JPS63127438A - 光デイスク装置の光学系制御装置 - Google Patents
光デイスク装置の光学系制御装置Info
- Publication number
- JPS63127438A JPS63127438A JP27329086A JP27329086A JPS63127438A JP S63127438 A JPS63127438 A JP S63127438A JP 27329086 A JP27329086 A JP 27329086A JP 27329086 A JP27329086 A JP 27329086A JP S63127438 A JPS63127438 A JP S63127438A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 62
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 235000013527 bean curd Nutrition 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光学系により光ビームを光ディスク上の情報ト
ラックに集光し、データを記録あるいは再生する光ディ
スク装置の光学系制御装置に関するものである。
ラックに集光し、データを記録あるいは再生する光ディ
スク装置の光学系制御装置に関するものである。
従来の技術
従来の技術の説明にあたり、まず光ディスク装置の光学
系の概略を第2図を用いて説明する。
系の概略を第2図を用いて説明する。
光学系は第2図に示すように、半導体レーザ1からでた
光ビーム2はコリメータレンズ3により平行光となり偏
向ビームスプリッタ4およびl/4波長板5および紋り
レンズ6を通って光ディスク7の情報トラック8に集光
される。
光ビーム2はコリメータレンズ3により平行光となり偏
向ビームスプリッタ4およびl/4波長板5および紋り
レンズ6を通って光ディスク7の情報トラック8に集光
される。
次いで、情報トラック8により反射された戻り光は、再
び絞りレンズ6を通って平行光となり1/4波長板を経
て偏向ビームスプリッタ4によって反射分離され平行光
9となりミラー10により反射された光が、トラッキン
グエラー信号用光検出器11に入る。また、この平行光
9の残りが集光レンズ12により絞られてフォーカスエ
ラー信号用光検出器13に入る。
び絞りレンズ6を通って平行光となり1/4波長板を経
て偏向ビームスプリッタ4によって反射分離され平行光
9となりミラー10により反射された光が、トラッキン
グエラー信号用光検出器11に入る。また、この平行光
9の残りが集光レンズ12により絞られてフォーカスエ
ラー信号用光検出器13に入る。
ここで、フォーカスエラー信号用光検出器13は2分割
のPINダイオードで構成され、ミラー10をナイフェ
ツジとしたナイフェツジ型検出器である。また、トラッ
キングエラー信号用光検出器も2分割のPINダイオー
ドで構成され、ファフィールド型検出器である。
のPINダイオードで構成され、ミラー10をナイフェ
ツジとしたナイフェツジ型検出器である。また、トラッ
キングエラー信号用光検出器も2分割のPINダイオー
ドで構成され、ファフィールド型検出器である。
また、紋りレンズ6はアクチュエータ上に構成されてい
る。このアクチュエータは光ビーム2のトラッキング位
置制御用コイルとフォーカス位置制御用コイルを有する
。これら両コイルに流れる電流によりこのアクチュエー
タ上に構成された絞りレンズ6の位置が制御され、光ビ
ーム2の集光位置が正確に情報トラック上にコントロー
ルされる。
る。このアクチュエータは光ビーム2のトラッキング位
置制御用コイルとフォーカス位置制御用コイルを有する
。これら両コイルに流れる電流によりこのアクチュエー
タ上に構成された絞りレンズ6の位置が制御され、光ビ
ーム2の集光位置が正確に情報トラック上にコントロー
ルされる。
この光ディスク装置の光学系制御装置、具体的には絞り
レンズのトラッキング制御装置とフォーカス制御装置の
従来例についてそのブロック図を第3図(a)、(b)
に示す。
レンズのトラッキング制御装置とフォーカス制御装置の
従来例についてそのブロック図を第3図(a)、(b)
に示す。
第3図(a)に示すようにトラッキング制御装置に関し
ては、トラッキングエラーが起こっていない時は、トラ
ッキングエラー信号用光検出器11の2分割されたPI
NダイオードTPI、TP2の部分には全く同じ光り信
号が入射するように設定されている。しかし、トラッキ
ング位置がずれた時には、このPINダイオードTPI
、TP2の画部分に入射する光り信号にアンバランスが
発生する。このアンバランスが、PINダイオードTP
1とPINダイオードTP2の各々にに設けられた増幅
回路14a、14bにより増幅され、差動増幅回路15
によりトラッキングエラー信号16が得られる。このト
ラッキングエラー信号16は、位相補償回路17、スイ
ッチ18およびドライバ回路20を介して絞りレンズ6
を具備したアクチュエータに設けられたトラッキング位
置制御用コイル21の電流値を制御し、絞りレンズ6の
位置を第2図の図面上で左右に調整する。このようにし
て、光ビーム2は正確なトラッキング位置に制御される
。
ては、トラッキングエラーが起こっていない時は、トラ
ッキングエラー信号用光検出器11の2分割されたPI
NダイオードTPI、TP2の部分には全く同じ光り信
号が入射するように設定されている。しかし、トラッキ
ング位置がずれた時には、このPINダイオードTPI
、TP2の画部分に入射する光り信号にアンバランスが
発生する。このアンバランスが、PINダイオードTP
1とPINダイオードTP2の各々にに設けられた増幅
回路14a、14bにより増幅され、差動増幅回路15
によりトラッキングエラー信号16が得られる。このト
ラッキングエラー信号16は、位相補償回路17、スイ
ッチ18およびドライバ回路20を介して絞りレンズ6
を具備したアクチュエータに設けられたトラッキング位
置制御用コイル21の電流値を制御し、絞りレンズ6の
位置を第2図の図面上で左右に調整する。このようにし
て、光ビーム2は正確なトラッキング位置に制御される
。
また、フォーカス制御装置に関しても第3図(b)に示
すようにほぼトラッキング制御装置の場合と同様である
が、次の点が異なる。即ち、位相補償回路25とドライ
バ回路26との間にスイッチがない点、ドライバ回路2
6で駆動されるコイルがフォーカス位置制御用コイル2
7である点が異なる。このコイルに流れる電流値を制御
し、絞りレンズ6の位置を第2図の図面上で上下に調整
し、光ビーム2を正確なフォーカス位置に制御する。
すようにほぼトラッキング制御装置の場合と同様である
が、次の点が異なる。即ち、位相補償回路25とドライ
バ回路26との間にスイッチがない点、ドライバ回路2
6で駆動されるコイルがフォーカス位置制御用コイル2
7である点が異なる。このコイルに流れる電流値を制御
し、絞りレンズ6の位置を第2図の図面上で上下に調整
し、光ビーム2を正確なフォーカス位置に制御する。
更に、ある情報トラックから別のに情報トラックに走査
を移動させる場合は、トラッキング制御装置のスイッチ
18に設けられた印加端子19に移動指令を印加して、
スイッチ18をオフさせトラッキング制御装置を切る。
を移動させる場合は、トラッキング制御装置のスイッチ
18に設けられた印加端子19に移動指令を印加して、
スイッチ18をオフさせトラッキング制御装置を切る。
次いで、別系統の装置により光学系全体を移動させて、
移動完了後スイッチ18をオンしてトラッキング制御装
置を働かせる。一方、この移動のとき同様な構成のフォ
ーカス制御装置は常時働いた状態になっており、常にフ
ォーカス制御がかかつている。
移動完了後スイッチ18をオンしてトラッキング制御装
置を働かせる。一方、この移動のとき同様な構成のフォ
ーカス制御装置は常時働いた状態になっており、常にフ
ォーカス制御がかかつている。
また、トラッキング制御装置はオフしているがトラッキ
ングエラー信号16、つまり光ディスク7上の山の部分
と谷の部分を光ビーム2が横断するときのトラッキング
エラー信号16は常に検出された状態にある。このトラ
ッキングエラー信号を第4図に示す。縦軸にトラッキン
グエラー信号、横軸方向に光ビームの走査を示す。光ビ
ーム2が光ディスク7の情報トラック8の谷がら山にな
るエツジ部分を走査したとき、トラッキングエラー信号
16は最大28、逆に情報トラック8の山から谷になる
エツジ部分を走査したときは最小2つとなる。即ち、光
ディスク7上の山の部分と谷の部分を光ビーム2が横断
するときのトラッキングエラー信号16は、最大振幅が
Hのほぼ周期的な信号となる。
ングエラー信号16、つまり光ディスク7上の山の部分
と谷の部分を光ビーム2が横断するときのトラッキング
エラー信号16は常に検出された状態にある。このトラ
ッキングエラー信号を第4図に示す。縦軸にトラッキン
グエラー信号、横軸方向に光ビームの走査を示す。光ビ
ーム2が光ディスク7の情報トラック8の谷がら山にな
るエツジ部分を走査したとき、トラッキングエラー信号
16は最大28、逆に情報トラック8の山から谷になる
エツジ部分を走査したときは最小2つとなる。即ち、光
ディスク7上の山の部分と谷の部分を光ビーム2が横断
するときのトラッキングエラー信号16は、最大振幅が
Hのほぼ周期的な信号となる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、この様な構成の光ディスク装置の光学系
では、温度変化により第2図において、集光レンズ12
とフォーカスエラー信号用光検出器13との距離が変化
した場合、その変化によって情報トラック8に集光され
る光ビーム2の焦点位置にズレが生じる。これを以下で
具体的に説明する。
では、温度変化により第2図において、集光レンズ12
とフォーカスエラー信号用光検出器13との距離が変化
した場合、その変化によって情報トラック8に集光され
る光ビーム2の焦点位置にズレが生じる。これを以下で
具体的に説明する。
絞りレンズ6の上下方向のズレ量とフォーカスエラー信
号24との関係は、第5図に示すように逆S字カーブと
なる。横軸にはズレ量、縦軸にはフォーカスエラー信号
量を示す。a点はジャストフォーカス点であり、絞りレ
ンズ6が焦点位置からずれ、光ディスク7から遠ざかる
かあるいは近づくことにより、フォーカスエラー信号2
4は+(プラス)レベルまたは−(マイナス)レベルの
信号に変化する。
号24との関係は、第5図に示すように逆S字カーブと
なる。横軸にはズレ量、縦軸にはフォーカスエラー信号
量を示す。a点はジャストフォーカス点であり、絞りレ
ンズ6が焦点位置からずれ、光ディスク7から遠ざかる
かあるいは近づくことにより、フォーカスエラー信号2
4は+(プラス)レベルまたは−(マイナス)レベルの
信号に変化する。
ここで、温度変化により集光レンズ12とフォーカスエ
ラー信号用光検出器13との距離が変化した場合、第5
図の逆S字カーブは第6図に示すようにその距離が短く
なれば破線b1長くなれば破線Cの様に変化する。即ち
、実際はジャストフォーカスでa点に位置していても各
々オフセット電圧f30およびオフセット電圧g31が
フォーカスエラー信号゛として発生し、見かけ上フォー
力文位置がずれているように検出される。従って、これ
らの信号によりフォーカス制御装置が動き絞りレンズ6
の位置が各々dあるいはeだけジャストフォーカス点か
らずれる。
ラー信号用光検出器13との距離が変化した場合、第5
図の逆S字カーブは第6図に示すようにその距離が短く
なれば破線b1長くなれば破線Cの様に変化する。即ち
、実際はジャストフォーカスでa点に位置していても各
々オフセット電圧f30およびオフセット電圧g31が
フォーカスエラー信号゛として発生し、見かけ上フォー
力文位置がずれているように検出される。従って、これ
らの信号によりフォーカス制御装置が動き絞りレンズ6
の位置が各々dあるいはeだけジャストフォーカス点か
らずれる。
このため情報トラック8からの光ビーム2の走査による
データの読み出し、あるいは書き込み時にエラーを生じ
る問題点がある。
データの読み出し、あるいは書き込み時にエラーを生じ
る問題点がある。
問題点を解決するための手段
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、光学系
により光ディスク上の情報トラックを走査される光ビー
ムの戻り光からフォーカスエラー信号を検出するフォー
カスエラー信号検出手段と、この戻り光からトラッキン
グエラー信号を検出するトラッキングエラー信号検出手
段と、第1の期間に前記トラッキングエラー信号をサン
プリングし記憶する記憶手段と、この記憶された信号と
第2の期間の前記トラッキングエラー信号とを比較する
比較手段と、この比較手段によって得られる信号差に応
じて前記フォーカスエラー信号にオフセットを加えるオ
フセット印加手段と、前記トラッキングエラー信号に応
じて前記光学系を制御する制御手段と、前記オフセット
が印加されたフォーカスエラー信号に応じて前記光学系
を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置の光学系
制御装置をその解決手段とする。
により光ディスク上の情報トラックを走査される光ビー
ムの戻り光からフォーカスエラー信号を検出するフォー
カスエラー信号検出手段と、この戻り光からトラッキン
グエラー信号を検出するトラッキングエラー信号検出手
段と、第1の期間に前記トラッキングエラー信号をサン
プリングし記憶する記憶手段と、この記憶された信号と
第2の期間の前記トラッキングエラー信号とを比較する
比較手段と、この比較手段によって得られる信号差に応
じて前記フォーカスエラー信号にオフセットを加えるオ
フセット印加手段と、前記トラッキングエラー信号に応
じて前記光学系を制御する制御手段と、前記オフセット
が印加されたフォーカスエラー信号に応じて前記光学系
を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置の光学系
制御装置をその解決手段とする。
作用
本発明は上記した構成の新規な光ディスク装置の光学系
制御装置により、ジャストフォーカス調整時に光ビーム
が情報トラッキングを移動するとき検出されるトラッキ
ングエラー信号を正確に記憶することが出来る。また、
この記憶されたエラー信号と任意の時刻に於いて光ビー
ムが情報トラッキングを移動する時に検出されるエラー
信号とを比較し、この結果をオフセット印加手段によっ
てフォーカス制御装置にフィードバックすることが容易
に行える。
制御装置により、ジャストフォーカス調整時に光ビーム
が情報トラッキングを移動するとき検出されるトラッキ
ングエラー信号を正確に記憶することが出来る。また、
この記憶されたエラー信号と任意の時刻に於いて光ビー
ムが情報トラッキングを移動する時に検出されるエラー
信号とを比較し、この結果をオフセット印加手段によっ
てフォーカス制御装置にフィードバックすることが容易
に行える。
実施例
本発明の光ディスク装置の光学系制御装置の一実施例を
第1図に基すいて説明する。尚、光ディスク装置の光学
系に関しては従来のものと同様で第2図に示されるもの
である。
第1図に基すいて説明する。尚、光ディスク装置の光学
系に関しては従来のものと同様で第2図に示されるもの
である。
光学系制御装置に関して、第1図に示すように、まずト
ラッキングエラー信号用光検出器11の2つのPINダ
イオードTPI、TP2からの出力は各々増幅回路14
a、14bにより増幅され、差動増幅回路15によりト
ラッキングエラー信号16が得られる。このエラー信号
が位相補償回路17、スイッチ18およびドライバー回
路20を介して絞りレンズ6を具備したアクチュエータ
のトラッキング位置制御用コイル21に流れる電流値を
制御し、絞りレンズ6の位置を制御し、光ビーム2のト
ラッキング制御を行う。
ラッキングエラー信号用光検出器11の2つのPINダ
イオードTPI、TP2からの出力は各々増幅回路14
a、14bにより増幅され、差動増幅回路15によりト
ラッキングエラー信号16が得られる。このエラー信号
が位相補償回路17、スイッチ18およびドライバー回
路20を介して絞りレンズ6を具備したアクチュエータ
のトラッキング位置制御用コイル21に流れる電流値を
制御し、絞りレンズ6の位置を制御し、光ビーム2のト
ラッキング制御を行う。
また、フォーカスエラー信号用光検出器13は2分割の
PINダイオードFP1.FP2からの出力は各々増幅
回路22a、22bにより増幅され、差動増幅回路23
によりフォーカスエラー信号24が得られる。このフォ
ーカスエラー信号24が位相補償回路25、オフセット
印加回路3゜およびドライバー回路26を介して絞りレ
ンズ6を具備したアクチュエータのフォーカス位置制御
用コイル27を制御し、光ビーム2のフォーカス制御を
行う。
PINダイオードFP1.FP2からの出力は各々増幅
回路22a、22bにより増幅され、差動増幅回路23
によりフォーカスエラー信号24が得られる。このフォ
ーカスエラー信号24が位相補償回路25、オフセット
印加回路3゜およびドライバー回路26を介して絞りレ
ンズ6を具備したアクチュエータのフォーカス位置制御
用コイル27を制御し、光ビーム2のフォーカス制御を
行う。
ここで、トラッキングエラー信号16は、ジャストフォ
ーカスの時にその光ディスク7の面からの反射が最大と
なるために最大振幅値を出力する。しかし、光ビーム2
の光ディスク70面でのフォーカスがずれてくると、反
射光が弱くなるためにこのトラッキングエラー信号16
の最大振幅値が小さくなる特徴がある。
ーカスの時にその光ディスク7の面からの反射が最大と
なるために最大振幅値を出力する。しかし、光ビーム2
の光ディスク70面でのフォーカスがずれてくると、反
射光が弱くなるためにこのトラッキングエラー信号16
の最大振幅値が小さくなる特徴がある。
この特性をフォーカス制御に適用するためにトラッキン
グ制御装置にピークレベル記憶回路28とピークレベル
比較回路29が設けられ、この比較信号をオフセット印
加回路30によりフォーカス制御装置にフィードバック
している。以下その点を具体的に説明する。
グ制御装置にピークレベル記憶回路28とピークレベル
比較回路29が設けられ、この比較信号をオフセット印
加回路30によりフォーカス制御装置にフィードバック
している。以下その点を具体的に説明する。
まず最初に、光ビーム2のフォーカス調整がされ、次い
で印加端子19aに情報トラッキング移動指令が印加さ
れ、光ビーム2が情報トラック8を横断する。このとき
のトラッキングエラー信号16の最大振幅値がピークレ
ベル記憶回路28に記憶保持される。更に、この状態で
温度変化等により第2図に示される集光レンズ12とフ
ォーカスエラー信号用光検出器13の距離がずれると、
前述のオフセットが発生し、このフィードバック作用に
より光ビーム2のフォーカスのズレが起こる。このため
、印加端子19aに情報トラッキング移動指令が印加さ
れ、光ビーム2が情報トラック8を横断するときのトラ
ッキングエラー信号16の最大振幅値が上述のピークレ
ベル記憶回路28に記憶保持された値よりも小さくなる
。これをピークレベル比較回路29により検出し、オフ
セット印加回路30により逆方向のオフセット電圧をフ
ォーカスエラー信号24に加えることにより温度変化等
によるオフセットをキャンセルし、光ビーム2のフォー
カス制御を行う。
で印加端子19aに情報トラッキング移動指令が印加さ
れ、光ビーム2が情報トラック8を横断する。このとき
のトラッキングエラー信号16の最大振幅値がピークレ
ベル記憶回路28に記憶保持される。更に、この状態で
温度変化等により第2図に示される集光レンズ12とフ
ォーカスエラー信号用光検出器13の距離がずれると、
前述のオフセットが発生し、このフィードバック作用に
より光ビーム2のフォーカスのズレが起こる。このため
、印加端子19aに情報トラッキング移動指令が印加さ
れ、光ビーム2が情報トラック8を横断するときのトラ
ッキングエラー信号16の最大振幅値が上述のピークレ
ベル記憶回路28に記憶保持された値よりも小さくなる
。これをピークレベル比較回路29により検出し、オフ
セット印加回路30により逆方向のオフセット電圧をフ
ォーカスエラー信号24に加えることにより温度変化等
によるオフセットをキャンセルし、光ビーム2のフォー
カス制御を行う。
尚、上述のトラッキングエラー信号16の最大振幅値は
、スパイラル状の光ディスク7においては、同一トラッ
クを光ビーム2で走査するため、情報トラック8の1本
分を移動させるばあいのトラッキングエラー信号16を
用いても良い。
、スパイラル状の光ディスク7においては、同一トラッ
クを光ビーム2で走査するため、情報トラック8の1本
分を移動させるばあいのトラッキングエラー信号16を
用いても良い。
以上本実施例によれば、温度変化等による集光レンズ1
2とフォーカスエラー信号用光検出器13の距離ずれに
よる光ビーム2のフォーカスずれを防ぎ、常に正確なフ
ォーカシングが行える。
2とフォーカスエラー信号用光検出器13の距離ずれに
よる光ビーム2のフォーカスずれを防ぎ、常に正確なフ
ォーカシングが行える。
従って、光ディスク上の情報データの読み出し書き込み
を極めて安定で正確に行える。
を極めて安定で正確に行える。
また、この制御が情報トラックの移動時に成されるため
に特別な期間を新たに設ける必要はなく、使用者にとっ
ては従来のものと同様の操作が可能である。
に特別な期間を新たに設ける必要はなく、使用者にとっ
ては従来のものと同様の操作が可能である。
発明の効果
温度変化等により発生する光学系の位置関係の僅かなず
れにより起こる光ビームのフォーカスエラー信号の見か
け上のオフセットをキャンセルし、温度変化による光ビ
ームの光ディスク上へのフォーカスのずれを自動的にし
かも効率よ(補正することが出来る。これによって、光
ビームのフォーカスのずれによる情報トラックからの信
号の読み出し、あるいは書き込み時の誤りを防ぎ、正確
な読み出し書き込みが可能となる。
れにより起こる光ビームのフォーカスエラー信号の見か
け上のオフセットをキャンセルし、温度変化による光ビ
ームの光ディスク上へのフォーカスのずれを自動的にし
かも効率よ(補正することが出来る。これによって、光
ビームのフォーカスのずれによる情報トラックからの信
号の読み出し、あるいは書き込み時の誤りを防ぎ、正確
な読み出し書き込みが可能となる。
従って、本発明は光ディスク装面の光学系制御第1図は
本発明の実施例に於ける光ディスク装置の光学系制御装
置のブロック図、第2図は光ディスク装置の光学系の概
略を示す原理図、第3図は従来の光学系制御装置のブロ
ック図、第4図は光ディスク装置の光ビームが光ディス
ク上の情報トラックを複数個横断するときのトラッキン
グエラー信号の出力を示す波形図、第5図は光ディスク
装置の光学系に於て温度変化が無い場合の絞りレンズの
位置とフォーカスエラー信号の関係を示す特性図、第6
図は光ディスク装置の光学系に於て温度変化が有る場合
の絞りレンズの位置とフォーカスエラー信号の関係を示
す特性図である。
本発明の実施例に於ける光ディスク装置の光学系制御装
置のブロック図、第2図は光ディスク装置の光学系の概
略を示す原理図、第3図は従来の光学系制御装置のブロ
ック図、第4図は光ディスク装置の光ビームが光ディス
ク上の情報トラックを複数個横断するときのトラッキン
グエラー信号の出力を示す波形図、第5図は光ディスク
装置の光学系に於て温度変化が無い場合の絞りレンズの
位置とフォーカスエラー信号の関係を示す特性図、第6
図は光ディスク装置の光学系に於て温度変化が有る場合
の絞りレンズの位置とフォーカスエラー信号の関係を示
す特性図である。
2−−一光ビーム、6−−−絞りレンズ、7−−−光デ
ィスク、8〜−一情報トラック、11−−−ト ラッキ
ングエラー信号用光検出器、13−−−フォーカスエラ
ー信号用光検出器、16−−−トラッキングエラー信号
、24−−−フォーカスエラー信号、28−m−ピーク
レベル記憶回路、29−m−ビークレベル比較回路 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 万−カスEL!Ffl!11卸用 第 2 図
コイルと 上声−門
之トフ−17 第3図 第4図 2!9最小
ィスク、8〜−一情報トラック、11−−−ト ラッキ
ングエラー信号用光検出器、13−−−フォーカスエラ
ー信号用光検出器、16−−−トラッキングエラー信号
、24−−−フォーカスエラー信号、28−m−ピーク
レベル記憶回路、29−m−ビークレベル比較回路 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 万−カスEL!Ffl!11卸用 第 2 図
コイルと 上声−門
之トフ−17 第3図 第4図 2!9最小
Claims (1)
- 光学系により光ディスク上の情報トラックを走査される
光ビームの戻り光からフォーカスエラー信号を検出する
フォーカスエラー信号検出手段と、この戻り光からトラ
ッキングエラー信号を検出するトラッキングエラー信号
検出手段と、第1の期間に前記トラッキングエラー信号
をサンプリングし記憶する記憶手段と、この記憶された
信号と第2の期間の前記トラッキングエラー信号とを比
較する比較手段と、この比較手段によって得られる信号
差に応じて前記フォーカスエラー信号にオフセットを加
えるオフセット印加手段と、前記トラッキングエラー信
号に応じて前記光学系を制御する制御手段と、前記オフ
セットが印加されたフォーカスエラー信号に応じて前記
光学系を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置の
光学系制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61273290A JPH0752520B2 (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 光デイスク装置の光学系制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61273290A JPH0752520B2 (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 光デイスク装置の光学系制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63127438A true JPS63127438A (ja) | 1988-05-31 |
JPH0752520B2 JPH0752520B2 (ja) | 1995-06-05 |
Family
ID=17525789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61273290A Expired - Lifetime JPH0752520B2 (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 光デイスク装置の光学系制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0752520B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100617205B1 (ko) * | 1999-05-25 | 2006-08-31 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체의 기록재생 방법 및 그 장치 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58158045A (ja) * | 1982-03-16 | 1983-09-20 | Nec Corp | 焦点制御修正装置 |
JPS5942647A (ja) * | 1982-09-02 | 1984-03-09 | Sony Corp | デイスク装置のラジアルスキユ−補正装置 |
JPS6061925A (ja) * | 1983-09-14 | 1985-04-09 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録再生装置 |
-
1986
- 1986-11-17 JP JP61273290A patent/JPH0752520B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58158045A (ja) * | 1982-03-16 | 1983-09-20 | Nec Corp | 焦点制御修正装置 |
JPS5942647A (ja) * | 1982-09-02 | 1984-03-09 | Sony Corp | デイスク装置のラジアルスキユ−補正装置 |
JPS6061925A (ja) * | 1983-09-14 | 1985-04-09 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録再生装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100617205B1 (ko) * | 1999-05-25 | 2006-08-31 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체의 기록재생 방법 및 그 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0752520B2 (ja) | 1995-06-05 |
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