JPS63121835A

JPS63121835A - 放射線画像情報処理方法及び装置

Info

Publication number: JPS63121835A
Application number: JP61269317A
Authority: JP
Inventors: Mikio Takeuchi; 三喜夫竹内; Masabumi Saito; 斉藤　正文; Hideyuki Handa; 英幸半田; Makoto Kumagai; 誠熊谷; Mitsuru Ishii; 満石井
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 1986-11-11
Filing date: 1986-11-11
Publication date: 1988-05-25
Anticipated expiration: 2011-06-26
Also published as: JP2509814B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野）本発明は放射線画像情報処理方法及び装置に関する。

（従来の技術）放射線画像処理装置は、輝尽性螢光体に記録された画像
を読取って所定の画像処理を行う装置である。輝尽性螢
光体への画像記録は以下のようにして行われる。第４図
において、Ｘ線源１から出射したＸ線は、絞り２によっ
て絞られた後、目的物３に照射される。目的物３を通過
したＸ線は、輝尽性螢光体４に入り、該輝尽性螢光体４
に目的物３の画像の潜像が形成される。

第５図はこのような螢光体に記録された放射線画像を読
取る放射線画像情報処理装置の構成例を示づ一図である
。この図において、励起光源（例えば半導体レーザとコ
リメータレンズ）１１がら出たレーザビームは、光陰制
御部１２によってパワーの一定化を図られ、一方向に集
束された後、ビーム径整形光学系１４及びミラー１５を
介して、光偏向器としてのガルバノミラ−１６の反射面
に入射する。このガルバノミラ−１６は、主走査方向×
にレーザビームを走査させるため、図の矢印方向に一定
角速度で回転するものである。尚、副走査は輝尽性螢光
体４と光学系・集光系がｙ方向に相対的に移動すること
にｊ；り行う。

ガルバノミラ−１６で偏向されたレーザビームはｆ・θ
レンズ１７を通りミラー１８で反射後、輝尽性蛍光体４
を照射し励起する。このため、輝尽性蛍光体４から輝尽
発光が生じる。この輝尽発光は、例えば光ファイバをシ
ート状に束ねる等の方法で構成された集光体２０の端面
（直線状）に入射後、他方の端面（円形状）から出て光
電子増倍管等の第１の光検出器（ＰＭＴ）２１に入射す
る。第２の光検出器２２は、走査量始端のレーザビーム
位置を検知し、読取走査の主走査方向×の同期（ｎ号を
得るためのもので、この出力を受け、制御部２３がタイ
ミング信号を信号処理部２４に送出する。このタイミン
グ信号に基づき、信号処理部２４は、第１の光検出器２
１の出力信号を処理し、輝尽性螢光体４に記録されてい
る放射線画像を再生する。

（発明が解決しようとする問題点）第４図に示すように、絞り２を用いて輝尽性螢光体４に
画像を記録する場合、所謂肩だれ現象が発生する。第６
図（イ）に示ｔＪ：うに輝尽性螢光体４の斜線領域が画
像情報記録領域であるものとして、当該領域が全て同じ
レベルで画像情報が記録されているのではない。輝尽性
螢光体４がらの輝尽発光を光検出器により光電変換して
画像信号を得ると、第６図（ロ）、（ハ）に示すように
、×、ｙ各方向の端部の画像信号が丸まってしまう。

このような現象を肩だれ現象という。

全領域にわたって画像信号レベルが同一でない場合、画
像として再生した場合に画像品質が低下する。従って、
第６図（ロ）、（ハ）に示す各両側肩部分ｄｘ、　、　
ｄｘ２＋　ｄＶ＋　＊　ｄｌ／ｚを除外すれば高品質の
放射線画像を得ることができる。

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、
その目的は、肩だれ現象の影響を除外して高品質の放射
線画像を得ることができる放射線画像情報処理方法及び
ｖ、＠を実現することにある。

（問題点を解決するための手段）前記した問題点を解決する第１の発明は、輝尽性螢光体
の肩だれ現象発生領域の寸法を予め求めておき（ステッ
プ（１））、輝尽性螢光体からの画像読取時に、前記肩だれ現象発生
領域を除外する（ステップ（２））ようにしたことを特
徴としている。第２の発明、輝尽性螢光体に記録された
画像を読取って所定の画像処理を行う放射線画像情報処
理装置において、輝尽性螢光体に記録された画像を読取
る時に肩だれ現象発生領域の画像処理情報を除外する手
段を設けたことを特徴としている。

（作用〉輝尽性螢光体に記録された画像情報を読取る時に肩だれ
現象発生領域を除外する。

（実施例）以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。

第１図は、本発明方法の一実施例を示寸フローチャート
である。以下このフローチャートに沿って本発明方法を
説明する。

ステップ■ 輝尽性螢光体の肩だれ現象発生領域の寸法を予め定めて
おく。

第２図を用いて説明する。図において、３１はＸ線スポ
ット、３２は照射野を絞るための絞り、３３は輝尽性螢
光体である。２ｄはＸ線スポットサイズ、２Ｗは絞りサ
イズ、４はＸ線スポット３１と絞り３２までの距離、［
はＸ線スポット３１と輝尽性螢光体３３までの距離であ
る。又、ｙｌが木彫サイズｌＶ２が半影サイズ、Δｙが
肩だれ領域サイズである。ここで、木彫サイズｙ１と半
影サイズｙ２はそれぞれ次式で表わされる。

Ｖ　　１−（Ｗ−ｄ　　）　　Ｘ　　（Ｌ／６　＞　　
＋ｄ　　　　・・・　〈１）Ｖ　　２　　＝　　（Ｗ＋
ｄ　　）　　Ｘ　　（Ｌ／４　）　　−ｄ　　　　・・
・〈２）これから肩だれ領域サイズ△ｙは、それぞれ次
式％式％ Δｙの具体的な値としては、２ｄ＝１ｍｍ、／＝１００
ｍｍ、　Ｌ＝　１５０Ｑｎ１ｍを（３）式に代入すると
求めることができ、ΔＶ＝１４ｍｍとなる。

以上、中心線ｎ１の上方向の△ｙを求めたが、下方向の
Δｙについても同様にして求めることができる。又、×
方向の肩だれ領域サイズ△Ｘについても、同様にして求
めることができる。

ステップ■ 輝尽性螢光体からの画像情報読取時に前記病だれ現象発
生領域を除外覆る。

ステップ■より×方向、■方向の肩だれ領域サイズが求
まったので、肩だれ現象発生領域を特定することができ
る。第３図は輝尽性螢光体３３の画像情報記録状態を示
す図である。図において、３３ａは有効画像記録領域、
３３ｂは肩だれ現象発生領域、３３ｃは画像無記録領域
である。△Ｘ。

△ｙが韓出できれば、図に示すように、肩だれ現象発生
領域３３１）を特定することができる。尚、△×、△ｙ
のペアは必ずしも同一値を取る必要はない。

肩だれ現象発生領域を特定することができれば画像情報
読取時にこの領域を除外づ−れば、高品質の画像情報を
得ることができる。除外する時点としては、以下に示す
ような時点が考えられる。

■輝尽性螢光体からの輝尽発光を集光体で集光する時第５図を参照して説明する。輝尽性螢光体４からの輝尽
発光は集光体２０にＪ：って光検出器２１に導かれるが
、この場合に、主走査方向く×方向）については集光体
２０の幅を有効画像記録領域３３ａ　　（第３図参照）
の長さに設定する。そして、副走査方向（ｙ方向）につ
いては、輝尽性螢光体４のｙ方向の送りで制御する。こ
のように構成すると、集光体２０は有効画像情報のみ集
光する。

■ディジタルデータに変換された画像情報をメモリに格
納する時同じく第１５図を用いて説明する。集光体２０によって
集光された輝尽発光は、光検出器２１によって電気信号
に変換される。電気信号に変換された画像情報（画像デ
ータ）は、信号処理部２４に入ってディジタルデータに
変換された後、メモリに格納される。ここで、肩だれ現
象発生領域の画像データであるか否かは、予め判断する
ことができるので、肩だれ現象発生領域の画像データは
捨てて、イ１効画（絵領域の画像データのみをメモリに
格納する。

本発明に係る放射線画像情報処理装置は、第５図に若干
の変形、改良を加えるだけで実現することができる。例
えば、集光体２０の×方向の幅を輝尽性螢光体４の有効
画像記録領域の長さに設定すると共に、ｙ方向について
は集光体２０が有効画像領域のみ走査するように送り制
御を行えば良＝８− い。

或いは又、信号処理部２４に肩だれ現象発生領域の画像
データか有効画像領域の画像データかを判別する判別回
路を設は若しくは、読取画像を表示し、マニュアルで領
域指定を行う。前者の画像データであった場合には捨て
るようにすればよい。

〈発明の効果）以上詳細に説明したように、本発明によれば、予め肩だ
れ発生領域の寸法を求めておき、輝尽性螢光体からの画
像情報読取時に肩だれ発生領域を除外することにより高
品質の放射線画像を得ることができる放射線画像情報処
理方法及び装置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法の一実施例を示すフローチャート、
第２図、第３図は肩だれ現象発生領域の寸法算出の説明
図、第４図は輝尽性螢光体への画像記録の説明図、第５
図は従来装置の構成例を示す図、第６図は肩だれ現象の
説明図である。１・・・Ｘ線源　　　　　２，３２・・・絞り３・・・
目的物　　　　　４，３３・・・輝尽性螢光体１１・・
・励起光源　　１２・・・光量制御部１４・・・ビーム
径整形光学系１５．１８・・・ミラー　１６・・・ガルバノミラ−１
７・・・ｆ・θレンズ　２０・・・集光体２１．２２・
・・光検出器３１・・・Ｘ線スポット特許出願人　　小西六写真工業株式会社代　　理　　人
　　　弁理士　　井　　島　　藤　　治外１名第１図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）輝尽性螢光体の肩だれ現象発生領域の寸法を予め
求めておき（ステップ（１））、輝尽性螢光体からの画像読取時に、前記肩だれ現象発生
領域を除外する（ステップ（２））ようにしたことを特
徴とする放射線画像情報処理方法。
（２）輝尽性螢光体からの輝尽発光を集光体で集光する
時に、肩だれ現象発生領域を除外するようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の放射線画像情報
処理方法。
（３）ディジタルデータに変換された画像情報を記憶装
置に格納する時に、肩だれ現象発生領域のデータを除外
するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の放射線画像情報処理方法。
（４）輝尽性螢光体に記録された画像を読取って所定の
画像処理を行う放射線画像情報処理装置において、輝尽
性螢光体に記録された画像を読取る時に肩だれ現象発生
領域の画像処理情報を除外する手段を設けたことを特徴
とする放射線画像情報処理装置。