによれば、半導体レーザーから
出射されたレーザービームの一部はビームスプリッタに
よって搭載部に向かう方向に反射され、その搭載部に形
成されている開口を通して傾き検出用光として光ディス
クに照射され、この光ディスクによって反射された傾き
検出用光が一対の傾き検出用受光素子に受光されてその
受光量の差異に基づいて光ディスクの基準面に対する傾
きが検出される。

（実施例） 以下に、本発明に係る光ディスク装置の実施例を図面を
参照しつつ説明する。

第１図において、１０は光ディスクの再生光学系である
。この再生光学系１０は半導体レーザー１１と、ビーム
スプリッタ１２と、コリメートレンズ１３と、対物レン
ズ１４と、集光レンズ１５と、再生用受光素子Ｉ６とを
備えている。ビームスプリッタ１２には、ここでは、ハ
ーフミラ−が用いられ、１２ａはそのハーフミラ−面で
ある。半導体レーザー１１から出射されたレーザービー
ムは、その一部がビームスプリッタ１２を透過してコリ
メートレンズ１３に導かれて平行光束に変換され、対物
レンズ１４により集束されて光ディスク１に照射される
ものである。

その光ディスク１によって反射されたレーザービームは
再び対物レンズ１４により平行光束に変換され、コリメ
ートレンズ１３を介してビームスプリッタ１２に導かれ
、そのビームスプリッタ１２によって集光レンズ１５に
向かう方向に反射され、その集光レンズ１５によって再
生用受光素子１６に結像され、光ディスク１に記録され
ている情報の再生が行われるものである。

この光ディスク装置には、ラジアルスキュー検出機構が
設けられている。このラジアルスキュー検出機構は、一
対の傾き検出用受光素子１７．１８を有している。この
一対の傾き検出用受光素子１７．１８は光ディスク１に
よって反射された傾き検出用光を受光する機能を有し、
光ディスク１の半径方向に離間されて搭載部１９に搭載
されている。そのラジアルスキュー検出機構は、この一
対の傾き検出用受光素子１７．１８の傾き検出用光の受
光量の差異に基づいて光ディスク１の基準面６に対する
傾きを検出するもので、傾き検出用光の光源としては、
半導体レーザー１１が用いられている。

その半導体レーザー１１から出射されたレーザービーム
の一部は、ビームスプリッタ１２によって搭載部１９に
向かう方向に反射されるもので、搭載部１９には開口２
０が穿設され、ビームスプリッタ１２によって反射され
たレーザービームは反射ミラー２１によって反射されて
開口２０を通して傾き検出用光として光ディスク１に照
射されるものであり、第１図において、符号２２は半導
体レーザー１１を傾き検出用光の光源として考えた場合
の仮想光源を示しており、符号Ｚはその仮想光源２２と
光ディスク１との間隔を示している。

半導体レーザー１１から出射されて開口２０に導かれる
レーザービームは第２図に示すようにガウス型の光量分
布Ｐとなるもので、その開口２０に導かれるレーザービ
ームは破線Ｐ□、Ｐ２を境に周辺部分が搭載部１９によ
って遮られ、光強度の大きい中央部分が傾き検出用光と
して開口２０を通して光ディスク１に導かれるものであ
り、一対の傾き検出用受光素子１７．１８に受光される
傾き検出用光の光量分布Ｐもガウス型となる。

一対の傾き検出用受光素子１７．１８が受光する傾き検
出用光の光量分布Ｐは、光ディスク１が基準面６に対し
て傾いていないときには第３図、第４図に実線で示すよ
うになり、第５図に示すように光ディスク１が基準面６
に対して角度０だけ傾いて搭載部１９と光ディスクｌと
の間隔ＺがΔＺだけ大きくなる方向に変化した場合、仮
想光源２２から光ディスク１までの距離りが遠いときに
は、その光量分布は第３図に破線Ｐ′で示すように変化
し、その光量分布Ｐのピークの減少の割合が小さいと共
に分布の広がりの変化が小さいが、仮想光源２２から光
ディスク１までの距離りが近いとき、すなわち、傾き検
出用光の光源を搭載部１９に設けたときには、その光量
分布は第４図に破線Ｐ”で示すよう、に変化し、その光
量分布Ｐのピークの減少の割合が大きいと共に分布の広
がりの変化も大きい。すなわち、搭載部１９上での傾き
検出用光の光量分布Ｐは、 ΔＺ／Ｚ＝にという式によって定義されるパラメータＫ
（間隔変化率）の値が大きいときにはその変化の割合が
大きいが、そのパラメータにの値が小さいときにはその
変化の割合が小さい。

光ディスク１が基準面６に対して第５図に示すように角
度θ傾くと、傾き検出用光の反射方向が矢印で示すよう
に移動し、第６図に示すように搭載部１９上でにおいて
傾き検出用光によって照明される照明箇所がずれ、斜線
で示すように光強度の異なる箇所が一対の傾き検出用受
光素子１７．１８に受光されることになり、その一対の
傾き検出用受、光素子１７．１８の受光量に差異が生じ
てその差異に比例する出力が取り出されることになるの
であるが、パラメータにの値が大きいと、第４図に示す
ように光量分布Ｐの変化の割合が大きいため、第５図に
示すように搭載部１９から遠ざかる方向に光ディスク１
が傾くと、第７図に一点鎖線で示すように光ディスク１
の傾きの角度θの増大に伴って出力が飽和し、検出感度
が安定しないという事態を生じる。これ１こ対してパラ
メータにの値が小さいときには、第３図に示すように光
量分布Ｐの変化の割合が小さいから光ディスク１の傾き
の角度０が増大してもその光量分布Ｐはほとんど変化せ
ず、第７図に破線で示すように角度θに比例するものと
なり、検出感度が安定化する。なお、その第７図におい
て、実線りは光量分布Ｐが変化しないと仮定して光ディ
スク１を角度０だけ傾けて傾き検出用光による搭載部１
９の照明箇所を移動させた場合の一対の受光素子１７．
１８の受光量の差異に基づく出力である。また、搭載部
１９は再生光学系の半径方向の移動に伴って移動される
ものであり、再生光学系を構成する光学要素を搭載して
いる光ピツクアップ本体と一体化することもできる。

以上、実施例においては、光ディスク１が搭載部１９か
ら遠ざかる方向に傾く場合について説明したが、光ディ
スク１が搭載部１９に近づく方向に傾く揚台、仮想光源
２２から光ディスク１までの距離りが遠いときには、そ
の光量分布Ｐのピークの増加の割合が小さいと共に分布
の挟まりの変化が小さく検出感度が安定するが、仮想光
源２２から光ディスク１までの距離りが近いとき、すな
わち、傾き検出用光の光源を搭載部１９に設けたときに
は。

その光量分布Ｐのピークの増加の割合が大きいと共に分
布の挟まりの変化も大きく、検出感度が大きく変化する
。

（発明の効果） 本発明に係る光ディスク装置は、以上説明したように、
ラジアルスキュー検出機構の傾き検出用光の光源として
再生用光学系の半導体レーザーを用いることにしたので
、傾き検出用光の光源の発光パターン、発光強度の一定
化を図ることができるという効果を奏する。また、その
傾き検出用光の光源を光ディスクから遠く離して設ける
ことができるので、光ディスクのラジアルスキュー検出
機構の検出感度の安定化を図ることができるという効果
も奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光ディスク装置の要部構成を示す
図、第２図はその光ディスク装置に用いる半導体レーザ
ーのレーザービームの光量分布を示す図、第３図、第４
図はその一対の傾き検出用受光素子に受光される傾き検
出用光の光量分布を示す図、第５図はその傾き検出用光
の反射方向の移動を説明するための説明図、第６図はそ
のラジアルスキュー検出機構の搭載部の照明箇所の移動
を説明するための説明図、第７図はその一対の傾き検出
用受光素子の受光出力と光ディスクの傾きとの関係を説
明するための特性図、第８図は従来の光ディスク装置の
ラジアルスキュー検出機構の一例を示す図である。 １・・・光ディスク装置 ６・・・基準面 １０・・・再生光学系 １１・・・半導体レーザー １７．１８・・・傾き検出用受光素子 １９・・・搭載部 ２０・・・開口 第１図 第２図　　第３図　第４図 第５図 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）光ディスクによって反射された傾き検出用光を受
   光する一対の傾き検出用受光素子を前記光ディスクの半
   径方向に離間して搭載部に配置し、前記一対の傾き検出
   用受光素子の受光量の差異に基づいて基準面に対する前
   記光ディスクの傾きを検出するラジアルスキュー検出機
   構を備えた光ディスク装置において、 前記傾き検出用光の光源として再生光学系の半導体レー
   ザーを用いるために、前記再生光学系のビームスプリッ
   タをハーフミラー形式とし、該ビームスプリッタによっ
   て前記半導体レーザーから出射されたレーザービームの
   一部を前記搭載部に向かう方向に反射させ、該搭載部に
   は前記一対の傾き検出用受光素子の間に前記ビームスプ
   リッタによって反射されたレーザービームを前記傾き検
   出用光として前記光ディスクに導くための開口を形成し
   たことを特徴とする光ディスク装置。